無需溫度調節用於對檢測器輸出的圖像進行校正的方法以及實現該方法的檢測器的製作方法

2023-10-10 00:08:39 3

專利名稱：無需溫度調節用於對檢測器輸出的圖像進行校正的方法以及實現該方法的檢測器的製作方法
技術領域：
本發明涉及紅外成像和利用輻射熱計的高溫測定技術領域。更具體地說，本發明涉及與檢測頻帶和所使用的輻射熱材料的類型無關的輻射熱計檢測器技術領域。
背景技術：
傳統上，為紅外成像設計的檢測器被製造為單元檢測器或者輻射熱計的一維或者二維陣列，所述輻射熱計採用藉助具有高熱阻的支臂 懸置在通常由矽形成的基底上方的薄膜的形式。這種懸置薄膜組件形成通常被稱為「網膜」的陣列檢測元件。基底通常包括用於順序尋址單元檢測器的裝置和用於電激勵單元檢測器並且預處理這些輻射熱計產生的電信號的裝置。該基底和所集成的裝置通常被稱為「讀出電路」。為了利用該檢測器獲得景物，將景物通過適當光學元件投影到網膜上，網膜排列在光學元件的焦面上，並且定時電激勵信號通過讀出電路施加到每個輻射熱計或者每行輻射熱計，以獲得構成每個所述單元檢測器達到的溫度的圖像的電信號。然後，讀出電路將該信號處理到較大或者較小的範圍，然後，如果適用，則利用封裝之外的電子器件處理，以產生所觀看的景物的熱圖像。這種檢測器在其製造成本和實現方面具有許多優點，但是也具有限制採用這種檢測器的系統的性能的缺點。特別是，在所獲得的圖像的均勻性方面存在問題。實際上，當對均勻圖像曝光時，不是所有的輻射熱計都精確發出相同的信號，並且這導致在這樣獲得的圖像中產生固定空間噪聲，並且該噪聲對所產生的圖像的質量具有嚴重的負面影響。通常被稱為「偏移色散」。然後，通過從所述圖像的每個像素中減去存儲在「偏移表」中的對應於該像素的偏移，對由輻射熱計陣列獲得的圖像校正偏移色散，其中「偏移表」是在工廠通過用具有已知恆溫的黑體曝光網膜來進行校準而獲得的。因此，均勻景物的校正圖像基本上是均勻的。然而，確定偏移表通常是費事耗時的任務。實際上，它包括將具有已知均勻溫度的景物，即，傳統上的均勻溫度黑體，展現在檢測器之前，在需要時仔細確保基本上等於黑體的溫度的恆定網膜溫度。此外，輻射熱計的偏移取決於其溫度，因此，如果輻射熱計的溫度偏離用於確定偏移表的溫度，則後者變得無關緊要，並且校正不令人滿意。為了克服第一種熱輻射檢測器的問題，利用例如珀爾帖效應模塊或者加熱器，對焦面進行溫度控制。意圖是確保輻射熱計的溫度變化僅由發自所觀看的景物的輻照引起。在具有溫控焦面的第一種檢測器中，根據單個預定溫度設定值，執行溫度調節。這被稱為「單溫控制模式」。這種情況的優點是，檢測器的工作溫度範圍基本上被限制在所述設定值附近，因此，可以適用單個偏移表。這樣限制了工廠校準的範圍。另一方面，檢測器的能量消耗與最佳值相去甚遠，並且這甚至可能變成單獨可攜式檢測器情況的限制因素。實際上，當檢測器的環境溫度基本上偏離溫度設定值時，用於溫度控制目的的能量相當大。不僅如此，即使進行溫度控制，也不能確保良好的恆溫。該檢測器始終受到來自網膜環境(特別裝配有網膜的封裝)的溫度擾動的影響；該封裝及其相關元件(光學元件、光圈等)的溫度根據來自其外部環境的輻照和其它幹擾而隨意變化。實際上，始終存在偏離溫度設定值的瞬變，並且這些瞬變越大，則環境溫度偏離設定值越多。因為單溫控模式消耗能量，並且環境溫度偏離焦面的單一溫度設定值越多，則單溫控模式的精度越來越低，所以被稱為「多溫控檢測器」的第二種溫控檢測器使用幾個溫度設定值，以使環境溫度與網膜的溫度之差保持低於預定閾值。這樣將溫控用途消耗的能量降低到最小，並且偏移校正的不準確度與溫度無關。然而，其前提條件是具有每個溫度設定值的偏移表。為了從多溫控模式的優點獲得最大好處，偏移表的數量通常大，並且這涉及對這些表非常冗長的工廠校準，因此，製造成本相當高。此外，在使用中，發現存在從第一溫度設定值到第二溫度設定值的變化時的過渡期間導致檢測器產生的圖像的質量降低。因為溫控檢測器消耗大量能量並且笨重，所以開發了通常稱為無TEC (無熱電冷
卻)檢測器的非溫控檢測器或者「非冷卻」檢測器。在例如文獻EP 1953509和US 6433333描述的第一種無TEC檢測器中，在檢測器的假定工作範圍內，對於焦面上的各種溫度，在工廠獲取多個偏移表，然後，將它們存儲在檢測器中。通常，為了設定檢測器的環境溫度，將檢測器布置在恆溫箱中，恆溫箱用於使一系列穩定溫度級中的每個保持約I小時。在最終的分析中，該校準處理花費幾個小時的時間，並且需要恆溫箱，因此，對於製造商而言特別昂貴。在操作檢測器時，測量基底上一點的溫度，並且根據測量溫度從存儲的表中選擇偏移表，或者通過插入存儲的偏移表，獲得測量溫度的工作偏移表。因此，這樣產生的偏移表和隨後的校正表是溫度相關的。然而，這種校正的有效性取決於所使用的偏移表的相關性。實際上，對於相關溫度範圍，需要提供相當數量的表，因此，這是昂貴的。因為已經證明使用偏移表是不經濟的，所以設計了其它類型的校正。在例如文獻US 5756999和US 6028309描述的第二種無TEC檢測器中，通過應用可變偏置來校正輻射熱計的偏移色散。實際上，輻射熱計輸出的信號與流過它的電流直接相關。因此，調節該電流就調節了輻射熱計的連續輸出電平，並因此而調節其偏移值。然而，這種校正涉及對每個輻射熱計定製偏置電路系統，並且這樣導致檢測器電路的設計更複雜並降低了生產率。不僅如此，還可以看到信噪比的有害惡化。此外，儘管與第一種情況的表的數量相比數量上有限，但是這種類型的校正仍需要偏移表。在例如文獻US 6690013描述的第三種無TEC檢測器中，根據基於經驗模型的輻射熱計的測量電阻校正偏移色散。然而，僅測量像素的電阻不能代表偏移色散是所有原因。因此，這樣執行校正僅部分有效。此外，與涉及產生偏移表的校準相同，經驗模型也使用要求工廠校準的參數表。