一種應用於平板顯示屏自動光學檢測的打光裝置的製作方法
2023-12-03 08:03:26
專利名稱：一種應用於平板顯示屏自動光學檢測的打光裝置的製作方法
技術領域：
本實用新型應用於平板顯示屏檢測裝置領域，特別涉及一種應用於平板顯示屏自動光學檢測的打光裝置。
背景技術：
平板顯示屏自動光學檢測設備，是針對平板顯示行業的TFT-1XD (Thin FilmTransistor Liquid Crystal Display,薄膜場效應電晶體-液晶顯不器)、AM_0LED(ActiveMatrix/Organic Light Emitting Diode,主動矩陣有機發光二極體面板)屏質量進行檢測的設備。這種設備可以檢測顯示屏的電測性能及本身固有的缺陷，比如黑點、白點、暗線、亮線、姆拉(mura)等。現有技術中，通常採用一個背光源對點亮的屏幕進行打光，人眼進行識別產品缺陷的。在實際檢測過程中，由於檢測環境存在光源亮度差，均勻效果不好、可調範圍小等問題，嚴重影響視覺系統對於產品性能的處理。同時在顯示屏的表面，大多容易堆積一些灰塵。對於灰塵與異物的有效區分，也是一大難題。
實用新型內容(一)要解決的技術問題本實用新型要解決的技術問題是提供一種應用於平板顯示屏自動光學檢測的打光裝置，以克服現有技術中的打光裝置光源亮度差、可調範圍小造成的檢測水平有限且不易區別電測缺陷與灰塵的問題。(二)技術方案為了解決上述技術問題，本實用新型提供的應用於平板顯示屏自動光學檢測的打光裝置，包括:背光源，所述背光源位於待測顯示屏的底部；側光源，所述側光源位於待測顯示屏的兩側；承載機構，所述承載機構用於承載背光源和側光源。 進一步地，所述側光源通過旋轉支架安裝於待測顯示屏的兩側。進一步地，所述側光源為LED條形光。進一步地，所述背光源為強度可調、光線均勻的光源。進一步地，還包括算法處理系統，所述算法處理系統通過處理側光源照射待測物圖象，分析存在於待測顯示屏上的顆粒物的性質。(三)有益效果本實用新型實施例提供的應用於平板顯示屏自動光學檢測的打光裝置，既能滿足待測顯示屏點亮後顯示屏圖像亮度變化與均勻性的要求，又能滿足打亮灰塵的目的。通過檢測算法有效濾除灰塵，識別顯示屏電測性能缺陷。
圖1為本實用新型實施例應用於平板顯示屏自動光學檢測的打光裝置結構示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖和實施例，對本實用新型的具體實施方式
作進一步詳細描述。以下實施例用於說明本實用新型，但不用來限制本實用新型的範圍。如圖1所示，本實用新型實施例提供的應用於平板顯示屏自動光學檢測的打光裝置，包括:背光源1、側光源2、側光源3和承載機構4。本實用新型實施例提供的應用於平板顯示屏自動光學檢測的打光裝置，既能滿足待測顯示屏點亮後顯示屏圖像亮度變化與均勻性的要求，又能滿足打亮灰塵的目的。通過檢測算法有效濾除灰塵，識別顯示屏電測性能缺陷。其中，該背光源I位於待測顯示屏的底部，其發出的光線均勻地照射在顯示屏的底部，當待測顯示屏具有信號時，為檢測作業提供照明條件。其中，該背光源為強度可調、光線均勻的光源。側光源2、側光源3位於待測顯示屏的兩側，其通過旋轉支架安裝於待測顯示屏的兩側，該旋轉支架使得該側光源可進行旋轉，其發出的光線均勻的照射在待測顯示屏的表面，用於對待測顯示屏表面異物的檢測。該雙側側光源可對待測顯示屏的表面異物打光，從而異物表面高亮。通過對待測顯示屏表面異物成像，算法處理系統對採集的圖像分析該待測顯示屏上的顆粒物為顯示屏內的異常，還是顯示屏表面異物。具體的，該側光源可以為LED條形光。承載機構4用於承載背光源I和側光源，該背光源I和側光源均安裝在承載機構4上，承載機構除了安裝上述部件外，還可以用於承載相機、鏡頭5、待測顯示屏等。本實施例中的待測平板顯示屏為TFT-1XD、AM-OLED等平板顯示屏。本實用新型實施例提供的應用於平板顯示屏自動光學檢測的打光裝置，既能滿足待測顯示屏點亮後顯示屏圖像亮度變化與均勻性的要求，又能滿足打亮灰塵的目的。通過檢測算法有效濾除灰塵，識別顯示屏電測性能缺陷。以上所述僅是本實用新型的優選實施方式，應當指出，對於本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型技術原理的前提下，還可以做出若干改進和替換，這些改進和替換也應視為本實用新型的保護範圍。
權利要求1.一種應用於平板顯示屏自動光學檢測的打光裝置，其特徵在於，包括: 背光源，所述背光源位於待測顯示屏的底部； 側光源，所述側光源位於待測顯示屏的兩側； 承載機構，所述承載機構用於承載背光源和側光源。
2.如權利要求1所述的打光裝置，其特徵在於，所述側光源通過旋轉支架安裝於待測顯示屏的兩側。
3.如權利要求1所述的打光裝置，其特徵在於，所述側光源為LED條形光。
4.如權利要求1所述的打光裝置，其特徵在於，所述背光源為強度可調、光線均勻的光源。
5.如權利要求1所述的打光裝置，其特徵在於，還包括算法處理系統，所述算法處理系統通過處理 側光源照射待測物圖象，分析存在於待測顯示屏上的顆粒物的性質。
專利摘要本實用新型應用於平板顯示屏檢測裝置領域，特別涉及一種應用於平板顯示屏自動光學檢測的打光裝置。該打光裝置，包括背光源，所述背光源位於待測顯示屏的底部；側光源，所述側光源位於待測顯示屏的兩側；承載機構，所述承載機構用於承載背光源和側光源。本實用新型實施例提供的應用於平板顯示屏自動光學檢測的打光裝置，既能滿足待測顯示屏點亮後顯示屏圖像亮度變化與均勻性的要求，又能滿足打亮灰塵的目的。通過檢測算法有效濾除灰塵，識別顯示屏電測性能缺陷。
文檔編號G01N21/95GK203083948SQ20132002396
公開日2013年7月24日 申請日期2013年1月17日 優先權日2013年1月17日
發明者徐江偉, 董新橋 申請人:北京兆維電子(集團)有限責任公司