電機繞組磁勢的智能檢測方法
2023-12-06 13:36:06 1
專利名稱：電機繞組磁勢的智能檢測方法
技術領域：
本發明屬於電機測試技術，涉及一種電機繞組磁勢的智能檢測方法。
背景技術：
對於線圈匝數各異、下線極性變化、單元繞組換位等技術難度高(如多極旋變的 III型正弦繞組等)，容易局部出錯的情況，下線正確性檢查是必要的環節。以往多採用將磁量轉換為電量的間接檢查方法，如利用變壓器原理的感應電勢法，其缺點是探測線圈的位置誤差影響較大，且用交流電壓表僅能測得有效值，無法判別極性，因此結果不直觀；利用已確認正確的轉子與被測定子組合成整機，進行電氣誤差檢測的綜合測試法，當性能與正常結果比較出現較大偏差時，一般情況下可以給出下線錯誤的籠統判斷，當性能出現偏差不大，就無法給出準確結論，並且這種方法工作量大，檢測成本高。
發明內容
本發明的目的是提出一種檢測結論準確、檢測成本低、檢測設備簡單的電機繞組磁勢的智能檢測方法。本發明的技術解決方案是1)檢測設備包括機械分度裝置、各向同性軟磁材料無槽工藝轉子或定子、數字式特斯拉計、直流穩壓電源和臺式計算機；2)機械分度裝置固定安裝在工作檯面上，將被測定子或被測轉子與機械分度裝置連接，並由直流穩壓電源為繞組激磁，以不飽和為度；當被測定子與機械分度裝置連接時， 各向同性軟磁材料無槽工藝轉子與被測定子同軸並固定在工作檯面上；當被測轉子與機械分度裝置連接時，各向同性軟磁材料無槽工藝定子與被測轉子同軸並固定在工作檯面上；3)依據設計圖紙規定的1號槽齒中心線起始，當被測件為定子時，測量各向同性軟磁材料無槽工藝轉子與被測定子之間的氣隙磁感應強度1(1)，在360°內每隔1個齒距測試一次，由計算機採集氣隙磁感應強度數據；當被測件為轉子時，測量各向同性軟磁材料無槽工藝定子與被測轉子之間的氣隙磁感應強度Bs(i)，在360°內每隔1個齒距測試一次，由計算機採集氣隙磁感應強度數據，藉助於計算機內的繞組磁勢智能檢測程序，得到檢測結果；其中繞組磁勢智能檢測程序流程包括(I)建立標準樣本磁勢資料庫，樣本磁勢資料庫包括正確繞組標準樣本磁勢數據和各種工程常見繞組錯誤模式標準樣本磁勢數據，a)正確繞組標準樣本磁勢數據是根據被測產品繞組參數通過以下計算得到的今由元件匝數W(i)計算槽導體數N(i)當繞組為單層繞組時，按⑴式計算；N(i)=w(i)(1)當繞組為雙層繞組時，按(2)式計算；N(i) = w(i)-w(i-C)(2)其中C為元件跨距。若(i-C)彡0貝丨J，N(i) = w⑴i(i-C+Z0)，
A為單元繞組槽數；今氣隙磁勢fs⑴按(3)式計算為
權利要求
1.電機繞組磁勢的智能檢測方法，其特徵是1)檢測設備包括機械分度裝置、各向同性軟磁材料無槽工藝轉子或定子、數字式特斯拉計、直流穩壓電源和臺式計算機；2)機械分度裝置固定安裝在工作檯面上，將被測定子或被測轉子與機械分度裝置連接，並由直流穩壓電源為繞組激磁，以不飽和為度；當被測定子與機械分度裝置連接時，各向同性軟磁材料無槽工藝轉子與被測定子同軸並固定在工作檯面上；當被測轉子與機械分度裝置連接時，各向同性軟磁材料無槽工藝定子與被測轉子同軸並固定在工作檯面上；3)依據設計圖紙規定的1號槽齒中心線起始，當被測件為定子時，測量各向同性軟磁材料無槽工藝轉子與被測定子之間的氣隙磁感應強度Bs (i)，在360°內每隔1個齒距測試一次，由計算機採集氣隙磁感應強度數據；當被測件為轉子時，測量各向同性軟磁材料無槽工藝定子與被測轉子之間的氣隙磁感應強度Bs (i)，在360°內每隔1個齒距測試一次，由計算機採集氣隙磁感應強度數據，藉助於計算機內的繞組磁勢智能檢測程序，得到檢測結果；其中繞組磁勢智能檢測程序流程包括(I)建立標準樣本磁勢資料庫，樣本磁勢資料庫包括正確繞組標準樣本磁勢數據和各種工程常見繞組錯誤模式標準樣本磁勢數據，a)正確繞組標準樣本磁勢數據是根據被測產品繞組參數通過以下計算得到的 今由元件匝數W(i)計算槽導體數N(i) 當繞組為單層繞組時，按(1)式計算； N(i) = w(i)(1) 當繞組為雙層繞組時，按( 式計算； N(i) = w(i)-w(i-C) (2) 其中C為元件跨距。若(i-C)≤0則，N(i) Z0為單元繞組槽數； 今氣隙磁勢Fs⑴按(3)式計算為
全文摘要
本發明屬於電機測試技術，涉及一種電機繞組磁勢的智能檢測方法。本發明採用機械分度裝置、各向同性軟磁材料無槽工藝轉子或定子、數字式特斯拉計、直流穩壓電源和臺式計算機，利用工藝轉子和工藝定子對電機繞組的定子和轉子進行檢測，並用預先存儲在計算機中的樣本判斷電機繞組的下線正確與否，並提示出錯位置和改正方法。本發明設備要求簡單。僅需精度不低於2′的機械分度裝置、數字式特斯拉計、直流穩壓電源和臺式計算機，容易配置，並且容易實現自動檢測；適於批量生產；可用於各種電機繞組的檢測，尤其更適於檢查線圈匝數各異、下線極性變化、單元繞組換位等技術難度高、容易局部出錯的情況，檢測準確度高。
文檔編號G01R31/06GK102323514SQ20111026669
公開日2012年1月18日 申請日期2011年9月1日 優先權日2011年9月1日
發明者包豔, 李秉實, 王東輝 申請人:中國航空工業第六一八研究所