具定位裝置的測試室的製作方法

2023-12-04 18:15:41 3

專利名稱：具定位裝置的測試室的製作方法
具定位裝置的測試室
技術領域：
本發明關於一種用以進行電磁波相關測試的測試室，特別是一種具定位裝 置的測試室。背景技術：
隨著科技的進步，各式各樣地計算機(Computer)、通訊(Communication) 和消費性電子(Customer Electronic)的整合系統設備快速發展，以帶給人們 更方便的生活。然而，隨著電子電機設備的相關產品的廣泛使用相對造成複雜 電磁噪聲環境。
因此，所有電子電機設備的相關產品都符合相關的電磁兼容性 (Electromagnetic Compatibility; EMC)標準和規範，才能進行銷售。電磁
兼容測試分為電磁幹擾及電磁耐受度測試，於是在產品的整個研發過程中，就 必須反覆進行電磁幹擾及電磁耐受度測試，以驗證其是否符合相關的EMC標準 和規範，進而找出產品設計及生產過程中EMC上的盲點，以使生產的電子電機 設備的相關產品都符合相關的EMC標準和規範。
此外，隨著無線電信通訊技術與無線數據通訊技術，許多產品都還具備無 線傳輸功能，例如手機、無線網絡卡、藍芽、無線滑鼠、無線鍵盤、橋接器、 路由器及其它無線產品等，此些產品除了需進行EMC測試還需進行射頻 (radio-frequency; RF)測試，以測試其電磁波的收發功能是否正常。由於架
構一間測試室所需費用相當龐大，因此為節省生產成本，大部分的測試室多是 EMC測試和RF測試共享。
請照圖l，圖l為現有的測試室，主要包括一隔離室110、 一測試桌120、 一測試天線130和數個吸波材料(Absorber) 140。測試天線130朝向測試桌120 且相距一既定距離而擺置在隔離室110中，並且在隔離室110的內側壁面上覆 蓋吸波材料140。此隔離室110具有提供屏蔽效果，可降低外界的電磁幹擾。測 試桌120用以擺置待測的電子裝置102。測試天線130可發射測試訊號，以進行 測試。而吸波材料140可吸收射向隔離室110的內側壁面的測試訊號，以防止 四周壁面反射測試訊號而造成幹擾。在測試時，測試人員將待測的電子裝置102 擺置在測試桌120上，然後，根據欲測試的電磁波相關測試種類而擺置測試天 線130，即是當欲進行EMC測試時，則設置EMC測試用的測試天線130，而當欲 進行RF測試時，則設置RF測試用的測試天線130。然後再藉由測試天線130進 行此待測的電子裝置102的EMC測試或RF測試。
也就是說，在現有的測試室中，測試人員會在測試時更換測試天線以進行
EMC測試或RF測試，並且在擺放待測的電子裝置或更換測試天線時，多以目測 或拉線的方式來確認電子裝置或測試天線的擺放位置。然而，以目測方式來確 認時，容易造成不同測試人員所擺放的位置會有所差異，進而使測試結果產生 人為誤差。雖然，藉由拉線的方式可較目測準確，由於此方法需在每次測試都 需拉一次線因此相當麻煩，並且在反覆拉線的過程中也容易發生人為疏失。因 此，此些方式不是易使測試結果產生人為誤差就是相當麻煩，進而造成測試結 果受到質疑或是耗費許多時間在測試上等問題產生。
發明內容
鑑於以上的問題，本發明的主要目的在於提供一種具定位裝置的測試室，
可以大體上解決先前技術所存在的問題。
本發明所揭露的具定位裝置的測試室，可定位待測的電子裝置的擺放位置。 本發明所揭露的具定位裝置的測試室，可定位測試天線的擺放位置。 本發明所揭露的具定位裝置的測試室，可減少因擺放位置不同而產生的測
試結果的差異。
因此，為達上述目的，本發明所揭露的具定位裝置的測試室，用以進行一 電子裝置的電磁波相關測試，包括 一隔離室、 一測試桌、 一測試天線、 一定 位裝置和數個吸波材料。
因此，隔離室具有屏蔽效果，且測試桌、測試天線、定位裝置和吸波材料 均設置在此隔離室內。其中，測試天線與測試桌相距一既定距離，且用以執行 電子裝置的電磁波相關測試。而定位裝置可用以決定電子裝置的擺放位置和方 向以及在更換測試天線時決定測試天線的擺放位置和方向。並且，再進行電子 裝置的電磁波相關測試時，設置在隔離室的內側壁面上的吸波材料可吸收射向 隔離室的壁面的電磁波，以避免產生反射。
因此，此定位裝置可具有一個以上的定位器。
