能夠測試出差分串行電路單端故障的功能測試方法
2023-04-23 08:15:31
專利名稱：能夠測試出差分串行電路單端故障的功能測試方法
技術領域：
本發明涉及差分串口電路的功能測試技術，具體是一種能夠測試出差分串行電路單端故障的功能測試方法。
差分串口的電路形式一般如
圖1所示。對它的功能測試方式，一般會設計另外一個測試電路與之對接，測試電路的CPU會採用約定的串口通訊協議與被測測試電路進行通訊，如果通訊正常，則認為被測電路功能正常；反之，則認為被測電路故障。所採用的測試電路的形式一般是與被測電路相近，甚至完全相同，即用接收電路來與被測串口電路中的發送部分相接，用發送電路來與被測串口電路的接收相接。
如圖1所示，如果被測電路是「發送電路」，功能測試時的測試電路將採用接收電路，將接收電路中的「RXD+」、「RXD-」分別接到被測電路的「TXD+」、「TXD-」上。
使用上述常規的測試電路，無法測試出一對差分信號的單端出現的短路、斷線等故障。假設在圖一中，U1的Pin2出現對地短路，測試電路採用的是圖1中的接收電路。那麼，在測試電路的收端，儘管差分接收出現了單端故障，但由於這一對差分線的相對電平關係沒有改變，U2仍會產生變換出正常的TTL信號「RXD」，不會影響通訊，出現故障產品漏檢，使故障品流入下一生產工序。
本發明提出的能夠測試出差分串行電路單端故障的功能測試方法，其特徵在於包括如下步驟a、通過接口電路分別接入信號；b、分別測試、判斷被測差分電路相應的單端輸出信號，當兩端的信號均正常時，被測差分電路功能正常，否則不正常。
本發明測試時每次僅測試一對差分信號的一端，然後通過分別判斷所測的兩端信號確定被測電路正常與否，從而避免了常規的測試方法帶來的漏測問題，能夠可靠測試出差分信號單端出現的短路、斷線等故障，較好地滿足功能測試的要求，保證產品的質量。並且測試電路簡單，器件成本低，佔用的PCB體積小。
圖3為本發明的差分發送電路的測試電路；圖4為本發明的差分發送電路的另一種測試電路；圖5為本發明的差分接收電路的另一種測試電路。
其中電阻R9及R10的作用是使RXD+在高阻態輸出時為固定電平。當被測電路中有可選部分(圖2的被測電路中，虛線框內的電路)時，應相應改變上、下拉電阻R9、R10的阻值，使RXD+的固定電平為2.5V左右。對於RXD-也需作類似的處理。
當被測電路為差分發送電路時，採用的測試電路如圖3所示。圖3中將被測差分發送電路的一對被測差分信號(TXD+、TXD-)通過接口電路(U3)轉換成兩路獨立的TTL信號(TEST1、TEST2)；然後分別測試、判斷兩路TTL信號，當兩路TTL信號均正常時，被測差分信號(TXD+、TXD-)正常，否則被測差分信號不正常。
圖2、3所示測試電路可以測試出差分信號單端出現的短路、斷線等故障，電路中的接口晶片(U3～U5)為26C31、26C32，屬RS422接口規範；也可以選用RS485接口晶片，如74172、74173、74185等。圖3電容C1的作用是濾除幹擾，使信號轉換更穩定。電阻R7、R8將電平嵌位在2.5V。
另外，可在測試電路中，在常規電路的基礎上，增加一級繼電器，測試時用繼電器分別將差分信號中的一端接通來進行。如圖4、5所示，將繼電器的控制端分別置高、置低進行兩次通訊測試，若且唯若兩次測試均正常時，判斷測試通過，被測電路功能正常。
權利要求
1.一種能夠測試出差分串行電路單端故障的功能測試方法，其特徵在於包括如下步驟a、通過接口電路分別接入信號；b、分別測試、判斷被測差分電路相應的單端輸出信號，當兩端的信號均正常時，被測差分電路功能正常，否則不正常。
2.根據權利要求1所述能夠測試出差分串行電路單端故障的功能測試方法，其特徵在於當測試差分接收電路時，在步驟a中差分發送電路的發送信號(TEST)分別經兩個接口電路交替轉換成兩路TTL信號，作為一對差分信號輸入被測差分接收電路。
3.根據權利要求1所述能夠測試出差分串行電路單端故障的功能測試方法，其特徵在於當測試差分發送電路時，在步驟a中被測差分發送電路的一對被測差分信號(TXD+、TXD-)通過接口電路轉換成兩路獨立的TTL信號(TEST1、TEST2)。
4.根據權利要求1或2或3所述能夠測試出差分串行電路單端故障的功能測試方法，其特徵在於所述的接口電路採用26C31、或26C32、或74172、或74173、或74185晶片。
全文摘要
一種能夠測試出差分串行電路單端故障的功能測試方法，其特徵在於包括如下步驟a、通過接口電路分別接入信號；b、分別測試、判斷被測差分電路相應的單端輸出信號，當兩端的信號均正常時，被測差分電路功能正常，否則不正常。本發明測試時每次僅測試一對差分信號的一端，然後通過分別判斷所測的兩端信號確定被測電路正常與否，從而避免了常規的測試方法帶來的漏測問題，能夠可靠測試出差分信號單端出現的短路、斷線等故障，較好地滿足功能測試的要求，保證產品的質量。並且測試電路簡單，器件成本低，佔用的PCB體積小。
文檔編號G01R31/02GK1415971SQ01140538
公開日2003年5月7日 申請日期2001年11月3日 優先權日2001年11月3日
發明者段海峰 申請人:華為技術有限公司