測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路的製作方法
2023-12-10 09:54:22 1
測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路的製作方法
【專利摘要】測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路。目前，國內還沒有針對高壓開關測試儀校驗裝置時間參數進行校驗的專用設備，一般採用多種儀器組合以手動方式校驗，存在接線複雜，附加誤差多，需專業人員進行操作，工作效率低等不足。本實用新型的組成包括：高壓開關測試儀校驗裝置控制電路（1），所述的高壓開關測試儀校驗裝置控制電路分別與電子計數器（2）、被測校驗裝置（3）連接。本實用新型用於測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數。
【專利說明】測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路
[0001]【技術領域】:
[0002]本實用新型涉及一種測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路。
[0003]【背景技術】:
[0004]在工業控制及輸變電系統中，各種高壓開關、接觸器、繼電器等通斷電控制器件被廣泛應用，高壓開關的合閘時間、分閘時間、合閘同期性、分閘同期性及彈跳時間等時間參數，對整個系統的穩定工作至關重要，如不引起足夠認識，輕者可致電網波動，重者導致重大供電事故。使用高壓開關測試儀對高壓開關的時間參數進行精確校驗，對保障輸變電系統的安全、穩定運行有著重大意義。
[0005]目前，國內還沒有針對高壓開關測試儀校驗裝置時間參數進行校驗的專用設備，一般採用多種儀器組合以手動方式校驗，存在接線複雜，附加誤差多，需專業人員進行操作，工作效率低等不足。不能對高壓開關測試儀校驗裝置時間參數進行準確校驗。
[0006]
【發明內容】
:
[0007]本實用新型的目的是提供一種測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路。
[0008]上述的目的通過以下的技術方案實現:
[0009]一種測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路，其組成包括:高壓開關測試儀校驗裝置控制電路，所述的高壓開關測試儀校驗裝置控制電路分別與電子計數器、被測校驗裝置連接。
[0010]所述的測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路，所述的高壓開關測試儀校驗裝置控制電路包括電源輸入電路，所述的電源輸入電路與電阻Rl、開關BUTl連接，所述的開關BUTl與反相器U1A、電阻R2連接，所述的反相器UIA與反相器UlB連接，所述的電阻Rl、所述的反相器UlB通過開關SWl、開關SW2與D觸發器U2連接，所述的D觸發器U2通過開關SW3與被測校驗裝置連接，所述的D觸發器U2與計數門U3連接，所述的計數門U3分別與方波發生器、電子計數器連接。
[0011]所述的測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路，所述的高壓開關測試儀校驗裝置控制電路包括方波發生器，所述的方波發生器採用1MHz有源溫度補償晶體振蕩器。
[0012]所述的測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路，所述的電阻Rl與所述的反相器UlA之間安裝有開關BUT1，所述的電阻R3與所述的被測校驗裝置之間安裝有開關BUT2，所述的R2與所述的被測校驗裝置之間安裝有開關BUT3，所述的D觸發器與所述的被測校驗裝置之間安裝有開關BUT4。
[0013]有益效果:
[0014]1.本實用新型的高壓開關測試儀校驗裝置控制電路為被測校驗裝置提供通、斷電動作信號，電子計數器測量輸出的脈衝個數，將電子計數器測量到的脈衝個數換算成時間與被測校驗裝置所顯示的時間進行對比，從而實現對高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的校驗。
[0015]2.本實用新型進行校驗裝置通電動作校驗時，將SWl置2，SW2置1，SW3置1，BUT3閉合，BUTl、BUT2處於開啟狀態，簡化電路見圖3 ；
[0016]在BUTl閉合前，UlB輸出低電平，被測校驗裝置工作在「合閘時間參數校驗模式」，埠處於開啟狀態，U2的CLR引腳為高。BUT4作用為U2置零，使U2的Q輸出為低；
[0017]在BUTl閉合後，UlB輸出高電平，上升沿觸發U2，使U2的Q輸出高電平，同時觸發校驗裝置和計數門U3，使校驗裝置開始計時、電子計數器測量輸出的脈衝個數。待定時時間到，校驗裝置埠合閘，CLR引腳為低，Q輸出低電平，關閉計數門U3，把電子計數器的計時與校驗裝置定時時間比較，得到合閘時間校驗誤差。
