集成式光纖環圈測試系統的製作方法
2023-12-02 04:07:26 1
專利名稱：集成式光纖環圈測試系統的製作方法
技術領域：
本發明涉及光纖環圈測試領域，尤其涉及一種集成式光纖環圈測試系統。
背景技術：
光纖環圈是光纖陀螺中最關鍵的組件，它性能的好壞直接決定了光纖陀螺的性能，因此對光纖環圈的檢測是光纖陀螺研製過程中必不可少的環節之一。通常檢測光纖環圈都需要搭建一套分離的光纖陀螺系統。如圖1所示，現有光纖環圈測試系統10是將各光學元器件和調製解調電路板分散安置在一個測試平板上，第一部分為光纖環圈測試系統，它主要包含光纖陀螺中的光源2、耦合器9、Y波導8、探測器16和調製解調電路板5，另一部分即為需要檢測的光纖環圈，這兩部分通過Y波導8的輸出尾纖和光纖環圈輸入尾纖進行銜接從而構成一套完整的光纖陀螺系統接著又將此測試平板封裝在一個儀器機箱中，再配上其他的電源模塊11、測試系統控制電路板12等裝置就組成了一個完整的光纖環圈測試系統。這樣分散組裝的方式雖然簡單但對檢測環路中的光路和電路部分沒有進行封閉保護，易引入周圍環境中溫度和電磁輻射等幹擾，從而降低光纖環圈測試系統的測試精度。
發明內容
為了克服上述現有技術的不足，本發明的目的是提供一種集成式光纖環圈測試系統，其能夠實現對檢測環路中光路和調製解調電路的屏蔽保護。為了實現上述目的，本發明採用如下裝置集成式光纖環圈測試系統，其特徵在於包括底座、骨架、外罩，所述骨架設於所述底座上，所述外罩罩於所述底座與骨架之上，所述底座、骨架、外罩圍成的空間形成密閉的上下分體層疊的電路腔和光路腔，所述電路腔內設調製解調電路，所述光路腔內設光路。所述電路腔和光路腔之間具有分隔元件，所述光路的一部分設置於所述分隔元件上。優選地，底座包括外底座和內底座，所述外底座由第一空心圓柱體與外接於所述空心圓柱體下端的外盤面一體成型，所述內底座包括內盤面及設於所述內盤面上的第二空心圓柱體，所述內盤面的外邊緣內嵌於所述外盤面的底部環形凹槽內。優選地，骨架由第三空心圓柱體以及外接於所述第三空心圓柱體兩端的環形盤面一體成型。優選地，第三空心圓柱體內側具有環形凸臺，所述環形凸臺上端面設置有所述分隔元件，下端面與所述第一空心圓柱體固定連接，所述分隔元件、所述第一空心圓柱體，所述內盤面共同構成所述光路腔。優選地，外罩固定於所述底座的外邊緣，所述分隔元件、所述外罩、所述骨架、所述底座圍成所述電路腔。優選地，光路包括探測器，所述探測器的電管腳通過所述分隔元件的槽孔與所述調製解調電路連接。
優選地，光路包括Y波導，所述Y波導輸出的尾纖從所述底座下面的凹槽中弓I出。優選地，光路包括光源，所述光源設置於所述第二空心圓柱體包圍的所述內盤面上，所述光源的光通過光纖沿著所述第一空心圓柱體的內側面與所述分隔元件的光路連接。優選地，分隔元件是光學元件板。本發明的有益效果是通過集成式的上下分體層疊式的密閉封裝結構，很好地將檢測環路中的光路和電路布置在一個密閉腔體中，從而實現對檢測環路中光路和調製解調電路的屏蔽保護。
圖1為現有光纖環圈測試系統的結構示意圖。圖2為本發明的正面結構示意圖。圖3為本發明的拆解示意圖。圖4為本發明的光纖環圈測試系統的安裝示意圖。圖中，1、底座1.1、外底座1. 2、內底座2、光源3、骨架4、光學元件板5、調製解調電路板6、外罩7、輸出尾纖8，Y波導9、耦合器10、現有測試系統分布結構11、電源模塊12測試系統控制電路板13、增益平坦濾波器14、凹槽15、環形凸臺16、集成式光纖環圈測試系統
具體實施例方式下面結合附圖對本發明的一種具體實施方式
做出說明。參見圖2-4，本發明的集成式光纖環圈測試系統16是一種對原有分散式的光纖環圈測試系統檢測環路中的光路和調製解調電路進行集成式封裝改進的系統。其包括上下分體層疊式的密閉封裝結構，形成密閉的電路腔和光學腔。如圖2和3所示，底座I是集成式光纖環圈測試系統16的基座，其包括外底座1.1和內底座1. 2，其中外底座1.1由空心的圓柱體以及外接於該圓柱體下端的盤面一體成型，內底座1. 2包括圓形盤面以及設置於圓形盤面上的空心圓柱體構成，圓形盤面的外邊緣內嵌於外底座1.1的下底面的環形凹槽內，兩者通過螺釘固定連接，或者通過其他方式連接，在內底座1. 2的被空心圓柱體包圍的盤面上，設置有光源2，該光源2可以是ASE光源，也可以是其他用來測試的公知光源，光源2的各個組成部件可以通過銷釘螺釘固定於內底座1.2的盤面上，也可以是其他的固定方式。