一種自適應自動檢測壞點的圖像處理晶片及方法
2023-11-11 00:43:17 3
專利名稱：一種自適應自動檢測壞點的圖像處理晶片及方法
技術領域：
本發明涉及圖像處理晶片，尤其涉及一種自適應自動檢測壞點的圖像處 理晶片及方法。
背景技術：
在多媒體資訊發達的今天，圖像處理晶片的用途越來越廣泛，但在目前 的圖像處理晶片中，還不能避免壞點的存在，因此在出廠時和使用時都需要 檢測出壞點的位置——即壞點坐標。
目前的圖像處理晶片必須依靠特殊軟體來進行壞點檢測，當流媒體一打 開，軟體就要不停進行檢測，因此會佔用大量的資源，影響整體性能。另夕卜， 壞點數據不能在檢測過程中自適應的進行增刪，造成壞點數據更新不及時。
發明內容
針對以上不足，本發明要解決的技術問題是提供一種自適應自動檢測壞
點的圖像處理晶片及方法，根據;險測結果實時更改壞點數據，並且依靠硬體 實現整個^r測。
為了解決上述技術問題，本發明提供了一種自適應自動檢測壞點的圖像 處理晶片，包括壞點檢測模塊；其特徵在於，還包括控制模塊和存儲器；
所述壞點檢測模塊用於開流後對每一幀檢測一次壞點，並將檢測結果上 報給控制模塊；
所述存儲器包括第一存儲器，用於動態存儲壞點數據；
所述控制模塊用於讀取第一存儲器中的壞點數據，並和所述檢測結果進 行比對，根據比對的結果在第一存儲器中增力口、修改和刪除相應的壞點數據。
進一步的，所述第一存儲器中存儲的壞點數據包括壞點坐標及壞點屬
性；所述壞點屬性包括自動檢測出的壞點的可信度和統計次數。
進一步的，所述控制模塊還用於保存可信度最大值、統計次數最大值、
統計閾值和刪除閾值；
所述控制模塊根據比對的結果在第一存儲器中增加、修改和刪除相應的 壞點數據具體是指
如果檢測出的壞點的數據已存在並且為自動檢測出的壞點，只要其可信 度和統計次數未達到最大值，則將第一存儲器中該壞點的可信度和統計次數 各加l;如果可信度和/或統計次數達到最大值，則達到最大值的不加l;
如果檢測出的壞點的數據不存在；則在第 一存儲器裡添加該壞點的數 據，屬性設為自動檢測出的壞點，其可信度和統計次數為1;
如果第 一存儲器中存在壞點數據的壞點未檢測出；則將第 一存儲器中該 壞點的可信度減l,統計次數加l;
如果一個壞點的統計次數大於統計閾值而可信度小於刪除閾值，或者可 信度與統計次數的比值小於刪除閾值，則從第一存儲器裡刪除該壞點的數據。
進一步的，所述圖像處理晶片還包括壞點消除模塊，所述存儲器還包括
第二存儲器；
所述壞點消除模塊用於根據第二存儲器中的壞點數據進行壞點修復；
所述控制模塊還用於保存更新周期並在每到達一個新的更新周期時，將 第一存儲器中的壞點數據，複製到第二存儲器中。
進一步的，所述存儲器還包括第三存儲器；
所述第三存儲器為下電不丟失數據的存儲器，用於保存前一次下電時的 壞點數據；
所述控制模塊還用於在圖像處理晶片上電時，將第三存儲器中保存的壞 點數據複製到第一存儲器和第二存儲器中；並在圖像處理晶片下電前，將第 一存儲器中的壞點數據複製到第三存儲器中。
本發明還提供了一種在權利要求1所述的圖像處理晶片中自適應自動 檢測壞點的方法，包括
a、 圖像處理晶片上電；
b、 一幀到來時，進行一次壞點檢測；
c 、將檢測結果與第 一存儲器裡壞點數據進行比對；
d、根據比對的結果在第一存儲器中增加、修改和刪除相應的壞點數據； 如果繼續^r測則返回步驟b。
進一步的，所述壞點數據包括壞點坐標及壞點屬性；所述壞點屬性包 括自動檢測出的壞點的可信度和統計次數。
