電纜測試儀的製作方法
2023-06-15 06:23:56
專利名稱:電纜測試儀的製作方法
技術領域:
本實用新型屬於一種測試電纜基本物理連接性能的電子儀器,特別涉及其結構的改進。
背景技術:
現有技術是利用八位單片機輸入/輸出埠與待測線兩頭連接進行測試,輸出埠發送測試信號在待測線上傳輸,輸入埠接收測試信號,通過八位單片機對測試信號的完整性進行判斷,從而得出測試結果;並利用輸入/輸出埠與液晶顯示屏驅動模塊連接,將顯示數據送至液晶顯示屏驅動模塊,顯示數據經液晶顯示屏驅動模塊處理後在液晶顯示屏上顯示。現有技術的缺點是,晶片採用八位單片機,顯示部分需要採用液晶顯示屏驅動模塊,存在成本昂貴,附加電路複雜、眾多的缺點。
發明內容
本實用新型為克服上述已有技術存在的缺點,提供一種改進的電纜測試儀。
本實用新型的結構為,測試插座1和測試插座2用以連接待測電纜兩端;晶片控制器4的顯示輸出引腳通過導線連接到液晶顯示屏5的輸入端引腳,晶片控制器的電源正極引腳通過導線連接到電源6正極,晶片控制器電源負極引腳通過導線與電源負極連接;晶片控制器通過信號發送埠通道與測試插座1連接,同時通過信號接收埠通道與測試插座2連接。晶片控制器通過晶振輸入埠引腳和晶振輸出埠引腳與晶體振蕩電路3連接。
本實用新型可以採用的四位單晶片控制器U1輸入/輸出引腳P00、P01為信號發送埠通道,輸入引腳P10、P11為信號接收埠通道,P00與測試插座1的一號引腳連接,P01與測試插座1的二號引腳連接,P10與測試插座2的一號引腳連接,P11與測試插座2的二號引腳連接,通過待測電纜形成一個信號發送接收回路。
晶片控制器U1的VDD引腳與電源正極VDD連接,VSS引腳與電源負極GND連接。
晶片控制器U1的引腳XIN1為晶振輸入埠,引腳XOUT1為晶振輸出埠,引腳XIN1與引腳XOUT1與晶體振蕩電路連接,XIN1與電容C5的一端連接,同時與晶振OSC的一端連接,XOUT1與電容C6的一端連接,同時與晶振OSC的另一端連接,電容C5連接C6並連接電源負極。
晶片控制器U1的COM0引腳和SEG0引腳為顯示輸出引腳,COM0引腳直接與液晶顯示屏輸入引腳COM0連接,SEG0引腳直接與液晶顯示屏輸入引腳SEG0連接,形成一個顯示輸出電路,直接驅動液晶顯示屏。
本實用新型採用四位單晶片內置液晶顯示驅動模塊控制器,由晶片控制器的SEG0和COM0引腳直接與液晶顯示屏連接並驅動液晶顯示屏,測試通道依靠控制器輸入/輸出引腳發送和接收信號,確定待測線纜的基本物理性能,如連通、開路、短路等等。由控制器直接驅動的液晶顯示屏顯示測試結果。本實用新型可以簡化電路,節省成本,用較低成本與較簡化電路達到與現有技術相當的測試目的。
附圖1是本實用新型原理框圖。
附圖2是本實用新型結構示意圖。
1測試插座、2測試插座、3晶體振蕩電路、4晶片控制器、5液晶顯示屏、6電源。
具體實施方式
本測試儀在單機測試時,要求線纜兩端分別連接在測試儀本身的測試插座1和測試插座2。四位單晶片控制器U1輸入/輸出引腳P00、P01為信號發送埠通道7,輸入引腳P10、P11為信號接收埠通道,輸入/輸出引腳P00與測試插座1的一號引腳連接,輸入/輸出引腳P01與測試插座1的二號引腳連接,輸入引腳P10與測試插座2的一號引腳連接,輸入引腳P11與測試插座2的二號引腳連接,通過待測電纜形成一個信號發送接收回路;信號從輸入/輸出引腳P00、P01至測試插座1通過線纜發送至測試插座2插座到達輸入引腳P10、P11。如引腳P00發送出來的信號在引腳P10處被接收,說明待測線纜完好,如未被接收,則說明待測線纜存在短路或開路狀況。
晶片控制器4的U1的VDD引腳與電源6正極VDD連接,VSS引腳與電源負極GND連接;晶振OSC和電容C1及C2構成晶體振蕩電路3,給晶片控制器U1提供合適的振蕩信號。
晶片控制器U1的液晶顯示屏5輸出引腳SEG0和COM0直接與液晶顯示屏對應輸入引腳SEG0和COM0連接控制液晶顯示屏,以顯示測試結果。
晶片控制器U1的引腳XIN1為晶振輸入埠,引腳XOUT1為晶振輸出埠,引腳XIN1與引腳XOUT1與晶體振蕩電路連接,XIN1與電容C5的一端連接,同時與晶振OSC的一端連接,XOUT1與電容C6的一端連接,同時與晶振OSC的另一端連接,電容C5連接C6並連接電源負極;晶片控制器U1的COM0引腳和SEG0引腳為顯示輸出引腳,COM0引腳直接與液晶顯示屏輸入引腳COM0連接,SEG0引腳直接與液晶顯示屏輸入引腳SEG0連接,形成一個顯示輸出電路,直接驅動液晶顯示屏,以顯示測試結果。
為達到更好的測試目的,輸入/輸出引腳P00、P01可擴展為P00、P01、P02…P0n(n>1),相應的輸入引腳P10、P11可擴展為P10、P11、P12……P0n(n>1),為達到更好的測試結果顯示目的,液晶顯示屏控制線可擴展為COM0、COM1、COM2、COM3……COMn(n>0);SEG0、SEG1、SEG2…………SEGn(n>0)。