[0018]3.本實用新型進行校驗裝置斷電動作校驗時，將SWl置1，SW2置2，SW3置2，BUTU BUT2閉合，BUT3處於開啟狀態，簡化電路見圖4 ；
[0019]在BUTl開啟前，UlA輸出低電平，被測校驗裝置工作在「分閘時間參數校驗模式」，埠處於閉合狀態，U2的CLR引腳為低。BUT3作用為U2置零，使U2的Q輸出為低；
[0020]在BUTl開啟後，UlA輸出高電平，上升沿觸發U2，使U2的Q輸出高電平，觸發計數門U3，使電子計數器測量輸出的脈衝個數；輸出低電平，觸發校驗裝置，使校驗裝置開始計時。待定時時間到，校驗裝置埠分閘，CLR引腳為低，Q輸出低電平，關閉計數門U3，把電子計數器的計時與校驗裝置定時時間比較，得到分閘時間校驗誤差。
[0021]4.本實用新型的方波發生器採用1MHz有源溫度補償晶體振蕩器，可以確保高壓開關測試儀校驗裝置時間參數校驗的準確度和穩定性。
[0022]【專利附圖】
【附圖說明】:
[0023]附圖1是本實用新型的結構示意圖。
[0024]附圖2是本實用新型的控制電路原理圖。
[0025]附圖3是本實用新型的合閘時間參數校驗電路原理圖。
[0026]附圖4是本實用新型的分閘時間參數校驗電路原理圖。
[0027]【具體實施方式】:
[0028]實施例1:
[0029]一種測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路，其組成包括:高壓開關測試儀校驗裝置控制電路1，所述的高壓開關測試儀校驗裝置控制電路分別與電子計數器2、被測校驗裝置連接3。
[0030]實施例2:
[0031]根據實施例1所述的測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路，所述的高壓開關測試儀校驗裝置控制電路包括電源輸入電路，所述的電源輸入電路與電阻Rl、開關BUTl連接，所述的開關BUTl與反相器U1A、電阻R2連接，所述的反相器UIA與反相器UlB連接，所述的電阻RU所述的反相器UlB通過開關SWl、開關SW2與D觸發器U2連接，所述的D觸發器U2通過開關SW3與被測校驗裝置連接，所述的D觸發器U2與計數門U3連接，所述的計數門U3分別與方波發生器、電子計數器連接。
[0032]實施例3:
[0033]根據實施例1或2所述的測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路，所述的高壓開關測試儀校驗裝置控制電路包括方波發生器，所述的方波發生器採用1MHz有源溫度補償晶體振蕩器。
[0034]實施例4:
[0035]根據實施例1或2所述的測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路，所述的電阻Rl與所述的反相器UlA之間安裝有開關BUTl，所述的電阻R3與所述的被測校驗裝置之間安裝有開關BUT2，所述的R2與所述的被測校驗裝置之間安裝有開關BUT3，所述的D觸發器與所述的被測校驗裝置之間安裝有開關BUT4。
【權利要求】
1.一種測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路，其組成包括:高壓開關測試儀校驗裝置控制電路，其特徵是:所述的高壓開關測試儀校驗裝置控制電路分別與電子計數器、被測校驗裝置連接。
2.根據權利要求1所述的測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路，其特徵是:所述的高壓開關測試儀校驗裝置控制電路包括電源輸入電路，所述的電源輸入電路與電阻R1、開關BUTl連接，所述的開關BUTl與反相器U1A、電阻R2連接，所述的反相器UIA與反相器UlB連接，所述的電阻R1、所述的反相器UlB通過開關SW1、開關SW2與D觸發器U2連接，所述的D觸發器U2通過開關SW3與被測校驗裝置連接，所述的D觸發器U2與計數門U3連接，所述的計數門U3分別與方波發生器、電子計數器連接。
3.根據權利要求1或2所述的測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路，其特徵是:所述的高壓開關測試儀校驗裝置控制電路包括方波發生器，所述的方波發生器採用1MHz有源溫度補償晶體振蕩器。
4.根據權利要求2所述的測試高壓開關測試儀校驗裝置時間參數的電路，其特徵是:所述的電阻Rl與所述的反相器UlA之間安裝有開關BUTl，所述的電阻R3與所述的被測校驗裝置之間安裝有開關BUT2，所述的R2與所述的被測校驗裝置之間安裝有開關BUT3，所述的D觸發器與所述的被測校驗裝置之間安裝有開關BUT4。
【文檔編號】G01R35/00GK204009034SQ201420424881
【公開日】2014年12月10日 申請日期:2014年7月30日 優先權日:2014年7月30日
【發明者】陳滿生, 高瑞嵩 申請人:哈爾濱朗昇電氣股份有限公司