一種可調角度塊輔助測量裝置及測量方法
2024-01-29 03:48:15 1
專利名稱：一種可調角度塊輔助測量裝置及測量方法
技術領域：
本發明涉及一種測量裝置，尤其涉及一種可調角度塊輔助測量裝置及測量方法，專用於測量手錶表殼的足面到耳孔之間距離。
背景技術：
在手錶加工領域中，需要對表殼足頭上的足面到耳孔的距離進行測量，以便錶帶能夠精確的安裝在足頭上。但由於表殼屬於精密器械，且整體尺寸較小，足面到耳孔的距離難以測量，此外，足面與表殼主體之間並非平行或垂直的關係，這種情況加劇了精確測量的困難。實際生產過程中，如果採用人工夾持表殼進行測量，會出現夾持不穩的問題，以至於操作人員在測量中無法找平，難以保證測量尺寸的精確。即使研發一種專門測量足面到耳孔的距離的裝置，也只能對一種固定尺寸的表殼進行測量，對於其他尺寸的表殼無法使用；如果根據每一種表殼尺寸而製作一個測量裝置，需要製作的測量裝置的數量非常多，佔用空間大且不易保管，增加了製作成本。
發明內容
本發明為了解決上述技術問題，提供一種可調角度塊輔助測量裝置及測量方法，它具有使用簡便、節省成本等優點。為了實現上述目的，本發明採用如下技術方案。—種可調角度塊輔助測量裝置，包括基座、可調塊、銷軸、滑槽和刻度盤，所述基座包括依次固定連接的第一底塊、第一中塊和上塊；所述可調塊包括固定連接的第二底塊和第二中塊，所述第二中塊與上塊通過銷軸鉸接；所述第一中塊的側面固定有刻度盤，所述刻度盤上刻有角度，所述第二中塊的側面上刻有對齊線，對齊線能夠對準刻度盤上的刻度；所述第二中塊與滑槽的一端固定，滑槽能夠通過調節螺釘固定在第一中塊的側面。所述刻度盤上的角度為0-90°。作為本發明的進一步改進，所述可調角度塊輔助測量裝置還包括墊塊，墊塊放置在第二底塊和第二中塊的交界處，並靠在第二中塊上，表殼通過墊塊放置在可調塊上。進一步地，可調角度塊輔助測量裝置還包括第一磁鐵，所述墊塊為第二磁鐵，表殼固定在第一磁鐵和第二磁鐵之間，通過第一磁鐵和第二磁鐵的引力加強固定。所述第二磁鐵的重量為表殼重量的7-20倍，便於第二磁鐵穩定放置，進而防止表殼移動。本發明還提供了一種可調角度塊輔助測量裝置的測量方法，工作過程為:步驟(I )，根據被測表殼足面與表殼的角度，調整可調塊的位置，調節對齊線對齊的刻度盤上的刻度，使足面與水平方向平行，旋緊調節螺釘固定可調塊；步驟(2)，選擇合適圓棒穿入被測表殼的耳孔，並把被測表殼放於可調塊上；步驟(3)，把量表錶針放於圓棒頂端，並旋轉量表表圈，使其歸零；
步驟(4)，將量表放於被測表殼的足面上，讀出量表數值，減去耳孔半徑，即是要測量值。作為進一步改進，所述步驟(I)之前，還包括:將墊塊放置在可調塊上；進一步地，所述步驟(2)中，在把被測表殼放於可調塊上後，還包括將第一磁鐵與第二磁鐵吸合的步驟。本發明的有益效果:通過找平足面，能夠準確地測量足面至耳孔中心的精確距離，錶帶能夠精確的安裝在足頭上；另外，本發明能夠適用於多種尺寸表殼的測量，佔用空間小且容易保存，節省了製造成本。
圖1是本發明實施例1的整體結構示意圖。圖2是本發明實施例1的側面結構示意圖。圖3是本發明實施例2的側面結構示意圖。其中，1、基座；2、可調塊；3、銷軸；4、滑槽；5、刻度盤；6、第一底塊；7、第一中塊；
8、上塊；9、第二底塊；10、第二中塊；11、對齊線；12、調節螺釘；13、墊塊；14、表殼；15、圓棒，16、足面；17、第一磁鐵；18、第二磁鐵。
具體實施例方式下面結合附圖與實施例對本發明作進一步說明。實施例1:如圖1-圖2所示，一種可調角度塊輔助測量裝置，包括基座1、可調塊2、銷軸3、滑槽4和刻度盤5，所述基座I包括依次固定連接的第一底塊6、第一中塊7和上塊8 ;所述可調塊2包括固定連接的第二底塊9和第二中塊10，所述第二中塊10與上塊8通過銷軸3鉸接；所述第一中塊7的側面固定有刻度盤5，所述刻度盤5上刻有0-90°的角度，所述第二中塊10的側面上刻有對齊線11，對齊線11能夠對準刻度盤5上的刻度；所述第二中塊10與滑槽4的一端固定，滑槽4能夠通過調節螺釘12固定在第一中塊7的側面。所述可調角度塊輔助測量裝置還包括墊塊13，墊塊13放置在第二底塊9和第二中塊10的交界處，並靠在第二中塊10上，表殼14通過墊塊13放置在可調塊2上。