衰減片測量儀的製作方法

2023-05-05 02:27:16

專利名稱：衰減片測量儀的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種機械式小直徑厚度測量裝置，具體涉及一種衰減片測量儀。
背景技術：
目前測量衰減片厚度通用的辦法是用螺旋測微計，數顯千分尺等用人手來旋轉測 量，對測量人員技術素質要求較高。而且千分尺精度是±0. OOlmm，平行度誤差是O. 001mm。 某些品種的衰減片厚度尺寸誤差要求小於O. 001mm。用通用的辦法很難判定衰減片合格否。 只能靠最終測光學指標判定。

發明內容本實用新型的目的為了為解決用通用辦法測量衰減片很難判定合格否而提供一 種衰減片測量儀。本實用新型在千分表測量頭前加裝一個浮動測頭，可測平面而且浮動測 頭平面自行貼平零件平面。 本實用新型解決其技術問題所採用的技術方案是衰減片測量儀，由千分表、支 架、把手、螺釘、底座、本體、軟套、測頭、測柱、保持套、彈性體、墊柱、支架和把手構成。千分 表裝入本體，軟套套入千分表測量頭，測頭裝入軟套與測量頭的鋼球接觸；墊柱裝入本體，
測柱壓入墊柱，彈性體套入測柱，保持套套入測柱。使用時把衰減片放入保持套，測頭下壓 至衰減片就可測厚度值。市面上購買的千分表一般誤差0. 003 ii m，需要精調至0. 001 ii m以 內，用塊規作基準校核。 本實用新型的有益效果是有效地解決用測微計使用不方便，同時該測量儀提高了 測量精度。

圖1是本實用新型的外形圖。 圖2是衰減片測量儀局部剖視圖。 圖中l-千分表，2-支架，3-把手，4-螺釘，5-底座，6-本體，7-軟套，8-測頭， 9-測柱，10-保持套，11-彈性體，12-墊柱。
具體實施方式
以下結合附圖和實施例對本實用新型進一步說明 如圖1、圖2所示，衰減片測量儀由千分表1、支架2、把手3、螺釘4、底座5、本體6、 軟套7、測頭8、測柱9、保持套10、彈性體11和墊柱12構成，千分表1裝入本體6，千分表1 的測量頭套入軟套7，測頭8套入軟套7並與千分表1測量頭的鋼球接觸，本體6與底座5 固定，測柱9壓入墊柱12，墊柱12裝入本體6，彈性體11套入測柱9，保持套IO套入測柱 9，支架2由螺釘4裝在本體6上，把手3套入支架2上與千分表1尾部相聯，壓住把手3被 測衰減片放入保持套中，輕放把手3測頭8下降至零件就可測量了。
權利要求衰減片測量儀，其特徵是衰減片測量儀，由千分表、支架、把手、螺釘、底座、本體、軟套、測頭、測柱、保持套、彈性體和墊柱構成；千分表裝入本體，軟套套入千分表測量頭，測頭裝入軟套與千分表的測量頭的鋼球接觸，墊柱裝入本體，測柱裝入墊柱，彈性體套入測柱，保持套套入測柱。
專利摘要本實用新型涉及一種衰減片測量儀。衰減片測量儀主要由千分表，支架，把手，螺釘，底座，本體，軟套，測頭，測柱，保持套，彈性體，墊柱構成。千分表裝入本體，軟套套入千分表測量頭，測頭裝入軟套；墊柱裝入本體，測柱裝入墊柱，彈性體套入測柱，保持套套入測柱。使用時把衰減片放入保持套，測頭下壓至衰減片就可測厚度值，本實用新型有效地解決了用測微計測量不方便的問題，同時該測量儀提高了測量精度。
文檔編號G01B5/06GK201463807SQ20092008346
公開日2010年5月12日 申請日期2009年1月19日 優先權日2009年1月19日
發明者徐建國 申請人:徐建國