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一種能測試各類電器遙控器功能的方法和裝置的製作方法

2024-01-22 17:57:15 1

專利名稱:一種能測試各類電器遙控器功能的方法和裝置的製作方法
技術領域:
本發明涉及一種電器測試的裝置和方法,尤其是一種能測試各類電器遙控器功能的方法和裝置。
背景技術:
目前電子行業在生產遙控器時,電視機遙控器的測試使用對應型號的電視機作為測試設備,VCD機遙控器的測試使用對應型號的VCD機作為測試設備,什麼電器的遙控器就使用與之相配的電器測試,每個鍵在測試設備上反映正常,則遙控器即為測試合格。然而,該現有技術存在如下缺點!)使用與遙控器相對應的電器作為測試設備成本較貴,一種遙控器對應一種測試設備;2)按遙控器按間時電器的反映速度往往較慢,降低了測試速度;3)電器在按按鍵後顯示的界面往往不適合用於測試,這樣在測試人員疲勞的情況下容易引起誤測。

發明內容本發明的主要目的在於提供能測試多種機型的遙控器且成本低的一種測試各類電器遙控器功能的方法和裝置。
本發明的目的是這樣實現的該一種能測試各類電器遙控器功能的裝置,包括遙控接收模塊、信號處理裝置及外部存儲器電路,該遙控接收模塊把接收到的遙控信號經過解調輸出的指令碼輸入到信號處理裝置,外部存儲器與信號處理裝置進行數據交換,其存儲至少一種機型的遙控器的指令碼及該遙控器的按鍵合格標誌位,信號處理裝置存儲待測遙控器的按鍵合格標誌位,並與外部存儲器存儲的對應機型的按鍵合格標誌位進行比較,通過比較該兩按鍵合格標誌位是否相同來判斷待測遙控器是否合格。
還包括與信號處理裝置連接的顯示裝置,其用以直觀顯示測試結果,該顯示裝置包括機型序號顯示電路及遙控器按鍵序號顯示電路。
該一種能測試各類電器遙控器功能的方法在於它通過比較內存與外存上的按鍵合格標誌位是否相同來判斷待測遙控器是否合格。
與現有技術相比,本發明具有如下優點1)該發明能測試多種機型的遙控器,具有通用性,所以降低了成本,而新的遙控器只要通過存儲各個鍵的指令碼即可進行測試;2)因為採用電路進行相關測試,避免了因現有電器反應速度慢的問題,從而提高了檢測效率;3)通過顯示裝置的設置,使檢測結果更容易直觀得到,從而降低了誤測率。