當定位裝置具有一定位器時，此定位器可設置在相對測試桌中心的隔離室 的內側上壁面，以決定電子裝置的擺放位置和方向。
當定位裝置具有二定位器時，此些定位器可分別設置在相對測試桌中心的 隔離室的內側上壁面，以及設置在測試桌相對測試天線的另一側的隔離室的內 側壁面，以決定電子裝置的擺放位置和方向和測試天線的擺放位置和方向。
而當定位裝置具有三定位器時，此些定位器則分別設置在相對測試桌中心 的隔離室的內側上壁面、設置在測試桌相對測試天線的另一側的隔離室的內側 壁面，以及設置在相對測試天線的隔離室的內側上壁面，以決定電子裝置的擺 放位置和方向和測試天線的擺放位置和方向。
有關本發明的特徵與實作，茲配合圖示作最佳實施例詳細說明如下。

圖1為說明現有的測試室的概要架構圖。
圖2為說明根據本發明的第一實施例的具定位裝置的測試室的概要架構圖。 圖3為說明根據本發明的第二實施例的具定位裝置的測試室的概要架構圖。
圖4為說明根據本發明的第三實施例的具定位裝置的測試室的概要架構圖。
具體實施方式
以下舉出具體實施例以詳細說明本發明的內容，並以圖示作為輔助說明。 說明中提及的符號參照圖式符號。
請參照圖2、圖3、圖4，為根據本發明一實施例的具定位裝置的測試室， 用以進行一電子裝置的電磁波相關測試，主要包括一隔離室210、 一測試桌220、 一測試天線230、數個吸波材料(Absorber) 240和一定位裝置。測試桌120和 測試天線230設置在隔離室210內，且彼此相距一既定距離D，其中此既定距離 D由進行測試的電磁波相關測試類別的相關標準和規範所決定。在隔離室210的 內側壁面上設置吸波材料240。待測的電子裝置202根據定位裝置而擺置在測試 桌220上，以藉由測試天線230來進行待測的電子裝置202的電磁波相關測試。 此隔離室210具有屏蔽效果，可降低外界的電磁幹擾，且吸波材料240可吸收 射向隔離室210的內側壁面的測試訊號，以防止四周壁面反射測試訊號而造成 幹擾。
其中，此定位裝置可為一定位器250，設置相對於測試桌220的中心的隔離 室210的內側上壁面，而覆蓋在壁面上的吸波材料240會避開此定位器250而 擺設，如圖2所示。此定位器250可用以決定待測的電子裝置202的擺放位置 與方向。
此外，此定位裝置可為二定位器250、 252，其中的一定位器250設置相對 於測試桌220的中心的隔離室210的內側上壁面，而另一定位器252設置在測 試桌220相對於測試天線230的一側的隔離室210的內側壁面上，同樣地覆蓋 在壁面上的吸波材料240會避開此二定位器250、 252而設置，如圖3所示。因 此，定位器250、 252可用以決定待測的電子裝置202的擺放位置與方向，而定 位器252則可在更換待測天線230時用以決定待測天線230的擺放位置與方向。
另外，此定位裝置可為三定位器250、 252、 254，其中定位器250設置相對 於測試桌220的中心的隔離室210的內側上壁面，定位器252設置在測試桌220 相對於測試天線230的一側的隔離室210的內側壁面上，而定位器254設置相 對於測試天線230的支撐架的隔離室210的內側上壁面，並且覆蓋在壁面上的 吸波材料240會避開此些定位器250、 252、 254而設置，如圖4所示。因此， 定位器250、 252可用以決定待測的電子裝置202的擺放位置與方向，而定位器 252、 254則可在更換待測天線230時用以決定待測天線230的擺放位置與方向。
因此，定位器250、 252、 254可為雷射光源，用以發出點狀或線狀的一雷 射光線。在測試時，將此些定位器250、 252、 254所發出的雷射光線作為基準
線，而在擺放待測的電子裝置202或更換待測天線230時可參考此些基準線來 確認擺放位置與方向。
因此，測試天線230可為一射頻(radio-frequency; RF)測試天線，或者 為一電磁兼容性(Electromagnetic Compatibility; EMC)測試天線，以進行 待測的電子裝置的RF測試或EMC測試。
此外，此測試桌220可藉由一轉動裝置而轉動，因此當進行測試時不需移 動擺置在測試桌220的待測的電子裝置202即可藉由測試桌220轉動待測的電 子裝置202而改變待測的電子裝置202的方向以進行各個方向的待測的電子裝 置202的測試。
