一種阻焊曝光對位精度輔助檢查裝置的製作方法
2023-09-16 18:09:35
專利名稱:一種阻焊曝光對位精度輔助檢查裝置的製作方法
技術領域:
本實用新型屬於印製線路板製作技術領域,具體涉及的是一種阻焊曝光對位精度輔助檢查裝置。
技術背景目前線路板製作過程中需要對板面進行貼幹膜或溼膜,以進行阻焊曝光,由於貼膜過程中的對位通常都是採用手工對位的,可能存在對位不準確的問題,因此為了保證後 續阻焊曝光的準確性,通常需要在貼幹膜或溼膜後,對貼膜後的線路板進行檢測。現在對貼膜後的線路板進行檢測一般採用十倍顯微鏡,這種檢測方式存在判斷精度差,光線較暗時看不清楚的問題;而且對於採用黑片貼膜的線路板,因黑片顏色與線路板顏色相同,存在黑片對位,無法判讀的問題。
發明內容為此,本實用新型的目的在於提供一種阻焊曝光對位精度輔助檢查裝置,以解決現有貼膜對位檢測方式所存在的判斷精度差、光線較暗時看不清楚以及黑片對位無法判讀的問題。為實現上述目的,本實用新型主要採用以下技術方案一種阻焊曝光對位精度輔助檢查裝置,包括掃描器和顯示裝置,所述掃描器中安裝有鏡頭、圖像傳感器、微處理器和黃光燈,所述鏡頭通過圖像傳感器與微處理器連接,微處理器通過數據傳輸線與顯示裝置連接。其中所述鏡頭為20倍放大鏡。本實用新型利用20倍放大鏡對線路板的對位圖形進行採集,並將採集的圖形通過顯示裝置進行顯示,方便了對位的檢測,同時利用黃光燈對黑片或光線較暗的對位情況進行照明,避免造成檢測時產生的線路板曝光,解決了光線較暗時,看不清楚以及黑片無法對位判讀的問題。
圖I為本實用新型的原理結構框圖。圖中標識說明掃描器I、鏡頭2、黃光燈3、圖像傳感器4、微處理器5、數據傳輸線6、顯示裝置7。
具體實施方式
為闡述本實用新型的思想及目的,下面將結合附圖和具體實施例對本實用新型做進一步的說明。本實用新型提供的是一種阻焊曝光對位精度輔助檢查裝置,通過採用20倍放大鏡將對位區域進行圖像採集,並通過圖像傳感器及微處理器處理後發送到顯示裝置進行顯示,以便於檢測查看;對於黑片對位或光線較暗的對位環境,則可以採用無紫外光線的黃光燈照明,即可滿足照明檢測要求,又可以避免紫外光對貼膜造成曝光。請參見圖I所示,圖I為本實用新型的原理結構框圖。本實用新型所述的阻焊曝光對位精度輔助檢查裝置主要包括有一個顯示裝置7以及一個與該顯示裝置7連接的掃描器I。其中上述掃描器I中設置有鏡頭2、黃光燈3、圖像傳感器4和微處理器5,鏡頭2與圖像傳感器4連接,圖像傳感器4與微處理器5連接,而微處理器5則通過數據傳輸線6與顯示裝置7連接。鏡頭2為20倍放大鏡,主要用於對對位貼膜後的線路板進行檢測,獲取對應的對位圖像,檢測時,將線路板對應放在鏡頭2下方,並可對應移動掃描器I ;圖像傳感器4為光電轉換元件,用於將來自鏡頭2的圖像信號轉換成電信號,對應發送給微處理器5,而微處理器5將該信號經過處理後發送到顯示裝置7,通過顯示裝置7對該電信號進行還原,形成對應的圖像在顯示屏幕上進行顯示。在不同的光線環境下,還可以開啟或關閉上述黃光燈3,如在光線較暗或需要對黑片進行對位檢測時,就需要使用黃光燈進行對應照明,以使鏡頭2能夠採集到清楚的圖像。以上是對本實用新型所提供的一種阻焊曝光對位精度輔助檢查裝置進行了詳細的介紹,本文中應用了具體個例對本實用新型的結構原理及實施方式進行了闡述,以上實施例只是用於幫助理解本實用新型的方法及其核心思想;同時,對於本領域的一般技術人員,依據本實用新型的思想,在具體實施方式
及應用範圍上均會有改變之處,綜上所述,本說明書內容不應理解為對本實用新型的限制。
權利要求1.一種阻焊曝光對位精度輔助檢查裝置,其特徵在於包括掃描器(I)和顯示裝置(7),所述掃描器(I)中安裝有鏡頭(2)、圖像傳感器(4)、微處理器(5)和黃光燈(3),所述鏡頭(2 )通過圖像傳感器(4 )與微處理器(5 )連接,微處理器(5 )通過數據傳輸線(6 )與顯示裝置(7)連接。
2.根據權利要求I所述的阻焊曝光對位精度輔助檢查裝置,其特徵在於所述鏡頭(2)為20倍放大鏡。
專利摘要本實用新型公開了一種阻焊曝光對位精度輔助檢查裝置,包括掃描器和顯示裝置,所述掃描器中安裝有鏡頭、圖像傳感器、微處理器和黃光燈,所述鏡頭通過圖像傳感器與微處理器連接,微處理器通過數據傳輸線與顯示裝置連接。本實用新型利用20倍放大鏡對線路板的對位圖形進行採集,並將採集的圖形通過顯示裝置進行顯示,方便了對位的檢測,同時利用黃光燈對黑片或光線較暗的對位情況進行照明,避免造成檢測時產生的線路板曝光,解決了光線較暗時,看不清楚以及黑片無法對位判讀的問題。
文檔編號G01B11/00GK202661042SQ201220228180
公開日2013年1月9日 申請日期2012年5月18日 優先權日2012年5月18日
發明者範軍傑, 蔡明洋, 鄧峻 申請人:江門崇達電路技術有限公司