高溫測試監控系統及方法
2023-05-24 00:49:56 1
專利名稱：高溫測試監控系統及方法
技術領域：
本發明涉及一種監控系統及方法，特別涉及一種對電路板的高溫測試進行監控的 監控系統及方法。
背景技術：
目前，針對電路板(如電腦主機板)進行高溫測試時，是將待測電路板放置於一燒 機室中，然後將待測電路板在燒機室內開機上電，再通過滑鼠、鍵盤、顯示器連接到待測電 路板上觀察待測電路板是否可以正常工作。但是，此種監控方法需要測試人員攜帶滑鼠、鍵盤、顯示器等監控設備一臺一臺去 查看處在燒機室內的待測電路板，因此效率低、勞動強度大、投入人力多。並且，所述燒機室 內的溫度高達45度以上，長時間作業有害人體的健康。
發明內容
鑑於上述內容，有必要提供一種可對電路板高溫測試進行高效、方便的監控系統 及方法。一種高溫測試監控系統，包括一燒機室及若干設置於所述燒機室內的待測電路 板，所述高溫測試監控系統還包括一監控主機及一連接所述監控主機與所述待測電路板的 網絡交換機，所述監控主機用於對所述待測電路板進行IP位址分配，並在所述待測電路板 分配到IP位址後接收所述待測電路板的MAC地址信息，所述待測電路板的MAC地址信息與 所述待測電路板的測試號碼一一對應，所述監控主機通過所述待測電路板的MAC地址信息 使所述待測電路板進行IP位址與所述待測電路板的測試號碼一一對應，以使所述監控主 機可根據分配到所述待測電路板的IP位址上是否存在硬體來判斷所述待測電路板是否測 試通過，並將測試結果通過一顯示界面進行顯示。一種高溫測試監控方法，用於對若干設置於燒機室內的待測電路板進行監控，包 括以下步驟控制所述待測電路板上電開機；通過一監控主機對所述待測電路板進行IP位址分配；通過所述監控主機接收所述待測電路板的MAC地址信息；根據接收到的待測電路板的MAC地址信息及預先設定的與所述待測電路板的MAC 地址信息一一對應的測試號碼確定所述測試號碼與所述待測電路板的IP位址的對應關 系；及根據分配到所述待測電路板的IP位址上是否存在硬體判斷所述待測電路板是否 測試通過，並將測試結果通過一顯示界面進行顯示。上述高溫測試監控系統及方法通過所述監控主機對所述待測電路板進行IP位址 分配，然後再根據待測電路板的MAC地址信息與待測電路板的測試號碼的關係即可確定所 述待測電路板的IP位址與測試號碼的的關係，所述監控主機根據對應IP位址的硬體是否存在即可判斷所述待測電路板是否測試通過，然後再將測試結果通過一顯示界面進行顯 示，十分方便，不需要測試人員攜帶滑鼠、鍵盤、顯示器等監控設備一臺一臺去查看處在燒 機室內的待測電路板，效率高且可節省人力。
下面參照附圖結合具體實施方式
對本發明作進一步的描述。圖1為本發明高溫測試監控系統較佳實施方式的框圖。圖2為本發明高溫測試監控方法較佳實施方式的流程圖。圖3為本發明高溫測試監控系統較佳實施方式中監控主機的顯示界面示意圖。
具體實施例方式請參照圖1，本發明高溫測試監控系統的較佳實施方式包括一管控系統10、一監 控主機20 (如電腦主機)、一網絡交換機30、一燒機室40及若干設置於所述燒機室40內部 的待測電路板50 (如電腦主機板)。所述監控主機20通過所述網絡交換機30與所述燒機 室40內的待測電路板50相連，以進行網絡監控。所述監控主機20還連接至所述管控系統 10，以將監控結果傳輸給所述管控系統10進行後續管控作業。所述管控系統10為一個對所述待測電路板50的整個製造、測試、出貨等一系列流 程進行管控的系統(該系統還可同時對其它產品的各個流程進行全程管控)。例如，所述管 控系統10可以是現場資訊管控(shop floor control, SFC)系統，其是利用條形碼序號來 管控每一產品的製造、測試等流程，同時該系統實時地儲存生產、測試等數據，作為追蹤管 理之用。本實施方式中，所述監控主機20將監控結果傳輸給所述管控系統10後，所述管控 系統10即可根據監控結果進行後續管控作業，例如判斷測試失敗的待測電路板50的測試 失敗原因是什麼等，由於所述管控系統10進行的後續管控作業為現有技術且與本發明監 控目的關聯不大，故此處不具體說明。