一種測試探頭或測試棒筆的觸頭的製作方法

2023-05-13 06:44:21 1

專利名稱：一種測試探頭或測試棒筆的觸頭的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種測試工具；特別是涉及一種儀器儀表所配用的測試探頭或測試棒筆的觸頭。
隨著電子技術的進步和發展，各種電子設備日益趨向多功能、高精度和微型化的方向發展；而隨著電子元件或器件的體積不斷縮小和電路裝配工藝的不斷提高，電路板的結構更加緊湊和密緻；特別是由於電子元件板的焊點擁擠，元件腳的排列密密麻麻，明顯地增加了對元件板進行測試時的困難。例如，目前測試電路所用的儀器、儀表，其探頭和棒筆的觸頭一般都是尖狀針體，在測試時經常因打滑造成短路或誤測，給生產或維修帶來諸多不便和事故隱患。
本實用新型的目的是針對上述問題，改革現有探頭和棒筆的尖狀觸頭，提供一種在測試時不出現打滑的觸頭。
本實用新型的基本構思是針對觸頭打滑的原因，並根據電路版因裝配工藝帶來元件腳高於焊點這一明顯特點，將現有的尖狀觸頭改成空心觸頭。
附

圖1是現有的尖狀觸頭示意圖；附圖2是本實用新型觸頭的示意圖；附圖3的a和b分別是本實用新型觸頭的兩種造型示意圖；附圖4是測試棒筆的主體示意圖。
以下參照附圖，對本實用新型的具體實施方案進行詳細說明。
如圖2所示，將圖1中的尖狀觸頭改為平頭觸頭，並在觸頭前端的中心加工一個軸向微孔，使其成為局部空心狀。圓孔的直徑視觸頭針體的外徑選定。圖3所示是兩種觸頭的造型，圖中的a是直型觸頭，b是彎型觸頭，其彎度至少可選擇120°、135°或150°，以供測試時選用。不論直型或彎型，均可選擇不同外徑的觸頭針體和加工不同直徑、不同深度的軸向微孔，還可配附一隻目前使用的尖狀觸頭。觸頭的金屬部分宜選用硬度略高的材料為佳。圖3中的1是觸頭針體，2是觸頭的絕緣體，3是連接螺絲。圖4所示是測試棒筆的主體，其中的4是主體的絕緣體，5是連接觸頭的螺孔，6是金屬導體，7是電線。圖中的絕緣體可選用注塑工藝一次製成，外型可選擇任意美觀適用的形狀。觸頭與測試探頭或測試棒筆的連接，還可選用插拔式或其他方式。其最佳方式是絲扣式或插拔式。無論哪種方式，其目的都是將觸頭和棒體的金屬部分相聯接。
本實用新型觸頭的具體使用方法是在測試時將觸頭前端的圓孔直接扣在被測的焊點上，就可有效地避免觸頭從焊點上滑落到焊點的元件腳上，從而保證了安全可靠的測試工作。
本實用新型的觸頭結構簡單、加工容易，使用方便，觸頭與焊點的接觸牢穩，可用以測試各種電路(特別是集成電路)的任何部位。
權利要求1.一種測試探頭或測試棒筆的觸頭，其特徵是1觸頭的頂端呈平面狀，在觸頭前端的中心加工一個軸向微孔，使其成為局部空心狀；2觸頭的針體包括直型和彎型兩種造型，其中的彎型至少可有120°、135°和150°三種角度。
專利摘要一種測試探頭或測試棒筆的觸頭。該觸頭的頂端呈平面狀或基本平面狀，在觸頭前端的中心加工一個軸向微孔。觸頭的針體有直形和彎形兩種。觸頭與測試探頭或棒筆的最佳連接方式為絲扣式或插拔式。本實用新型的觸頭結構簡單、加工容易、使用方便、觸頭與焊點接觸牢穩，安全可靠，可用以測試各種電路，特別是適用於集成電路的測試工作。
文檔編號G01R1/067GK2129930SQ92211640
公開日1993年4月14日 申請日期1992年4月20日 優先權日1992年4月20日
發明者胡兆祥 申請人:胡兆祥