計算機開關機測試電路的製作方法
2023-05-17 01:56:01 1
專利名稱：計算機開關機測試電路的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種測試電路，尤指一種計算機開關機測試電路。
背景技術：
計算機產品生產完畢後，都必須測試其穩定性以保證產品質量。測試計算機開關機性能 是計算機穩定性測試過程中必不可少的環節。測試計算機的開關機功能的傳統方法是將計算 機接上交流電源並通過手工操作其電源鍵的方式以測試其開機或關機性能。若不能正常開/ 關機，或開/關機的時間過長，則需要更進一步測試計算機的性能以査出異常原因便於維修 。但是這種人工操作的方式效率低，尤其是測試多臺計算機，而且需要重複測試計算機的開 /關機性能時，浪費時間及人力。
為了提高測試效率，測試計算機開關機性能時可採用機械手開關模擬手動操作，重複觸 壓計算機開關，達成測試計算機開關機性能的目的。但是，這種機械手不太穩定，不能嚴格 的按照測試要求自動完成測試。
發明內容
鑑於以上內容，有必要提供一種測試效率高且穩定可靠的計算機開關機測試電路。 一種計算機開關機測試電路，用於測試待測計算機的開關機性能，包括一與所述待測計 算機相連以控制所述待測計算機開關機狀態的開關模組，所述計算機開關機測試電路還包括 一與所述開關模組相連以控制所述開關模組的開合狀態的控制晶片，所述控制晶片內燒錄有 測試程序且在所述測試程序運行時發出周期性的高/低電平信號至所述開關模組以控制所述 開關模組重複切換所述待測計算機的開關機狀態，所述測試程序設定所述高/低電平信號的 切換頻率及保持時間。
本發明計算機開關機測試電路利用一燒錄有測試程序的控制晶片來測試計算機的開關機 性能，電路穩定可靠，且可按照測試要求自動對計算機進行開關機測試，測試效率高。
圖l為本發明較佳實施方式計算機開關機測試電路的組成方框圖。 圖2是圖1中控制模組、驅動模組及顯示模組的電路圖。 圖3是圖1中電源模組及開關模組的電路圖。
具體實施方式
請參閱圖l，本發明較佳實施方式計算機開關機測試電路包括一控制模組IO、 一驅動模 組20、 一顯示模組30、 一電源模組40及一開關模組50。所述控制模組10可周期性地發出開/ 關機信號至所述開關模組50，所述開關模組50與待測試計算機的開關引腳相連，可重複的對 所述待測試計算機進行開關機動作，從而驗證所述待測試計算機是否能通過嚴格的開關機測 試。所述顯示模組30可顯示測試時間，測試次數等測試信息。所述驅動模組20用於驅動所述 顯示模組30。所述電源模組40可提供電源至所述控制模組10及其它需供電的模組。
請參閱圖2，所述控制模組10包括一單片機102 (亦可為其它可編程的控制晶片)及一提 供時鐘脈衝信號的晶振電路104。所述單片機102內燒錄有測試程序、按鍵掃描程序、驅動顯 示程序等程序。所述單片機l02在所述測試程序運行時發出周期性的高/低電平信號以重複切 換所述待測計算機的開關狀態，所述測試程序根據測試需求設定了所述高/低電平信號的切 換頻率及保持時間。所述晶振電路l04由石英晶體Y和微調電容C 1及C2組成，由於所述單片機 102內部有一個高增益反相放大器，當外接所述晶振電路50後，就構成了自激振蕩器並產生 振蕩時鐘脈衝。所述單片機104的PB0 (定時器/計數器)引腳與一按鍵K1相連，PB1 (定時器 /計數器)引腳與一按鍵K2相連，PB2 (模擬信號輸入端)引腳與一按鍵K3相連，PB3 (模擬 信號輸入端)引腳與一按鍵K4相連。