進一步的，所述步驟d具體包括
如果檢測出的壞點的數據已存在並且為出廠壞點，則不進行處理；
如果檢測出的壞點的數據已存在並且為自動檢測出的壞點，只要其可信 度和統計次數未達到預設的最大值，則在第一存儲器裡將其可信度和統計次 數各加l;如果可信度和/或統計次數達到最大值，則達到最大值的不加l;
如果檢測出的壞點的數據不存在，則在第 一存儲器裡添加該壞點的數 據，可信度和統計次數為1;
如果在第一存儲器中存在數據的壞點未檢測出，則在第一存儲器裡將該 壞點的可信度減l,統計次數加l;
如果一個壞點的統計次數大於統計閾值而可信度小於刪除閾值，或者可 信度與統計次數的比值小於刪除閾值則從第一存儲器裡刪除該壞點數據。
進一步的，所述方法還包括與步驟b到d並行的步驟e:按照第二存儲 器中的壞點數據對各壞點進行修復。
進一步的，所述步驟b到e中任一步中如果到達下個更新周期，則進行 步驟f:將第一存儲器裡的壞點數據複製到第二存儲器；然後返回步驟b和 步驟e。
進一步的，所述步驟b到f中任一步中如果圖像處理晶片要下電，則將 第 一存儲器裡的內容複製到第三存儲器中後下電。進一步的，所述步驟a中還包括將第三存儲器中的壞點數據分別複製 到第 一存儲器和第二存儲器中。
本發明的技術方案可以不用軟體的介入就實現壞點自動檢測，並且能夠 在邊檢測邊對壞點數據進行增、刪，使壞點數據能夠及時更新，實現了對壞 點的自適應自動;f企測。本發明的優化方案還可以自動進行壞點消除。
圖1是本發明的自適應自動檢測壞點的圖像處理晶片的具體實施框圖； 圖2本發明的自適應自動;f企測壞點的方法的具體事實流程圖。
具體實施例方式
下面將結合附圖及實施例對本發明的技術方案進行更詳細的說明。
本發明提供了一種自適應自動檢測壞點的圖像處理晶片，如圖l所示， 包括存儲器、控制模塊4、壞點檢測模塊5。
所述存儲器至少包括第一存儲器l,所述第一存儲器1為可讀寫存儲器， 用於動態存儲壞點數據，所述壞點數據包括壞點坐標及壞點屬性；所述壞點 坐標可以是(X， Y)或(Y, X)的形式；在所述壞點屬性包括壞點來源， 用於指明該壞點為自動檢測出的壞點還是出廠壞點；自動檢測出的壞點的數 據稱為動態壞點數據，這部分壞點數據的壞點屬性還包括該壞點的可信度和 統計次數。
所述壞點檢測模塊5用於開流後對每一幀檢測一次壞點，並將檢測結 果一一即檢測到的壞點的坐標上報給控制模塊4。
所述控制模塊4用於根據壞點檢測模塊5的檢測結果和第一存儲器1中 存儲的壞點數據進行判斷，在所述第一存儲器1中增加、修改和刪除相應的 壞點數據。具體的說，所述控制模塊4用於保存預設的可信度最大值、統計 次數最大值、統計閾值和刪除閾值；用於接收壞點檢測模塊5上報的壞點坐
標，並從第一存儲器l中讀出所存儲的壞點數據裡的壞點坐標，然後將兩份
壞點坐標進行比對，根據比對結果作相應處理，包括以下情況
如果檢測出的壞點的數據已存在並且為出廠壞點；則不進行處理。
如果檢測出的壞點的數據已存在並且為自動檢測出的壞點，只要該壞點 的可信度和統計次數未達到最大值，則將第一存儲器1中該壞點的可信度和 統計次數各加l;如果可信度和/或統計次數達到最大值，則達到最大值的個 不加1。
如果檢測出的壞點的數據不存在；則在第一存儲器i裡添加該壞點的數 據，屬性設為自動檢測出的壞點，其可信度和統計次數為1;這是能實現自 適應檢測的一方面內容_ —能根據實際情況增加壞點數據。