最後，在例如文獻WO 2007/106018描述的第四種無TEC檢測器中，偏移色散校正基於實際景物本身，更特別地，基於使用檢測器觀察到的景物上的時變信息。這種類型的校正的優點是，不需要事先進行任何工廠校準。另一方面，這種類型的校正不適於運動的景物，根據其原理，這種校正沒有或者至少顯著降低了對景物中的靜態要素或者慢動要素的檢測。此外，在特定條件下可能出現不代表所觀察到的景物的「gost」圖像。文獻US-A-2005/0029453公開了一種用於根據檢測器正在工作時拍攝的來自快門的兩幅圖像更新偏移表的方法。該方法涉及測試用於更新偏移表的條件，例如，與從最後計算了偏移表開始觀察到的溫度變化相關的條件或者與偏移表的使用時長相關的條件，並且如果滿足該條件，則從快門獲取新圖像。一獲取了該新圖像，就根據該新圖像和最後更新時獲得的圖像計算新偏移表。應當注意,基於向前校準偏移表的校正最有效，因為包含在所述表中的值與輻射熱計的測量偏移直接關聯。此外，這種校正不對檢測器的運轉造成任何限制。試圖限制甚或消除偏移表的變型校正使得可以設計不昂貴的無TEC檢測器，但是對校正質量有不利影響，或者對使用檢測器有限制。

發明內容
本發明的目的是提供一種用於校正不進行任何在先工廠校準的無TEC檢測器的偏移變化的簡單、有效方法。
為此，本發明的目的是一種用於在不進行溫度調節的情況下，校正檢測器的輻射熱計的陣列產生的圖像的方法，所述陣列(10)包括排列在光學元件的焦面上並且懸置在基底上方的熱輻射薄膜的網膜，在該基底上，形成能夠輸出對應於陣列中的每個輻射熱計的與觀察到的景物相關的原信號值的流的讀出電路，其中該檢測器還包括排列在光學元件與網膜之間的快門，並且在檢測器的環境溫度條件自由改變的工作模式下，該方法包括■第一步驟，用於使快門閉合併且獲取如下並將如下存儲在檢測器的存儲器內〇當前原值表，所述原值對應於由輻射熱計陣列(10)獲得的快門的圖像；以及〇獲取所述當前原值表時檢測器的溫度，■第二步驟，用於根據如下確定檢測器的當前溫度的偏移校正表並且將它存儲在檢測器的存儲器內〇所述當前原值表和與其相關的溫度；以及〇先前存儲在檢測器的存儲器內的、與由輻射熱計陣列獲得的快門的圖像對應的一組現有原值表，和在獲取這些表時與這些表中的每個分別相關的檢測器溫度，所述溫度被存儲在檢測器的存儲器內；以及■第三步驟，用於利用偏移校正表校正原值流，根據本發明，該方法包括用於在獲取一個當前原值表後保持一組現有原值表的保持處理，該保持處理包括■測試利用當前原值表代替所述一組現有原值表中的表的條件；以及■如果滿足所述條件，則利用當前原值表代替所述一組現有原值表中的表，並且利用當前原值表的獲取溫度代替被代替的表的獲取溫度，該測試包括根據至少一個預定判據，確定是否存在通過用在後續偏移表的確定上比所述一組現有原值表更相關的當前表來代替所述一組現有原值表中的表而獲得的新的
一組表。在此利用術語「原值」表示在未對其進行任何偏移校正的情況下從輻射熱計獲得的信號。利用術語「保持」表示對激活第一步驟以及修改或者不修改該組原值進行判定的處理和根據所進行的判定進行這些修改的處理。該判定執行處理基於與原值表同時獲取並存儲並且裝載到這些表內的特定數量的檢測器狀態參數的值。該判定執行處理包括一系列意圖判定它是否適於「更新」該組的條件操作。「更新」被定義為使該組的要素的數量N遞增和/或者根據原值和/或者參數修改最後獲取的要素之外的該組中的至少一個要素。換句話說，本發明支持通過測試利用經驗獲得偏移校正值的原理。然而，不是在工廠校準時，而是在實際操作檢測器時，最終獲得這些值，假定快門的作用與根據現有技術校準偏移表時使用的均勻溫度黑體的作用相同。然而，根據現有技術，為了獲得最佳精度的用於校準偏移色散的值，根據非常嚴格的獲取條件來校準偏移表，由於快門處於環境溫度，因而本發明採用受限較少的條件，並且無需進行任何溫度控制。因此，為了獲得用於計算偏移校正值的原值，不需要調節焦面的溫度。此外，也不需要焦面的溫度基本上等於景物的溫度。最後，儘管初看起來校正質量低於基於工廠精確校準的偏移表的校正，但是實際上根據本發明的偏移色散校正質量良好。下面將結合圖8和9描述，實際上，根據本發明的校正的質量與根據精確的工廠校準表獲得的校正的質量基本相同。因此，本發明突破了本技術領域內的通常認識和根據現有技術的文獻中的明示或者暗示理解的內容，即，為了獲 得精確校正而不得不需要在良好控制的實驗條件下校準的表。實際上，本發明不需要進行工廠校準，並且這樣顯著降低了製造檢測器的成本，並且在檢測器工作的同時，可以獲得用於校正用途的值。本發明另外從3個優點受益。檢測器在無TEC模式下工作，這意味著能量消耗被降低到最低，工廠校準被減少到最少，並且所獲得的圖像質量非常令人滿意。請注意，根據本發明的方法與文獻US-A-2005/0029453描述的方法的不同之處在於，本發明利用當前表更新存儲的一組現有表的方式。首先，根據本發明的方法和文獻US-A-2005/0029453中描述的方法都利用當前表計算偏移表。實際上，在相關時刻，當前表被認為包括相關信息。然而，根據本發明並且與文獻US-A-2005/0029453中的方法相反，存在用於更新一組原值表的附加處理，這與更新偏移表的處理不同，並且包括其自身的判據。事實上，根據本發明，進行測試以確定利用當前表代替存儲的一組表中的表是否可以獲得與計算後續計算偏移表的質量有關的附加增益。該附加增益是與一個或者多個客觀判據/僅基於可以形成該組表的表的判據相關聯地定義的。有利地(但不局限於此)，理想的情況是例如，有規律地分隔獲取溫度並且在溫度穩定時獲得最新的一組表。在文獻US-A-2005/0029453中，刻板地利用當前表代替舊錶。如果滿足溫度或者使用時長條件，則進行代替。但不對這種代替是否有利進行評估。例如，可能在不穩定的熱條件下獲取當前表，並且還可能先前更新時獲取的表本身是在不穩定的熱條件下獲取的。