基於新型dcc處理技術的測試方法
2023-05-21 11:22:46
專利名稱：基於新型dcc處理技術的測試方法
技術領域：
本發明涉及SDH技術領域，尤其涉及SDH中DCC通道數據處理的一種測試方法。
背景技術：
在傳統的SDH中，DCC通道的處理一般是通過一對一的處理方式，即一個DCC通道採用一組DCC的信號硬連線來連接光接口線卡和網絡管理線卡，這樣就增加了背板的連線，同時也限制了DCC通道處理的總數，不利於大容量的SDH系統來管理更多的業務。因此提出了一種總線處理DCC的處理方式。這種新型的基於DCC總線處理方法可以有效的減少背板的互連線，同時可以增加DCC通道處理的總數。對於以往的DCC通道處理採用簡單的一對一的互連處理方式，即一根時鐘線和一根相應的數據線。由於連線簡單且不存在切換時鐘域的問題，處理相對簡單，只需要注意信號線間的幹擾即可，最後可用網絡管理卡收發包來確認DCC通道的工作正常性，無需其它調試。
新的DCC總線處理方法，增強設備可處理DCC通道的數目，同時對這種新的DCC總線處理技術提出了相應的測試要求。由於這種基於總線的DCC處理方法在光接口線卡中存在一個模塊用於光接口線卡上DCC數據的總線插入及提取，在總線的插入一側存在著數據時鐘域的切換，即從線路時鐘域切換的系統時鐘域，這樣可以將所有的線路同步到系統時鐘域中進行處理；在網元管理線卡中存在著基於總線時隙的提取及下發時隙數據的插入；最後交給HDLC晶片供處理器處理。由於在整個設備的DCC處理過程中存在多個複雜模塊組成的鏈路，因此對它的測試需要用一種相應的測試方法逐級的測試DCC總線工作的正常性及穩定性。
新型DCC通道處理中相應的光接口線卡上話方向的DCC插入總線模塊的具體框圖如圖1，該模塊完成了32個光線路側的192K的DCC串行數據平滑處理到本地時鐘域，然後根據配置插入到相應的6M總線的32個時隙中，每個時隙25個比特的時隙數據，根據平滑處理過程中線路側時鐘和本地系統鐘的頻偏智能動態的控制輸出23比特、24比特、25比特，用來控制兩個時鐘域的數據的無縫隙切換。
新型DCC通道處理中相應的光接口線卡下話方向的DCC從總線抽取模塊的具體框圖如圖2，該模塊完成從6M總線的32個時隙中提取數據，該下話方向的時鐘始終是本地的系統鍾，因此所有的處理是在一個時鐘域內進行，6M總線的32個時隙中，每25個比特的前24個比特是固定的有效數據，第25比特固定為空閒無效數據。
新型DCC通道處理中相應的網絡管理卡的選擇抽取插入模塊的具體框圖如圖3，該模塊根據配置數據將整個輸入的4條6M總線上128個DCC的數據時隙的任意32個時隙的數據選擇為處理數據，上發給HDLC處理晶片。同時將下發的32路HDLC數據幀送到需插入的32個相應時隙中。
發明內容
本發明的目的在於提供一種基於新型DCC處理技術的測試方法以解決新型DCC總線處理的正常性及穩定性測試。
對新型DCC總線處理的正常性及穩定性測試根據實際設計的要求，採用分階段來測試新型DCC總線處理的性能。具體測試上主要分為四個階段來完成。第一個階段是光接口卡上的DCC總線自己環回掛表的測試，測試光碟上模塊的正常與否，如不正常，需調試正常後繼續後續測試。第二個階段是在網元管理卡上經過DCC交叉分配後的環回測試，測試光碟和進入網元管理卡的DCC正常與否，主要是網元管理卡的DCC處理正常與否，如不正常，需調試正常後繼續後續測試。第三是通過BMU通過HDLC處理晶片發包，在光路將DCC數據環回的測試，如不正常，需調試網元管理卡中DCC環回後與HDLC處理晶片相連接部分的問題，同時需要考慮前級模塊工作的正常性，需調試正常後繼續後續測試。第四個階段的測試是通過兩個站的BMU用正常的網管程序觀察兩站通過DCC處理來傳輸DCC數據的正常性，如果從站可以在主站相連的主機上看到就是正常的。如不正常，在確認前階段測試正常的情況下需檢查軟體的正常性。通過上述四個階段的測試即利於查找問題有能確定新型DCC總線工作的正常性及穩定性。
為此本發明提出一種基於新型DCC處理技術的測試方法，對新型DCC總線處理的正常性及穩定性進行測試，該方法包括
第一階段光接口卡上的DCC總線自己環回掛表測試；第二階段網元管理卡上經過DCC交叉分配後的環回測試；第三階段通過BMU通過HDLC處理晶片發包，在光路將DCC數據環回的測試；第四階段通過兩個站的BMU用正常的網管程序觀察兩站通過DCC處理來傳輸DCC數據的正常性。
