一種測試儀器的測試棒及其製造方法
2024-03-29 03:51:05
專利名稱：一種測試儀器的測試棒及其製造方法
技術領域：
本發明涉及一種測試儀器(如萬用表)的測試棒及其製造方法。
背景技術：
圖1所示為傳統測試儀器的測試棒，它是主要由香蕉插頭1、導線2、測試長杆3和銅杆4四部分組成。在測試棒中銅杆一般用2mm的圓銅杆做成，其銅杆4前端探針部分為短形錐頭，如圖2所示，當需用它來測試較精密的電路時，測試棒的銅杆4尖頭41顯得較粗，太大，使用者難以觸到需要的測試點而又不碰到旁邊的線路。這時使用者往往將銅杆4尖頭41銼尖，如圖3所示。由於銅材太軟且尖頭部太細，容易折斷，特別在是測試時稍許施壓，尖頭41部容易彎曲折斷。因此，另有一些使用者將縫衣針焊在銅杆4旁側，如圖4所示。然而縫衣針的頭部尖且硬，雖能夠滿足使用者的測試要求，但縫衣針和銅杆很難焊接在一起，也不夠專業，而且縫衣針在測試時稍許施壓容易彎曲，影響測試。
發明內容
本發明旨在提供一種其頭部探針部分具有堅硬、耐磨、超尖且不容易折斷特性的測試棒，及其製造方法，以滿足使用者測試精細元件和超細電路的需求。
本發明所提供的一種測試儀器的測試棒，包括銅杆，其特徵在於，它還包括一探針，其中所述銅杆前端面設有一盲孔，所述探針鑲嵌於該盲孔中。
在上述的測試棒中，探針是由硬合金材料製成。
在上述的測試棒中，銅杆的前端部呈收縮狀。
本發明還提供了一種測試棒的製造方法，包括下列步驟鑽孔步驟在測試棒的銅杆前端面鑽有一盲孔；鑲嵌步驟將探針鑲嵌於所述盲孔中。
在上述的測試棒的製造方法中，探針的鑲嵌部分是用外力擠壓鑲嵌於所述盲孔中。
在上述的測試棒的製造方法中，在鑽孔步驟之前，還包括將銅杆的端部進行銼磨的步驟，以使銅杆端部呈收縮狀。
在上述的測試棒的製造方法中，探針選用硬合金材料製成。
由於採用了上述的技術解決方案，即位於銅杆前端的探針是鑲嵌於銅杆的中間，並且探針採用硬質合金材料製成，從而使探針具有堅硬、耐磨、超尖且不容易折斷的特性，以滿足使用者測試精細元件和超細電路的需求。
圖1是傳統測試儀器的測試棒的第一種結構示意圖；圖2是圖1中的局部放大圖；圖3是傳統測試儀器的測試棒的第二種結構示意圖；圖4是傳統測試儀器的測試棒的第三種結構示意圖；圖5是本發明測試棒的結構示意圖；圖6是圖5中的局部放大示意圖。
具體實施例方式
本發明之一，一種測試儀器的測試棒。
如圖5～6所示，本發明測試棒，由香蕉插頭1、導線2、長杆3、銅杆4′和探針5所組成，銅杆4′的前端部呈收縮狀，端面設有一盲孔，探針5鑲嵌於該盲孔中。
探針5是由硬合金材料製成。
本發明之二，一種測試棒的製造方法。
該方法包括下列步驟銼磨步驟將銅杆的端部進行銼磨，以使銅杆端部呈收縮狀；鑽孔步驟在測試棒的銅杆前端面鑽有一盲孔；鑲嵌步驟將探針用外力擠壓讓尾部鑲嵌於上述盲孔中。
探針選用硬合金材料製成。
由於上述探針5採用硬質合金材料製成，因此，具有耐磨，超尖，超硬的特性，能滿足使用者測試精細元件和超細電路的要求。
雖然本發明結構和方法已參照當前的具體實例進行了描述，但是本技術領域的普通技術人員應該認識到，以上的實例僅是用來說明本發明，在沒有脫離本發明精神的情況下還可作出各種等效的變化和修改。因此，只要在本發的實質精神範圍內對上述實例的變化，變型均將落在本發明的權利要求書的範圍之內。
權利要求
1.一種測試儀器的測試棒，包括銅杆，其特徵在於，它還包括一探針，其中所述銅杆前端面設有一盲孔，所述探針鑲嵌於該盲孔中。
2.根據權利要求1所述的測試棒，其特徵在於；所述的探針是由硬合金材料製成。
3.根據權利要求1或2所述的測試棒，其特徵在於；所述銅杆的前端部呈收縮狀。
4.一種如權利要求1所述的測試棒的製造方法，其特徵在於包括下列步驟鑽孔步驟在測試棒的銅杆前端面鑽有一盲孔；鑲嵌步驟將探針鑲嵌於所述盲孔中。
5.根據權利要求4所述的測試棒的製造方法，其特徵在於所述鑲嵌步驟中，所述探針的鑲嵌部分是用外力擠壓鑲嵌於所述盲孔中。
6.根據權利要求4或5所述的測試棒的製造方法，其特徵在於在所述鑽孔步驟之前，還包括將銅杆的端部進行銼磨的步驟，以使銅杆端部呈收縮狀。
7.根據權利要求4所述的測試棒的製造方法，其特徵在於所述探針選用硬合金材料製成。
全文摘要
本發明涉及一種測試儀器的測試棒及其製造方法，在測試棒結構中，銅杆前端面設有一盲孔，探針鑲嵌於該盲孔中，並且探針是由硬合金材料製成。本發明使得探針具有堅硬、耐磨、超尖且不容易折斷的特性，以滿足使用者測試精細元件和超細電路的需求。
文檔編號G01R15/12GK1932528SQ200510029560
公開日2007年3月21日 申請日期2005年9月12日 優先權日2005年9月12日
發明者章鴻斌 申請人:章鴻斌