電子元器件高速測試分選設備的製作方法
2023-12-09 13:12:01 1
專利名稱：電子元器件高速測試分選設備的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種電子元器件的測試分選設備，進一步涉及片式發光二極體(SMD LED)的測試分選設備。
背景技術：
SMD LED由於生產過程中的工藝問題，會造成不同波長和光強的產品混合在一起， 在出廠前，必須對其進行測試和分類，這可以通過人工測試分選或者自動化測試分選設備來實現。隨著SMD LED的尺寸越來越小(如0603元件)，同時隨著生產率的要求逐漸提高， 對自動化測試分選設備的速度要求越來越高。為了實現高速測試分選的目的，人們發明了一些裝置，如專利CN101311730A，CN 10890410A 等。其中，專利CN101311730A是通過提供2套收料裝置，將電子元器件的類別出現的頻率高低來分配，其中，出現頻率較高的元器件使用速度較高的分料裝置。由於出現頻率較高的元器件類別比較集中，因此用於分類收料的料筒較少，此分料裝置的高速就會由於分料管的XY行程較少而實現較高速度。CN10890410A則通過將分料管設計成繞中心點轉動的球面坐標分布方式來減少分料管的總長度，從而實現高速分料的目的。上述專利的共同缺點是(1)它們所使用的轉盤均為立式布局，吸嘴的軸向方向與轉盤的軸向方向相平行，若想通過縮小轉盤的直徑來降低轉盤的慣量，則容易導致測試機構朝轉盤軸線靠攏，這使得容易產生部件的幹涉；( 電子元器件從測試分料管的進口到從分料管的出口的管路必須先水平然後折彎為豎直向下，象一個倒「L」子母，這使得管路長度較長，導致電子元器件以一定速度通過此路徑的時間較長，分料的速度受限。
發明內容
鑑於以上內容，有必要提供一種提高測試和分料的速度、減少所佔空間、提高維護的方便性的測試分選裝置。本發明提供了一種電子元器件高速測試分選設備，包括接受電子元器件的吸嘴和轉盤，轉盤採用臥式布局，其軸線與水平方向平行，吸嘴垂直分布於轉盤邊緣，吸嘴的軸向方向與轉盤的軸向方向相垂直；測試基板，在其上對電子器件的電子特定進行測定。優選的，所述分選設備還包括驅動轉盤轉動的轉盤驅動電機；優選的，分選設備還包括分料延長軟管，其位於所述測試基板的下部，軟管的另一端連接至收料筒。優選的，所述吸嘴均勻分布於轉盤邊緣。優選的，所述驅動電機為伺服電機或者步進電機。與現有技術相比，本發明的優點在於1.使用臥式布局的吸嘴轉盤，測試完畢後，吸嘴會直接朝下靠近收料口，無需水平的額外一段軟管，這使得電子元器件在分料的過程所經過的路徑長度大大縮小。2.使用徑向放射式分布的吸嘴陣列，可以令在相同的工作直徑下，可以放置更多的測試裝置。3.使得設備的測試機構的維護更加方便，可以從設備的前面就可以進行大部分的維護。4.大大縮小了所佔用的空間。下面參照附圖結合實施例對本發明作進一步的描述。
圖1是專利CN 101311730A設備整體布局圖。圖2是專利CN 101311730A管路放大圖。圖3是專利CN 10890410A設備整體布局圖。圖4是專利CN 10890410A剖視圖。圖5是本發明電子元器件高速分選設備前視圖。圖6是本發明電子元器件高速分選設備軸測圖。
具體實施例方式請參閱圖5和圖6，本發明的電子元器件高速分選設備包括用於吸收電子元器件進行檢測的吸嘴1和轉盤2，其中轉盤2採用臥式布局，其軸線與水平方向平行，吸嘴1垂直分布於轉盤2邊緣，吸嘴1的軸向方向與轉盤2的軸向方向相垂直；基板3水平設置，用於容納待檢測的電子元器件；高速分料裝置4用於對已經檢測完的元器件產品按照一定參數進行分類篩選，然後經過收料延長軟管5送至收料筒6 ；另外，設備中還包括有驅動轉盤進行轉動的轉盤驅動電機7和電機基座8，基座8 還用於放置測試用的探針機構，在其上測定出元器件所吸收的波長和光強；其中，本發明示例圖轉盤的吸嘴數量為18個(也可以是M個或者36個等，數量不限)。本發明主要針對元器件測試和分選裝置所進行的改進，以上所述僅為本發明較佳實施例而已，非因此即局限本發明的專利範圍，故舉凡用本發明說明書及圖式內容所為的簡易變化及等效變換，均應包含於本發明的專利範圍內。
權利要求
1.一種電子元器件高速測試分選設備，其包括接受電子元器件的吸嘴和轉盤，轉盤採用臥式布局，其軸線與水平方向平行，吸嘴垂直分布於轉盤邊緣，吸嘴的軸向方向與轉盤的軸向方向相垂直；測試基座，用於放置測試用的探針機構，在其上測定出元器件所吸收的波長和光強，並對電子器件的電子特性進行測定。
2.權利要求1所述電子元器件高速測試分選設備，其中所述分選設備還包括驅動轉盤轉動的轉盤驅動電機。
3.權利要求1所述電子元器件高速測試分選設備，其中所述分選設備還包括分料延長軟管，其位於所述測試基板的下部，軟管的另一端連接至收料筒。
4.權利要求1所述電子元器件高速測試分選設備，其中所述吸嘴呈放射式徑向均勻分布於轉盤邊緣。
5.權利要求1所述電子元器件高速測試分選設備，其中所述驅動電機為伺服電機或者步進電機。
6.權利要求1所述電子元器件高速測試分選設備，其測試用的探針機構也可以放置於水平放置的基板上。
全文摘要
本發明涉及一種電子元器件高速測試分選設備，其包括接受電子元器件的吸嘴和轉盤，轉盤採用臥式布局，其軸線與水平方向平行，吸嘴垂直分布於轉盤邊緣，吸嘴的軸向方向與轉盤的軸向方向相垂直；測試基板，在其上對電子器件的電子特定進行測定。通過使用臥式布局的吸嘴轉盤，測試完畢後，吸嘴會直接朝下靠近收料口，無需水平一段軟管，這使得電子元器件在分料的過程所經過的路徑長度大大縮小。
文檔編號G01R31/26GK102357473SQ20111027264
公開日2012年2月22日 申請日期2011年9月14日 優先權日2011年9月14日
發明者卓維煌, 曾慶略, 李靖鵬, 林琳, 繆來虎, 聶晶 申請人:深圳市華騰半導體設備有限公司