骨架3位於底座I之上，呈線盤狀，即頸部是一空心圓柱體，兩端是外接於空心圓柱體的盤面，在空心圓柱體的內側中間部位具有環狀的凸臺15，骨架3的空心圓柱體依靠在外底座1. 2的圓柱體的外側，凸臺15的下表面與外底座1. 2的圓柱體的上端面固定連接，可通過螺釘或者其他固定方式連接。在凸臺15的上表面上承載有光學元件板4，光學元件板4的形狀是內凹的盤狀結構，盤狀邊緣通過螺釘或者其他方式與凸臺15固定連接，光學元件板4的下表面上布置有光路系統，包括增益平坦濾波器13，Y波導8，耦合器9，光電探測器16等，光源2輸出的光波通過一段光纖尾纖沿著底座的內側壁蜿蜒而上到達光學元件板4，與光學元件板4上的光學元件組成了光纖環圈測試系統的第一部分中的光路檢測環路，而從Y波導輸出尾纖7又通過底座I的內側壁蜿蜒而下，最後從底座I的下表面上的凹槽14中引出。在光學元件板4上承載有調製解調電路板5，其上設置有調製解調電路，調製解調電路板5的邊緣通過螺釘或者其他方式與光學元件板的邊緣固定連接，光學元件板4下表面的光電探測器16的電管腳通過光學元件板4的板面上的槽孔從光學元件板4的上表面穿出，與調製解調電路連接，實現光電轉換以及信號的傳輸。外罩6的下邊緣與外底座1.1的外邊緣固定連接，將骨架3、光學元件板4、調製解調電路板5以及各種光學元件以及電路元件全部密封於其內，實現整個系統的外部密封。圖4是安裝示意圖，本發明的集成式光纖環圈測試系統16通過底座I上的固定孔固定於機箱平面上，由於集成式的設計，相比較於圖1的現有的分散布局，從外觀上更整齊，有序，從實現的效果上來看，節省了安裝面積，並且由於密封式的設計，極大地減小了外界溫度、電磁等對檢測的幹擾，從而有效地提高了檢測的穩定性以及精度。以上對本發明的一個實例進行了詳細說明，但所述內容僅為本發明的較佳實施例，不能被認為用於限定本發明的實施範圍。凡依本發明申請範圍所作的均等變化與改進等，均應仍歸屬於本發明的專利涵蓋範圍之內。
權利要求
1.集成式光纖環圈測試系統，其特徵在於包括底座、骨架、外罩，所述骨架設於所述底座上，所述外罩罩於所述底座與骨架之上，所述底座、骨架、外罩圍成的空間形成密閉的上下分體層疊的電路腔和光路腔，所述電路腔內設調製解調電路，所述光路腔內設光路。
2.如權利要求1所述的測試系統，其特徵在於所述電路腔和光路腔之間具有分隔元件，所述光路的一部分設置於所述分隔元件上。
3.如權利要求2所述的測試系統，其特徵在於所述底座包括外底座和內底座，所述外底座由第一空心圓柱體與外接於所述空心圓柱體下端的外盤面一體成型，所述內底座包括內盤面及設於所述內盤面上的第二空心圓柱體，所述內盤面的外邊緣內嵌於所述外盤面的底部環形凹槽內。
4.如權利要求3所述的測試系統，其特徵在於所述骨架由第三空心圓柱體以及外接於所述第三空心圓柱體兩端的環形盤面一體成型。
5.如權利要求4所述的測試系統，其特徵在於所述第三空心圓柱體內側具有環形凸臺，所述環形凸臺上端面設置有所述分隔元件，下端面與所述第一空心圓柱體固定連接，所述分隔元件、所述第一空心圓柱體，所述內盤面共同構成所述光路腔。
6.如權利要求2所述的測試系統，其特徵在於所述外罩固定於所述底座的外邊緣，所述分隔元件、所述外罩、所述骨架、所述底座圍成所述電路腔。
7.如權利要求2所述的測試系統，其特徵在於所述光路包括探測器，所述探測器的電管腳通過所述分隔元件的槽孔與所述調製解調電路連接。
8.如權利要求1所述的測試系統，其特徵在於所述光路包括Y波導，所述Y波導輸出的尾纖從所述底座下面的凹槽中引出。
9.如權利要求3所述的測試系統，其特徵在於所述光路包括光源，所述光源設置於所述第二空心圓柱體包圍的所述內盤面上，所述光源的光通過光纖沿著所述第一空心圓柱體的內側面與所述分隔元件的光路連接。
10.如權利要求2-9任一項所述的測試系統，其特徵在於所述分隔元件是光學元件板。
全文摘要
本發明提供一種集成式光纖環圈測試系統，包括底座、骨架、外罩，所述骨架設於所述底座上，所述外罩罩於所述底座與骨架之上，所述底座、骨架、外罩圍成的空間形成密閉的上下分體層疊的電路腔和光路腔，所述電路腔內設調製解調電路，所述光路腔內設光路。採用上述集成式的光纖環圈測試系統，極大地減小了外界溫度、電磁等對檢測的幹擾，從而有效地提高了檢測的穩定性以及精度。
文檔編號G01M11/00GK103063408SQ20121057500
公開日2013年4月24日 申請日期2012年12月21日 優先權日2012年12月21日
發明者楊冬霞, 李偉俊, 王嘉寧 申請人:天津光拓科技有限公司