一種薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結構的製作方法

2023-05-08 12:59:58 1

本實用新型涉及了一種薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結構。

背景技術：

COG液晶顯示器，是指驅動晶片（IC）通過各向異性導電膠固定在玻璃上，並由該晶片驅動顯示器內顯示電路的液晶顯示器。此種COG液晶顯示器，在沒有啤上IC之前，是沒有辦法顯示的。用傳統的半成品測試斷路時，從圖1可看出，COM線1』和SEG線2』相鄰處的間距太小（一般小於0.05mm），加上檢測時是手工裝架，導電條3』又是軟的，壓下時會擴展，所以兩個導電條3』之間的距離d為0.15mm是極限，超出測試能力，故實際測試時會捨去幾根COM線和SEG線（位於如圖1中的虛框4』內）不測試。但是如果這些被捨去不測試的線出現斷路，是沒有辦法測試出來的，只有等啤上IC，啤上FPC，做成成品後，才能挑選出來，但容易造成人力物力的浪費。

技術實現要素：

本實用新型所要解決的技術問題是提供了一種薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結構，其結構簡單，易於實現，成本低，且無需改變電測檢測裝置以及測試方法，即可實現全顯示和線路全檢測，解決現有檢測時COM線和SEG線靠得很近時全部線路無法進行全部斷路測試的問題，採用本引腳結構可半成品階段儘早地挑出不良品，避免不良品流入下工序並製成成品，減少損失和提高工作效率和質量。

本實用新型所要解決的技術問題通過以下技術方案予以實現：

一種薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結構，其包括連接薄膜電路掃描線的COM引線和連接薄膜電路數據線的SEG引線；所述COM引線包括與電測檢測裝置的第一導電條檢測時電連接的若干條第一COM線和未與所述第一導電條檢測時電連接的若干條第二COM線；所述SEG引線包括與檢測裝置的第二導電條檢測時電連接的若干條第一SEG線和未與所述第二導電條檢測時電連接的若干條第二SEG線；所述第二COM線和第二SEG線介於所述第一導電條和第二導電條之間；還包括若干條第一連接線和第二連接線，其分別連接在所述第二COM線和第二SEG線的末端，用於實現所述第二COM線與所述第一導電條檢測時的電連接和所述第二SEG線與所述第二導電條檢測時的電連接。

作為本實用新型提供的薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結構的一種改進，所述第一連接線和第二連接線為L型或類L型連接線。

作為本實用新型提供的薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結構的一種改進，所述薄膜電路、COM引線、SEG引線、第一連接線和第二連接線的材質為ITO。

作為本實用新型提供的薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結構的一種改進，所述電測檢測裝置還包括夾具、測試架和檢測用電路板，所述第一導電條和第二導電條電連接所述電路板，所述第一導電條還壓接在所述第一COM線和第一連接線上，所述第二導電條還壓接在所述第一SEG線和第二連接線上；所述電路板通過夾具固定在所述測試架上。

本實用新型具有如下有益效果：

本薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結構，其結構簡單，易於實現，成本較低，且無需改變現有的電測檢測裝置以及測試方法，可實現全顯示和線路的全檢測，檢測方便快捷，解決現有檢測時COM線和SEG線靠得很近時全部線路無法進行全部斷路測試的問題，採用本引腳結構可在半成品階段儘早地挑出不良品，避免不良品流入下工序並製成成品，造成不必要的損失，也進一步提高工作效率和質量。

附圖說明

圖1為現有引腳結構與導電條的測試連接示意圖；

圖2為本實用新型引腳結構的分解示意圖；

圖3為本實用新型引腳結構與導電條的測試連接示意圖。

具體實施方式

下面結合實施例對本實用新型進行詳細的說明，實施例僅是本實用新型的優選實施方式，不是對本實用新型的限定。

如圖2、3所示，其顯示了本實用新型提供的一種薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結構，其包括連接薄膜電路掃描線的COM引線1和連接薄膜電路數據線的SEG引線2，用於連接薄膜電路和驅動晶片；其中，所述COM引線1包括與電測檢測裝置的第一導電條41檢測時電連接的若干條第一COM線11和未與所述第一導電條41檢測時電連接的若干條第二COM線12；所述SEG引線2包括與電測檢測裝置的第二導電條42檢測時電連接的若干條第一SEG線21和未與所述第二導電條42檢測時電連接的若干條第二SEG線22；所述第二COM線12和第二SEG線22介於所述第一導電條41和第二導電條42之間；還包括若干條第一連接線31和第二連接線32，其分別連接在所述第二COM線12和第二SEG線22的末端，用於實現所述第二COM線12與所述第一導電條41檢測時的電連接和所述第二SEG線22與所述第二導電條42檢測時的電連接。

需要說明的是，為了避免漏檢，可增設與靠近所述第二COM線12的第一COM線11連接的第一連接線41，同理，增設與靠近所述第二SEG線22的第一SEG線21連接的第二連接線42，以減少每次壓接導電條出現的對位不準確的問題而造成漏檢。

所述電測檢測裝置包括第一導電條41、第二導電條42、夾具、測試架和檢測用電路板，所述第一導電條41和第二導電條42電連接所述電路板，所述第一導電條41還壓接在所述第一COM線11和第一連接線31上，所述第二導電條42還壓接在所述第一SEG線21和第二連接線32上；所述電路板通過夾具固定在所述測試架上。打開測試架的電源開關，即可測試薄膜電路的斷線缺陷，若未點亮即斷線了。

值得注意的是，所述電測檢測裝置以及檢測方法為本領域技術人員公知技術，在此不再詳述。

所述第一連接線31和第二連接線32優選為L型或類L型連接線，便於將第二COM線12和第二SEG線22引入到所述第一導電條41和第二導電條42的測試極限範圍內。

所述薄膜電路、COM引線1、SEG引線2、第一連接線31和第二連接線32的材質為ITO，但不局限於此。

本薄膜電路全顯示電測斷路用的引腳結構，其結構簡單，易於實現，成本較低，且無需改變現有的電測檢測裝置以及測試方法，可實現全顯示和線路的全檢測，檢測方便快捷，從而在半成品階段儘早地挑出不良品，避免不良品流入下工序並製成成品，造成不必要的損失，也進一步提高工作效率和質量。

以上所述實施例僅表達了本實用新型的實施方式，其描述較為具體和詳細，但並不能因此而理解為對本實用新型專利範圍的限制，但凡採用等同替換或等效變換的形式所獲得的技術方案，均應落在本實用新型的保護範圍之內。