圖1是本發明的測試模式流程圖。
圖2是本發明的學習模式流程圖。
圖3是本發明一種實施方式的內存按鍵合格標誌位的示意圖。
圖4是本發明一種實施方式的外存按鍵合格標誌位的示意圖。
圖5是本發明的電路原理框圖。
圖6是本發明一種能測試各類電器遙控器功能的裝置的面板示意圖。
圖7是本發明的電路原理圖。
具體實施方式請結合參閱圖6及圖7,本發明一種能測試各類電器遙控器功能的方法和裝置,它包括指示燈顯示電路1、鍵盤模塊3、單片機IC1、遙控接收模塊2、單片機振蕩電路4、機型序號顯示電路1、遙控器序號顯示電路8及外部存儲器電路6。指示燈顯示電路1包括模式指示燈LED1及合格指示燈LED2,當IC1的P10腳輸出高電平,經Q1組成的射隨器(提高帶負載能力),使指示燈LED1亮,反之,P10腳輸出低電平,指示燈LED1暗。合格指示燈LED2的電路原理與上同。鍵盤模塊3包括功能選擇鍵電路,分別為SW1「模式」鍵電路,SW2「機型選擇」鍵電路,SW3「重新測試」鍵電路,每個鍵的電路形式一樣,下面以SW1鍵電路為例,當SW1被按下閉合,則單片機IC1的P15腳輸入低電平,如果SW1鍵鬆開,則由於R6阻值較小,5V電壓經電阻R6輸入到IC1的P15腳。
遙控接收模塊2中R5、C1組成電源去耦電路,該模塊的任務是把接收到的遙控器的紅外遙控信號經過解調、整形輸出的串行遙控指令碼從單片機IC1的P16腳輸入,IC1單片機再對該指令碼進行分析。單片機振蕩電路4使用8M晶振。單片機復位電路5為上電瞬間低電平復位,而後5V通過R9電壓對C4充電,IC1的RESET腳變為高電平。
外部存儲器電路6是現有技術,包括鎖存器IC2和外部存儲器IC3,IC1的17腳16腳分別為讀、寫腳,30腳為鎖存信號輸出腳。IC2的1腳,IC3的20、22腳為使能腳,低電平有效。外部存儲器IC3的地址信號來自單片機IC1的P00口和P02口,存儲器IC3的低8位地址由P00口分時(地址/數據)送出。為了在訪問存儲器IC3的整個周期內地址信號保持不變,必須將P0口先輸出的低8位地址鎖存起來(由IC2完成)。這樣,一方面讓出P00口,使P00口能再次送出數據信號,另一方面是IC2鎖存器輸出的低位地址和P02口輸出的高位地址一起實現對存儲器內部存儲單元的訪問。
機型序號顯示電路7採用的是七段LED顯示器,其電路也為現有技術,74164是串並轉換晶片,要顯示的串行數據由A、B腳輸入,轉換成並行數據後由Q0~Q7腳輸出給7段LED顯示器,74164的CLK腳為串行同步移位時鐘腳,9腳為並行輸出清0腳,低電平清0,故本電路此腳接高電平。在CLK脈衝的作用下數據從A、B腳一位一位地移入。74LS32為或門,IC1的10腳為串行數據輸出腳,輸給IC7、IC8的A、B數據輸入腳,IC1的11腳為移位時鐘輸出腳。當IC1要輸出機型號數據給機型號顯示電路7顯示前,先讓IC1的15腳輸出低電平,14腳輸出高電平,時鐘信號進入IC4、IC5或門,這樣經過或門IC4的3腳輸出時鐘信號,在時鐘的配合下,2個字節(16位)的待顯示機型號數據並行輸出到兩個「機型序號」7段LED上顯示,數據得以刷新。而IC5的2腳由於輸入高電平,輸入到IC5的1腳時鐘脈衝過不去,3腳輸出始終高電平輸入給IC8、IC9的CLK腳,因此原來顯示的鍵號數據不變。反之,如果要顯示鍵號(也稱之為按鍵序號)數據而機型號(也稱之為機型序號)的顯示不變,則先讓IC1的15腳輸出高電平,14腳輸出低電平,使IC6、IC7的CLK腳在IC1串行輸出鍵號顯示數據時始終為高電平,這樣機型號顯示仍然不變,而由於IC1的14腳輸出低電平,IC1輸出的移位時鐘正常進入IC8、IC9的CLK腳,與此同時要顯示的數據一位一位地移入74164進行顯示。
請再參閱圖1至圖5及圖6,本發明一種能測試各類電器遙控器功能的方法分為測試模式及學習模式。
測試模式的工作流程如下打開電源則自動進入測試模式,機型序號顯示「01」。測試模式下模式指示燈不亮,先按「機型選擇」鍵選擇機型序號(即選擇要測試的遙控器,要測試的遙控器保存在哪個機型號上由學習時決定,本裝置可存儲15種遙控器,掉電數據不丟失,每按一次「機型選擇」鍵,「機型序號」顯示加1,當顯示「15」再按一次鍵將返回顯示「01」。遙控器發出的信號由遙控接收模塊接收,經該模塊解調輸出的信號我們稱之為遙控指令碼,每按一次「機型選擇」鍵,指向外存指令碼錶的指針將調整到對應機型的指令碼錶首地址,剛開本裝置電源時「合格指示」燈是亮的,即該外部存儲器存儲有15種機型的遙控器的指令碼錶,其分別於機型序號顯示電路7中對應顯示出字符「01」到「15」。測試時,按下被測遙控器的某鍵,立即在「按鍵序號」七段LED顯示器上顯示對應的按鍵序號(按鍵序號由用戶在學習模式下按順序定義的),鬆開按鍵則「按鍵序號」顯示器變暗,當第一個鍵被按下並接收到信號,「合格指示」燈由亮變暗,此燈只有在遙控器所有鍵被按下並且每個「按鍵序號」都顯示後才再次變亮,表明本遙控器每個鍵都識別到了。如果按下其他不能被識別的遙控器按鍵,「按鍵序號」顯示器將無任何反應而不顯示。一個遙控器如果用戶認為已按過所有鍵,「合格指示」燈卻還未亮,表明某按鍵有故障或用戶漏按某鍵,此時可按下「重新開始」鍵使「合格指示」燈由暗變亮,即可重新測試。