如果存儲器中存在壞點數據的壞點未;^測出；則將第一存儲器1中該壞 點的可信度減l,統計次數加l。
如果一個壞點的統計次數大於統計閾值而可信度小於刪除閾值，或者可 信度與統計次數的比值小於刪除閾值，則從第一存儲器1裡刪除該壞點的數 據；即當一定統計次數後，可信度仍較低時，可以認為該壞點已被修復或之 前是被誤檢測為壞點的，因此可以從壞點數據中刪除，這是能實現自適應檢 測的另 一方面內容一一能根據實際情況刪除壞點數據。所述統計閾值及刪除 閾值根據需要事先設定。
不對出廠壞點進行可信度統計是為了防止由於誤判而將出廠壞點數據 刪除；因此所述自適應自動壞點檢測也是針對自動檢測出的壞點而言。實際 應用時也可以不區分出廠壞點和自動檢測到的壞點，都按照自動檢測出的壞 點的方式進行處理，即在所有壞點數據的壞點屬性中都不包括壞點來源，並 且都包括可信度和統計次數。
所述圖像處理晶片還包括壞點消除模塊6。
所述存儲器還包括第二存儲器2，所述第二存儲器2為可讀寫存儲器， 用於向壞點消除模塊6提供壞點數據
所述壞點消除模塊6用於根據第二存儲器2中的壞點數據進行壞點修
復，即根據壞點數據中的坐標找到相應壞點，並進行修復。
所述控制模塊4還用於向第一存儲器1和第二存儲器2提供時鐘信號及 地址信號。還用於保存更新周期一一即兩次更新壞點數據所間隔的統計次數 (即幀數)，並在每到達一個新的更新周期時，將第一存儲器1中的壞點數
據，複製到第二存儲器2中。
更新壞點數據的目的是，使壞點消除模塊可以去修復新出現的壞點，並 且能夠不再浪費時間去修復已修復的壞點。
本發明的一種變形是，採用兩個存儲體MEM1、 MEM2,其中一個先作 為第一存儲器l,另一個作為第二存儲器2，然後在檢測過程中，每個更新 周期進行一次互換；此時所述圖像處理晶片還包括一個選擇器；所述選擇器 包括兩個輸入端，分別與MEM1和MEM2相連； 一個輸出端，與壞點消除 模塊相連； 一個控制端，與控制模塊相連；用於根據控制模塊4的指示在兩 路輸入的壞點數據中選擇一路進行輸出。所述控制模塊4還用於指示所述選 擇器選擇哪一路輸入數據進行輸出，並在更新壞點數據時的複製完成後，指 示所述選擇器改選擇另 一路輸入數據進行輸出；檢測過程中所述控制模塊4 是對選擇器未選擇的那一路輸入的存儲器裡的壞點數據進行讀寫。比如晶片 剛上電時，控制模塊4指示選擇器選擇MEM1裡的壞點數據進行輸出，則 檢測過程中，控制模塊4讀取MEM2中的壞點數據來與檢測結果比對，並 且根據比對結果對MEM2中的壞點數據進行相應處理，在這個更新周期中， MEM1作為第二存儲器2，而MEM2作為第一存儲器1;到下個更新周期到 來時，控制模塊4指示選擇器改選擇MEM2裡的壞點數據進行輸出，此時， 控制模塊4讀取和處理的就是MEM1裡的壞點數據了 ，那麼在這個更新周 期中，MEM2作為第二存儲器2，而MEM1作為第一存儲器1;到再下個更 新周期到來時，又指示選擇器選擇MEM1裡的壞點數據進行輸出……以此 類推，相當於每個更新周期交換一次兩個存儲體的用途。
所述存儲器還可以包括第三存儲器3。
所述第三存儲器3為下電不丟失數據的存儲器，可以但不限於為 EEPROM (電可擦寫可編程只讀存儲器)，用於保存出廠壞點數據，及前一
次下電時的動態壞,泉數據。
所述控制模塊4還用於在圖像處理晶片上電時，將第三存儲器3中保存 的壞點數據複製到第一存儲器1和第二存儲器2中，並在圖像處理晶片下電 前，將第一存儲器1的壞點數據或動態壞點數據複製到第三存儲器3中。
