132線0.635節距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插座的製作方法

2023-04-26 15:32:06 1

專利名稱：132線0.635節距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插座的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，是能對132線0. 635節距陶瓷 四邊引線扁平封裝元器件可靠性進行高溫老化篩選和性能測試的插座；該實用新型屬於屬 電子信息技術可靠性領域。
背景技術：
目前，在我國電子元器件可靠性技術領域，公知的國內一般老化試驗插座的本 體材料大都採用的是非耐高溫普通塑料，在對被測器件進行測試時，老化工作溫度僅 為-25°C +85°C，工作時間短、引線根數少、接觸件節距寬、結構簡單，存在著與被測器件 之間接觸電阻大、老化溫度低、一致性差和使用壽命短的重大缺陷，不能滿足對器件的質量 篩選和性能指標的測試要求，容易引發工程質量事故。國內在可靠性技術領域內特別是對 配套於神舟飛船、大推力火箭、衛星、核潛艇、洲際飛彈及其它國防軍工、航天、航空、航海、 通信等重點國防尖端武器裝備等重大項目的多引線、細節距微電子元器件，尚無高低溫老 化可靠性試驗和測試的專用測試裝置，所使用的測試插座大量依賴國外進口，價格極為昂 貴，國家每年要花費大筆外匯進口產品，訂貨周期較長，特殊規格的產品無法訂貨，部分重 要產品還因禁運而影響我國軍用電子元器件研發生產進度。
發明內容為克服現有老化試驗插座在接觸電阻、老化工作溫度和一致性以及引線根數、接 觸件節距和使用壽命方面的不足，本實用新型提供一種新型的專用於集成電路、微電子元 器件在線通電狀態下進行高低溫老化、測試、篩選及可靠性試驗的132線0. 635節距陶瓷四 邊引線扁平封裝器件老化測試插座。該插座不僅能將老化工作溫度範圍從_25°C +85°C 擴展到_55°C +150°C，一次老化連續工作時間長達1500h(150°C )以上，插拔壽命10000 次以上，而且在對被測試器件進行高溫老化試驗和性能測試過程中，具有接觸件節距細小、 引線根數多、接觸電阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的優點，大 大提高了插座的可靠性和使用壽命。本實用新型解決技術問題所採用的技術方案是按照132線陶瓷四邊引線扁平封 裝元器件的結構設計和尺寸要求，將插座設計成三大組成部分，即由插座體、接觸件和定位 裝置三個部分統一組成，插座體由座(10)、蓋(4)和鉤⑵組成，各部分間以軸⑴(6)和 扭簧(7)相連接，選用耐高溫型工程塑料，經高溫注塑成型工藝技術製造成插座本體，用於 被試器件的定位安裝。接觸件以鈹青銅材料衝壓成型，經300°C高溫淬火處理及電鍍硬 金層技術表面鍍金，採用與被試器件引出線相對應的方式，由軸向對稱平均分布的132線、 0. 635mm細節距的鍍金簧片縱向排列組成，分別安裝於座(10)的4面凹槽中。該實用新型在 陶瓷四邊引線扁平封裝元器件系列插座中屬於接觸件數目多(132線)、接觸件節距小(接 觸件的節距僅為0.635mm)的結構，同時在接觸件排列上，採用每面三排的排列結構。插座的壓緊裝置由座、蓋、鉤及壓塊組成，壓塊採用活動式。這種翻蓋式結構把接觸件設計成自 動壓緊鎖、零插拔力結構。插座的定位裝置由座體上的斜面進行定位。當鉤受力向下翻轉 與座嚙合時，使蓋及安裝在蓋上的壓塊產生位移，壓塊向下運動，被試器件壓緊接觸件，而 壓塊上的凸臺可使被試器件在壓緊接觸件的過程中受力均勻，這種結構可以避免接觸件與 被試器件接觸時磨損電鍍層。通電後進行高溫老化試驗和性能測試。這種翻蓋式結構設計 成零插拔力式的結構，可避免接觸件插拔時磨損電鍍層，影響電接觸性能，徹底解決了在高 溫老化試驗和性能測試過程中的接觸電阻大、耐環境弱、一致性差和機械壽命不長的技術 難點，還可以滿足被試器件不同引線(132線以內)的要求。本實用新型的有益效果是該實用新型可以滿足軍民通用132線和其它同類陶瓷 四邊引線扁平封裝元器件高溫老化試驗和性能測試，填補了國內空白，替代進口，為國家節 約了外匯，為用戶節約了成本，可以獲得較大的經濟效益和社會效益。
以下結合附圖和實施方式對本實用新型作進一步說明。

圖1是本實用新型的外形結構縱剖面構造圖。圖2是本實用新型外型結構俯視圖。圖1 :1軸、2鉤、3壓簧、4蓋、5壓塊、6軸、7扭簧、8軸、9前腳接觸件(簧片)10座、 11中腳接觸件(簧片)、12後腳接觸件(簧片)
具體實施方式
在圖1中，先將接觸件即前腳接觸件(9)、中腳接觸件(11)和後腳接觸件(12)按 與被試器件引出線相對應結構插入座(10)中；將壓塊(5)和軸(6)裝入插座體的蓋(4)中； 再將軸(1)、鉤⑵和壓簧⑶裝入插座體的蓋⑷之中；最後將裝好的蓋(6)、軸⑶和扭 簧(7) —起裝入插座體的座(10)中。該方案中，插座體用於接觸件固定；座體可用被試器件的定位安裝；同時插座體 和壓塊起自動壓緊裝置的作用，當鉤受力向下翻轉與座嚙合時，蓋帶動壓塊向下，使被試器 件自動壓緊接觸件；活動的壓塊可以保證被試器件受力均勻；接觸件由鍍金簧片按與被試 器件引出線相對應、自動壓緊和零插拔力結構安裝於插座體的座中。
權利要求1.一種132線0. 635節距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插座，其特徵是它是 由插座體、接觸件和定位裝置三個部分統一組成，插座體由座(10)、蓋(4)和鉤( 組成，各 部分間以軸(1) (6)和扭簧(7)相連接，接觸件(9)、(11)、(12)由軸向對稱平均分布的132 線、0.635mm細節距的鍍金簧片縱向排列組成，分別安裝於座(10)的4面凹槽中。
2.根據權利要求1所述的132線0.635節距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插 座，其特徵是插座的壓緊裝置由座(10)、蓋、鉤( 及壓塊( 組成，壓塊( 採用活 動式，這種翻蓋式結構把接觸件設計成自動壓緊鎖、零插拔力結構。
3.根據權利要求1所述的132線0.635節距陶瓷四邊引線扁平封裝器件老化測試插 座，其特徵是插座的定位裝置由座體上的斜面進行定位。
專利摘要本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，能對132線和其它同類陶瓷四邊引線扁平封裝元器件可靠性進行高溫老化試驗和測試的插座。本實用新型按132線陶瓷四邊引線扁平封裝元器件的結構設計和尺寸要求，將插座設計成三大組成部分，即插座體、接觸件和定位裝置。插座體由座、蓋和鉤組成，插座體和壓塊還起壓緊裝置作用，當鉤受力向下翻轉與座嚙合時，蓋帶動壓塊向下，使被試器件壓緊接觸件。接觸件採用與被試器件引出線相對應的方式，並由中心對稱、四面排列形式細節距組成。插座座體斜面起定位裝置作用，方便被試器件的放入和取出。
文檔編號G01R31/00GK201910526SQ20102028194
公開日2011年7月27日 申請日期2010年8月2日 優先權日2010年8月2日
發明者曹金學 申請人:曹金學