一種落球測試裝置製造方法
2024-01-26 15:57:15 1
一種落球測試裝置製造方法
【專利摘要】本發明涉及機械測試領域，公開了一種落球測試裝置。所述落球測試裝置包括落球、含有檔位槽的第一套筒、釋放板和定位託。在進行落球測試前，將所述釋放板水平插入所述檔位槽內，並將所述定位託放置在所述釋放板上，將所述落球通過所述定位託放置在所述釋放板上。當需要進行落球測試時，將所述釋放板從所述檔位槽內抽出，則所述落球降落。這個過程中，由於所述落球經過所述定位託的導向，不會和所述第一套筒的套筒壁產生摩擦，而且，所述定位託的導向作用，有利於對所述落球的落點進行控制，提高了落球測試的精度。並且，在所述第一套筒的套筒壁上，包括有刻度精細的檔位槽，便於掌握所述落球降落的高度，進一步提高了落球測試的精度。
【專利說明】一種落球測試裝置
【技術領域】
[0001]本發明涉及機械測試領域，特別是涉及一種落球測試裝置。
【背景技術】
[0002]在現在的工業生產中，時常會使用落球測試設備。所述落球測試設備包括滾筒和落球，通過所述落球通過滾筒，落在待測試產品上的方式，模擬日常使用過程中，重物掉落到產品上的過程，以測試產品的抗衝擊能力。
[0003]但是，發明人在本申請的研究過程中發現，使用現有技術中提供的落球測試設備進行落球測試時，由於落球在降落過程中，沿滾筒的管壁下落，會和所述管壁間發生摩擦，消耗掉一部分力的作用，而且，落球的定位不準確，落點不易控制，從而降低落球測試的測試精度。
【發明內容】
[0004]有鑑於此，本發明的目的在於提供一種落球測試裝置，以提高落球測試的精度，具體實施方案如下:
[0005]一種落球測試裝置，包括:
[0006]落球；
[0007]內徑大於所述落球的第一套筒，所述第一套筒包括與測試刻度相對應的，位於套筒壁上的檔位槽；
[0008]釋放板，所述釋放板水平插在所述第一套筒中與所需測試高度相對應的檔位槽上，以承接所述落球，並在進行落球測試時，所述釋放板被抽出，以使所述落球下落；
[0009]在進行測試時，放置在所述第一套筒中，且在所述釋放板上的漏鬥形定位託，其內徑大的一端向上，內徑小的一端向下，使得測試時落球通過所述漏鬥形定位託在套筒中央的位置下落。
[0010]優選的，所述釋放板包括水平插入所述檔位槽內，寬度與所述定位託下側的內徑相等的釋放板主體，以及與所述釋放板主體相連接的握柄。
[0011]優選的，所述落球測試裝置還包括:
[0012]卡鎖，所述卡鎖水平插接在與所述釋放板相同的檔位槽內，以對所述定位託進行定位，並在結束落球測試後，從所述檔位槽內抽出。
[0013]優選的，
[0014]所述卡鎖在自然狀態下為U形，所述U形的寬度值與所述定位託下端的內徑值相同，以承接所述定位託。
[0015]優選的，所述落球測試裝置還包括:
[0016]第二套筒，與第一套筒形狀、內徑相同，並包括與測試刻度相對應的位於套筒壁上的檔位槽；
[0017]連接環，所述連接環用於連接所述第一套筒和所述第二套筒。[0018]優選的，所述連接環與所述第一套筒和第二套筒為螺紋連接。
[0019]優選的，所述落球測試裝置還包括:
[0020]設置在所述第一套筒底部的基座。
[0021]優選的，所述基座包括圓柱狀的基座主體，以及與所述基座主體水平連接的伸展部。
[0022]優選的，所述基座通過所述基座主體焊接在所述第一套筒底部。
[0023]優選的，所述落球測試裝置還包括:
[0024]與所述基座上的伸展部螺紋連接，且可調節高度和水平度的水平螺栓。
[0025]本發明所公開的落球測試裝置包括落球、含有檔位槽的第一套筒、釋放板和定位託。在進行落球測試前，將所述釋放板水平插入所述檔位槽內，並將所述定位託放置在所述釋放板上，將所述落球通過所述定位託放置在所述釋放板上。當需要進行落球測試時，將所述釋放板從所述檔位槽內抽出，則所述落球降落，這個過程中，由於所述落球經過所述定位託的導向，不會和所述第一套筒的套筒壁產生摩擦，而且，所述定位託的導向作用，有利於對所述落球的落點進行控制，提高了落球測試的精度。並且，在所述第一套筒的套筒壁上，包括有刻度精細的檔位槽，便於掌握所述落球降落的高度，進一步提高了落球測試的精度。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0026]為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對於本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0027]圖1為本發明實施例公開的一種落球測試裝置的結構示意圖；
