一種元器件性能測試前的清潔方法
2023-05-23 03:43:51
專利名稱：一種元器件性能測試前的清潔方法
技術領域：
本發明屬於電子電氣測試領域，具體涉及一種元器件性能測試前的清潔方法。
背景技術：
對電子電氣元器件的性能測試直接影響到對產品質量的評價，測試結果的準確性不僅受測試過程中環境條件的影響，也與測試前樣品的清潔與否有著密切的關係。目前許多元器件測試方法，如鹽霧試驗、沙塵試驗等，均要求樣品表面清潔、無保護層，以保證測試的有效性和準確性。在元器件生產過程中不可避免地會接觸到灰塵和異物，同時一些元器件生產時會在表面塗覆保護性薄膜，因此需要在性能測試前對元器件進行合理的清潔。目前的清潔手段僅限於使用海綿等清潔用品擦拭，不僅達不到理想的清潔效果，還可能因操作不當引起樣品在測試前即形成缺陷。
發明內容
本發明的主要口的是提供一種元器件性能測試前的清潔方法，使元器件測試前既可以達到理想的清潔效果，又不會對元器件造成提前缺陷。本發明為解決上述問題所採用的解決方案為:一種元器件性能測試前的清潔方法，包括如下步驟:(I)將待測元器件置於一個清潔的玻璃容器中，倒入清洗液至完全沒過待測元器件；(2)將裝有待測元器件和清洗液的玻璃容器放入超聲清洗儀中進行超聲清洗；(3)關閉超聲清洗儀，將待測元器件取出，並進行乾燥。按所述一種元器件性能測試前的清潔方法，第(I)步中所述清洗液為蒸餾水、醇、蒸餾水和醇的混合物、碳氟化合物和醇的混合物。按所述一種元器件性能測試前的清潔方法，第(I)步中所述清洗液溫度在20 70。。。按所述一種元器件性能測試前的清潔方法，第(2)步中所述超聲清洗的時間為30s 300so按所述一種元器件性能測試前的清潔方法，第(3)步中所述乾燥方法包括a使用烘箱烘乾；b使用吹風機吹上；c自然乾燥。按所述一種元器件性能測試前的清潔方法，第(3)步中所述乾燥方法包括a使用烘箱烘乾，烘箱溫度為40 80°C ；b使用吹風機吹乾，吹風機送出的風的溫度為O 50°C。按所述一種元器件性能測試前的清潔方法，第(3)步中所述乾燥方法包括使用吹風機吹乾，吹風機送出的風速為4 20m/s。本發明具有的優點和積極效果是:本發明提供了一種元器件性能測試前的清潔方法，使元器件測試前不僅達到理想的清潔效果，又不會對元器件造成提前缺陷。
具體實施例方式下面結合實施例對本發明作進一步說明，但不能作為本發明的限定。實例1:一種元器件性能測試前的清潔方法，包括如下步驟:(I)將待測元器件置於一個清潔的玻璃容器中，倒入99.5%乙醇溶液至完全沒過待測元器件；(2)將裝有待測元器件和清洗液的玻璃容器放入超聲清洗儀中，超聲清洗120s ；(3)關閉超聲清洗儀，將待測元器件取出，置於60°C的烘箱中進行乾燥。實例2:一種元器件性能測試前的清沽方法，包括如下步驟:(I)將待測元器件置於一個清潔的玻璃容器中，倒入溫度為40°C的蒸餾水至完全沒過待測元器件；(2)將裝有待測元器件和清洗液的玻璃容器放入超聲清洗儀中，超聲清洗180s ；(3)關閉超聲清洗儀，將待測元器件取出，用風速為lOm/s、出風溫度為25°C的吹風進行乾燥。
權利要求
1.一種元器件性能測試前的清潔方法，其特徵在於，包括如下步驟: (1)將待測元器件置於一個清潔的玻璃容器中，倒入清洗液至完全沒過待測元器件； (2)將裝有待測元器件和清洗液的玻璃容器放入超聲清洗儀中進行超聲清洗: (3)關閉超聲清洗儀，將待測元器件取出，並進行乾燥。
2.根據權利要求1所述一種元器件性能測試前的清潔方法，其特徵在於，所述清洗液為蒸餾水、醇、蒸餾水和醇的混合物、碳氟化合物和醇的混合物。
3.根據權利要求1或2所述一種元器件性能測試前的清潔方法，其特徵在於，所述清洗液溫度在20 70°C。
4.根據權利要求1所述一種元器件性能測試前的清潔方法，其特徵在於，所述超聲清洗的時間為30s 300s。
5.根據權利要求1所述一種元器件性能測試前的清潔方法，其特徵在於，所述乾燥方法包括a使用烘箱烘乾；b使用吹風機吹乾；c自然乾燥。
6.根據權利要求5所述的乾燥方法，其特徵在於，所述烘箱溫度為40 80°C。
7.根據權利要求5所述的乾燥方法，其特徵在於，所述吹風機送出的風的溫度為O 50。。。
8.根據權利要求5所述的乾燥方法，其特徵在於，所述吹風機送出的風速為4 20m/S。
全文摘要
本發明涉及一種元器件性能測試前的清潔方法，包括(1)將待測元器件置於一個清潔的玻璃容器中，倒入清洗液至完全沒過待測元器件；(2)將裝有待測元器件和清洗液的玻璃容器放入超聲清洗儀中進行超聲清洗；(3)關閉超聲清洗儀，將待測元器件取出，並進行乾燥。本發明的有益效果是，使元器件測試前不僅可以達到理想的清潔放果，而且不會對元器件造成提前缺陷。
文檔編號B08B3/12GK103157624SQ20111042606
公開日2013年6月19日 申請日期2011年12月19日 優先權日2011年12月19日
發明者馬強, 李陽, 田磊, 李偉, 朱長娥, 董寶林, 劉勝男, 李樹雯 申請人:天津天維移動通訊終端檢測有限公司