雷射二維樣板測量儀校準用量塊架的製作方法
2024-03-22 12:55:05 1
專利名稱：雷射二維樣板測量儀校準用量塊架的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種雷射二維樣板測量儀校準用量塊架，用於進口雷射二維樣板測量儀的精度指標校準。
背景技術：
由於雷射二維樣板測量儀屬於坐標測量的一個小分支，其精度校準適於坐標測量機校準規範的有關條款，根據三坐標測量機校準規範，採用三等量塊對其精度警醒校準。參照三坐標測量機校準規範，其雷射二維樣板測量儀的精度只是為(30+L/50) μ m,該雷射二維樣板測量儀的校準完全可以採用三等量塊作為精度指標校準的計量標準，但由於該雷射 二維樣板測量儀的工作檯為垂直玻璃工作檯，使得量塊無法固定安裝。
發明內容
本發明要解決的技術問題是提供一種雷射二維樣板測量儀校準用量塊架，該雷射二維樣板測量儀校準用量塊架解決在垂直工作檯情況下量塊的固定安裝的同時，還可以滿足雷射二維樣板測量儀對量塊的雷射掃描測量，以實現對其精度指標的校準。為解決以上問題，本發明的具體技術方案如下一種雷射二維樣板測量儀校準用量塊架，在矩形的量塊架的表面設有7個長條形滑道，其中滑道I為水平直線，滑道IV和滑道V為兩條平行設置的豎直線，滑道II、滑道III、滑道VI和滑道Vn分別與水平面成30°、40°、120°和140° ;七個尺寸不同的量塊分別插入到七個滑道中，並且滑道上的滑塊可以互換。所述的量塊架的尺寸為IOOOmmX 1000mm，每個滑道的長度為705mm，滑道的寬度為IOmm ;其中滑道I的左端距下邊緣150mm，距左邊緣150mm ;滑道II的左端距左邊緣160mm,距下邊緣220_ ;滑道III的左端距左邊緣140mm，距下邊緣300_ ;滑道IV距下邊緣200mm，距左邊緣250mm ;滑道V距下邊緣200mm，距左邊緣750mm ;滑道VI距右邊緣160mm，距下邊緣300mm ;滑道YD距右邊緣140mm,距下邊緣220mm。所述的量塊為矩形，並設有七個規格，其長度分別為700mm、500mm、400mm、300mm、250mm、1 50mm 和 40mm n該雷射二維樣板測量儀校準用量塊架採用上述結構，可以使二維樣板測量儀通過不同量塊不同位置的掃描，從而確定二維樣板測量儀的掃描誤差。
圖I為雷射二維樣板測量儀校準用量塊架的結構示意圖。圖2為雷射二維樣板測量儀校準用量塊架的應用示意圖。其中I、控制櫃體；2、玻璃工作檯；3、測量掃描側頭架；4、雷射掃描側頭；5、校準用量塊架；6、量塊；7、量塊架支撐工作檯。
具體實施例方式如圖I所示，一種雷射二維樣板測量儀校準用量塊架，在矩形的量塊架的表面設有7個長條形滑道，其中滑道I為水平直線，滑道IV和滑道V為兩條平行設置的豎直線，滑道II、滑道III、滑道VI和滑道Vn分別與水平面成30°、40°、120°和140° ;七個尺寸不同的量塊分別插入到七個滑道中，並且滑道上的滑塊可以互換。所述的量塊架的尺寸為IOOOmmX 1000mm，每個滑道的長度為705mm，滑道的寬度為IOmm ;其中滑道I的左端距下邊緣150mm，距左邊緣150mm ;滑道II的左端距左邊緣160mm,距下邊緣220_ ;滑道III的左端距左邊緣140mm，距下邊緣300_ ;滑道IV距下邊緣200mm，距左邊緣250mm ;滑道V距下邊緣200mm，距左邊緣750mm ;滑道VI距右邊緣160mm，距下邊緣300mm ;滑道YD距右邊緣140mm,距下邊緣220mm。
所述的量塊為矩形，並設有七個規格，其長度分別為700mm、500mm、400mm、300mm、250mm、1 50mm 和 40mm n如圖2所示，二維樣板測量儀校準時，將校準用量塊架放在支撐工作檯上，將其與被校準二維樣板測量儀玻璃工作檯靠近，並至中心。將量塊置於量塊架的凹槽內。校準時，首先將700mm量塊放在滑道I內，啟動二維樣板測量儀，打開測量軟體，儀器自校準後，通過控制系統及軟體，操作二維樣板測量儀雷射掃描測頭對置於該量塊內，進行掃描，其結果不應超過最大允許誤差。掃描完成後，分別將量塊置於滑道II、滑道III、滑道IV、滑道V、滑道VI和滑道VL並依此對該量塊進行掃描。同理，分別將其他規格的量塊也分別置於以上七個滑道內，共測得49個測量結果，如均不超過樣板測量儀的最大允許誤差，則視為二維樣板測量儀處於合格狀態。
權利要求
1.一種雷射二維樣板測量儀校準用量塊架，其特徵在於在矩形的量塊架的表面設有7個長條形滑道，其中滑道I為水平直線，滑道IV和滑道V為兩條平行設置的豎直線，滑道II、滑道III、滑道VI和滑道Vn分別與水平面成30。、40°、120°和140° ;七個尺寸不同的量塊分別插入到七個滑道中，並且滑道上的滑塊可以互換。
2.如權利要求I所述的雷射二維樣板測量儀校準用量塊架，其特徵在於所述的量塊架的尺寸為IOOOmmX 1000mm，每個滑道的長度為705mm，滑道的寬度為IOmm ;其中滑道I的左端距下邊緣150mm，距左邊緣150mm ;滑道II的左端距左邊緣160mm，距下邊緣220mm ;滑道III的左端距左邊緣140mm，距下邊緣300_ ;滑道IV距下邊緣200mm，距左邊緣250_ ;滑道V距下邊緣200mm，距左邊緣750mm ;滑道VI距右邊緣160mm，距下邊緣300mm ;滑道YD距右邊緣140mm,距下邊緣220_。
3.如權利要求I所述的雷射二維樣板測量儀校準用量塊架，其特徵在於所述的量塊為矩形，並設有七個規格，其長度分別為700mm、500mm、400mm、300mm、250mm、150mm和40mm。
全文摘要
本發明涉及一種雷射二維樣板測量儀校準用量塊架，在矩形的量塊架的表面設有7個長條形滑道，其中滑道Ⅰ為水平直線，滑道IV和滑道V為兩條平行設置的豎直線，滑道Ⅱ、滑道Ⅲ、滑道Ⅵ和滑道Ⅶ分別與水平面成30°、40°、120°和140°；七個尺寸不同的量塊分別插入到七個滑道中，並且滑道上的滑塊可以互換。該雷射二維樣板測量儀校準用量塊架解決在垂直工作檯情況下量塊的固定安裝的同時，還可以滿足雷射二維樣板測量儀對量塊的雷射掃描測量，以實現對其精度指標的校準。
文檔編號G01B3/14GK102798345SQ201210335849
公開日2012年11月28日 申請日期2012年9月12日 優先權日2012年9月12日
發明者關月 申請人:瀋陽飛機工業(集團)有限公司