[0028]圖2為本發明實施例公開的又一種落球測試裝置的結構示意圖；
[0029]圖3為本發明實施例公開的又一種落球測試裝置的結構示意圖；
[0030]圖4為本發明實施例公開的又一種落球測試裝置的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0031]下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基於本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬於本發明保護的範圍。
[0032]本發明公開了一種落球測試裝置，以解決現有技術所存在的測試精度低的問題，參見圖1所示的結構示意圖，本發明實施例一公開的一種落球測試裝置包括:落球1、第一套筒2、釋放板3和定位託4。
[0033]其中，所述第一套筒2的內徑大於所述落球，以便在進行落球測試時，便於所述落球I通過所述第一套筒2下落，並且，所述第一套筒包括與測試刻度相對應的，位於套筒壁上的檔位槽21。
[0034]所述釋放板3水平插在所述第一套筒中與所需測試高度相對應的檔位槽上，以承接所述落球，並在進行落球測試時，所述釋放板3被抽出，以使所述落球下落。[0035]所述定位託4在進行測試時，放置在所述第一套筒中，且放置在所述釋放板上，呈漏鬥形，所述定位託4內徑大的一端向上，內徑小的一端向下，使得在進行落球測試時，所述落球I通過所述漏鬥形定位託4在套筒中央的位置下落。
[0036]在進行落球測試時，需要使所述落球多次從不同高度落下，並根據降落的高度值和試件的受損程度，判定所述試件的品質。這種情況下，對高度值的精度要求較高，所述第一套筒2側壁上的檔位槽為多個水平鏤空的凹槽，每個檔位槽對應一定的刻度,為了增加測試的精度，一般情況下，兩個相鄰的檔位槽間的間隔可選取為I釐米。當然，在不同的測試精度要求下，也可為其他距離，本發明不做限定。
[0037]當所述釋放板3水平插在所述凹槽中時，由於所述落球放置在所述釋放板3上，根據所述套筒壁上檔位槽的位置，即可獲取所述落球降落的高度值，以便後續對試件品質的判定。
[0038]另外，在本發明所公開的落球測試裝置中，設置有定位託4，所述定位託4設置在所述釋放板3上，當進行落球測試時，抽取所述釋放板3後，所述落球I通過所述定位託4下降，這種情況下，由於所述定位託4的導向，所述落球處於中心位置，落點易於掌控，使所述落球I在下落和釋放時，不會發生位置的偏差，從而增加了所述落球定位的準確性，從而提高了落球測試的精度。
[0039]所述定位託4 一般可設置為與所述第一套筒2小間隙配合，可在套筒內滑動。
[0040]同時，由於所述第一套筒2的內徑大於所述落球球面的直徑，而且所述定位託4對所述落球進行了定位，使其在降落的過程中，不會與所述第一套筒2的套筒壁產生摩擦。
[0041]本發明實施例一所公開的落球測試裝置中，包括落球、含有檔位槽的第一套筒、釋放板和定位託。在進行落球測試前，將所述釋放板水平插入所述檔位槽內，並將所述定位託放置在所述釋放板上，將所述落球通過所述定位託放置在所述釋放板上。當需要進行落球測試時，將所述釋放板從所述檔位槽內抽出，則所述落球降落，這個過程中，由於所述落球經過所述定位託的導向，不會和所述第一套筒的套筒壁產生摩擦，而且，所述定位託的導向作用，有利於對所述落球的落點進行控制，提高了落球測試的精度。並且，在所述第一套筒的套筒壁上，包括有刻度精細的檔位槽，便於掌握所述落球降落的高度，進一步提高了落球測試的精度。
