一種測試組件接線盒用模塊的製作方法

2023-04-24 10:14:11 3

一種測試組件接線盒用模塊的製作方法
【專利摘要】本發明公開了一種測試組件接線盒用模塊，包括模塊主體，主體上設有兩塊與測試儀內部探針相接觸的銅片，兩塊銅片分別連接正、負連接線，正、負連接線上設有與接線盒上連接線相連接的接線頭。本發明測試模塊主要採用了替代的構思，從而大大降低了測試時間，提高了工作效率。
【專利說明】一種測試組件接線盒用模塊

【技術領域】
[0002]本發明屬於組件測試模塊領域，具體涉及一種測試組件接線盒用模塊。

【背景技術】
[0003]鑑於現間段，組件在生產過程中，生產瓶頸都出現在EL測試工序，導致組件堆壓現場，嚴重影響生產線平衡，費時費力，成本大；因此對組件測試工序進行了改革，從而滿足生產需求。


【發明內容】

[0004]本發明的目的在於克服上述現有技術的不足，提供一種結構簡單、實用方便大大降低了測試時間，提高了工作效率的測試組件接線盒用模塊。
[0005]本發明所述的一種測試組件接線盒用模塊，包括模塊主體，主體上設有兩塊與測試儀內部探針相接觸的銅片，兩塊銅片分別連接正、負連接線，正、負連接線上設有與接線盒上連接線相連接的接線頭。
[0006]進一步改進，所述的模塊主體為中空結構，用於存放接線盒與接線盒走線。
[0007]進一步改進,所述的接線頭採用MC4接線頭。
[0008]本發明測試模塊主要採用了替代的構思，從而大大降低了測試時間，提高了工作效率；在測試儀選擇中，探針式測試儀，測試時間比較短，效率比較快，但是組件在成品過後，已經接了接線盒，探針無法測試；只能使用插線式測試儀器；具體技術方案是，取消插線式測試儀，使用探針測試儀，在組件線盒上方加上一個測試模塊，模塊上有銅片，可以與探針完全接觸，模塊有正負兩個插頭，和組件線盒相互連接，測試時，探針直接壓在銅片上，可以完全測試出組件的數據圖像。
本發明的有益效果在於:
與現有技術相比，本發明主要採用了替代的構思，從而大大降低了測試時間，提高了工作效率；其產品結構合理，使用便捷。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]圖1是本發明的結構示意圖。

【具體實施方式】
[0010]如圖1所示，本發明所述的一種測試組件接線盒用模塊，包括中空結構的模塊主體1，主體I上設有兩塊與測試儀內部探針相接觸的銅片2，兩塊銅片2分別連接正、負連接線3、4，正、負連接線3、4上設有與接線盒上連接線相連接的MC4接線頭5。
[0011]本發明的工作原理在於:
本發明測試模塊主要採用了替代的構思，從而大大降低了測試時間，提高了工作效率；在測試儀選擇中，選擇探針式測試儀，測試時間比較短，效率比較快，但是組件在成品過後，已經接了接線盒，探針無法測試；只能使用插線式測試儀器；具體技術方案是，取消插線式測試儀，使用探針測試儀，在組件線盒上加上一個測試模塊，模塊上有銅片，可以與探針完全接觸，銅片上連接正負兩個插頭，和組件接線盒上的連接線相互連接，測試時，探針直接壓在銅片上，就可以完全測試出組件接線盒的數據圖像，來判斷組件接線盒的好壞。
本發明提供了一種測試組件接線盒用模塊，以上所述僅是本發明的優選實施方法，應當指出，對於本【技術領域】的普通技術人員來說，在不脫離本發明原理的前提下，還可以作出若干改進，這些改進也應視為本發明的保護範圍。
【權利要求】
1.一種測試組件接線盒用模塊，其特徵在於:包括模塊主體(1)，主體(I)上設有兩塊與測試儀內部探針相接觸的銅片(2)，兩塊銅片(2)分別連接正、負連接線(3、4)，正、負連接線(3、4)上設有與接線盒上連接線相連接的接線頭(5)。
2.根據權利要求1所述的測試組件接線盒用模塊，其特徵在於，所述的模塊主體(I)為中空結構。
3.根據權利要求1所述的測試組件接線盒用模塊，其特徵在於，所述的接線頭(5)採用MC4接線頭。
【文檔編號】G01R1/04GK104181346SQ201410372757
【公開日】2014年12月3日 申請日期:2014年7月31日 優先權日:2014年7月31日
【發明者】蔣建寶 申請人:無錫賽晶太陽能有限公司