基於互電容測量原理的梳齒式柱面電容傳感器的製造方法
2023-05-02 17:41:36
基於互電容測量原理的梳齒式柱面電容傳感器的製造方法
【專利摘要】本發明公開了一種基於互電容測量原理的梳齒式柱面電容傳感器。結構組成由外到內依次為傳感器外殼、絕緣基質層和結構相同的四組互電容測量單元。四組互電容測量單元沿絕緣基質層內圓周向等距分布，每組由第一、第二梳齒式電容極板構成。傳感器用於高精密軸系轉子的徑向運動誤差測量，作為定子同軸安裝於被測轉子外。測量時，轉子產生的徑向跳動將引起對應互電容測量單元總體電容值的改變，通過對電容值測量並進行合理的數學運算，可得到被測轉子的徑向跳動位移值。本發明採用互電容測量原理，轉子只作為被測對象而不含在傳感器的結構配置中，簡化了傳感器的配置形式，更加適合於轉子運動誤差的動態實時測量，同時對被測轉子構成材料無特殊要求。
【專利說明】基於互電容測量原理的梳齒式柱面電容傳感器
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種高精密軸系轉子的測量裝置，尤其是涉及一種基於互電容測量原理的梳齒式柱面電容傳感器。
【背景技術】
[0002]現代機電裝備在不斷追求高效率、高精度、高品質和極限功能的進程中，催生了一系列結構複雜、工況極端、信息融通、和精確穩定的複雜機電系統。對機電系統的檢測與控制，傳感器將成為信息獲取的重要組成部分。
[0003]高精密軸系作為精密加工中心、高端數控工具機、硬碟驅動器、微納機械陀螺、大型軸流壓縮機等超精密裝備或大型複雜機電裝備的關鍵部件，軸系轉子的運動誤差對整機的工作精度、穩定性有著直接的影響。針對精密軸系轉子運動誤差的檢測與控制，對於提高整機的工作精度和保證其長期穩定運行，有著重要意義。
[0004]目前應用於精密軸系轉子運動誤差的檢測方法主要有基於雷射幹涉儀的光學檢測法，利用電容傳感器或電渦流傳感器進行的非接觸式測量方法等。採用雷射幹涉的方法存在著要求足夠大的安裝空間、使用環境要求高、成本高等問題，且對被測表面粗糙度較為敏感；電渦流傳感器由於信噪比較低而難以獲得較高的解析度；目前常用的電容傳感器雖然測量解析度和精度都很高，但都屬於一維測量器件，只能用於單自由度位移檢測；有美國學者M.H.Cheng採用整體環式電容傳感器對旋轉機械轉子的偏心運動進行測量；韓國學者Ahn Hyeong-Joon提出了可實現轉子徑向兩自由度運動誤差檢測的柱狀電容位移傳感器，並對其在測量過程中產生的非線性進行分析。上述學者的測量方法中目標轉子均作為電容傳感器的另一電極進行配置，不利於傳感器的集成化和小型化。上海交通大學張衛平採用同心碟片式互電容傳感器實現對靜電懸浮轉子微陀螺的轉子位姿的檢測，但僅限於微小角位移檢測。
【發明內容】
[0005]本發明的目的在於提供一種基於互電容測量原理的梳齒式柱面電容傳感器，用於高精密軸系轉子運動誤差的動態實時測量。構成互電容測量單元的梳齒式電容極板均分布於傳感器(定子)絕緣基質層上，有效簡化了傳感器的配置形式，同時測量不受轉子材料限制，為在線實時測量高精密軸系轉子的運動誤差提供了一種簡單有效的方法。
[0006]本發明解決其技術問題所採用的技術方案是:
[0007]本發明由外到內依次為傳感器外殼、絕緣基質層和結構相同的四組互電容測量單元，三者同軸布置且軸向長度相等；位於絕緣基質層內圓柱面的四組互電容測量單元，依次分布於四個象限內且沿X、Y軸相互對稱，相鄰互電容測量單元的圓周間距均為互電容測量單元圓周張角的1/2 ;每組互電容測量單元均包括第一梳齒式電容極板和第二梳齒式電容極板；第一梳齒式電容極板的N個弧形長條齒形電極和第二梳齒式電容極板的N個弧形長條齒形電極相互交叉嵌入對方齒槽中，嵌入深度為1，齒形電極頂部距齒槽底部的距離為齒形電極的寬度W ;相互交叉嵌入對方齒槽中的齒形電極位於每個齒槽的軸向中心線上，沿圓弧方向的齒槽寬度為齒形電極寬度W的3倍。
[0008]所述的互電容測量單元中任意一對相鄰的長條齒形電極都構成互電容測量的基本配置，長條齒形電極的寬度w大於長條齒形電極的厚度t。
[0009]本發明具有的有益效果是:
[0010]I)本發明可以實現高精密軸系轉子徑向X、Y兩自由度運動誤差的同時在線測量；
[0011]2)採用互電容測量原理，構成互電容測量單元的梳齒式電容極板均分布於傳感器(定子)絕緣基質層上，轉子只作為被測對象而不含在傳感器的結構配置中，簡化了傳感器的配置形式；
[0012]3)對被測轉子的構成材料無特殊要求，導電材料或電介質材料均可，應用範圍廣。【專利附圖】
【附圖說明】
[0013]圖1是基於互電容測量原理的梳齒式柱面電容傳感器整體效果圖；
[0014]圖2是傳感器整體結構徑向剖視圖；
[0015]圖3是圖2中C處局部放大圖；
