一種x光機系統集成發生器耐壓測試電路的製作方法
2023-06-10 02:29:26
一種x光機系統集成發生器耐壓測試電路的製作方法
【專利摘要】本實用新型公開一種X光機系統集成發生器耐壓測試電路，包括一正極檢測電路及一負極檢測電路，所述正極檢測電路一端與X光機系統正極電路連接，另一端接地；所述負極檢測電路一端與X光機系統負極電路連接，另一端接地。本實用新型使得調試人員在裝配場地就能進行耐壓測試，從而大大方便了調試人員的調試流程，提高了生產效率。同時也不再需要為該耐壓測試專門製作測試設備，從而節約了成本。
【專利說明】一種X光機系統集成發生器耐壓測試電路
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及耐壓測試電路，更確切地說是一種X光機系統集成發生器耐壓測試電路。
【背景技術】
[0002]一套完成的X光機系統一般包括球管、高壓發生器、機架、圖像系統等四個部分。外部交流電源從高壓發生器接入系統，在高壓發生器內首先經濾波後轉換成直流電源，接下來直流電源將通過逆變模塊成為高頻的交流，該高頻交流輸入油箱，油箱內部的高壓變壓器會將該高頻交流變壓成為高頻高壓的交流，最後經整流濾波後輸入到球管。球管接受高壓並加載到陰極和陽極，同時加熱燈絲，使燈絲髮射出點子流轟擊陽極靶面，從而產生X射線。X射線穿透人體組織，到達接收器，接收器接收X射線，並將接收的X線光子轉換成電荷，再由薄膜電晶體陣列將電信號讀出並經AD轉換成數位訊號後將數據通過光纖傳送至電腦，電腦讀取數據並處理後將圖像顯示在顯示器上。機架則用來承載球管、接收器和病人，醫生可控制球管和接收器以及床面的轉動來獲取最佳的拍攝位置。
[0003]X光機的成像效果一般受3個主要因素控制:電壓kV、電流mA、曝光時間t，其中電壓kV決定了 X射線的能量大小，即穿透力的強弱，電流mA和曝光時間的乘積即mAs決定了X射線數量的多少，即感光力的強弱。
[0004]對於X光機系統中使用的發生器，根據GB9706.3-2000醫用電氣設備第2部分:診斷X射線發生裝置的高壓發生器安全專用要求20.3試驗電壓值增補要求:試驗時不接X射線管，試驗電壓應為高壓發生器標稱X射線管電壓的1.2倍。即對於一個輸出電壓範圍40kV?150kV的發生器來說，根據標準要求應能以90kV的試驗電壓開始，在IOs內升到180kV，並維持 3min。
[0005]對於該標準要求，大部分發生器的做法是為該測試專門定製一套測試設備，在需要進行測試的時候將裝置連接於測試設備，對測試設備進行操作來進行測試。
[0006]但由於測試設備一般數量較少，當發生器訂單較多時往往滿足不了測試需要，並且由於測試裝置往往與發生器裝配、調試不在一個調試間，需要測試人員運載裝置至測試點進行測試，需要多耗費人力和時間。
實用新型內容
[0007]本實用新型的目的是提供一種X光機系統集成發生器耐壓測試電路，其可以解決現有技術中費時費力的缺點。
[0008]本實用新型採用以下技術方案:
[0009]一種X光機系統集成發生器耐壓測試電路，包括一正極檢測電路及一負極檢測電路，所述正極檢測電路一端與X光機系統正極電路連接，另一端接地；所述負極檢測電路一端與X光機系統負極電路連接，另一端接地。
[0010]所述正極檢測電路包括一第五電阻。[0011 ] 所述負極檢測電路包括一第十電阻。
[0012]所述X光機系統正極電路包括一第十A電阻，所述第十A電阻的一端連接一高壓反饋輸出端，所述第十A電阻的另一端連接一第十五電阻，且所述第十五電阻另一端接地，所述第十A電阻的另一端串聯一第二電阻，所述第二電阻的另一端連接一第一正極運算放大器的一反相輸入端，且所述第十A電阻的另一端串聯一第一電容及一第一電阻後連接第一正極運算放大器的同相輸入端，第一正極運算放大器的電源負串聯一第五電容及一第十一電阻後連接一第二正極運算放大器的同相輸入端，第一正極運算放大器的電源正極連接一第六電容後接地，所述第一正極運算放大器的輸出端並聯一第十二電阻後連接一第二正極運算放大器的反相輸入端，所述第二正極運算放大器的電源負極連接一第七電阻後接地，所述第二正極運算放大器的電源正極連接一第八電容後接地；還包括一第十三電阻，其兩端連接於所述第二正極運算放大器的同相輸入端及其輸出端；還包括一第一電容，其兩端連接於所述第十A電阻及所述第一電阻之間；還包括一第三電阻，所述第三電阻的一端連接於第一正極運算放大器的反相輸入端，另一端接地；還包括第三雙向觸發二極體，所述三雙向觸發二極體一端連接一所述第一電容及第一電阻之間，另一端接地；還包括一第五二極體，其負極連接於所述第二電阻及所述第一運算放器之間；還包括一第四電阻及第三電容，所述第四電阻及所述第三電容兩端均連接於所述第二正極運算放大器的反相輸入端及其輸出端；還包括一第六二極體，其正極端連接於所述第二電阻及所述第一運算放器之間。