所述按鍵Kl為開始/停止鍵，當所述按鍵掃描程序檢測 到K1鍵被按下時可以開始或停止測試程序；所述按鍵K2為設置鍵，當所述按鍵掃描程序掃描 到所述K2鍵被按下時可切換並選定測試參數(如測試時間，測試次數等參數)類型，使所述 顯示模組30相應顯示測試次數或測試時間等信息；所述按鍵K3為加法鍵，當所述按鍵掃描程 序掃描到所述K3鍵被按下時可增加選定的測試參數值，如增加測試時間或測試次數；所述按 鍵K4為減法鍵，當所述按鍵掃描程序掃描到所述K4鍵被按下時可減小選定的測試參數值，如 減少測試時間或測試次數。所述單片機104還外接一連接器106，該連接器106可插接一編程 器用於燒錄開關機測試程序至所述單片機102。所述單片機102的PD7引腳接有一工作指示燈 Dl，該工作指示燈D1在測試時發亮，在測試停止時熄滅。
所述驅動模組20包括四個三極體Q1， Q2， Q3及Q4，所述三極體Q1， Q2， Q3及Q4的基極分 別與所述單片機102的PA4， PA5， PA6及PA7相連，集電極與所述顯示模組30的驅動引腳l-4相 連，發射極均接地。
所述顯示模組30包括4個從右至左排列的數碼管LED1-LED4，所述數碼管LED1-LED4的 a-g引腳分別與所述單片機102的PC0-PC6引腳相連，控制引腳l-4分別與所述驅動模組20的三 極管Q1-Q4的集電極相連。所述數碼管LEDl-LED4的狀態受控於所述三極體Ql-Q4的導通/截止 狀態及所述單片機102的PC0-PC6引腳發出信號的狀態。例如，如需驅動所述顯示模組30顯示數字IO，所述驅動顯示程序運行，使所述單片機102的引腳PA6， PA7發出低電平信號，使所 述三極體Q3及Q4截止，所述LED3及LED4因而未被驅動，處於熄滅狀態；所述單片機102的引 腳PA5， PA4發出高電平信號，使所述三極體Q2及Q1導通，所述LED3及LED4因而被驅動，可以 顯示出相應的數字，所述單片機102的引腳PC1， PC2發出高電平信號至所述LED2的b和c引腳 ，使所述數碼管LED2顯示數字1，所述單片機的引腳PC0-PC5發出高電平信號至所述數碼管 LEDl的a-f引腳，使所述數碼管LED1顯示數字0，因而所述顯示模組30呈現的數字為10。
所述電源模組40包括一 電源線VCC ， 一接地線GND及連接於該電源線VCC及接地線GND之間 的濾波電容C3及C4。所述單片機102的VCC引腳與所述電源模組40電源線VCC相連，GND引腳與 所述電源模組40的接地線GND相連。
所述開關模組50包括一二極體D2， 一三極體Q5及一光電耦合器B，所述光電耦合器B的輸 出端可與待測計算機的開關相連以便對其進行開關機測試。所述光電耦合器B的發光源為一 發光二極體，受光器為一光敏三極體。所述二極體D2的陽極與所述單片機102的PA3引腳相連 ，當所述單片機102的PA3引腳發出高電平信號時，所述二極體D2及三極體Q5均導通，所述光 電耦合器B的二極體也導通，所述光電耦合器B的輸出端的阻抗很小，相當於開關"閉合"， 可將待測試計算機的開關信號(PWRBT)接地，從而切換所述待測計算機的開關機狀態，當所 述單片機102的PA3引腳發出低電平信號時，所述二極體D2及三極體Q5均導通，所述光電耦合 器B的二極體也導通，所述光電耦合器B的輸出端的阻抗很大，相當於開關"斷開"，所述待 測計算機的開機或關機的狀態保持不變。
測試時，先開啟電源，使所述單片機102通電，然後按下所述按鍵K1開始測試，所述單 片機l 02的PA3弓1腳即可按照既定的測試程序周期性的發出高/低電平的測試信號至所述開關 模組50，對待測計算機進行開關機測試。如一種待測試電腦，需在溫度溼度不斷變化的條件 下通過58小時的測試，每一個測試周期使所述待測試計算機保持開機狀態8分鐘，關機狀態 32秒，完成該項測試時，先將相應的程序燒錄至所述單片機102，然後可利用本開關機測試 電路對其進行自動測試，測試效率高，且測試信息可以通過所述顯示模組30顯示出來，便於 監視測試信息。
