同軸檢測的雷射打標的製造方法
2023-09-17 03:07:15
同軸檢測的雷射打標的製造方法
【專利摘要】本實用新型涉及雷射打標機【技術領域】,尤其是涉及同軸檢測的雷射打標機,包括有雷射發生器、檢測鏡頭及工件,工件放置在加工平臺上,所述雷射發生器射出的雷射穿過一分光鏡後由反射鏡組調整到達工件;所述檢測鏡頭安裝在分光鏡對雷射打標點反射的反射線路上,實現反射成像檢測。本實用新型結構簡單,易製作、管控,成本低,利用有效的光路設計,實現同軸反射成像的檢測功效,使檢測鏡頭攫取的圖像與雷射打標走位相同,達到隨動性實時在線檢測,提升檢測的速度及效率,且檢測清晰、準確,極大提高加工精度及質量,符合產業利用。
【專利說明】同軸檢測的雷射打標機
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及雷射打標機【技術領域】,尤其是涉及可在線檢測的雷射打標機。
【背景技術】
[0002]隨著科技的發展,雷射打標機已成為雕刻打標加工中常見的設備,其是利用雷射束在工件表面上聚焦灼燒來實現打標加工,速度快,精度高,因而深受業內青睞。為了實現在線檢測加工質量,有的雷射打標機上還配備有檢測裝置,該檢測裝置具有檢測鏡頭,利用檢測鏡頭對著工件攫取加工圖像,以實現在線檢測,但目前的檢測中,檢測鏡頭以相對固定的角度攫取圖像,不能實時跟隨雷射打標走位,存在檢測滯後及檢測不清晰的缺陷,還是給實際生產帶來不利影響。
[0003]本 申請人:秉持著研究創新、精益求精之精神,利用其專業眼光和專業知識,研究出一種符合產業利用,且提高加工精度及質量的在線檢測式的雷射打標機。
【發明內容】
[0004]本實用新型的目的是提供一種檢測鏡頭攫取的圖像與雷射打標走位相同,達到隨動性實時在線檢測的同軸檢測的雷射打標機。
[0005]為達到上述目的,本實用新型採用如下技術方案:
[0006]同軸檢測的雷射打標機,包括有雷射發生器、檢測鏡頭及工件,工件放置在加工平臺上,所述雷射發生器射出的雷射穿過一分光鏡後由反射鏡組調整到達工件;所述檢測鏡頭安裝在分光鏡對雷射打標點反射的反射線路上,分光鏡與反射鏡組配合實現打標點反射成像於檢測鏡頭上。
[0007]所述反射鏡組包括可獨立活動調節的X向反射鏡和Y向反射鏡。
[0008]所述分光鏡與雷射發生器射出的雷射成45°夾角。
[0009]本實用新型結構簡單,易製作、管控,成本低,檢測鏡頭安裝在分光鏡對雷射打標點反射的反射線路上,實現打標點反射成像檢測,利用有效的光路設計,實現同軸反射成像的檢測功效,使檢測鏡頭攫取的圖像與雷射打標走位相同,達到隨動性實時在線檢測,提升檢測的速度及效率,且檢測清晰、準確,極大提高加工精度及質量,符合產業利用。
[0010]【專利附圖】
【附圖說明】:
[0011]附圖1為本實用新型較佳實施例的結構示意圖。
[0012]【具體實施方式】:
[0013]以下結合附圖對本實用新型進一步說明:
[0014]參閱圖1所示,本實用新型有關一種雷射打標機,包括有雷射發生器1、檢測鏡頭2及工件3,工件3放置在加工平臺4上,對於雷射打標機的其它原有部件圖中未示。雷射發生器I射出的雷射穿過一分光鏡5後由反射鏡組調整到達工件3,優選分光鏡5與雷射發生器I射出的雷射成45°夾角,以方便組裝設計及成像檢測。分光鏡5可實現相應波長的雷射穿過及實現相應波長的可見光反射,具體功能原理為現有技術,在此不再詳細贅述。所述檢測鏡頭2安裝在分光鏡5對雷射打標點反射的反射線路上,分光鏡5與反射鏡組配合實現打標點反射成像於檢測鏡頭2上,實現反射成像檢測,檢測鏡頭2可為(XD鏡頭。這樣,當雷射發生器I射出的雷射穿過分光鏡5後由反射鏡組調整到達工件3加工時,工件3加工位的反射光波將加工點順著雷射的路線同軸反射,隨後由分光鏡5反射到檢測鏡頭2上成像,實現同軸反射成像的檢測功效,使檢測鏡頭2攫取的圖像與雷射打標走位相同,達到隨動性實時在線檢測,檢測鏡頭2獲得顯示圖像清晰逼真,景深較大,觀看效果頗佳;提升檢測的速度及效率,且檢測清晰、準確,極大提高加工精度及質量,符合產業利用。
[0015]圖1所示,本實施例中,所述反射鏡組包括可獨立活動調節的X向反射鏡6和Y向反射鏡7,利用X向反射鏡6和Y向反射鏡7的獨立活動調節,可任意改變雷射路線,使之更好的落在工件3上打標加工,而檢測鏡頭2無需調節,即可利用同軸反射原理獲得隨動性實時在線檢測功效。
[0016]本實用新型結構簡單,易製作、管控,成本低,有效設計檢測光路,極大的促進雷射打標機的運行率和可操作性,符合產業在線生產使用,加快生產及自動化模式。
[0017]當然,本實用新型還可有其他多種實施例,在不背離本實用新型精神及其實質的情況下,熟悉本領域的技術人員當可根據本實用新型作出各種相應的改變和變型,但這些相應的改變和變形都應屬於本實用新型所附的權利要求的保護範圍。
【權利要求】
1.同軸檢測的雷射打標機,包括有雷射發生器(I)、檢測鏡頭(2)及工件(3),工件(3)放置在加工平臺(4)上,其特徵在於:所述雷射發生器(I)射出的雷射穿過一分光鏡(5)後由反射鏡組調整到達工件(3);所述檢測鏡頭(2)安裝在分光鏡(5)對雷射打標點反射的反射線路上,分光鏡(5)與反射鏡組配合實現打標點反射成像於檢測鏡頭(2)上。
2.根據權利要求1所述的同軸檢測的雷射打標機,其特徵在於:所述反射鏡組包括可獨立活動調節的X向反射鏡(6)和Y向反射鏡(7)。
3.根據權利要求1所述的同軸檢測的雷射打標機,其特徵在於:所述分光鏡(5)與雷射發生器(I)射出的雷射成45°夾角。
【文檔編號】B23K26/362GK203599712SQ201320676475
【公開日】2014年5月21日 申請日期:2013年10月31日 優先權日:2013年10月31日
【發明者】呂成威, 歐陽高飛, 鄺泳聰 申請人:東莞市樂琪光電科技有限公司