因此，根據這兩個表計算的偏移表的質量非常糟糕。如果檢測器在溫度正發生改變的環境下工作，例如，當從熱位置移動到冷位置時，檢測器在一段時間內產生的圖像的質量非常糟糕。相反，根據本發明，當前表不刻板地代替該組表中的表之一，僅當存在被判定為「較差」的表時才進行代替。最後，為了全面理解根據本發明的方法和全面理解根據現有技術的方法，應當注意，利用當前表本身更新的頻率，對計算偏移表時刻板地使用的「質量糟糕」的當前表進行管理，使該表在短時間內始終最精確。例如，如果存在顯著溫度變化，則更頻繁地觀察溫度條件，因此，偏移表被更頻繁地更新，但不把被判定為與其它表相比更不相關的(根據預定判據，被認為「質量糟糕」)的當前表保留在當進行後續校正時使用的最相關的組中。在本發明的一個實施例中，部分地或者完全根據在檢測器正在工作時獲取的當前表來構造存儲的一組表。因此，不對檢測器執行工廠校準。作為一種選擇，根據本發明，僅一次性對一個或者多個基準檢測器確定一組原默認值，並且最初存儲在檢測器中。然後，在檢測器工作時，逐步代替(更新)這些默認值。因此，因為最初存儲了較相關默認值，所以在該處理開始時，校正更精確。應注意到這裡並未米用事先校準。在本發明的一個實施例中，至少一個判據包括與這些表對於檢測器的當前工作狀態的相關性相關的判據，特別是與從表的獲取起的使用時長相關的判據和/或者與獲取所述原值表時檢測器的溫度穩定性相關的判據。換句話說，例如，由於輻射熱計特性的漂移，用作計算偏移校正表的基礎的原值表 在一段時間後可能不再準確。因此，有利的是，重複地例如周期性地替代最舊的原值表，以及/或者根據有規律地重複的使用時長測試的結果來替代最舊的原值表。同樣，獲取原值表的某些條件是不適宜的，例如，當檢測器的溫度迅速波動時獲取原值表。因此，如果存在這樣的情況，則有利的是代替(更新)先前在這種條件下獲取的原值表。因此，在檢測器使用了特定時間長度後獲得在較好條件下獲取的當前原值表並由此獲取的最佳質量的偏移校正表。在本發明的一個特定實施例中，至少一個判據包括與這些表對於偏移校正表的計算的相關性相關的判據。特別是，所述相關性判據包括與獲取所述表時的溫度分布有關的判據，其中更新存儲的所述一組現有原值表意圖確保在所述檢測器工作的溫度範圍內的最佳溫度分布。換句話說，偏移校正表的質量還取決於其計算方式而與計算它時使用的測量量值無關。例如，如果所有存儲表都對應於圍繞給定溫度分組的溫度，則對於另一完全不同的溫度，通過對這樣一組表進行內插來計算偏移校正表只能產生相關性較小的值。因此，通過例如內插，根據本發明建立和重複地更新一組原值可以使用於計算偏移校正表的原值表的溫度分布最佳。特別是，採取在通常從-20° C到+70° C的檢測器的工作範圍內有規律地(例如每隔15° C)觸發原值表溫度獲取的步驟。在本發明的一個實施例中，該方法還包括估計用於更新偏移校正表的第一條件，如果滿足所述第一條件，則觸發■使快門閉合、獲取當前原值表以及存儲的一組現有原值表的保持處理；以及■根據當前原值表和存儲的一組原值表，計算新偏移校正表。特別是，用於更新偏移校正值的第一條件包括與當前原值表的使用時長相關的判據，特別是，如果當前表的使用時長超過預定時長，則滿足所述第一條件。此外，特別是，用於更新偏移校正表的第一條件包括與檢測器的當前溫度和與當前原值表相關聯的檢測器溫度之間的差值相關的判據，特別是，如果所述差值超過第一預定閾值，則滿足所述第一條件。優選地，該方法還包括估計用於更新偏移校正表的第二條件，並且如果滿足該第二更新條件，則觸髮根據當前原值表和存儲的一組現有原值表計算新偏移校正表，而不觸發保持處理。特別是，用於更新偏移校正表的第二條件包括與檢測器的當前溫度和與最後計算偏移校正表的時間相關的檢測器溫度之間的差相關的判據，特別是，如果所述差超過低於第一閾值的第二預定閾值，則滿足所述第二條件。換句話說，從最後計算偏移校正表時開始，檢測器的工作狀態已經改變。因此，最好是更新偏移校正表。然而，在特定條件下，特別是如果檢測器的當前溫度非常接近獲取當前原值的溫度，例如，如果檢測器的溫度沒有發生大於零點幾度的變化，則保持最後獲取的當前原值有效。換句話說，僅在根據特定條件認為需要時才重新計算偏移校正表。這樣巧妙地避免了相關附加噪聲，以及由於任何環境改變導致需要密集採樣而進行的非常繁複的重複計算，並且還降低了系統的功率消耗。因此，認為該溫度(已針對該溫度計算了偏移校正表)的偏移校正值對於其附近的溫度和/或者對於預定時間長度也是有效的。可以看出，本發明可以直接使用最相關的數據，特別是與檢測器的當前溫度相關的數據計算偏移校正值。在本發明的一個特定實施例中，偏移校正表包括通過內插當前原值表和存儲的一 組原值表中的預定數量的表，計算原值表，並且根據下面的等式計算偏移校正值Otl = Sistetp(Tamb)- Gn x Sinlerp(Tamh)H其中On是偏移校正表的值，是內插原值表的平均值，Gn是用於校正對應於所述值On的輻射熱計的增益的預定校正因數，以及Sintep(Tamb)n是與內插表的所述值On對應的原值。本發明的一個目的還是一種無需溫度調節的熱檢測器，包括■輻射熱計陣列，包括排列在光學元件的焦面上並且懸置在基底的上方的熱輻射薄膜的網膜，在該基底上形成能夠輸出對應於陣列中的每個輻射熱計的與所觀察到的景物相關的原信號值的流的讀出電路；■至少一個溫度傳感器，能夠測量基底上的一個點的溫度；■可控快門，能夠對網膜形成均勻景物；以及■信息處理裝置，包括〇存儲裝置，能夠存儲對應於輻射熱計陣列獲取的快門的圖像的當前原值表和當前組原值表以及在獲取所述表的時刻熱傳感器輸出的溫度測量值；〇計算裝置，用於根據檢測器的當前溫度、當前原值表和先前存儲的一組原值表，計算偏移校正表；以及〇校正裝置，用於利用偏移校正表校正原值流，根據本發明，信息處理裝置還包括用於保持存儲的一組當前原值表和偏移校正表的裝置，所述保持裝置能夠■控制所述快門閉合，之後獲取並且存儲對應於快門的當前原值的新當前原值表和在獲取新當前表的時刻從傳感器獲得的溫度測量值；以及■測試利用當前原值表代替所述一組現有原值表中的表的條件；以及■如果滿足所述條件，則利用當前原值表代替所述一組現有原值表中的表，並且利用當前原值表的獲取溫度代替被代替的表的獲取溫度，該測試包括根據至少一個預定判據，確定是否存在通過用在後續偏移表的確定上比所述一組現有原值表更相關的當前表來代替所述一組現有原值表中的表而獲得的新的一組表。換句話說，該檢測器能夠採用上面描述的方法。


