一種雜散測試系統線損的測試裝置及測試方法與流程

2023-05-31 16:51:31 1

本發明涉及射頻測試領域，特別是涉及一種雜散測試系統線損的測試裝置及測試方法。

背景技術：

雜散測試是射頻測試中的一項重要測試指標，在雜散測試中，針對不同頻段的測試案例，雜散測試系統的線損是不同。為了保證測試結果的準確性，每測試一個案例，需要手動測試雜散測試系統的線損並對其進行補償以校正雜散測試系統。但是，由於雜散測試系統在使用的過程中，測試頻段獲測試案例很多，從而導致線損測試的工作量很大，需要佔用大量的時間，進而降低了雜散測試系統的工作效率。

技術實現要素：

本發明主要解決的技術問題是提供一種雜散測試系統線損的測試裝置及測試方法，能夠以相對簡單的方式自動測試出不同頻段的雜散測試系統的線損。

為解決上述技術問題，本發明採用的一個技術方案是：提供一種雜散測試系統線損的測試裝置，該測試裝置包括上位機、第一測試儀、功分器、第二測試儀、陷波器和信號發生器；其中，上位機分別與第一測試儀、第二測試儀、信號發生器連接；其中，信號發生器的輸出端與功分器的輸入端連接；其中，功分器的第一輸出端通過陷波器與第一測試儀的輸入端連接；其中，功分器的第二輸出端與第二測試儀的輸入端連接。

為解決上述技術問題，本發明採用的另一個技術方案是：提供一種雜散測試系統線損的測試方法，該方法包括：由上位機獲取待測線損對應的預定頻率和預定帶寬；由上位機控制信號發生器以預定功率發射預定頻率的待測信號；由功分器將預定頻率的待測信號經陷波器傳輸至第一測試儀；由第一測試儀測試接收到的待測信號在預定帶寬的平均功率；由上位機從信號發生器獲取預定功率、從第一測試儀獲取平均功率值後，獲取預定功率和平均功率的差值作為預定頻率和預定帶寬對應的線損。

本發明的有益效果是：本發明的雜散測試系統線損的測試裝置及測試方法由上位機獲取待測線損對應的預定頻率和預定帶寬；由上位機控制信號發生器以預定功率發射預定頻率的待測信號；由功分器將預定頻率的待測信號經陷波器傳輸至第一測試儀；由第一測試儀測試接收到的待測信號在預定帶寬的平均功率；由上位機從信號發生器獲取預定功率、從第一測試儀獲取平均功率值後，獲取預定功率和平均功率的差值作為預定頻率和預定帶寬對應的線損。通過上述方式，本發明能以相對簡單的方式自動測試出不同頻段的雜散測試系統的線損，從而提高了雜散測試系統的工作效率。

附圖說明

圖1是本發明實施例的雜散測試系統線損的測試裝置的結構示意圖；

圖2是本發明第一實施例的雜散測試系統線損的測試方法的流程圖；

圖3是本發明第二實施例的雜散測試系統線損的測試方法的流程圖。

具體實施方式

在說明書及權利要求書當中使用了某些詞彙來指稱特定的組件，所屬領域中的技術人員應可理解，製造商可能會用不同的名詞來稱呼同樣的組件。本說明書及權利要求書並不以名稱的差異來作為區分組件的方式，而是以組件在功能上的差異來作為區分的基準。下面結合附圖和實施例對本發明進行詳細說明。

圖1是本發明實施例的雜散測試系統線損的測試裝置的結構示意圖。如圖1所示，該測試裝置包括：上位機11、第一測試儀12、功分器13、第二測試儀14、陷波器15和信號發生器16。

上位機11分別與第一測試儀12、第二測試儀14、信號發生器16連接。在本實施例中，優選地，上位機11為pc機、第一測試儀12為頻譜分析儀、第二測試儀14為綜合測試儀。優選地，pc機通過gpib總線分別與頻譜分析儀、綜合測試儀和信號發生器連接，以通過gpib總線向頻譜分析儀、綜合測試儀和信號發生器發生控制指令以指示其按照預定方式進行工作、以及通過gpib總線從頻譜分析儀、綜合測試儀和信號發生器讀取相關的信息。

功分器13包括輸入端、第一輸出端和第二輸出端。其中，信號發生器16的輸出端與功分器13的輸入端連接，功分器13的第一輸出端通過陷波器15和第一測試儀12連接，功分器13的第二輸出端與第二測試儀14的輸入端連接。

本領域的技術人員可以理解，當把測試裝置中的信號發生器16更換為受測設備後，該測試裝置即可形成雜散測試系統。受測設備通過功分器的第一輸出端和綜合測試儀進行數據通訊，功分器的第二輸出端接入頻譜分析儀，用於測量受測設備中雜散信號的強度。

圖2是本發明第一實施例的雜散測試系統線損的測試方法的流程圖，圖2所示的方法基於圖1所示的測試系統。需注意的是，若有實質上相同的結果，本發明的方法並不以圖2所示的流程順序為限。如圖2所示，該方法包括如下步驟：