[0016]圖4是互電容測量單元的展開視圖；
[0017]圖5是第一至第四組互電容測量單元總體電容值分布示意圖；
[0018]圖6是互電容測量基本配置示意圖；
[0019]圖7是轉子徑向跳動位移測量示意圖；
[0020]圖8是測量導電材料轉子的等效電路原理圖；
[0021]圖9是測量電介質材料轉子的等效電路原理圖。
[0022]圖中:1、被測轉子，2、傳感器(定子)，3、傳感器外殼，4、絕緣基質層，5、互電容測量單元，6、第一梳齒式電容極板Ea，7、第二梳齒式電容極板Eb，8、齒形電極Eal，9、齒形電極Ebl ;L為互電容測量單元的軸向長度，w為齒形電極圓弧方向寬度，I為齒形電極的嵌入深度，t為齒形電極厚度。
【具體實施方式】
[0023]下面結合附圖和實施例對本發明作進一步說明。
[0024]如圖1、圖2所示，測量時，傳感器2作為定子同軸安裝於被測轉子I外，其四組互電容測量單元內圓面與被測轉子保持同等徑向間距；傳感器2的結構組成由外到內依次為傳感器外殼3、絕緣基質層4和結構相同的四組互電容測量單元5，三者同軸布置且軸向長度相等，互電容測量單元的軸向長度為L ;位於絕緣基質層4內圓柱面的四組互電容測量單元5，依次分布於四個象限內且沿X、Y軸相互對稱，相鄰互電容測量單元的圓周間距均為互電容測量單元圓周張角的1/2。
[0025]如圖3、圖4所示，以一組互電容測量單元為例，包括第一梳齒式電容極板6和第二梳齒式電容極板7 ;第一梳齒式電容極板6的N個弧形長條齒形電極8和第二梳齒式電容極板7的N個弧形長條齒形電極9相互交叉嵌入對方齒槽中，嵌入深度為I，嵌入深度I要小於互電容測量單元的軸向長度L，齒形電極頂部距齒槽底部的距離為齒形電極的寬度w ;相互交叉嵌入對方齒槽中的齒形電極位於每個齒槽的軸向中心線上，沿圓弧方向的齒槽寬度為齒形電極寬度W的3倍。互電容測量單元中任意一對相鄰的長條齒形電極都構成互電容測量的基本配置，長條齒形電極的寬度w大於長條齒形電極的厚度t。
[0026]本發明所述梳齒式柱面電容傳感器，應用時被測轉子(即為被測轉軸)不含在傳感器的結構配置中，被測轉子可以處於電氣懸浮狀態而無需引入接地或其它導線，使傳感器具有更廣的適用範圍，尤其適用於高精密軸系中懸浮支撐轉子的測量。以下結合互電容測量基本理論，對處於電氣懸浮狀態的轉子，介紹其測量原理及實施過程。
[0027]基於四組互電容測量單元構成的梳齒式柱面電容傳感器，如圖2、圖5所示，測量高精密軸系轉子(跳動量通常小於5 μ m)徑向X、Y兩自由度運動誤差時，被測轉子徑向跳動位移的理論計算式如下:
[0028]5x = fx (Cm, tl+Cm, t4_Cm, t2_Cm, t3)(I)
[0029]δ Y = fY (Cffl, tl+Cm, t2_Cm, t3_Cm, t4)(2)
[0030]式中，δχ、δy為被測轉子徑向跳動的位移值，fx、fY分別為轉子在X軸、Y軸方向的跳動位移值與各組互電容測量單元總體電容值的轉換函數；Cm, t^Cm, t2、Cm, t3、Cm, t4分別為第一至第四組互電容測量單元輸出的總體電容值。
[0031]互電容測量的基本配置如圖6所示，存在於相鄰長條齒形電極間的電勢差AV使兩者之間形成一邊緣電場，該邊緣電場使兩齒形電極間感應生成互電容Cm，互電容Cm標稱值(即被測轉子沒有進入電場(虛線區域)時)的計算式如下:
【權利要求】
1.一種基於互電容測量原理的梳齒式柱面電容傳感器，其特徵在於:結構組成由外到內依次為傳感器外殼(3)、絕緣基質層(4)和結構相同的四組互電容測量單元(5)，三者同軸布置且軸向長度相等；位於絕緣基質層(4)內圓柱面的四組互電容測量單元(5)，依次分布於四個象限內且沿X、Y軸相互對稱，相鄰互電容測量單元的圓周間距均為互電容測量單元圓周張角的1/2 ;每組互電容測量單元(5)均包括第一梳齒式電容極板(6)和第二梳齒式電容極板(7);第一梳齒式電容極板(6)的N個弧形長條齒形電極(8)和第二梳齒式電容極板(7)的N個弧形長條齒形電極(9)相互交叉嵌入對方齒槽中，嵌入深度為7，齒形電極頂部距齒槽底部的距離為齒形電極的寬度相互交叉嵌入對方齒槽中的齒形電極位於每個齒槽的軸向中心線上，沿圓弧方向的齒槽寬度為齒形電極寬度#的3倍。
2.根據權利要求1所述的基於互電容測量原理的梳齒式柱面電容傳感器，其特徵在於:所述的互電容測量單元中任意一對相鄰的長條齒形電極都構成互電容測量的基本配置，長條齒形電極的寬度#大於長條齒形電極的厚度?。
【文檔編號】G01B7/00GK103743330SQ201310750794
【公開日】2014年4月23日 申請日期:2013年12月30日 優先權日:2013年12月30日
【發明者】相奎, 王文, 盧科青, 張敏, 陳子辰 申請人:浙江大學, 杭州電子科技大學