[0042]進一步的，參見圖2所示的結構示意圖，所述釋放板3包括釋放板主體31和握柄32，所述釋放板主體水平插入所述檔位槽內，其寬度與所述定位託下側的內徑相等，便於放置所述定位託；所述握柄與所述釋放板主體相連接，在將所述釋放板主體插入所述檔位槽內時，所述握柄在所述檔位槽的外部，便於工作人員在進行落球測試時，將所述釋放板抽出。
[0043]另外，本發明還提供了第二實施例，以進一步對所述落球測試裝置的結構進行說明，所述落球測試裝置還包括:卡鎖5。
[0044]進行落球測試前，所述卡鎖5水平插接在與所述釋放板3相同的檔位槽內，以對所述定位託4進行定位，並在落球測試後，從所述檔位槽內抽出，以便使所述定位託4落下。
[0045]具體來說，所述卡鎖5在自然狀態下為U形，所述U形的寬度值與所述定位託4下端，即與所述釋放板3相接觸的一側的內徑值相同，以承接所述定位託。
[0046]另外，為了便於取出所述卡鎖5，可使用鎖簧的材質製作所述卡鎖5，以便在結束落球測試時，對所述卡鎖5施加力的作用，使其發生形變，便於從所述檔位槽內取出。
[0047]在本發明所公開的第二實施例描述的落球測試裝置中，在進行落球測試前，將所述釋放板3水平插入所述檔位槽內，並將所述卡鎖5水平插入與所述釋放板3相同的檔位槽內，所述卡鎖的5的U形部分包圍所述釋放板3。所述定位託4放置在所述釋放板3上，而且所述卡鎖5承接所述定位託4。所述落球通過所述定位託4，放置在所述釋放板3中。
[0048]當進行落球測試時，將所述釋放板3從所述檔位槽內抽出，則所述落球I降落至試件上，根據所述落球I的降落高度和所述試件的受損程度，能夠判定所述試件的品質。
[0049]當結束所述落球測試後，將所述卡鎖5從所述檔位槽內取出，則所述定位託4落下，以便工作人員將所述定位託4存放起來，以待下次進行落球測試時使用。
[0050]進一步的，參見圖3所示的結構示意圖，本發明公開的落球測試裝置還包括:第二套筒6和連接環7，所述第二套筒6的形狀和內徑與所述第一套筒2相同，並包括與測試刻度相對應的位於套筒壁上的檔位槽；所述連接環7用於連接所述第一套筒2和所述第二套筒6。
[0051]在進行落球測試時，可能需要將所述落球I從多個不同的高度，反覆降落，以檢測試件的品質，這個過程中，有時一個套筒的高度不能滿足所述落球需要的高度，這種情況下，本發明所公開的落球測試裝置公開了連接環7和第二套筒6，所述第二套筒6的形狀、內徑和所述第一套筒2相同，在第一套筒2的高度不能滿足測試需要時，通過連接環7連接所述第一套筒2和所述第二套筒6，以滿足測試所需的高度。並且，所述第二套筒6的套筒壁上設置有與高度相對應的檔位槽，以便根據所述檔位槽，獲取所述落球I降落的高度。
[0052]具體的，所述連接環7與所述第一套筒2和第二套筒6之間為螺紋連接，便於在不需要時，將所述第一套筒2和第二套筒6分離。當然，也可以採用其他連接方式，本發明不做限定。並且，所述第二套筒可按不同的測試精度需求進行更換。
[0053]進一步的，參見圖4所示的結構示意圖，所述落球測試裝置還包括:基座8，所述基座設置在所述第一套筒2的底部。具體的，所述基座8包括圓柱體狀的基座主體81，以及與所述基座主體水平連接的伸展部82。其中，所述伸展部82為兩個以上，考慮到穩定性，可設置三個伸展部，且每相鄰兩個伸展部組成的角度為120度。當然，也可以設置其他數量，或其他形式排布的伸展部，本發明對此不作限定。
[0054]一般的，所述基座8通過所述基座主體81，焊接在所述第一套筒2的底部，當然，所述基座8也可以採用其他的形狀，或採用其他形式與所述第一套筒2相連接，如套接等，本發明不做限定。
[0055]通過所述基座8的設置，可以起到降低重心，使整個落球測試裝置更加穩固的作用。
[0056]另外，所述落球測試裝置還包括:水平螺栓9。所述水平螺栓9設置在所述基座8的底部，與所述基座8上的伸展部82以螺紋形式連接。當所述伸展部82為三個，且每相鄰兩個伸展部82之間的角度為120度角時，與所述伸展部82螺紋連接的水平螺栓9即為三角形狀排列在所述基座8的底部，增加了整個落球測試裝置的穩定性。當然，所述水平螺栓9也可以其他形式與所述伸展部82連接，本發明不做限定。
