視圖特性的測試方法及裝置的製作方法
2023-10-10 05:14:54 1
專利名稱：視圖特性的測試方法及裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種通訊晶片的測試方法及其裝置，特別涉及一種通訊晶片的視圖(Eye Diagram)特性的測試方法及其裝置。
一種已知的測試裝置，如
圖1所示，包括一測試主機(mainframe)11、一射頻分析儀15、一待測晶片14及一機械，手臂12，且該待測晶片14置於該機械手臂12的測試盤31上。首先，該主機11發出一預設條件(precondition)至該待測晶片14，並驅使該待測晶片14輸出高斯低通濾波信號至該射頻分析儀15。該射頻分析儀15將該高斯低通濾波信號轉換成為視圖，而由工作人員經過該射頻分析儀15的屏幕檢查該待測晶片14是否符合規格。
然而上述方法並無法自動化，導致一個晶片的測試周期需花費許多的時間，而降低產出量。其次，該射頻分析儀15很貴，致使整個測試成本被提高。第三，以人眼檢查該待測晶片14是否符合規格，往往因為人為的疏忽和無法精確比對，而導致錯誤。此外，已知的測試裝置另須以專人進行系統整合，也非常耗時。
本發明的第二目的是提供一種視圖特性的測試方法及裝置，可快速測試視圖特性。
為了達到上述目的，本發明並不採用已知技藝的射頻分析儀，而是直接由一主機送出預設條件至一待測晶片，由該待測晶片讀出GLPF信號。經數位化和規格化該GLPF信號後，可執行存在於該主機內的一視圖重建程序而重建該視圖。接著仍可以軟體分析該視圖參數和預設規格間的誤差，且依據該誤差的分析而判斷該待測晶片是否仍在規格所允許的範圍內。若不在所允許的範圍內，則予以丟棄。
具體地講，本發明提供一種視圖特性的測試方法，它包括下列步驟由一主機送出預設條件至一待測晶片，且由該待測晶片讀出GLPF信號；數位化和規格化該GLPF信號；依規格化後的GLPF信號而重建一視圖；分析該視圖的參數和預設規格間的誤差；及依據該誤差分析而判斷該待測晶片的正確性。
所述的視圖的參數包括視圖的寬度、高度、交叉百分比和RMS抖動。
所述的重建視圖的步驟還包括以下步驟計算規格化後的GLPF信號的平均值；依據該平均值而計算零交叉點的位置；及利用GLPF信號的傳輸速率作為視圖周期，且將一連串GLPF信號重疊至該視圖周期內。
本發明還提供一種視圖特性的測試裝置，它包括
一測試主機，包括一提取器，用於提取一待測晶片的GLPF輸出信號，且數位化和規格化該GLPF輸出信號；一視圖重建裝置，用於將規格化後的一連串GLPF輸出信號重疊至同一視圖周期內而形成視圖；及一誤差比較裝置，用於計算該視圖的各參數的誤差是否仍在規格所允許的範圍內；以及一機械手臂，連接至該測試主機，用於承載該待測晶片。
所述的機械手臂另包括一測試盤，用於承載該待測晶片。
所述的視圖參數包括視圖的寬度、高度、交叉百分比和RMS抖動，
圖3是本發明的測試流程圖。在步驟31，本發明啟始。在步驟32，該主機21送出預設條件至該待測晶片24，且由該待測晶片24讀出GLPF信號。一般而言，可依據測試時間，而提取大約數千個測試周期的信號。在步驟33，數位化和規格化該GLPF信號。在步驟34，依圖4所述的步驟重建視圖。在步驟35，計算視圖的參數(例如視圖的寬度、高度、交叉百分比、RMS抖動等)，並分析和規格間的誤差，該規格和一可接受的誤差度可由測試者輸入。若該通訊晶片的誤差超過可接受的範圍，則予以丟棄。在步驟36，本發明結束。
圖4是本發明的視圖重建流程圖，且圖5是一視圖的示意圖。在步驟41，本發明啟始。在步驟42，計算所提取信號52的平均值(mean)，例如可將所提取的信號相加，再予以平均。在步驟43，依據該平均值而計算零交叉點(zero-crossing point)的位置(如圖5所示的位置51)，以作為一基準點。在步驟44，利用已知信號傳輸速率(Date Rate)來作一個固定重疊的時間T，而重疊回一個下的時間間格為Δt(即為提取器的取樣頻率的倒數)，如此一來可以完整正確的將一串的數據重疊回一個周期內，而產生視圖。在步驟45，本發明結束。
本發明的技術內容及技術特點已公開如上，然而本領域的技術人員仍可能基於本發明的教導和提示而作種種不背離本發明精神的替換及修飾。因此，本發明的保護範圍應不限於實施例所揭示者，而應包括各種不背離本發明的替換及修飾，並為本發明的權利要求所涵蓋。
權利要求
1.一種視圖特性的測試方法，其特徵在於，它包括下列步驟由一主機送出預設條件至一待測晶片，且由該待測晶片讀出GLPF信號；數位化和規格化該GLPF信號；依規格化後的GLPF信號而重建一視圖；分析該視圖的參數和預設規格間的誤差；及依據該誤差分析而判斷該待測晶片的正確性。
2.如權利要求1所述的測試方法，其特徵在於所述的視圖的參數包括視圖的寬度、高度、交叉百分比和RMS抖動。
3.如權利要求1所述的測試方法，其特徵在於所述的重建視圖的步驟還包括以下步驟計算規格化後的GLPF信號的平均值；依據該平均值而計算零交叉點的位置；及利用GLPF信號的傳輸速率作為視圖周期，且將一連串GLPF信號重疊至該視圖周期內。
4.一種視圖特性的測試裝置，其特徵在於，它包括一測試主機，包括一提取器，用於提取一待測晶片的GLPF輸出信號，且數位化和規格化該GLPF輸出信號；一視圖重建裝置，用於將規格化後的一連串GLPF輸出信號重疊至同一視圖周期內而形成視圖；及一誤差比較裝置，用於計算該視圖的各參數的誤差是否仍在規格所允許的範圍內；以及一機械手臂，連接至該測試主機，用於承載該待測晶片。
5.如權利要求4所述的測試方法，其特徵在於所述的機械手臂另包括一測試盤，用於承載該待測晶片。
6.如權利要求4所述的測試方法，其特徵在於所述的視圖參數包括視圖的寬度、高度、交叉百分比和RMS抖動，
全文摘要
本發明涉及一種視圖特性的測試方法及裝置，其直接由一主機送出預設條件至一待測晶片，且由該待測晶片讀出GLPF信號。經數位化和規格化該GLPF信號後，可執行存在於該主機內的一視圖重建程序而重建該視圖。接著仍可以軟體分析該視圖參數和預設規格間的誤差，且依據該誤差的分析而判斷該待測晶片是否仍在規格所允許的範圍內。若不在所允許的範圍內，則予以丟棄。
文檔編號H01L21/66GK1449007SQ0210818
公開日2003年10月15日 申請日期2002年3月28日 優先權日2002年3月28日
發明者鄭貽仁 申請人:華邦電子股份有限公司