本實施例的工作過程為:步驟(I )，將墊塊13放置在可調塊2上；步驟(2)，根據足面16與表殼14的角度，調整可調塊2的位置，調節對齊線11對齊的刻度盤5上的刻度，使足面16與水平方向平行，旋緊調節螺釘12固定可調塊2 ；步驟(3)，選擇合適圓棒15穿入表殼14的耳孔，並把表殼14放於可調塊2上；步驟(4)，把量表錶針放於圓棒15頂端，並旋轉量表表圈，使其歸零；步驟(5)，將量表放於表殼14的足面16上，讀出量表數值，減去耳孔半徑，即是要測量值。實施例2:如圖3所示，與實施例1不同的是，所述第二磁鐵18代替了墊塊13，不但起到了墊塊13的作用，而且與第一磁鐵17吸合，將表殼14牢固固定在第一磁鐵17和第二磁鐵18之間。本實施例的工作過程為:步驟(I )，將第二磁鐵18放置在可調塊2上；步驟(2)，根據足面16與表殼14的角度，調整可調塊2的位置，調節對齊線11對齊的刻度盤5上的刻度，使足面16與水平方向平行，旋緊調節螺釘12固定可調塊2 ；步驟(3)，選擇合適圓棒15穿入表殼14的耳孔，並把表殼14放於可調塊2上，將第一磁鐵17與第二磁鐵18吸合；步驟(4)，把量表錶針放於圓棒15頂端，並旋轉量表表圈，使其歸零；步驟(5)，將量表放於表殼14的足面16上，讀出量表數值，減去耳孔半徑，即是要測量值。上述雖然結合附圖對本發明的具體實施方式
進行了描述，但並非對本發明保護範圍的限制，所屬領域技術人員應該明白，在本發明的技術方案的基礎上，本領域技術人員不需要付出創造性勞動即可做出的各種修改或變形仍在本發明的保護範圍以內。
權利要求
1.一種可調角度塊輔助測量裝置，其特徵是，包括基座、可調塊、銷軸、滑槽和刻度盤，所述基座包括依次固定連接的第一底塊、第一中塊和上塊；所述可調塊包括固定連接的第二底塊和第二中塊，所述第二中塊與上塊通過銷軸鉸接；所述第一中塊的側面固定有刻度盤，所述刻度盤上刻有角度，所述第二中塊的側面上刻有對齊線，對齊線能夠對準刻度盤上的刻度；所述第二中塊與滑槽的一端固定，滑槽能夠通過調節螺釘固定在第一中塊的側面。
2.如權利要求1所述的可調角度塊輔助測量裝置，其特徵是，所述刻度盤上的角度為0-90。。
3.如權利要求1所述的可調角度塊輔助測量裝置，其特徵是，所述可調角度塊輔助測量裝置還包括墊塊，墊塊放置在第二底塊和第二中塊的交界處，並靠在第二中塊上，表殼通過墊塊放置在可調塊上。
4.如權利要求3所述的可調角度塊輔助測量裝置，其特徵是，可調角度塊輔助測量裝置還包括第一磁鐵，所述墊塊為第二磁鐵，表殼固定在第一磁鐵和第二磁鐵之間。
5.如權利要求4所述的可調角度塊輔助測量裝置，其特徵是，所述第二磁鐵的重量為表殼重量的7-20倍。
6.如權利要求1所述的可調角度塊輔助測量裝置的測量方法，其特徵是，工作過程為: 步驟(I )，根據被測表殼足頭與表殼的角度，調整可調塊的位置，調節對齊線對齊的刻度盤上的刻度，使足面與水平方向平行，旋緊調節螺釘固定可調塊； 步驟(2)，選擇合適圓棒穿入被測表殼的耳孔，並把被測表殼放於可調塊上； 步驟(3 )，把量表錶針放於圓棒頂端，並旋轉量表表圈，使其歸零； 步驟(4)，將量表放於被測表殼的足面上，讀出量表數值，減去耳孔半徑，即是要測量值。
7.如權利要求6所述的可調角度塊輔助測量裝置的測量方法，其特徵是，所述步驟(I)之前，還包括:將墊塊放置在可調塊上。
8.如權利要求7所述的可調角度塊輔助測量裝置的測量方法，其特徵是，可調角度塊輔助測量裝置還包括第一磁鐵，所述墊塊為第二磁鐵，所述步驟(2)中，在把被測表殼放於可調塊上後，還包括將第一磁鐵與第二磁鐵吸合的步驟。
全文摘要
本發明公開了一種可調角度塊輔助測量裝置，包括基座、可調塊、銷軸、滑槽和刻度盤，所述基座包括依次固定連接的第一底塊、第一中塊和上塊；所述可調塊包括固定連接的第二底塊和第二中塊，所述第二中塊與上塊通過銷軸鉸接；所述第一中塊的側面固定有刻度盤，所述刻度盤上刻有角度，所述第二中塊的側面上刻有對齊線，對齊線能夠對準刻度盤上的刻度；所述第二中塊與滑槽的一端固定，滑槽能夠通過調節螺釘固定在第一中塊的側面。本發明還公開了一種可調角度塊輔助測量裝置的測量方法。本發明通過找平足面，能夠準確地測量足面至耳孔中心的精確距離，錶帶能夠精確的安裝在足頭上，適用於多種尺寸表殼的測量，佔用空間小且容易保存，節省製造成本。
文檔編號G01B5/14GK103162595SQ201310087159
公開日2013年6月19日 申請日期2013年3月18日 優先權日2013年3月18日
發明者楊冰, 孫建光, 朱波, 彭濤, 高倩 申請人:山東東星表業有限公司