均勻域測試裝置及測試方法
2023-05-31 04:02:56 1
專利名稱：均勻域測試裝置及測試方法
技術領域：
本發明涉及電磁場測試領域，尤其涉及一種電磁場輻射抗擾度均勻域測試裝置及測試方法。
背景技術：
在進行電磁兼容測試的射頻電磁場輻射抗擾度試驗之前需要對測試場地進行驗證，進行均勻域的量測以確保測試場地中電磁場強分布充分均勻。一般來說，測試所使用的均勻域尺寸為1.5mX 1.5m，其中包含十六個用於均勻域場強量測的測試點。在進行均勻域的量測時，將場強探頭放置在其中一個測試點上，使用信號發生器、功率放大器及發射天線在每個預定的發射頻率段中分別以不同的天線極性(例如水平與垂直極性)發射不同頻率的測試信號。場強探頭在所選的測試點分別接收具有不同極性及頻率點測試信號，從而感測到對應各個測試信號的場強讀值。在該測試點獲得對應每個預訂極性及頻率點測試信號的場強讀值後，將該場強探頭移至其他測試點，一一重複上述測試操作，最後匯整所有測試點對應具有不同極性及頻率點測試信號的場強讀值，以考察該均勻域中場強的均勻度。
在上述測試過程中，當場強探頭位於每個測試點時，都要分別調節天線極性及測試信號的發射頻率，以在該測試點分別獲取對應具有不同極性及頻率點測試信號的場強讀值，而且該操作需要重複多次。因此，上述現有測試方法顯然耗費時間較長，操作繁瑣，且多次移動場強探頭容易導致定位精度不夠而使測量的結果不準確。發明內容
有鑑於此，有必要提供一種操作簡單的均勻域測試裝置。
另外，有必要提供一種操作簡單的均勻域測試方法。
一種均勻域測試裝置，適用於電磁場輻射抗擾度均勻域測試。該均勻域測試裝置包括測試架與安裝於測試架的若干場強探頭。該若干場強探頭位於同一平面內並呈陣列排布，位於同一行或同一列的相鄰的場強探頭的間距不小於電磁場福射抗擾度均勻域測試中相鄰測試點的最小間距。
一種上述均勻域測試裝置進行均勻域測試的方法，包括如下步驟:a.將所述均勻域測試裝置放入第一頻段均勻域驗證平面區域中，使若干場強探頭分別對應該頻段均勻域驗證平面區域中的測試點；b.進行第一頻段的均勻域的量測；c.更換發射天線以使其適應第二頻段的均勻域的量測；d.進行第二頻段的均勻域的量測；e.判定測試結果。
使用所述均勻域測試裝置進行電磁場輻射抗擾度均勻域測試，可拆卸地安裝多個場強探頭於該均勻域測試裝置上，該多個場強探頭位於同一平面內並呈陣列排布。該等場強探頭分別對應電磁場輻射抗擾度均勻域測試的多個測試點。從而在測試時無須多次調節場強探頭的位置，也無須多次調節發射頻率及更換發射天線的極性，相比大大縮短了量測的時間並簡化了操作過程。
圖1為本發明較佳實施例的均勻域測試裝置的示意圖。
圖2為圖1所示均勻域測試裝置的進行均勻域測試的示意圖。
圖3為本發明較佳實施例的均勻域測試裝置進行電磁場輻射抗擾度均勻域測試的方法流程圖。
圖4為本發明較佳實施例均勻域測試的方法中各頻段測試的方法流程圖。
主要元件符號說明
權利要求
1.一種均勻域測試裝置，適用於電磁場輻射抗擾度均勻域測試，其特徵在於:該均勻域測試裝置包括測試架與安裝於測試架的若干場強探頭，該若干場強探頭位於同一平面內並呈陣列排布，位於同一行或同一列的相鄰的場強探頭的間距不小於電磁場輻射抗擾度均勻域測試中相鄰測試點的最小間距。
2.如權利要求1所述的均勻域測試裝置，其特徵在於:所述場強探頭陣列的區域與電磁場輻射抗擾度均勻域測試所需的最大區域相一致。
3.如權利要求2所述的均勻域測試裝置，其特徵在於:所述場強探頭可拆卸地裝設在測試架上。
4.如權利要求1所述的均勻域測試裝置，其特徵在於:所述測試架包括底座、垂直立於底座之上且相互平行的兩個立柱及以預定高度間隔設置於立柱上且相互平行的若干水平橫杆，同一立柱上相鄰的橫杆的間距不小於電磁場輻射抗擾度均勻域測試中相鄰測試點的最小間距，兩立柱上同一高度的橫杆相對的端部的間距不小於電磁場輻射抗擾度均勻域測試中相鄰測試點的最小間距。
5.如權利要求4所述的均勻域測試裝置，其特徵在於:所述若干橫杆位於同一豎直平面內，所述若干場強探頭分別安裝於該若干橫杆的兩端，以使該等場強探頭形成適應均勻域測試的平面區域。
6.一種使用權利要求1至5所述的任一均勻域測試裝置進行均勻域測試的方法，其特徵在於包括如下步驟: a.將所述均勻域測試裝置放入均勻域驗證平面區域中，使若干場強探頭分別對應該頻段均勻域驗證平面區域中的測試點； b.進行第一頻段的均勻域的量測； c.更換發射天線以使其適應第二頻段的均勻域的量測； d.進行第二頻段的均勻域的量測； e.判定測試結果。
7.如權利要求6所述的均勻域測試的方法，其特徵在於:所述第一頻段為低頻段時，第二頻段為高頻段，當第一頻段為高頻段時，第二頻段為低頻段，該低頻段均勻域的量測中，使用低頻發射天線，該高頻段均勻域的量測中，使用高頻發射天線。
8.如權利要求6所述的均勻域測試的方法，其特徵在於所述第一頻段及第二頻段的均勻域的量測還包括如下步驟: f.發射預定極性的信號到該頻段均勻域驗證平面區域中； g.調節發射功率，使某一場強探頭讀到一個預定場強，記錄此時發射功率及其餘場強探頭的讀值； h.以特定步長增加發射頻率，直到該頻段的頻率上限，記錄各個頻率點的發射功率及各場強探頭的讀值； 1.更換發射信號的極性，重複步驟g，h。
9.如權利要求8所述的均勻域測試的方法，其特徵在於:所述低頻段的頻率範圍為80MHz 1000MHz，高頻段的頻率範圍為IGHz 3GHz。
全文摘要
一種均勻域測試裝置，適用於電磁場輻射抗擾度均勻域測試。該均勻域測試裝置包括測試架與安裝於測試架的若干場強探頭。該若干場強探頭位於同一平面內並呈陣列排布，位於同一行或同一列的相鄰的場強探頭的間距不小於電磁場輻射抗擾度均勻域測試中相鄰測試點的最小間距。同時提供一種使用該均勻域測試裝置進行電磁場輻射抗擾度均勻域測試的方法。
文檔編號G01R1/067GK103185841SQ20111044366
公開日2013年7月3日 申請日期2011年12月27日 優先權日2011年12月27日
發明者何小練 申請人:鴻富錦精密工業(深圳)有限公司, 鴻海精密工業股份有限公司