[0057]在進行落球測試時，試件放置在所述基座下方。根據所述試件的厚度，可相應調節所述水平螺栓9的水平度和高度，用以保證套筒的垂直度以及適應不同厚度的試件測試。[0058]具體在進行落球測試前，先將卡鎖5和釋放板3插入預定高度的檔位槽內，這時可先放所述卡鎖5，同時，自上而下放入定位託5，然後是落球1，以便由於定位託4的導向，使所述落球I處於中心位置。並且，根據試件的厚度，預先對水平螺栓9的高度和水平度進行調節。
[0059]準備好後，將所述釋放板3抽出，由於所述落球I缺少了支撐，便會向下自由落體，同時所述卡鎖的卡位，將限制住所述定位託4的下落。
[0060]在落球測試結束後，則將所述卡鎖5取出，同時所述定位託4會沿套筒滑下，然後便可進行下一次測試。
[0061]在上述過程中，當第一套筒2的高度不能滿足落球測試的需求時，則可利用連接環7，將第一套筒2和第二套筒6嵌套連接起來，以滿足落球測試的需要。
[0062]在使用本發明公開的落球測試裝置時，由於所述落球I經過所述定位託4的導向，不會和所述第一套筒2的套筒壁產生摩擦，而且，所述定位託4的導向作用，有利於對所述落球I的落點進行控制，提高了落球測試的精度。並且，在所述第一套筒2的套筒壁上，包括有刻度精細的檔位槽，便於掌握所述落球降落的高度，進一步提高了落球測試的精度。
[0063]對所公開的實施例的上述說明，使本領域專業技術人員能夠實現或使用本發明。對這些實施例的多種修改對本領域的專業技術人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發明的精神或範圍的情況下，在其它實施例中實現。因此，本發明將不會被限制於本文所示的這些實施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點相一致的最寬的範圍。
【權利要求】
1.一種落球測試裝置，其特徵在於，所述落球測試裝置包括: 落球； 內徑大於所述落球的第一套筒，所述第一套筒包括與測試刻度相對應的，位於套筒壁上的檔位槽； 釋放板，所述釋放板水平插在所述第一套筒中與所需測試高度相對應的檔位槽上，以承接所述落球，並在進行落球測試時，所述釋放板被抽出，以使所述落球下落； 在進行測試時，放置在所述第一套筒中，且在所述釋放板上的漏鬥形定位託，其內徑大的一端向上，內徑小的一端向下，使得測試時落球通過所述漏鬥形定位託在套筒中央的位置下落。
2.根據權利要求1所述的裝置，其特徵在於，所述釋放板包括水平插入所述檔位槽內，寬度與所述定位託下側的內徑相等的釋放板主體，以及與所述釋放板主體相連接的握柄。
3.根據權利要求1所述的裝置，其特徵在於，所述落球測試裝置還包括: 卡鎖，所述卡鎖水平插接在與所述釋放板相同的檔位槽內，以對所述定位託進行定位，並在結束落球測試後，從所述檔位槽內抽出。
4.根據權利要求3所述的裝置，其特徵在於， 所述卡鎖在自然狀態下為U形，所述U形的寬度值與所述定位託下端的內徑值相同，以承接所述定位託。
5.根據權利要求1所述的裝置，其特徵在於，所述落球測試裝置還包括: 第二套筒，與第一套筒形狀、內徑相同，並包括與測試刻度相對應的位於套筒壁上的檔位槽； 連接環，所述連接環用於連接所述第一套筒和所述第二套筒。
6.根據權利要求5 所述的裝置，其特徵在於，所述連接環與所述第一套筒和第二套筒為螺紋連接。
7.根據權利要求1所述的裝置，其特徵在於，所述落球測試裝置還包括: 設置在所述第一套筒底部的基座。
8.根據權利要求7所述的裝置，其特徵在於，所述基座包括圓柱狀的基座主體，以及與所述基座主體水平連接的伸展部。
9.根據權利要求8所述的裝置，其特徵在於，所述基座通過所述基座主體焊接在所述第一套筒底部。
10.根據權利要求7所述的裝置，其特徵在於，所述落球測試裝置還包括: 與所述基座上的伸展部螺紋連接，且可調節高度和水平度的水平螺栓。
【文檔編號】G01M7/08GK103900781SQ201210589801
【公開日】2014年7月2日 申請日期:2012年12月28日 優先權日:2012年12月28日
【發明者】元春峰, 夏小松 申請人:聯想(北京)有限公司