在其他實施方式中，也可根據需要不連接所述管控系 統10，僅使用所述監控主機20對待測電路板50進行監控即可。所述監控主機20用於對所述若干待測電路板50進行IP位址分配，並在所述 若干待測電路板50分配到IP位址後接收所述若干待測電路板50的MAC (Media Access Control，介質訪問控制)地址信息。所述MAC地址信息是燒錄在待測電路板50的網卡裡 的，也叫硬體地址，是識別區域網節點的標識，它一般是全球唯一的。所述監控主機20還用 於將接收到的所述若干待測電路板50的MAC地址信息傳輸給所述管控系統10並接收所述 管控系統10傳輸過來的與所述MAC地址信息一一對應的測試號碼(或稱機臺號)，又由於 MAC地址信息與IP位址一一對應，故測試號碼與IP位址也是一一對應的，即得出了測試號 碼與IP位址的對應關係。其中，所述若干待測電路板50的MAC地址與其測試號碼一一對 應的關係是事先設置好的，可根據需要調整。所述監控主機20根據分配到所述若干待測電 路板50的IP位址上是否存在硬體即可判斷所述若干待測電路板50是否測試通過，並將測 試結果通過一顯示界面60進行顯示。具體地，當所述待測電路板50測試通過時，表明所述 待測電路板50未死機或未斷電，所述監控主機20將仍然能與所述測試通過的待測電路板 50進行網絡通訊，此時監控主機20判斷出與其對應的IP位址的硬體存在；反之，當所述待 測電路板50測試未通過時，表明所述待測電路板50死機或斷電，所述監控主機20將不能與所述測試未通過的待測電路板50進行網絡通訊，此時監控主機20判斷出與其對應的IP 地址的硬體不存在。測試完畢後，所述監控主機20將測試結果傳輸給所述管控系統10以 進行後續管控作業，然後控制所述若干待測電路板50關機。其中，若刪除所述管控系統10 的話，在所述管控系統10中進行的除後續管控作業以外的工作均由所述監控主機20來完 成，這裡不再贅述。所述網絡交換機30用於將所述監控主機20與所述燒機室40內的所述若干待測 電路板50相連，以實現網絡通信。所述燒機室40為一個高溫室，用於將若干待測電路板50放置於其內部，以便進行 高溫測試。請參照圖2及圖3，本發明高溫測試監控方法的較佳實施方式包括以下步驟。Si，控制所述若干待測電路板50上電開機。例如，可在所述燒機室40內設置可與 所述待測電路板50的電源連接器相連的電源供應器(未示出)，將所述待測電路板50的電 源連接器與所述電源供應器相連後，啟動所述電源供應器的開關(該開關可設置於所述燒 機室40機殼上，也可設置於所述監控主機20的機殼上，或其他容易操作的地方)即完成了 控制所述電路板50上電開機的步驟。S2，所述監控主機20對所述若干待測電路板50進行IP位址分配。由於所述若干 待測電路板50上電開機後即自動通過所述網絡交換機30與所述監控主機20實現了網絡 通信，此時所述監控主機20自動對連接在其上的所述若干待測電路板50進行IP位址分 配，所述IP位址分配可以是任意的也可以是按順序的。S3，所述監控主機20接收所述若干待測電路板50的MAC地址信息。S4，所述監控主機20將接收到的所述若干待測電路板50的MAC地址信息傳輸給 所述管控系統10。S5，所述管控系統10根據接收到的所述若干待測電路板50的MAC地址信息傳輸 對應所述若干待測電路板50的測試號碼給所述監控主機20。此時，所述監控主機20即可 將所述測試號碼與所述若干待測電路板50的IP位址一一對應。S6，所述監控主機20根據分配到所述若干待測電路板50的IP位址上是否存在硬 件來判斷所述若干待測電路板50是否測試通過，並將測試結果通過一顯示界面60進行顯 示。本實施方式中，所述顯示界面60包括若干對應所述若干待測電路板50的方框，當監控 主機20監測到某一待測電路板50對應的IP位址上不存在硬體時，即表明所述待測電路板 50未測試通過時，如測試號碼為2的待測電路板50未測試通過時，對應的方框2顯示為斜 線標記；當監控主機20監測到某一待測電路板50對應的IP位址上存在硬體時，即表明所 述待測電路板50測試通過時，如測試號碼為3的待測電路板50測試通過時，對應的方框3 顯示為空白標記，也可根據需要設計成其他標記。