根據下面僅作為例子給出的並且與附圖相關的描述，更容易理解本發明，其中圖I是根據本發明的檢測器的原理圖；圖2和3是示出圖I所示檢測器使用的一種方法的流程圖；圖4示出當根據本發明更新計算偏移校正值使用的表時使用的溫度判據； 圖5至7示出根據本發明計算溫度穩定判據的步驟；以及圖8和9分別示出強加於輻射熱計的溫度輪廓以及通過利用所述溫度輪廓實現本發明獲得的剩餘固定空間噪聲與時間噪聲比。
具體實施例下面的描述描述了本發明的一個優選實施例，該優選實施例在優化快門的閉合的頻率(因此圖像丟失)和校正精度方面較佳。然而，必須明白在下面描述的實施例中存在兩個獨立更新條件，即使在時間上它們是重疊的一個涉及更新偏移表，一個涉及更新一組原值表。顯然，可以並行並且可以獨立執行這兩個更新。圖I示意地示出根據本發明的熱輻射檢測器的原理圖。該檢測器不是溫控的，並且用於檢測在紅外區域內觀察到的景物的輻照。該檢測器包括分別包括被支承、偏置和熱絕緣臂懸置在基底上方的輻射熱薄膜的單元熱檢測器或者輻射熱計的陣列10。讀出電路20和溫度傳感器30也形成在基底上，並且輻射熱計的懸置薄膜集中形成布置在光學元件40的焦面上的網膜陣列。可控快門50也設置在光學元件40與輻射熱計的陣列10之間的光路上。讀出電路20提供表示光學元件40形成的觀察景物的熱圖像的數字視頻流，而溫度傳感器30輸出表示測量溫度並且與視頻流相關的數位訊號。電路20的輸出信號例如通過抽樣來管理，並且被保持，之後，以在現有技術中公知的方式復用。上面描述的部件的布局和操作是傳統的，並且為了簡潔起見，不做更詳細解釋。讀出電路20的輸出端的數據構成「原」數據，即，為了校正輻射熱計中的瑕疵而進行模擬或者數字處理之前的數據。因此，電路20提供的視頻流中的圖像中的像素對應於從輻射熱計獲得的原值。諸如數位訊號處理器(DSP)的高速計算電路60連接到讀出電路20的輸出端，並且對該流中的每幅圖像應用偏移和增益校正，以校正陣列10中的輻射熱計的偏移色散和增益色散。這種校正通常被稱為「兩點」校正，並且優選地根據如下等式執行Scor (i, j) = G (i, j) X Sbrut (i, j) +0 (i, j)(I)其中■ Sbrat (i，j)是在電路20輸出的視頻流中的圖像中具有坐標(i，j)的像素的原值；■ Scor (i, j)是對偏移色散和增益色散校正的像素(i，j)的值；
■ 0(i, j)是存儲在與高速DSP 60相關的存儲單元80中的偏移表81內的像素(i，j)的偏移校正因數；以及■ G(i, j)是存儲在存儲單元80中的增益表82內的像素(i，j)的增益校正因數。存儲單元80還可以存儲預定數量M+1的下面被稱為「快門」表83、81、842、843、…、84M的特定原值表，該原值表對應於當快門50閉合時形成的由讀出電路20提供的圖像。快門表83,84^4^4、…、84M中的每一個存儲有自身的獲取被表徵的參數，特別是自身的獲取時刻被表徵的參數以及所述獲取時傳感器30測量的溫度和表徵獲取質量的參數，後面將做詳細解釋。還設置了保持與計算單元70。該單元在下面被稱為「單元70」，它連接到快門50、讀出電路20和存儲單元80。單元70包括存儲器72和內部時鐘74，存儲器72用於存儲為了獲得存儲器80內的表而使用的中間計算值，內部時鐘74用於對當計算各種表時出現的事件進行標記的時間戳，後面將做詳細解釋。
當檢測器離開工廠時，對單元80的偏移表和快門表保留的存儲區的內容優選是自由的(不限定或者說是任意的)。在該空間內逐步形成偏移表81和快門表83、84、842、843、…、84n(N〈=M)(根據其初始內容或者換句話說根據初始化內容獲取並且存儲)，然後，在第一次使用之前在未預先校準檢測器的情況下，僅在檢測器正在工作時更新它們。對於高速DSP 60採用的基於等式(I)的兩點校正，增益表82通常在工廠校準。為此，獲取分別由讀出電路60輸出的第一和第二均勻溫度黑體的第一和第二輸出圖像，第一黑體的溫度低於第二黑體的溫度，並且輻射熱計陣列10處於相同的基準環境溫度。提醒讀者，這裡的術語「環境溫度」代表檢測器的焦面所處的並因此而其網膜所處的溫度。環境溫度與入射到檢測網膜的輻照輻射的輻射熱計的溫度不同，因此，輻射熱計的溫度不能用作環境溫度的測量值。然後，根據如下等式計算像素(i，j)的增益校正因數G(i，j)(；(/, /) = MiJlzMliJl(2)
Sl(Lj)^S2(Lj)其中■ S1 (i, j)是第一圖像中的像素(i，j)的值；■ S2 (i, j)是第二圖像中的像素(i，j)的值；■ .孓JjJ)是所有表S1或者S2的平均值。單元70管理快門表83、84、842、843、…、84N的內容，並且利用現在描述的根據本發明的方法，參考圖2和3所示的流程圖，根據快門表83、84:、842、843、…、84N計算偏移表81。在步驟100使檢測器接通後，在102，通過使快門50閉合併且利用構成該新快門表的存儲表將讀出電路20的輸出流中的圖像(原值表)存儲在單元70的存儲器72中，單元70對獲取新快門表進行控制。在存儲所述表的同時，傳感器30在獲取該表的時刻測量的基底的溫度Tamb和該時刻tawiui被存儲在存儲器72中。有利的是，還估計用於表徵獲取新快門表的質量的參數，並且將它與新快門表並且更特別地與獲取時的溫度穩定性一起存儲。根據本發明，利用之後被稱為「溫度穩定性判據」的穩定性判據量化獲取時的溫度穩定性，並且下面將做更詳細解釋。