權利要求
1.一種計算機開關機測試電路，用於測試待測計算機的開關機性能，包括一與所述待測計算機相連以控制所述待測計算機開關機狀態的開關模組，其特徵在於所述計算機開關機測試電路還包括一與所述開關模組相連以控制所述開關模組的開合狀態的控制晶片，所述控制晶片內燒錄有測試程序且在所述測試程序運行時發出周期性的高/低電平信號至所述開關模組以控制所述開關模組重複切換所述待測計算機的開關機狀態，所述測試程序設定所述高/低電平信號的切換頻率及保持時間。
2.如權利要求l所述的計算機開關機測試電路，其特徵在於所述 開關模組包括一與所述控制晶片相連的三極體及一光電耦合器，所述光電耦合器的輸入端與 所述三極體相連，輸出端與所述待測計算機的開關機引腳相連，所述控制晶片發出高電平信 號至所述三極體時所述三極體及所述光電耦合器均導通以切換所述待測計算機的開關機狀態
3.如權利要求l所述的計算機開關機測試電路，其特徵在於所述 控制晶片接有一第一按鍵，所述控制晶片內還燒錄有一按鍵掃描程序，所述按鍵掃描程序檢 測到所述第一按鍵被按下時開啟或結束所述測試程序。
4.如權利要求3所述的計算機開關機測試電路，其特徵在於所述 控制晶片還接有一第二按鍵，所述按鍵掃描程序檢測到所述第二按鍵被按下時選定一種測試 參數的類型，所述測試參數的類型包括測試時間及測試次數兩種類型。
5.如權利要求4所述的計算機開關機測試電路，其特徵在於所述 控制晶片還接有一第三按鍵及一第四按鍵，所述按鍵掃描程序掃描到所述第三按鍵被按下時 增加所述被選定的測試參數的值，所述按鍵掃描程序掃描到所述第四按鍵被按下時減小所述 被選定的測試參數的值。
6.如權利要求l所述的計算機開關機測試電路，其特徵在於所述 計算機開關機測試電路還包括一顯示模組及一用於驅動所述顯示模組的驅動模組，所述驅動 模組連接於所述控制晶片及所述顯示模組之間且在接受到所述控制晶片發出的高電平信號時驅動所述顯示模組。
7.如權利要求6所述的計算機開關機測試電路，其特徵在於所述驅動模組包括若干與所述控制晶片相連的三極體，當所述控制晶片發出高電平信號時所述三 極管導通以驅動所述顯示模組。
8.如權利要求7所述的計算機開關機測試電路，其特徵在於所述顯示模組包括若干數碼管，所述數碼管與所述驅動模組的三極體對應相連，所述控制晶片內 還燒錄有一驅動顯示程序且在所述驅動顯示程序運行時輸出信號至所述三極體及所述數碼管 以驅動所述數碼管顯示測試信息。
全文摘要
一種計算機開關機測試電路，用於測試待測計算機的開關機性能，包括一與所述待測計算機相連以控制所述待測計算機開關機狀態的開關模組，所述計算機開關機測試電路還包括一與所述開關模組相連以控制所述開關模組的開合狀態的控制晶片，所述控制晶片內燒錄有測試程序且在所述測試程序運行時發出周期性的高/低電平信號至所述開關模組以控制所述開關模組重複切換所述待測計算機的開關機狀態，所述測試程序設定所述高/低電平信號的切換頻率及保持時間。本發明計算機開關機電路可按照測試要求自動地對計算機進行開關機測試，測試效率高。
文檔編號G06F11/26GK101576840SQ20081030142
公開日2009年11月11日 申請日期2008年5月6日 優先權日2008年5月6日
發明者劉玉林, 盧洪浪, 範利平 申請人:鴻富錦精密工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司