S7，所述監控主機20將測試結果傳輸給所述管控系統10以進行後續管控作業。S8，所述監控主機20控制所述若干待測電路板50關機。本發明高溫測試監控系統及方法通過所述監控主機20與所述若干待測電路板50 網絡相連，所述監控主機20根據所述若干待測電路板50對應的IP位址上是否存在硬體連 接即可快速判斷出所述若干待測電路板50中的哪些通過測試，十分方便、快捷，大大提高 了效率，減少了人力。
權利要求
一種高溫測試監控系統，包括一燒機室及若干設置於所述燒機室內的待測電路板，其特徵在於所述高溫測試監控系統還包括一監控主機及一連接所述監控主機與所述待測電路板的網絡交換機，所述監控主機用於對所述待測電路板進行IP位址分配，並在所述待測電路板分配到IP位址後接收所述待測電路板的MAC地址信息，所述待測電路板的MAC地址信息與所述待測電路板的測試號碼一一對應，所述監控主機通過所述待測電路板的MAC地址信息使所述待測電路板進行IP位址與所述待測電路板的測試號碼一一對應，以使所述監控主機可根據分配到所述待測電路板的IP位址上是否存在硬體來判斷所述待測電路板是否測試通過，並將測試結果通過一顯示界面進行顯示。
2.如權利要求1所述的高溫測試監控系統，其特徵在於所述高溫測試監控系統還包 括一與所述監控主機相連的管控系統，所述待測電路板的MAC地址信息與所述待測電路板 的測試號碼一一對應的關係的建立是在所述管控系統中完成的。
3.如權利要求2所述的高溫測試監控系統，其特徵在於所述管控系統為現場資訊管 控系統。
4.如權利要求1所述的高溫測試監控系統，其特徵在於所述監控主機還用於在測試 完畢後控制所述待測電路板關機。
5.如權利要求1所述的高溫測試監控系統，其特徵在於所述監控主機為一電腦主機。
6.一種高溫測試監控方法，用於對若干設置於燒機室內的待測電路板進行監控，包括 以下步驟控制所述待測電路板上電開機；通過一監控主機對所述待測電路板進行IP位址分配；通過所述監控主機接收所述待測電路板的MAC地址信息；根據接收到的待測電路板的MAC地址信息及預先設定的與所述待測電路板的MAC地址 信息一一對應的測試號碼確定所述測試號碼與所述待測電路板的IP位址的對應關係；及根據分配到所述待測電路板的IP位址上是否存在硬體判斷所述待測電路板是否測試 通過，並將測試結果通過一顯示界面進行顯示。
7.如權利要求6所述的高溫測試監控方法，其特徵在於還包括步驟通過所述監控主 機控制所述待測電路板關機。
8.如權利要求6所述的高溫測試監控方法，其特徵在於所述待測電路板的MAC地址 信息與所述待測電路板的測試號碼一一對應的關係的建立在所述管控系統中完成的。
9.如權利要求8所述的高溫測試監控方法，其特徵在於所述管控系統為現場資訊管 控系統。
10.如權利要求6所述的高溫測試監控方法，其特徵在於所述監控主機為一電腦主機。
全文摘要
一種高溫測試監控系統，包括一燒機室、若干設置於燒機室內的待測電路板、一監控主機及一連接監控主機與待測電路板的網絡交換機，所述監控主機用於對待測電路板進行IP位址分配，並在待測電路板分配到IP位址後接收待測電路板的MAC地址信息，所述待測電路板的MAC地址信息與所述待測電路板的測試號碼一一對應，所述監控主機通過待測電路板的MAC地址信息使待測電路板進行IP位址與待測電路板的測試號碼一一對應，以使所述監控主機可根據分配到所述待測電路板的IP位址上是否存在硬體來判斷所述待測電路板是否測試通過，並將測試結果通過一顯示界面進行顯示。所述監控系統可方便對電路板高溫測試進行監控。
文檔編號H04L12/28GK101957606SQ200910304450
公開日2011年1月26日 申請日期2009年7月17日 優先權日2009年7月17日
發明者和小畦, 李勇 申請人:鴻富錦精密工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司