為此，在保持處理的同時，單元70周期性地抽樣溫度信號，通常每隔兩秒一次，並且利用包括獲取新快門表的時刻的時間抽樣估計所謂「溫度穩定性」參數。單元70將該穩定性參數以與新快門表相關的參數的形式存儲在存儲器72中。然後，該方法繼續，在104，利用存儲在單元70的存儲器72內的新獲取的表代替快門表83。因此，顯而易見，在存儲器80中存儲的表中，快門表83是最新的表，並且它被指定為當前快門表或者當前表。然後，步驟104繼續到步驟106，在步驟106，估計用於更新表84i、842、843、…、84N的一系列條件，並且如果滿足條件之一，該表就被更新。更具體地說，確定表83是否應當添加到現有表84i、842、843、…、84N，或者它是否應當替換它們之一，後面將做更詳細解釋。然後，該方法繼續，在108，更新偏移表81。有利的是，通過多項式內插當前表83和N個可用表84i、842、843、…、84N中的n個表來執行偏移表81的更新。例如，本發明意在獲得7個表84i、842、843、…、847 (M=7)，但是在5個表84^84^…、845可用時根據當前表83和從序列84:、842、843、…、845中選擇的兩個表來執行內插，即，在3個快門表之間進行 內插。應當明白，檢測器工作了足夠的總時間長度後，表數量N將達到預定數M = 7，並且在序列84、842、843、…、847形式的7個表中選擇的兩個表用於內插。然後，單元70讀取傳感器30輸出的「當前」溫度測量值(關注時刻的測量值)，並且根據後者，通過將每個要素插入單元70的存儲器72存儲的所謂「內插表」中，進行估計。與檢測器首先投入運行時的情況相同，如果對於多項式內插，快門表84p842、843、…、84n的數量還不夠大，例如，如果在離開工廠之前，沒有預存默認表，則使內插程度適應存儲單元80內的表的數量。因此，如果存儲單元80內僅存在當前表83，則在112，內插表內插表被設置為與當前表83相等(用於測試存儲單元80中存在的表的數量的測試步驟110的支路「I」)。如果存儲單元80內存在兩個表(在這種情況下是表83和8七)，則在114採用第一階內插(測試步驟110的支路「2」)。相反，如果存儲單元80含有至少3個快門表(在這種情況下是83、84:和842 ;測試步驟110的支路「3」)，則在116，採用第二階內插。如果在試運行之前，在工廠對存儲單元80裝載至少兩個默認表84:和842，則有利的是，在測試步驟110，不再需要支路「 I 」和「2」。根據表的獲取溫度和/或者根據它們與相鄰表的溫度相關的溫度和/或者根據它們的溫度穩定性，對從M個存儲表中選擇的n個快門表進行選擇。然而，可以利用其它類型的判據選擇，選擇被指定用於內插計算的快門表。請注意，由於有規律地或者周期性地更新當前表83，後面將做解釋，所以允許詢問是否需要內插，因此，特別是，如果內插使用大量計算資源則最後詢問是否需要獲取並且存儲快門表84i、842、843、...、84n。環境溫度(例如幾十度)的少量變化導致電路20的輸出信號的原值發生大的變化，因此，在「當前」環境溫度下，根據獲取的最新快門表83 (更精確的用於計算偏移表的表)的內插有效性也改變。此外，非常頻繁地更新當前表83是不利的，因為在快門50閉合時檢測器不工作。內插一完成，該方法就繼續，在118，根據獲得的內插表，計算新偏移表81。優選地根據如下等式，更新偏移表81中的每個要素(i，j)(Lj y=JZZ-G(i,j) X HinuJi,])
其中■ Sinterp (i, j)是內插表Sintwp中要素(i，j)的值；以及MSinlerp 是內插表 S
interp
的要素的平均值。

隨著計算的進行，0(i, j)值逐步存儲在單元70的存儲器72內存儲的臨時表中，然後，在120，當其所有要素被計算時，該臨時表代替表81。然後，利用新偏移表81校正讀出電路20輸出的視頻流。然後，步驟120繼續到步驟122，在步驟122，估計更新偏移表81的條件。儘管在檢測器被接通之後自動觸發更新該表，但是檢測器的工作條件，特別是輻射熱計的溫度條件和工作狀態隨著檢測器的使用可能發生變化。更具體地說，在步驟124，進行測試，以判定用戶是否請求更新偏移表81。這種請求例如可以通過激活在檢測器的封裝上為此目的特別設置的控制項來進行，也可以通過檢測器裝備的人機界面(MMI)來進行。如果進行這種請求，則觸發用於更新偏移表的步驟108。在步驟125，用戶還可以藉助另一個MMI命令請求獲取新快門表。如果進行這種請求，則觸發用於獲取新快門表的步驟102。相反，在126，對單元70的時鐘74進行讀取，然後，在128，將讀出的時鐘值與獲取當前表的時刻(該時刻與當前表83同時被存儲)進行比較。如果在上面描述的實施例中從當前表83 (並且因此更新偏移表81)最後被更新起開始經歷的時間超過例如等於15分鐘的預定時長A t_min,則觸發用於獲取新快門表83的步驟102。如果不是在130讀取傳感器30測量的當前溫度的情況，則在132，將測量溫度與獲取當前表83的時的溫度(該溫度與當前表83同時被存儲)進行比較。如果這兩個溫度之間的差值的絕對值超過例如等於1° C的第一預定閾值A Tamb_shut_min,則觸發用於獲取新快門表83的步驟102。否則，在134，將這兩個溫度的差值的絕對值與小於第一閾值A Tamb_shut_min並且等於零點幾度例如0. 2° C的第二預定閾值ATamb_int_min進行比較。如果該差值小於第二閾值A Tamb_shut_min,則該方法分支到步驟124,以重新估計用於更新偏移表81的條件。