學習模式的工作流程如下按「模式轉換」鍵即轉換到學習模式,學習模式下「模式指示」燈是亮的,依次按下每一鍵進行學習,按第一個鍵「按鍵序號」顯示器顯示「01」,下面每按一次鍵,「按鍵序號」顯示器由「02」、「03」......依次加1,(每按一次鍵,接收一次遙控器發出的指令碼,並保存到外存,同時軟體分配下一個存儲空間以等待下一個鍵的指令碼)。假設按某鍵,顯示器遞增顯示到「06」,此鍵序號將被定義為「06」,在測試模式下按此鍵將顯示「06」。如果學習完需要測試的按鍵後,按「模式轉換」鍵返回測試模式,模式燈滅,合格指示燈亮。在本實施方式中,如果本遙控器超過64個鍵,學習完第64個鍵時本裝置會自動返回測試模式(即本裝置不能測試多於64個鍵的遙控器)。
參閱附圖1至圖4,外存除了存儲15種機型的遙控器的指令碼外還存儲15種機型的遙控器按鍵合格標誌位,每種機型的合格標誌位有64位,內存存儲被選中機型號的64位合格標誌位。學習模式下按壓遙控器按鍵時外存對應合格標誌位被清0,測試模式下按遙控器按鍵時內存對應合格標誌位被清0。附圖4、5是某種機型內外存合格標誌位的狀態,從外存狀態可以看出此遙控器只有7個鍵,學習時按第一個鍵則外存第0位元組第0位被清0,隨後按第2、3、4、5、6、7個鍵則相應第1、2、3、4、5、6位相繼順序被清0;測試時假設遙控器第3個鍵識別到被按下,則對應內存的第0位元組第2位被清0,每識別到一個鍵內存對應的位被清0,與此同時每清0一次,整個64位按鍵合格標誌位都要與外存對應該機型的64位按鍵合格標誌位進行比較,如果都相等則合格指示燈亮起,表明本遙控器每個鍵都已被識別到,此時可以測試下一個遙控器,當下一個遙控器第一個鍵被按下的瞬間合格燈由亮變暗,內存64位合格標誌位置1,第一個鍵如果被識別到,則相應的位被清0,直到內外存64位再次相等,合格燈才又變亮,又等待測試下一個遙控器。如果按過所有遙控器鍵,有一個鍵失靈未被識別到,則合格指示燈不亮,被判為壞遙控器,緊接著測下一個遙控器前應按本裝置的「重新測試」鍵,使合格燈亮,對內存64位合格標誌位置1。
該發明能測試多種機型的遙控器,具有通用性,所以降低了成本,而新的遙控器則可通過學習模式存儲該機型的指令碼錶及合格標誌位即可進行測試;因為採用電路進行相關測試,避免了因現有電器反應速度慢的問題,從而提高了檢測效率;通過顯示裝置的設置,使檢測結果更容易直觀得到,從而降低了誤測率。
權利要求
1.一種能測試各類電器遙控器功能的裝置,其特徵在於它包括遙控接收模塊、信號處理裝置及外部存儲器電路,該遙控接收模塊把接收到的遙控信號經過解調輸出的指令碼輸入到信號處理裝置,外部存儲器與信號處理裝置進行數據交換,其存儲至少一種機型的遙控器的指令碼及該遙控器的按鍵合格標誌位,信號處理裝置存儲待測遙控器的按鍵合格標誌位,並與外部存儲器存儲的對應機型的按鍵合格標誌位進行比較,通過比較該兩按鍵合格標誌位是否相同來判斷待測遙控器是否合格。
2.如權利要求1所述的一種能測試各類電器遙控器功能的裝置,其特徵在於還包括與信號處理裝置連接的顯示裝置,其用以直觀顯示測試結果。
3.如權利要求2所述的一種能測試各類電器遙控器功能的裝置,其特徵在於該顯示裝置包括機型序號顯示電路及遙控器按鍵序號顯示電路。
4.如權利要求1所述的一種能測試各類電器遙控器功能的裝置,其特徵在於還包括鍵盤模塊,該鍵盤模塊包括與信息處理裝置連接的功能選擇鍵電路。
5如權利要求1-4任意項所述的一種能測試各類電器遙控器功能的裝置,其特徵在於所述的信號處理裝置為單片機。
6.一種能測試各類電器遙控器功能的方法,其特徵在於它通過比較內存與外存上的按鍵合格標誌位是否相同來判斷待測遙控器是否合格。
7.如權利要求6所述的一種能測試各類電器遙控器功能的方法,其特徵在於每按下遙控器的一個按鍵,則將內存對應的按鍵合格標誌位清0,且將該內存的各按鍵合格標誌位均需與外存對應機型的按鍵合格標誌位比較。
8.如權利要求6或7所述的一種能測試各類電器遙控器功能的方法,其特徵在於至少一種機型的遙控器的按鍵合格標誌位存儲在外存上。
9.如權利要求8所述的一種能測試各類電器遙控器功能的方法,其特徵在於通過遙控接收模塊接收遙控器的指令碼,且至少一種機型的遙控器的指令碼存儲在外存上。
10.如權利要求9所述的一種能測試各類電器遙控器功能的方法,其特徵在於將遙控器各個鍵位的指令碼存儲在外存上。
全文摘要
本發明一種能測試各類電器遙控器功能的裝置包括遙控接收模塊、信號處理裝置及外部存儲器電路,該遙控接收模塊把接收到的遙控信號經過解調輸出的指令碼輸入到信號處理裝置,外部存儲器與信號處理裝置進行數據交換,其存儲至少一種機型的遙控器的指令碼及該遙控器的按鍵合格標誌位,信號處理裝置存儲待測遙控器的按鍵合格標誌位,並與外部存儲器存儲的對應機型的按鍵合格標誌位進行比較,通過判斷該兩按鍵合格標誌位是否相同來判斷待測遙控器是否合格。本發明的方法在於它通過比較內存與外存上的按鍵合格標誌位是否相同來判斷待測遙控器是否合格。本發明適用於測試多種機型的遙控器,從而降低了成本,並且提高了測試速度。
文檔編號G01R31/00GK1624487SQ20031011112
公開日2005年6月8日 申請日期2003年12月2日 優先權日2003年12月2日
發明者卓成鈺, 吳偉, 楊軍治 申請人:深圳創維-Rgb電子有限公司

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