另外，在測試天線230的底座上可利用L形支撐鐵片來加強其支撐強度。 舉例來說，假設定位裝置包括二定位器。當欲進行一電子裝置的RF測試時， 測試人員會將RF測試天線根據定位裝置擺放在隔離室內，同時根據定位裝置將 待測試的電子裝置擺置在測試桌上，即可進行電子裝置的RF測試。而當欲進行 一電子產品的EMC測試時，測試人員會將EMC測試天線根據定位裝置擺放在隔 離室內，同時根據定位裝置將待測試的電子裝置擺置在測試桌上，即可進行電 子裝置的EMC測試。
權利要求
1、一種具定位裝置的測試室，用以進行一電子裝置的電磁波相關測試，其特徵在於其包括一隔離室，具有屏蔽效果；一測試桌，設置在該隔離室內，用以擺置該電子裝置；一測試天線，設置在該隔離室內且與該測試桌相距一第一既定距離，用以執行該電子裝置的電磁波相關測試；一定位裝置，具有一個以上的定位器，設置在該隔離室的內側壁面上，用以決定該電子裝置的擺放位置和方向以及選擇性決定該測試天線的擺放位置和方向；數個吸波材料，設置在該隔離室的內側壁面，用以避免該隔離室的內側壁面反射測試用的電磁波。
2、 根據權利要求1所述的具定位裝置的測試室，其特徵在於當該定位器 為一定位器，該定位器設置在相對該測試桌中心的該隔離室的內側上壁面，以 決定該電子裝置的擺放位置和方向。
3、 根據權利要求2所述的具定位裝置的測試室，其特徵在於該定位器為一雷射光源，以產生一雷射光線。
4、 根據權利要求3所述的具定位裝置的測試室，其特徵在於該雷射光線 為點狀。
5、 根據權利要求3所述的具定位裝置的測試室，其特徵在於該雷射光線 為線狀。
6、 根據權利要求l所述的具定位裝置的測試室，其特徵在於當該定位器 為二定位器，該定位器分別設置在相對該測試桌中心的該隔離室的內側上壁面， 以及設置在該測試桌相對該測試天線的另一側的該隔離室的內側壁面，以決定 該電子裝置的擺放位置和方向和該測試天線的擺放位置和方向。
7、 根據權利要求6所述的具定位裝置的測試室，其特徵在於該定位器為 一雷射光源，以產生一雷射光線。
8、 根據權利要求7所述的具定位裝置的測試室，其特徵在於該雷射光線 為點狀。
9、 根據權利要求7所述的具定位裝置的測試室，其特徵在於該雷射光線 為線狀。
10、 根據權利要求1所述的具定位裝置的測試室，其特徵在於當該定位 器為三定位器，該定位器分別設置在相對該測試桌中心的該隔離室的內側上壁 面、設置在該測試桌相對該測試天線的另一側的該隔離室的內側壁面，以及設 置在相對該測試天線的該隔離室的內側上壁面，以決定該電子裝置的擺放位置 和方向和該測試天線的擺放位置和方向。
11、 根據權利要求10所述的具定位裝置的測試室，其特徵在於該定位器分別為一雷射光源，以產生一雷射光線。
12、 根據權利要求ll所述的具定位裝置的測試室，其特徵在於該雷射光 線為點狀。
13、 根據權利要求ll所述的具定位裝置的測試室，其特徵在於該雷射光 線為線狀。
14、 根據權利要求l所述的具定位裝置的測試室，其特徵在於該測試桌 具有一轉動裝置，以轉動該測試桌。
15、 根據權利要求1所述的具定位裝置的測試室，其特徵在於該測試天 線的底座上具有數個L形鐵片，以強化該測試天線，並且在該測試天線和該天 線架的底座上設置該吸波材料。
16、 根據權利要求1所述的具定位裝置的測試室，其特徵在於該既定距 離由進行的電磁波相關測試的相關標準和規範所決定。
17、 根據權利要求1所述的具定位裝置的測試室，其特徵在於該測試天 線為一射頻測試天線。
18、 根據權利要求1所述的具定位裝置的測試室，其特徵在於該測試天 線為一電磁兼容性測試天線。
全文摘要
一種具定位裝置的測試室，用以進行一電子裝置的電磁波相關測試，包括一隔離室、一測試桌、一測試天線、一定位裝置以及數個吸波材料，其中此定位裝置具有一個以上的定位器，可藉由定位器來決定電子裝置或測試天線的擺放位置和方向，以減少因擺放位置不同而產生的測試結果的差異。
文檔編號G01R31/00GK101097235SQ200610036308
公開日2008年1月2日 申請日期2006年6月30日 優先權日2006年6月30日
發明者楊華青 申請人:佛山市順德區順達電腦廠有限公司;神達電腦股份有限公司