用於玻璃雙邊磨邊機的入口寬度檢測裝置的製作方法

2023-04-25 14:44:06

本發明涉及玻璃磨邊機技術領域，特別是指一種用於玻璃雙邊磨邊機的入口寬度檢測裝置。

背景技術：

現有磨邊機入口檢測裝置存在檢測效率低，測量精度差。測量機構主要用光光電傳感器和機械式接觸方式來(由接近開關來產生檢測信號)給成；這種入口檢測裝置不能連續檢測，使用不方便。

技術實現要素：

本發明提出一種用於玻璃雙邊磨邊機的入口寬度檢測裝置，解決了現有技術中磨邊機入口檢測裝置存在檢測效率低，測量精度差的問題。

本發明的技術方案是這樣實現的：

一種用於玻璃雙邊磨邊機的入口寬度檢測裝置，包括第一金屬型材、第二金屬型材和第三金屬型材，所述第一金屬型材的一端固定在所述第二金屬型材的一端，所述第一金屬型材和所述第二金屬型材互相垂直，所述第二金屬型材的另一端與所述第三金屬型材連接，所述第三金屬型材與所述第二金屬型材和所述第一金屬型材構成的平面垂直；所述第三金屬型材外部設有基於磁感應的寬度檢測組件。

進一步的，所述寬度檢測組件包括設在所述第三金屬型材外部的磁條，所述磁條上設有磁感應塊。

進一步的，所述磁條兩端設有固定塊，所述固定塊通過螺絲固定在所述第三金屬型材上。

進一步的，所述磁條的下方設有直線導軌，所述直線導軌上設有滑動的直線滑塊，所述直線滑塊通過安裝板固定在所述直線導軌上，所述直線導軌的另一側連接有浮動接頭和氣缸。

進一步的，所述直線導軌採用GCr15構成，所述安裝板採用Q235-A製成。

進一步的，所述第一金屬型材、第二金屬型材和第三金屬型材均採用鋁合金型材構成。

進一步的，所述第一金屬型材、第二金屬型材和第三金屬型材均設有空腔，其四個邊角設有帶通孔的突起部，相鄰的兩個凸起部之間設有橫截面為凸型的卡槽。

進一步的，所述空腔兩側設有通孔。

本發明的有益效果在於：利用基於磁感應的寬度檢測組件以及三個金屬型材的結構，在加當前加工玻璃尺寸±120mm，的範圍內雙邊磨邊機在不用調整寬度的情況下可連續測量；同時可對批量玻璃的寬度誤差檢測同；大大提高磨邊機的檢測和生產效率。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對於本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明用於玻璃雙邊磨邊機的入口寬度檢測裝置的平面結構示意圖；

圖2為本發明用於玻璃雙邊磨邊機的入口寬度檢測裝置的側面結構示意圖。

圖中，1-第一金屬型材；2-第二金屬型材；3-第三金屬型材；4-氣缸；5-固定塊；6-磁感應塊；7-磁條；8-氣缸安裝座；9-直線導軌；10-直線滑塊；11-安裝板；12-浮動接頭。

具體實施方式

下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基於本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬於本發明保護的範圍。

如圖1和圖2所示，本發明提出了一種用於玻璃雙邊磨邊機的入口寬度檢測裝置，包括第一金屬型材1、第二金屬型材2和第三金屬型材3，第一金屬型材1的一端固定在第二金屬型材2的一端，第一金屬型材1和第二金屬型材2互相垂直，第二金屬型材2的另一端與第三金屬型材3連接，第三金屬型材3與第二金屬型材2和第一金屬型材1構成的平面垂直；第三金屬型材3外部設有基於磁感應的寬度檢測組件。

本發明利用基於磁感應的寬度檢測組件以及三個金屬型材的結構，在加當前加工玻璃尺寸±120mm，的範圍內雙邊磨邊機在不用調整寬度的情況下可連續測量；同時可對批量玻璃的寬度誤差檢測；大大提高磨邊機的檢測和生產效率。

寬度檢測組件包括設在第三金屬型材3外部的磁條7，磁條7上設有磁感應塊6。磁感應塊6可在磁條7上滑動。

磁條7兩端設有固定塊5，固定塊5通過螺絲固定在第三金屬型材3上。

磁條7的下方設有直線導軌9，直線導軌9上設有滑動的直線滑塊10，直線滑塊10通過安裝板11固定在直線導軌9上，直線導軌9的另一側連接有浮動接頭12和氣缸4。氣缸4通過浮動接頭12推動直線滑塊10在直線導軌9上滑動，氣缸4和浮動接頭12通過氣缸安裝座8固定在第三金屬型材3上。

直線導軌9採用GCr15構成，安裝板11採用Q235-A製成。

第一金屬型材1、第二金屬型材2和第三金屬型材3均採用鋁合金型材構成。

第一金屬型材1、第二金屬型材2和第三金屬型材3均設有空腔，其四個邊角設有帶通孔的突起部，相鄰的兩個凸起部之間設有橫截面為凸型的卡槽。

空腔兩側設有通孔。通孔可以起到散熱的作用。

以上所述僅為本發明的較佳實施例而已，並不用以限制本發明，凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護範圍之內。