在實際應用時，第一存儲器1和第二存儲器2可以為兩個物理存儲器， 也可以為同一物理存儲器的兩個區域，但後者的實現邏輯較複雜，因為需要 避免在控制模塊4向存儲器中寫數據時，壞點消除模塊6要讀數據。當然， 三個存儲器也可以為同一物理存儲器，但由於要兼顧各種要求，因此成本會 較高，並且存儲晶片面積會較大。
第三存儲器3、第一存儲器1和第二存儲器2各自的容量都應該足夠存 放出廠壞點數據及動態壞點數據；需要的字節數依賴於本圖像處理晶片最大 支持的圖像尺寸大小，可以據此計算出保存每個壞點的壞點數據需要的字節 數，然後乘以預計的最大壞點數，就可以得到存儲器所需要的容量；顯然， 最保險的方法就是將總點數作為最大壞點數，但這樣資源浪費比較嚴重，所 以一般可以根據經驗或試驗得到一個最可行的最大壞點數。
一種在上述圖像處理晶片中自適應自動檢測壞點的方法，如圖2所示， 包括以下步驟
A、圖像處理晶片上電，控制模塊4將下電不丟失數據的存儲器一一即 第三存儲器3中的壞點數據分別複製到第一存儲器1、第二存儲器2。當圖 像處理晶片第一次上電時，所述第三存儲器3中的壞點數據為出廠壞點的數 據；之後為出廠壞點的數據及前一次下電時還存在的動態壞點數據。該步驟 是為了上電後能立即進行壞點消除，並且壞點檢測也可以有延續性，實際應 用中當然也可以省略該步驟。
所述壞點數據包括壞點坐標及壞點屬性；所述壞點坐標可以是(X, Y)或(Y, X)的形式；在所述壞點屬性包括壞點來源，用於指明該壞點為 自動檢測出的壞點還是出廠壞點；自動檢測出的壞點的數據稱為動態壞點數 據，這部分壞點數據的壞點屬性還包括該壞點的可信度和統計次數。為了防
止數據溢出，在控制模塊4中預設有可信度及統計次數的最大值。
如果存在上文所述的MEM1和MEM2輪換的情況，則此時還要選擇哪 個先作為第一存儲器l、哪個先作為第二存儲器2;如果不輪換，則無須有 此選擇的步驟。如果不進行壞點消除，那麼只有一個作為第一存儲器1的存 儲體，則也可以沒有該選擇步驟。
B、開流後，進行壞點檢測，還可以並行進行壞點消除。
壞點檢測模塊5對每一幀進行一次壞點檢測，並將檢測結果上報給控制 模塊4,由控制模塊4將檢測得到的壞點坐標與第一存儲器1裡的壞點數據 進行比對，判斷該壞點是否已經存在以及是否為自動檢測出的壞點；然後按 比對結果對各檢測到的壞點進行相應處理。具體分為以下幾種情況
一、 檢測出的壞點的數據已存在並且為出廠壞點；該情況不進行處理。
二、 檢測出的壞點的數據已存在並且為自動檢測出的壞點，只要其可信 度和統計次數未達到預設的最大值，則在第一存儲器1裡將其可信度和統計 次數各加1;如果可信度和/或統計次數達到最大值，則達到最大值的不加1。
三、 檢測出的壞點的數據不存在；該情況在第一存儲器1裡添加該壞點 的數據，屬性設為自動檢測出的壞點，可信度和統計次數為1。
四、 用於壞點檢測的存儲器中存在數據的壞點未檢測出；該情況在第一 存儲器1裡將該壞點的可信度減1，統計次數加1。
可在第二到第四種情況中，在處理後根據各自動檢測到的壞點的統計次 數及可信度判斷是否應該刪除該壞點數據，具體判斷方法是如果一個壞點 的統計次數大於統計閾值而可信度小於刪除閾值，或者可信度與統計次數的 比值小於刪除闊值則從第一存儲器1裡刪除該壞點數據。更優化的方案是僅 在第四種情況時對統計次數和可信度進行判斷，也就是只有將一個壞點的可 信度減1後才去判斷其是否應該刪除。所述統計閾值和刪除閱值根據需要事 先設定在所述控制模塊4中。