步驟s101：由上位機獲取待測線損對應的預定頻率和預定帶寬。

在步驟s101中，不同的預定頻率和預定帶寬對應於進行雜散測試的不同的測試案例。

步驟s102：由上位機控制信號發生器以預定功率發射預定頻率的待測信號。

在步驟s102中，由上位機通過gpib總線將第一控制指令發送給信號發生器，第一控制指令包括預定功率、預定頻率、待測信號的波形等參數，以使信號發生器按照第一控制指令發射待測信號。

具體來說，信號發生器發射的待測信號用於模擬受測設備正常進行雜散測試時所產生的雜散信號。其中，待測信號優選為額定窄帶功率的正弦波信號，其預定功率優選為0dbm，其頻率為步驟s101中獲取的預定頻率。

步驟s103：由功分器將預定頻率的待測信號經陷波器傳輸至第一測試儀。

步驟s104：由第一測試儀測試接收到的待測信號在預定帶寬的平均功率。

在步驟s104中，由上位機通過gpib總線將第二控制指令發送給信號發生器，第二控制指令包括預定頻率、預定帶寬等參數，以使第一測試儀按照第二控制指令測試待測信號的平均功率。

具體來說，由第一測試儀測試接收到的待測信號在預定帶寬的平均功率的步驟具體為：由上位機控制第一測試儀以預定頻率為中心進行預定帶寬的頻譜掃描，進而獲取接收到的待測信號對應的平均功率。

在本實施例中，當第一測試儀進行測試工作時，第二測試儀不需要進行測試工作。其中，第二測試儀通過功分器和信號發生器連接是為了保證鏈路的阻抗和雜散測試系統的阻抗一致，從而保證線損的測試準確性。

步驟s105：由上位機從信號發生器獲取預定功率、從第一測試儀獲取平均功率後，計算預定功率和平均功率的差值作為預定頻率對應的線損。

在步驟s105中，由上位機通過gpib總線從信號發生器獲取預定功率，以及通過gpib總線從第一測試儀獲取平均功率後，由上位機對第一測試儀測試得到的平均功率和信號發生器發出的預定功率進行相減操作，即得出以該預定頻率為中心頻率該預定帶寬為帶寬的雜散測試系統的線損。

圖3是本發明第二實施例的雜散測試系統線損的測試方法的流程圖，圖3所示的方法基於圖1所示的自動測試系統。需注意的是，若有實質上相同的結果，本發明的方法並不以圖3所示的流程順序為限。如圖3所示，該方法包括如下步驟：

步驟s201：由上位機從校準文件中獲取待測線損對應的預定頻率和預定帶寬。

在步驟s201中，校準文件根據如下方式形成：在上位機的設置界面上，通過在labwindows開發環境下逐個輸入進行雜散測試的射頻信號所處的預定頻率以及以預定頻率為中心頻率的預定帶寬以形成校準文件。

其中，進行雜散測試的不同測試案例所對應的頻段與不同射頻信號所處的預定頻率和預定帶寬相對應。

步驟s202：由上位機控制信號發生器以預定功率發射預定頻率的待測信號。

步驟s203：由功分器將預定頻率的待測信號經陷波器傳輸至第一測試儀。

步驟s204：由第一測試儀測試接收到的待測信號在預定帶寬的平均功率。

步驟s205：由上位機從信號發生器獲取預定功率、從第一測試儀獲取平均功率值後，獲取預定功率和平均功率的差值作為預定頻率和預定帶寬對應的線損。

在本實施例中，步驟s202～步驟s205與圖2所示第一實施例中的步驟s102～步驟s105類似，為簡約起見，在此不再贅述。

步驟s206：由上位機判斷上述預定頻率和預定帶寬是否為校準文件中的最後一組待測數據，若否，執行步驟s201，若是，執行步驟s207。

在步驟s206中，校準文件包括至少一組預定頻率和預定帶寬的待測數據。其中，當校準文件包括多組待測數據時，首先完成第一組待測數據的測試，接著完成第二組待測數據的測試，直至完成最後一組待測數據的測試。

步驟s207：由上位機存儲各預定頻率和預定帶寬所對應的線損至校準文件中。

在步驟s207中，當上位機判斷完成最後一組待測數據的測試後，由上位機存儲各預定頻率和預定帶寬所對應的線損至校準文件中。

在實際應用中，當本發明的測試裝置中的信號發生器被待測設備替代而形成雜散測試系統後，每測試一個測試案例，上位機只需獲取該測試案例的頻段即可從校準文件中獲取雜散測試系統對應的線損，從而節省了線損測試的工作量，進而提高了雜散測試系統的工作效率。

本發明的有益效果是：本發明的雜散測試系統線損的測試裝置及測試方法由上位機獲取待測線損對應的預定頻率和預定帶寬；由上位機控制信號發生器以預定功率發射預定頻率的待測信號；由功分器將預定頻率的待測信號經陷波器傳輸至第一測試儀；由第一測試儀測試接收到的待測信號在預定帶寬的平均功率；由上位機從信號發生器獲取預定功率、從第一測試儀獲取平均功率值後，獲取預定功率和平均功率的差值作為預定頻率和預定帶寬對應的線損。通過上述方式，本發明能以相對簡單的方式自動測試出不同頻段的雜散測試系統的線損，從而提高雜散測試系統的工作效率。

以上僅為本發明的實施方式，並非因此限制本發明的專利範圍，凡是利用本發明說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關的技術領域，均同理包括在本發明的專利保護範圍內。