相反，如果該差值超過第二閾值A Tamb_shut_min,則該方法分支到內插步驟108，以對傳感器30測量的與當前表83中的溫度不同的當前溫度並因此而對用於計算當前存儲的偏移表81的溫度計算新內插表(並因此隨後計算新偏移表83)。因此，顯而易見，當例如因為太舊或者存在顯著溫度變化而使其有效性折衷時，更新偏移表81。現在參考圖3中的流程圖和圖4中的示意圖描述快門表84^8^84、…、84n的保持條件和正如在步驟104執行的保持方式。圖4更具體地示出保持表84i、842、843、…、84N使用的各種溫度判據。為了簡潔起見，並且不使本發明難以理解，在y軸上利用標量(表示任何輻射熱計的任意原值)表示在此存儲的這組快門表，而X軸表不它們的相關獲取溫度。最後，白色方塊表不表84^84^、843、…、84N,而黑色方塊表不當前表83的不同例子。最後，該圖示出了至少存在兩個獲取的快門表84i、842、843、…、84N的情況。如前所述，當檢測器最初投入使用時，如果存在兩個工廠預存默認表84:和842，則是有利的。
如果僅存在一個存儲表84，則在102，觸發快門獲取，並且在106，將新獲取表存儲為當前表83。然後，在通常情況下，步驟104中的測試200使支路「A」到達步驟104，後面將詳細描述步驟104。當檢測器第一次被接通時，沒有快門表存儲在存儲器80內。在102，觸發初始獲取，並且在步驟106，將新獲取的表存儲為當前表83。當在104更新快門表時，則將表83存儲(拷貝)為第一快門表841。步驟102在200開始，在200，測試當前表83的獲取溫度是否落入與快門表84:、842、843、…、84n相關的最低溫度和最高溫度限定的溫度範圍內。如果獲取溫度未落入所述範圍(測試200的分支「A」)，則在202，進行新測試，以判定當前表83的獲取溫度和表84:、842、843、…、84N的溫度當中最新獲取的溫度之間的差值的絕對值是否小於第一溫度閾值A Tamb_min。
如果小於(測試202的分支「Al」)，則當前表83替換(或者拷貝到)具有最新溫度的快門表。溫度閾值A Tamb_min始終小於閾值A Tamb_shut_min,並且對於等於I ° C的值A Tamb_shut_min,優選地被選擇為約0. 9° C。作為一種選擇，該閾值尤其可以根據檢測器的工作溫度範圍、檢測器希望利用其工作的快門表84i、842、843、…、84m的額定數量以及獲取當前表的兩種操作之間的溫度差的閾值A Tamb_shut_min而變化。如果表83的溫度與表84i、842、843、…、84N的最新溫度的差值的絕對值超過閾值ATambjnin (測試202的分支「A2」)，則在206，執行測試，以確定當前時刻之前獲取的表
841、842、843、…、84N的數量是否等於快門表的目標數量M。如果不是這種情況，則在208，當前表83附加到已經獲取的現有表8^84^4^ ...、84n。如果已經獲取了 M個快門表(N=M)，則該方法繼續，通過拷貝當前表83，代替這些表中的一個。更具體地說，根據其陳舊程度，選擇要代替的快門表。以從所述表被獲取開始，檢測器被接通的次數的形式，估計例如快門表的所述陳舊程度。通過在檢測器每次被重新啟動時使該次數遞增，來更新該次數。在210執行測試，以確定快門表84i、842、843、…、84N是否與大於預定閾值的啟動次數相關。因此，在212，利用當前表83代替這樣選擇的快門表。這樣可以確保快門表84:、
842、843、…、84N足夠新而被認為與計算偏移表81相關。眾所周知，福射熱計的特性，特別是它們的偏移會受非常慢的隨時間漂移的影響，因此，即使是同一溫度下偏移也會隨時間改變，因而把最新快門表優先作為計算偏移的基礎是有利的。如果所有現有的快門表84i、842、843、…、84N都被認為足夠新，則在214進行測試，以確定當前表83的溫度穩定性判據是否超過快門表84i、842、843、…、84N的穩定性判據的最小值，從而認為獲取表83的條件優於獲取具有最小判據的快門表的條件，並因此認為與其相比當前表83更為相關。現在將參考圖5描述溫度穩定性判據的例子。如上所述，傳感器30周期性地例如每秒獨立地並且在獲取新快門表和更新偏移表的同時獲取環境溫度Tamb。傳感器30獲取了溫度Tamb後，還計算下面描述的時間導數dTamb/dt (圖5)和值Sb和S，並且將它們存儲在存儲器72內。
如果溫度的時間導數dTamb/dt落入預定範圍[_AS; + AS]內，則變量Sb被設置為預定正值a，否則，它被設置為預定負值￠(圖6)。然後，變量Sb被時間積分，並且被限制在0與100之間；圖7示出變量Sb的積分S的變化。積分S的值「0」表示獲取時的溫度穩定性特別糟糕，而積分S的值「100」表示特別好的穩定性。優選地，值@超過值a的絕對值。因此，為了對未落入範圍[_AS; + AS]內的導數dTamb/dt賦予較高的權重，積分S降低的速度比它升高的速度快。例如，變量S從0達到上限100花費10分鐘，而從100達到下限0花費3分鐘。然後，所獲取的快門表的溫度穩定性判據的值由例如變量S在獲取時刻t_acqui的值給出，在圖7所示的例子中它是80。再一次參考圖3，在步驟214，判定當前表83的穩定性判據是否超過所存儲的全部快門表84i、842、843、…、84n的穩定性判據的最小值。如果結果是否定的，則不將當前表83—直存儲在快門表84i、842、843、…、84N中。表83僅在102在下一次獲取將在104代替它的快門表之前被用於計算隨後的內插。 如果結果是肯定的，則通過拷貝，當前表83代替快門表84i、842、843、…、84N之一。為了選擇要代替的快門表，在216，執行另一個測試，以確定是否存在其穩定性判據等於或者小於當前表83的穩定性判據的一個表。如果存在，則在212，該一個快門表由當前表83代替。