不對出廠壞點進行可信度統計是為了防止由於誤判而將出廠壞點數據 刪除；實際應用時也可以不區分出廠壞點和自動檢測到的壞點，都按照自動 檢測出的壞點的方式進行處理，即在所有壞點數據的壞點屬性中都不包括壞
點來源，並且都包括可信度和統計次數；另外在檢測壞點時也只存在上述第
二到第四種情況。
壞點消除模塊6按照第二存儲器2裡存儲的壞點數據對各壞點進行修 復，具體說就是根據壞點坐標找到相應壞點並進行修復；所進行修復的壞點 包括對出廠壞點和自動檢測出的壞點。
步驟B進行期間如果圖像處理晶片要下電，則控制模塊4將第 一存儲器 1裡的內容複製到第三存儲器3中，可以複製全部的，也可以只複製動態壞 點數據，然後下電。第三存儲器3下電後不丟失數據，因此這樣做的好處是 可以節省下一次上電時壞點檢測和消除的時間，並且可以保護出廠壞點信 息。實際應用時也可以直接下電。
步驟B進行期間如果到達下個更新周期，則進行步驟C;更新周期即兩 次壞點數據更新所間隔的統計次數(即幀數)，通常在兩幀的間隔中，可以 由用戶根據實際情況中預設並保存在控制模塊4。
C、壞點數據更新，具體做法是
控制模塊4將第一存儲器1的壞點數據複製到第二存儲器2中，然後返 回步驟B。如果在複製時讀取第一存儲器1裡的壞點數據和增、鄰'J、改第一 存儲器1裡的壞點數據有讀寫衝突，則由控制模塊4進行調度。
作為本發明的一個變形，還可以參照上文所述的方法在複製後交換兩個 存儲體的用途。
步驟C進行期間如果圖像處理晶片要下電，則控制模塊4將第一存儲器 l裡的內容複製到第三存儲器3中，可以複製全部的，也可以只複製動態壞 點數據，然後下電。實際應用時也可以直接下電。
如果不進行壞點消除，則可以無步驟C。
當然，本發明還可有其他多種實施例，在不背離本發明精神及其實質的 形，但這些相應的改變和變形都應屬於本發明所附的權利要求的保護範圍。
權利要求
1、一種自適應自動檢測壞點的圖像處理晶片，包括壞點檢測模塊；其特徵在於，還包括控制模塊和存儲器；所述壞點檢測模塊用於開流後對每一幀檢測一次壞點，並將檢測結果上報給控制模塊；所述存儲器包括第一存儲器，用於動態存儲壞點數據；所述控制模塊用於讀取第一存儲器中的壞點數據，並和所述檢測結果進行比對，根據比對的結果在第一存儲器中增加、修改和刪除相應的壞點數據。
2、 如權利要求1所述的圖像處理晶片，其特徵在於所述第一存儲器 中存儲的壞點數據包括壞點坐標及壞點屬性；所述壞點屬性包括自動檢測 出的壞點的可信度和統計次數。
3、 如權利要求2所述的圖像處理晶片，其特徵在於，所述控制模塊還 用於保存可信度最大值、統計次數最大值、統計閾值和刪除閾值；所述控制模塊根據比對的結果在第 一存儲器中增加、修改和刪除相應的 壞點數據具體是指如果檢測出的壞點的數據已存在並且為自動檢測出的壞點，只要其可信 度和統計次數未達到最大值，則將第一存儲器中該壞點的可信度和統計次數 各加l;如果可信度和/或統計次數達到最大值，則達到最大值的不加l;如果檢測出的壞點的數據不存在；則在第一存儲器裡添加該壞點的數 據，屬性設為自動檢測出的壞點，其可信度和統計次數為1;如果第 一存儲器中存在壞點數據的壞點未檢測出；則將第 一存儲器中該 壞點的可信度減l,統計次數加l;如果一個壞點的統計次數大於統計閾值而可信度小於刪除閾值，或者可 信度與統計次數的比值小於刪除閾值，則從第一存儲器裡刪除該壞點的數據。