其中第一階段的測試包括採用SDH測試儀發送DCC字節的隨機碼流，同時接收光模塊發送過來的DCC字節隨機碼流，如果發送與接收的碼流的DCC字節無誤碼，表明該段DCC處理正常。
其中第二階段的測試包括通過SDH測試儀收發隨機碼，在交叉矩陣後將DCC數據環回，如果DCC數據在SDH測試儀上的收發無誤碼，表明該DCC數據處理部分正常。
所述交叉矩陣是32到128中任意32的交叉矩陣。
其中第三階段的測試包括使用一個SDH設備來發送接收HDLC幀，並在超級終端中顯示收發HDCL幀的信息來確認DCC數據處理通道工作的正常性。
其中第四階段的測試包括用兩個SDH設備發送接收HDLC幀，在超級終端中觀察列印的收發HDLC幀的信息是否正常。
其中第四階段的測試還包括利用正常的設備可上網管程序，如果網管主機上可以看到兩個設備，並且通過主機PING兩個設備的IP位址，如果不丟包，表明整個設備的DCC處理通道正常。
圖1是新型DCC通道處理中相應的光接口線卡上話方向的DCC插入總線模塊的具體框圖；圖2是新型DCC通道處理中相應的光接口線卡下話方向的DCC從總線抽取模塊的具體框圖；圖3是新型DCC通道處理中相應的網絡管理卡的選擇抽取插入模塊的具體框圖；圖4是涉及本發明實施例的流程圖；圖5是第一階段光接口卡上的DCC總線自己環回掛表的測試框圖；
圖6是在第一個測試階段確認沒有錯誤後進行的第二階段的測試，該測試框圖是在網元管理卡上經過DCC交叉分配後的環回測試；圖7是在第一與第二階段的測試正常後進行的第三階段的測試。通過BMU通過HDLC處理晶片發包，在光路將DCC數據環回的測試；圖8是在第一、第二與第三階段的測試正常後進行的第四階段的測試。
具體實施例方式
在該基於總線的DCC處理系統，箭頭指DCC數據在系統中的流向。為了要測試整個DCC信號的正確性，需要進行下列四個階段的測試。
第一個階段測試的是光接口線卡的DCC插入總線模塊、光接口線卡的DCC從總線抽取模塊工作的正確性及可靠性。測試這一部分的正確性及可靠性採用光儀表發送隨機碼，在該兩模塊的後端環回的方法。如圖5，給出了測試該光接口卡中DCC模塊工作正常性的測試框圖。在該圖的測試中將SDH測試儀的時鐘設置成收時鐘，這時整個測試系統實際上是個同步系統，全部同步到系統時鐘域中，這個是用來測試光接口線卡中的DCC總線處理模塊的基本工作狀況的，確定光線路接口卡中DCC總線在同步時鐘域的抽取與插入的正確性，在測試過程中採用SDH測試儀發送DCC字節的隨機碼流，同時接收光模塊發過來的DCC字節隨機碼流，如果發送與接收到的碼流的DCC字節無誤碼就表明該段DCC的處理正常，能夠正確的傳送DCC字節，測試過程中由於該設計模塊添加了環回的功能，因此不需添加其它測試實體，只需要在光接口卡上配置光接口卡DCC環回功能控制寄存器即可。
第二階段的測試是在完成光接口卡中DCC數據抽取插入模塊的環回測試正常後進行的，如圖6。在光接口線卡的DCC插入總線模塊、光接口線卡的DCC從總線抽取模塊工作正常後需要對網絡管理卡的DCC抽取模塊、網絡管理卡的DCC插入模塊、網絡管理卡的選擇抽取插入模塊進行測試，測試也是通過配置網絡管理卡中的環回控制寄存器來完成的。此時SDH測試儀的時鐘仍然設置成收時鐘，整個測試系統仍然是一個同步測試系統，這一步的測試是用來測試網元管理卡中的複雜DCC處理模塊在同步的情況下是否工作正常。該模塊主要是網絡管理卡的選擇抽取插入模塊。網絡管理卡的選擇抽取插入模塊中DCC選擇抽取實際上是一個128到32的交叉矩陣，用於靈活的DCC選擇配置，DCC的插入實際上是一個32到128中任意32的交叉矩陣。這個時候的測試通過SDH測試儀收發隨機碼，在交叉矩陣後將DCC數據環回，如圖6所示。如果DCC數據在SDH測試儀上的收發無誤碼就說明了參與測試的DCC數據處理部分正常。
第三個階段的測試是在前兩個測試過程正常的前提下進行的。在完成DCC數據處理系統的部分模塊的隨機碼測試後，需要通過CPU收發正常的HDLC幀來確定整個DCC數據處理通道的正確性，如圖7。實際中通過編寫測試軟體，用一個SDH設備來發送接收HDLC幀，並在超級終端中顯示收發HDLC幀的信息來確認DCC數據處理通道工作的正常性。該測試過程需要更改BMU的軟體為DCC測試軟體，軟體是通過兩個計數器來記錄BMU發送和收到的HDLC幀的數目，同時將這兩個數據通過超級終端顯示出來，在一段較長時間如1個小時，如果這兩個數據在超級終端上顯示的一致或者相差1到2，就表明測試正常，如果相差較大，就說明有丟包現象。發送和收到的數據相差1或2的原因是BMU收到發出的包需要一段時間，如果此時沒收到，但是過片刻後收到就會有1到2的差異。這個步驟的測試系統仍然是個同步測試系統，DCC的處理仍然是在系統時鐘域上進行處理，主要是用來測試整個DCC處理系統在同步的情況下是否工作正常。