本實用新型工作原理舉例本測試儀所使用的單晶片控制器輸入/輸出引腳P00、P01為信號發送埠通道,輸入引腳P10、P11為信號接收埠通道。引腳VDD、XOUT1、XIN1連接晶振電路,引腳COM0、SEG0與液晶顯示屏對應引腳連接。
1、單機測試線纜兩端連接關係判斷本測試儀在單機測試時要求線纜兩端分別連接在測試儀本身的測試插座1和測試插座2。測試時U1的輸入/輸出P00、P01為測試信號發送埠通道7,輸入P10、P11為測試信號接收埠通道8,從而形成信號發送/接收回路。將線纜一端插入本機測試插座1,另一端插入測試插座2,本機自動對線纜進行開路、短路、連接關係等等檢測。信號從輸入/輸出引腳P00、P01至測試插座1通過線纜發送至測試插座2到達輸入引腳P10、P11。
例如如引腳P00發送出來的信號在引腳P10處被接收,說明待測線纜完好,如未被接收或被引腳P11接收,則說明待測線纜存在開路或短路狀況。
2、液晶顯示由晶片控制器U1的液晶顯示輸出引腳SEG0、COM0直接控制液晶顯示屏顯示,控制器液晶顯示輸出引腳SEG0和COM0連接到液晶顯示屏相應輸入引腳SEG0、COM0控制液晶顯示屏顯示。
3、本測試儀電源採用AAA電池做電源,並以控制器直接控制整個系統運作節能方案。
在控制器內部,採用了能讓整個系統充分節能的方案,配合外圍電路設計,整個系統最低耗電電流達到0.1毫安以下,充分利用了能源。
4、雙機測試線纜兩端連接關係判斷本實用新型也可以用兩臺相同機器測試,一臺為主機,另一臺為從機,按所規定埠(主機為測試插座1,從機為測試插座1)插上線纜後(要求所連接線纜至少有兩根連通),主機的測試插座1通過線纜連接至從機的測試插座1,主、從機自動通過握手信號連通後,主機控制器發送測試信號從輸入/輸出引腳P00-P01至測試插座1,通過線纜到達從機測試插座1後,送至從機控制器輸入/輸出引腳P00-P01;相反,從機控制器也發送測試信號從輸入/輸出引腳P00-P01至從機的測試插座1,通過線纜到達主機測試插座1後送至主機控制器輸入/輸出引腳P00-P01,雙方得到測試結果,再通過控制器將測試結果數據分別顯示在兩臺機器的液晶顯示屏5上。
也可以將測試電纜從主機的測試插座1連接從機的測試插座2。工作原理同上。
權利要求1.一種電纜測試儀,其特徵在於,晶片控制器(4)的顯示輸出引腳通過導線連接到液晶顯示屏(5)的輸入端引腳,晶片控制器的電源正極引腳通過導線連接到電源(6)正極,晶片控制器電源負極引腳通過導線與電源負極連接;晶片控制器通過信號發送埠通道(7)與測試插座(1)連接,同時通過信號接收埠通道(8)與測試插座(2)連接;晶片控制器通過晶振輸入埠引腳和晶振輸出埠引腳與晶體振蕩電路(3)連接。
2.按照權利要求1所述電纜測試儀的,其特徵在於,測試插座(1)和測試插座(2)用以連接待測電纜兩端;四位單晶片控制器U1輸入/輸出引腳P00、P01為信號發送埠通道,輸入引腳P10、P11為信號接收埠通道,輸入/輸出引腳P00與測試插座(1)的一號引腳連接,輸入/輸出引腳P01與測試插座(1)的二號引腳連接,輸入引腳P10與測試插座(2)的一號引腳連接,輸入引腳P11與測試插座(2)的二號引腳連接,通過待測電纜形成一個信號發送接收回路;晶片控制器U1的VDD引腳與電源正極VDD連接,VSS引腳與電源負極GND連接;晶片控制器U1的引腳XIN1為晶振輸入埠,引腳XOUT1為晶振輸出埠,引腳XIN1與引腳XOUT1與晶體振蕩電路連接,XIN1與電容C5的一端連接,同時與晶振OSC的一端連接,XOUT1與電容C6的一端連接,同時與晶振OSC的另一端連接,電容C5連接C6並連接電源負極;晶片控制器U1的COM0引腳和SEG0引腳為顯示輸出引腳,COM0引腳直接與液晶顯示屏輸入引腳COM0連接,SEG0引腳直接與液晶顯示屏輸入引腳SEG0連接,形成一個顯示輸出電路,直接驅動液晶顯示屏。
專利摘要本實用新型屬於一種測試電纜基本物理連接性能的電子儀器,特別涉及其結構的改進。電纜測試儀,其特徵在於,晶片控制器的顯示輸出引腳通過導線連接到液晶顯示屏的輸入端引腳,晶片控制器的電源正極引腳通過導線連接到電源正極,晶片控制器電源負極引腳通過導線與電源負極連接;晶片控制器通過信號發送埠通道與一測試插座連接,同時通過信號接收埠通道與另一測試插座連接。晶片控制器通過晶振輸入埠引腳和晶振輸出埠引腳與晶體振蕩電路連接。本實用新型可以簡化電路,節省成本,用較低成本與較簡化電路達到與現有技術相當的測試目的。
文檔編號G01R31/00GK2786638SQ20042011488
公開日2006年6月7日 申請日期2004年12月27日 優先權日2004年12月27日
發明者沈科學 申請人:沈科學