4、 如權利要求1所述的圖像處理晶片，其特徵在於還包括壞點消除 模塊，所述存儲器還包括第二存儲器；所述壞點消除模塊用於根據第二存儲器中的壞點數據進行壞點修復；所述控制模塊還用於保存更新周期並在每到達一個新的更新周期時，將 第一存儲器中的壞點數據，複製到第二存儲器中。
5、 如權利要求4所述的圖像處理晶片，其特徵在於所述存儲器還包 括第三存儲器；所述第三存儲器為下電不丟失數據的存儲器，用於保存前一次下電時的 壞點數據；所述控制模塊還用於在圖像處理晶片上電時，將第三存儲器中保存的壞 點數據複製到第一存儲器和第二存儲器中；並在圖像處理晶片下電前，將第 一存儲器中的壞點數據複製到第三存儲器中。
6、 一種在權利要求1所述的圖像處理晶片中自適應自動檢測壞點的方 法，包括a、 圖像處理晶片上電；b、 一幀到來時，進行一次壞點;險測；c、 將檢測結果與第一存儲器裡壞點數據進行比對；d、 根據比對的結果在第一存儲器中增加、修改和刪除相應的壞點數據； 如果繼續檢測則返回步驟b。
7、 如權利要求6所述的方法，其特徵在於，所述壞點數據包括壞點 坐標及壞點屬性；所述壞點屬性包括自動檢測出的壞點的可信度和統計次數。
8、 如權利要求7所述的方法，其特徵在於，所述步驟d具體包括如果檢測出的壞點的數據已存在並且為出廠壞點，則不進行處理；如果檢測出的壞點的數據已存在並且為自動檢測出的壞點，只要其可信 度和統計次數未達到預設的最大值，則在第一存儲器裡將其可信度和統計次 數各加l;如果可信度和/或統計次數達到最大值，則達到最大值的不加l;如果檢測出的壞點的數據不存在，則在第 一存儲器裡添加該壞點的數 據，可信度和統計次數為1;如果在第一存儲器中存在數據的壞點未檢測出，則在第一存儲器裡將該 壞點的可信度減l,統計次數加l;如果一個壞點的統計次數大於統計閾值而可信度小於刪除閾值，或者可 信度與統計次數的比值小於刪除閾值則從第一存儲器裡刪除該壞點數據。
9、 如權利要求6所述的方法，其特徵在於，還包括與步驟b到d並行 的步驟e:按照第二存儲器中的壞點數據對各壞點進行修復。
10、 如權利要求9所述的方法，其特徵在於，所述步驟b到e中任一步 中如果到達下個更新周期，則進行步驟f:將第一存儲器裡的壞點數據複製 到第二存儲器；然後返回步驟b和步驟e。
11、 如權利要求10所述的方法，其特徵在於，所述步驟b到f中任一 步中如果圖像處理晶片要下電，則將第 一存儲器裡的內容複製到第三存儲器 中後下電。
12、 如權利要求11所述的方法，其特徵在於，所述步驟a中還包括 將第三存儲器中的壞點數據分別複製到第 一存儲器和第二存儲器中。
全文摘要
本發明公開了一種自適應自動檢測壞點的圖像處理晶片及方法；所述圖像處理晶片包括壞點檢測模塊、控制模塊和存儲器；所述方法包括a.圖像處理晶片上電；b.一幀到來時，進行一次壞點檢測；c.將檢測結果與第一存儲器裡壞點數據進行比對；d.根據比對的結果在第一存儲器中增加、修改和刪除相應的壞點數據；如果繼續檢測則返回步驟b。本發明的技術方案可以不用軟體的介入就實現壞點自動檢測，並且能夠在邊檢測邊對壞點數據進行增、刪，使壞點數據能夠及時更新，實現了對壞點的自適應自動檢測。本發明的優化方案還可以自動進行壞點消除。
文檔編號G01R31/00GK101110050SQ20071012021
公開日2008年1月23日 申請日期2007年8月13日 優先權日2007年8月13日
發明者吳大斌 申請人:北京中星微電子有限公司