連續光譜雙向透射分布函數測量裝置的製作方法

2023-05-02 16:16:56 1

專利名稱：連續光譜雙向透射分布函數測量裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種測量裝置，特別涉及一種連續光譜雙向透射分布函數測量裝置。
背景技術：
雙向透射分布函數(Bidirectionaltransmission Distribution Function,簡稱BTDF)是從輻射度學出發、在幾何光學的基礎上描述各種材料光譜透射特性的物理量。它表示了不同入射角條件下材料在任意觀測角的透射特性，參照圖I。雙向透射分布函數是描述材料透射特性的具有唯一確定性的函數，該函數定義為某一透射方向上的透射輻亮度與入射到材料表面的入射輻照度的比值，其數學表達式為
權利要求
1.連續光譜雙向透射分布函數測量裝置，其特徵在於，它包括照明系統(I)、探測系統(2)、機械轉角系統(3)、控制系統(4)和數據處理系統(5)； 照明系統(I)的照明光纖探頭固定安裝在機械轉角系統(3)的照明光纖探頭的旋轉支架上，照明系統(I)的光源信號輸出端與數據處理系統(5)的光源信號輸入端連接，探測系統(2)的探測光纖探頭固定安裝在機械轉角系統(3)的探測光纖探頭的旋轉支架上，探測系統(2)的測量信號輸出端與數據處理系統(5)的測量信號輸入端連接，控制系統(4)的旋轉控制信號輸出端與探測系統(2)的旋轉制信號輸入端連接。
2.根據權利要求I所述的連續光譜雙向透射分布函數測量裝置，其特徵在於，照明系統(I)包括照明光源(1-1 )、照明光纖探頭(1-3)和準直放大組件(1-4); 照明光源(1-1)的光源輸出端通過光纖與照明光纖探頭(1-3)的光源輸入端連接，照明光纖探頭(1-3)的光源輸出端的與準直放大組件(1-4)的光源輸入端連接，準直放大組件(1-4)的光源輸出端是照明系統(I)的光源信號輸出端。
3.根據權利要求I所述的連續光譜雙向透射分布函數測量裝置，其特徵在於，探測系統(2 )包括光譜儀(2-1)和探測光纖探頭(2-3 )，探測光纖探頭(2-3 )的探測信號輸出端通過光纖與光譜儀(2-1)的探測信號輸入端連接，光譜儀(2-1)的信號輸出端是探測系統(2)的測量信號輸出端。
4.根據權利要求I所述的連續光譜雙向透射分布函數測量裝置，其特徵在於，機械轉角系統(3)包括照明光纖探頭的軌道(3-1)、探測光纖探頭的軌道(3-2)，樣品環(3-3)、旋轉平臺(3-4)、步進電機(3-5)和平臺(3-6)； 平臺(3-6)的中心設置通孔，旋轉平臺(3-4)嵌入並固定在平臺(3-6)的通孔內，旋轉平臺(3-4)的中心設置一通孔； 樣品環(3-3)位於旋轉平臺(3-4)的通孔中心位置，且與平臺(3-6)固定接； 照明光纖探頭的軌道(3-1)為1/4圓周軌道，探測光纖探頭的軌道(3-2)為1/4圓周軌道，照明光纖探頭的軌道(3-1)與探測光纖探頭的軌道(3-2)的曲率半徑相同，並且照明光纖探頭的軌道(3-1)與探測光纖探頭的軌道(3-2)的圓心點重合於樣品環(3-3)的中心位置； 照明光纖探頭的軌道(3-1)與探測光纖探頭的軌道(3-2)對稱設置在旋轉平臺(34)的上下兩側，並且照明光纖探頭的軌道(3-1)與探測光纖探頭的軌道(3-2)位於同一平面內，所述平面垂直於旋轉平臺(3-4)的旋轉平面； 照明光纖探頭的軌道(3-1)與探測光纖探頭的軌道(3-2)均與旋轉平臺(3-4)固定連接； 步進電機(3-5)用於驅動旋轉平臺(3-4)旋轉； 照明光纖探頭位於照明光纖探頭的軌道(3-1)上，並且能夠在步進電機的驅動下沿所述照明光纖探頭的軌道(3-1)滑動；探測光纖探頭位於探測光纖探頭的軌道(3-2)上，並且能夠在步進電機的驅動下沿所述探測光纖探頭的軌道(3-2)滑動；照明光纖探頭輸出的光束穿過樣品環(3-3 );探測光纖探頭用於探測樣品環(3-3 )透射的光。
全文摘要
連續光譜雙向透射分布函數測量裝置，涉及一種雙向透射分布函數測量裝置。為了解決目前獲得雙向透射分布函數的裝置測量精度低的問題。它包括照明系統、探測系統、機械轉角系統、控制系統和數據處理系統；照明系統的照明光纖探頭固定安裝在機械轉角系統的照明光纖探頭的軌道上，照明系統的光源信號輸出端與數據處理系統的光源信號輸入端連接，探測系統的探測光纖探頭固定安裝在機械轉角系統的探測光纖探頭的軌道上，探測系統的測量信號輸出端與數據處理系統的測量信號輸入端連接，控制系統的旋轉控制信號輸出端與探測系統的旋轉制信號輸入端連接。用於測量連續光譜雙向透射分布函數。
文檔編號G01N21/59GK102809550SQ201210305239
公開日2012年12月5日 申請日期2012年8月24日 優先權日2012年8月24日
發明者汪洪源, 劉彬, 王付剛, 張偉 申請人:哈爾濱工業大學