第四個階段的測試是在上述三個階段的測試成功後進行的，如圖8。當一個SDH設備發送HDLC幀測試DCC數據處理通道工作正常後，需用兩個SDH設備來發送接收HDLC幀，首先用第三階段的BMU測試軟體測試，並在超級終端中觀察顯示的收發HDLC幀的信息來確認DCC數據處理通道工作的正常性，觀察方法同第三階段的一樣。這個時候兩個站如果時鐘是其中一個設備鎖另一個設備的時鐘，則處理的兩個設備的DCC仍然是在一個頻率相同的時鐘域處理的DCC。如果此時的兩個設備是自由震蕩，則處理的DCC通道在兩個設備上實在兩個有一定頻偏的時鐘上，在這兩種情況下，外部不需做任何更改，因為整個設計是按不同步設計的。如果此時通過SDH設備發送HDLC幀測試包，在超級終端中觀察列印的收發HDLC幀的信息正常，就表明DCC數據處理通道工作正常。然後將BMU的軟體更換成正常的設備可上網管的程序，如果此時在網管主機上可以看到兩個設備，且通過主機PING兩個設備的IP位址，如果不丟包就表明整個設備的DCC處理通道正常了。如果此時無法看到兩個設備，需要檢查主機的配置和BMU正常的可上網管程序是否正常，如正常就會在主機上看到兩個設備。
經過上述四個階段的逐步測試，可以完整的測試整個DCC字節數據傳輸的過程，為該設備的DCC通道正常工作提供保證。
通過本發明的測試方法，提高了設備的穩定性及可靠性，同時利於研發生產測試。上述僅為本發明較佳實施例，並不用以限制本發明，凡在本發明的精神和原則之內，所做的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護範圍之內。
權利要求
1.一種基於新型DCC處理技術的測試方法，對新型DCC總線處理的正常性及穩定性進行測試，該方法包括第一階段光接口卡上的DCC總線自己環回掛表測試；第二階段網元管理卡上經過DCC交叉分配後的環回測試；第三階段通過BMU通過HDLC處理晶片發包，在光路將DCC數據環回的測試；第四階段通過兩個站的BMU用正常的網管程序觀察兩站通過DCC處理來傳輸DCC數據的正常性。
2.如權利要求1的測試方法，其特徵在於第一階段的測試包括採用SDH測試儀發送DCC字節的隨機碼流，同時接收光模塊發送過來的DCC字節隨機碼流，如果發送與接收的碼流的DCC字節無誤碼，表明該段DCC處理正常。
3.如權利要求1的測試方法，其特徵在於第二階段的測試包括通過SDH測試儀收發隨機碼，在交叉矩陣後將DCC數據環回，如果DCC數據在SDH測試儀上的收發無誤碼，表明該DCC數據處理部分正常。
4.如權利要求3的測試方法，其特徵在於所述交叉矩陣是32到128中任意32的交叉矩陣。
5.如權利要求1的測試方法，其特徵在於第三階段的測試包括使用一個SDH設備來發送接收HDLC幀，並在超級終端中顯示收發HDLC幀的信息來確認DCC數據處理通道工作的正常性。
6.如權利要求1的測試方法，其特徵在於第四階段的測試包括用兩個SDH設備發送接收HDLC幀，在超級終端中觀察列印的收發HDLC幀的信息是否正常。
7.如權利要求6的測試方法，其特徵在於第四階段的測試還包括利用正常的設備可上網管程序，如果網管主機上可以看到兩個設備，並且通過主機PING兩個設備的IP位址，如果不丟包，表明整個設備的DCC處理通道正常。
全文摘要
本發明公開了一種基於新型DCC處理技術的測試方法，該測試包括四個階段。第一階段光接口卡上的DCC總線自己環回掛表測試；第二階段網元管理卡上經過DCC交叉分配後的環回測試；第三階段通過BMU通過HDLC處理晶片發包，在光路將DCC數據環回的測試；第四階段通過兩個站的BMU用正常的網管程序觀察兩站通過DCC處理來傳輸DCC數據的正常性。通過上述四個階段的測試既有利於查找問題又能確定新型DCC總線工作的正常性及穩定性，對新型DCC總線處理的正常性及穩定性進行測試。
文檔編號H04L12/26GK101056145SQ20071011084
公開日2007年10月17日 申請日期2007年6月12日 優先權日2007年6月12日
發明者鍾永波, 陳飛月, 陳永洲 申請人:烽火通信科技股份有限公司