如果不只存在一個，即，其穩定性判據等於或者小於當前表83的快門表有幾個，則在213，利用當前表83代替這些表中具有最早獲取時刻的快門表。例如，利用當表中的一個被附加或者代替時對所有表遞增的數值來識別獲取快門表84:、842、843、…、84N的時間順序。因此，最大數對應於時間上最早獲取的表。如果當前表83的獲取溫度落入與快門表84i、842、843、…、84N相關的最低溫度和最高溫度限定的溫度範圍內(測試200的分支「B」)，則在218進行測試，以根據絕對值確定當前表83的獲取溫度與所有獲取快門表84:、842、843、…、84n的溫度是否至少差閾值A Tamb_min。如果如此(測試218的分支「B2」)，則該方法循環到測試步驟206，以確定是附加或者代替表。如果不是這種情況(測試218中的分支「BI」)，S卩，存在至少一個的獲取溫度與表83的獲取溫度相差ATambjnin以內的快門表84i、842、843、…、84N，則然後，在220進行測試，以確定獲取溫度與表83的獲取溫度相差ATambjnin以內的快門表84i、842、843、…、84N的數量是否等於或者大於2。如果如此，則不利用當前表83代替快門表84:、842、843、…、84n。如果不是上述情況，即，快門表84i、842、843、…、8\中只有一個表的獲取溫度與當前表83的獲取溫度相差ATambjnin以內，則在222執行與針對使用時長的測試210相同的測試，以在224,以與上面描述的方式相同的方式,代替最舊的表。如果使用時長判據不適用，則在226，執行與在測試214採用的測試相同的測試。然後，在224，以上述相同的方式，執行基於溫度穩定性判據的快門表替換。為了證實本發明的有效性，進行實驗。特別是，在安裝在環境室內後，根據本發明的檢測器布置在具有40° C的均勻溫度的黑體的前面，並且使檢測器的焦面承受圖8所示溫度輪廓。顯然，焦面的溫度以數量級±1.5° C/min的連續級之間的梯度連續溫度級從一 15° C變化到+60° C。
每隔15分鐘和/或者在每次測量到1° C的溫度變化時更新偏移表，以上述方式，更新快門表和偏移表使快門閉合、獲取新當前表、保持快門表等。為了檢驗根據本發明的方法的有效性採用的判據是剩餘固定空間噪聲(BSFR)與時間噪聲(BRMS)比。圖9示出根據採用工廠校準偏移表的現有技術和根據本發明的，圖8所示熱循環時的該比。顯然，根據本發明的BSFR與BRMS的比基本上等於根據現有技術的BSFT與BRMS的比，並且在I到2之間變化，這代表非常滿意的結果，並且說明了根據本發明的校正方法的有效性。上面描述了採用「兩點」校正的實施例。作為一種選擇，可以採用「單點」校正，並且僅校正偏移色散。在這種情況下，省略了增益表82。同樣，為了較好地捕獲瞬變溫度現象，可以在檢測器的不同點獲取幾個溫度(例如，基底上一個點的一個測量值，含有網膜和基底的封裝上的點的一個測量值，等等)。在這種情況下，內插該表是多維的。
同樣，上面描述了快門表保持判據的優選優先權順序(溫度差、陳舊程度、穩定性、相關使用時長)。顯然，可以選擇不同的優先權順序。同樣，可以採用其它判據。本發明具有下面的優點■在無需對大溫度範圍進行溫度控制的情況下，操作檢測器；■非常簡單、快速的工廠校準，因為校準不包括在為保持不同的目標環境溫度Tamb而將檢測器長時間放置在穩定的恆溫箱內。因此，與根據現有技術採用預校準偏移表的檢測器相比，校準檢測器所需的時間顯著縮短。特別是對於「兩點」校正，校準被減少到校準單個增益表。這樣還導致較低的設備成本和操作成本，因此，顯著降低了製造這種檢測器的成本；■在不同溫度內插快門表以及循環保持這些表尤其可以〇被降低到所要求的最小頻率即低圖像損失頻率的快門閉合頻率，獲得質量良好的圖像；〇過在這些瞬間中保持展現較小空間變化的圖像，管理網膜的溫度的瞬間變化；〇產生其質量不取決於空間漂移(例如，由一個輻射熱計到另一個輻射熱計)或者通過傳統偏移校準獲得的輻射熱計陣列的總時間漂移以及與電子控制電路系統相關的漂移的校正圖像；〇對所有溫度應用單個校正表，這樣簡化並且加速了計算；〇根據本發明的檢測器使用的讀出電路較簡單，並且避免了很可能對生產率產生不利影響的特定複雜性。此外，為了實現本發明所需的存儲器的容量被限制到最小的必需容量,因此,這樣降低了整個系統的成本和複雜性。
權利要求
1.一種用於對沒有溫度調節檢測器的輻射熱計的陣列(10)產生的圖像進行校正的方法，所述陣列(10)包括排列在光學元件(40)的焦面上並且懸置在基底上方的測熱輻射薄膜的網膜，在該基底上，形成能夠輸出對應於陣列(10)中的每個輻射熱計的與觀察到的景物相關的原信號值的流的讀出電路(20)，該檢測器還包括排列在光學元件(40)與所述網膜之間的快門(50)，並且在檢測器的環境溫度條件自由改變的工作模式下，所述方法包括 ■第一步驟(102)，用於使所述快門閉合併且獲取如下並將其存儲在所述檢測器的存儲器內 〇當前原值表，所述原值對應於由所述輻射熱計陣列(10)獲得的快門(50)的圖像；以及 〇獲取所述當前原值表時所述檢測器的溫度， ■第二步驟(108)，用於根據如下確定所述檢測器的當前溫度的偏移校正表並且將其存儲在所述檢測器的存儲器內 〇所述當前原值表和與其相關的溫度；以及 〇先前存儲在所述檢測器的存儲器內的、與由所述輻射熱計陣列(10)獲得的快門(50)的圖像對應的ー組現有原值表，以及在獲取這些表時與這些表中的每個分別相關的檢測器溫度，所述溫度被存儲在所述檢測器的存儲器內；以及 ■第三步驟(60)，用於利用偏移校正表校正原值流， 其特徵在於，所述方法包括用於在獲取一個當前原值表後保持一組現有原值表的保持處理，所述保持處理包括 ■測試利用所述當前原值表代替所述ー組現有原值表中的表的條件；以及 ■如果滿足所述條件，則利用所述當前原值表代替所述ー組現有原值表中的表，並且利用所述當前原值表的獲取溫度代替被代替的表的獲取溫度， 所述測試包括根據至少ー個預定判據，確定是否存在通過用在後續偏移表的確定上比所述ー組現有原值表更相關的當前表來代替所述ー組現有原值表中的表而獲得的新的一組表。
2.根據權利要求I所述的方法，其特徵在於，存儲的所述ー組現有原值表是部分地或者全部根據在所述檢測器工作時獲取的當前表來構造的。
3.根據權利要求I和2中任意一項所述的方法，其特徵在於，所述至少一個判據包括與這些表對於所述檢測器的當前工作狀態的相關性相關的判據，特別是與從表的獲取起的使用時長相關的判據和/或者與獲取所述原值表時所述檢測器的溫度穩定性相關的判據。
4.根據上述權利要求中的任何一項所述的方法，其特徵在於，所述至少一個判據包括與這些表對於所述偏移校正表的計算的相關性相關的判據。
5.根據權利要求4所述的方法，其特徵在幹，所述至少一個判據包括與獲取所述表時的溫度分布有關的判據，其中更新存儲的所述ー組現有原值表意圖確保在所述檢測器工作的溫度範圍內的最佳溫度分布。
6.根據上述權利要求中的任何一項所述的方法，其特徵在於，所述方法還包括估計用於更新所述偏移校正表的第一條件(122)，如果滿足所述第一條件，則觸發 ■使所述快門(50)閉合、獲取(102)當前原值表以及存儲的所述ー組現有原值表的保持處理(104);以及 ■根據所述當前原值表和存儲的所述ー組現有原值表，計算(108)新偏移校正表。
7.根據權利要求6所述的方法，其特徵在於，用於更新所述偏移校正表的第一條件包括與所述當前原值表的使用時長相關的判據，特別是，如果所述當前表的使用時長超過預定時長，則滿足所述第一條件。
8.根據權利要求6或者7所述的方法，其特徵在於，用於更新所述偏移校正表的所述第一條件包括與所述檢測器的當前溫度和與所述當前原值表相關聯的所述檢測器溫度之間的差值相關的判據，特別是，如果所述差值超過第一預定閾值，則滿足所述第一條件。
9.根據權利要求6至8中的任何一項所述的方法，其特徵在於，所述方法還包括估計用於更新所述偏移校正表的第二條件，並且如果滿足用於更新的所述第二條件，則觸髮根據所述當前原值表和存儲的所述ー組現有原值表計算新偏移校正表，而不觸發所述保持處理(104)。
10.根據權利要求9所述的方法，其特徵在於，用於更新所述偏移校正表的所述第二條件包括與所述檢測器的當前溫度和與最後計算所述偏移校正表的時間相關的所述檢測器溫度之間的差相關的判據，特別是，如果所述差超過低於所述第一閾值的第二預定閾值，則滿足所述第二條件。
11.根據權利要求6至10中的任意一項所述的方法，其特徵在於，所述偏移校正表包括通過內插所述當前原值表和存儲的所述ー組現有原值表中的預定數量的表，計算(108)內插原值表，並且其特徵在於，根據下面的等式計算所述偏移校正表 Ot, = Sullerp(Iamh) -Gn x Sinteir(Tamh)m 其中On是所述偏移校正表的值，SmwqXTrntib)是內插原值表的平均值，Gn是用於校正對應於所述值On的輻射熱計的增益的預定校正因數，以及Sintep(Tamb)n是與所述內插表的所述值On對應的原值。
12.一種無需溫度調節的熱檢測器，包括 ■輻射熱計陣列(10)，包括排列在光學元件(40)的焦面上並且懸置在基底(20)的上方的測熱輻射薄膜的網膜，在該基底上形成能夠輸出對應於陣列(10)中的每個輻射熱計的與所觀察到的景物相關的原信號值的流的讀出電路(20); ■至少ー個溫度傳感器(30)，能夠測量所述基底上的一個點的溫度； ■可控快門(50)，能夠對網膜形成均勻景物；以及 ■信息處理裝置(60，70)，包括 〇存儲裝置(80)，能夠存儲對應於所述輻射熱計陣列(10)獲取的所述快門(50)的圖像的當前原值表和當前組原值表以及在獲取所述表的時刻所述溫度傳感器輸出的溫度測量值； 〇計算裝置(70)，用於根據所述檢測器的當前溫度、所述當前原值表和先前存儲的一組原值表，計算偏移校正表；以及 〇校正裝置(60)，用於利用所述偏移校正表校正原值流， 其特徵在於，所述信息處理裝置(60，70)還包括用於保持存儲的一組現有原值表的裝置(70 )，所述保持裝置(70 )能夠 ■控制所述快門(50)閉合，之後獲取並且存儲對應於所述快門的當前原值的新當前原值表和在獲取所述新當前表的時刻從所述傳感器獲得的溫度測量值； ■測試利用所述當前原值表代替所述ー組現有原值表中的表的條件；以及■如果滿足所述條件，則利用所述當前原值表代替所述ー組現有原值表中的表，並且利用所述當前原值表的獲取溫度代替被代替的表的獲取溫度， 所述測試包括根據至少ー個預定判據，確定是否存在通過用在後續偏移表的確定上比所述ー組現有原值表更相關的當前表來代替所述ー組現有原值表中的表而獲得的新的一組表。
13.根據權利要求12所述的無需溫度調節的熱檢測器，其特徵在於，所述保持裝置能夠實現根據權利要求2至11中的任何一項所述的方法。
全文摘要
一種無需溫度調節的熱檢測器包括排列在透鏡的焦面上的懸置輻射熱計陣列、提供原值流的讀出電路以及快門。用於校正新值的方法包括使快門閉合後，用於獲取當前原值表的第一步驟(102)；用於根據當前表和存儲的一組原值表，確定檢測器的當前溫度的偏移校正表的第二步驟(108)；以及用於利用偏移校正表校正原值流的第三步驟(60)，根據本發明，保持處理(122，104)包括測試利用當前表代替所述一組中的表的條件；以及如果滿足所述條件，則利用當前表代替一組現有表中的表。該測試包括確定是否存在通過用在後續偏移表的確定上比所述一組現有原值表更相關的當前表來代替一組現有原值表中的表而獲得的新的一組表。
文檔編號G01J5/08GK102687496SQ201080046688
公開日2012年9月19日 申請日期2010年10月19日 優先權日2009年10月22日
發明者克萊爾·皮斯特, 克裡斯託夫·米納西安, 讓-馬克·基亞帕 申請人:Ulis股份公司