[0013]所述X光機系統負極電路包括一第十B電阻，所述第十B電阻的一端連接一高壓反饋輸入端，所述第十B電阻另一端連接一第十五電阻，且所述第十五電阻另一端接地，所述第十A電阻的另一端串聯一第二電容及一第六電阻後連接一第一負極運算放大器的一同相輸入端，且所述第十B電阻的另一端串聯及一第七電阻後連接第一負極運算放大器的反相輸入端，所述第一負極運算放大器的輸出端並聯一第十四電阻；還包括一第七二極體，其負極連接於所述第七電阻及所述第一負極運算放器反相輸入端之間；還包括一第九電阻及第四電容，第九電阻及第四電容兩端均連接於所述第二運算放大器的反相輸入端及其輸出端；還包括一第八二極體，其正極端連接於所述第七電阻及所述第一負極運算放器之間。
[0014]本實用新型的優點是:本實用新型使得調試人員在裝配場地就能進行耐壓測試，從而大大方便了調試人員的調試流程，提高了生產效率。同時也不再需要為該耐壓測試專門製作測試設備，從而節約了成本。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0015]下面結合實施例和附圖對本實用新型進行詳細說明，其中:
[0016]圖1是本實用新型X光機系統正極電路的結構示意圖。
[0017]圖2是本實用新型X光機系統負極電路的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0018]下面結合附圖進一步闡述本實用新型的【具體實施方式】:
[0019]一種X光機系統集成發生器耐壓測試電路，包括一正極檢測電路及一負極檢測電路，所述正極檢測電路一端與X光機系統正極電路連接，另一端接地；所述負極檢測電路一端與X光機系統負極電路連接，另一端接地。
[0020]所述正極檢測電路包括一第五電阻。
[0021 ] 所述負極檢測電路包括一第十電阻。
[0022]所述X光機系統正極電路包括一第十A電阻R10A，所述第十A電阻的一端連接一高壓反饋輸出端(該處的電壓為VIN)，所述第十A電阻的另一端連接一第十五電阻R15，且所述第十五電阻另一端接地，所述第十A電阻的另一端串聯一第二電阻R2，所述第二電阻的另一端連接一第一正極運算放大器UlA的一反相輸入端，且所述第十A電阻的另一端串聯一第一電容Cl及一第一電阻Rl後連接第一正極運算放大器的同相輸入端，第一正極運算放大器的電源負極串聯一第五電容及一第十一電阻Rll後連接一第二正極運算放大器U2A的同相輸入端，第一正極運算放大器的電源正極連接一第六電容C6後接地，所述第一正極運算放大器的輸出端並聯一第十二電阻後R12連接一第二正極運算放大器的反相輸入端，所述第二正極運算放大器的電源負極連接一第七電阻R7後接地，所述第二正極運算放大器的電源正極連接一第八電容CS後接地；還包括一第十三電阻R13，其兩端連接於所述第二正極運算放大器的同相輸入端及其輸出端；還包括一第一電容Cl，其兩端連接於所述第十A電阻及所述第一電阻Rl之間；還包括一第三電阻R3，所述第三電阻的一端連接於第一正極運算放大器的反相輸入端，另一端接地；還包括第三雙向觸發二極體D3，所述三雙向觸發二極體一端連 接一所述第一電容及第一電阻之間，另一端接地；還包括一第五二極體D2，其負極連接於所述第二電阻及所述第一運算放器之間；還包括一第四電阻R4及第三電容C3，所述第四電阻及所述第三電容兩端均連接於所述第二正極運算放大器的反相輸入端及其輸出端；還包括一第六二極體D6，其正極端連接於所述第二電阻及所述第一運算放器之間。
[0023]所述X光機系統負極電路包括一第十B電阻R10B，所述第十B電阻的一端連接一高壓反饋輸入端(-VIN)，所述第十B電阻另一端連接一第十五電阻R15，且所述第十五電阻另一端接地，所述第十A電阻的另一端串聯一第二電容C2及一第六電阻R6後連接一第一負極運算放大器的UlB —同相輸入端，且所述第十B電阻的另一端串聯及一第七電阻R7後連接第一負極運算放大器的反相輸入端，所述第一負極運算放大器的輸出端並聯一第十四電阻R14 ;還包括一第七二極體D7，其負極連接於所述第七電阻R7及所述第一負極運算放器之間；還包括一第九電阻R9及第三電容C4，所述第九電阻R9及第三電容C4兩端均連接於所述第一負極運算放大器的UlB的反相輸入端及其輸出端；還包括一第八二極體D8，其正極端連接於所述第七電阻及所述第一負極運算放器反相輸入端之間；還包括一第十六電阻R16，其一端連接於所述第一負極運算放器之間同向輸入端，另一端接地。
[0024]陽極反饋電路的工作原理如下:
[0025]在一般模式(非180KV)時JPl沒有連接上，所以反饋比例為:
[0026]m-M=:1lR2Vm ;V1為第十A電阻與第二電阻R2之間的電壓；
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【權利要求】
1.一種X光機系統集成發生器耐壓測試電路，其特徵在於，包括一正極檢測電路及一負極檢測電路，所述正極檢測電路一端與X光機系統正極電路連接，另一端接地；所述負極檢測電路一端與X光機系統負極電路連接，另一端接地。
2.根據權利要求1所述的X光機系統集成發生器耐壓測試電路，其特徵在於，所述正極檢測電路包括一第五電阻。
3.根據權利要求1所述的X光機系統集成發生器耐壓測試電路，其特徵在於，所述負極檢測電路包括一第十電阻。
4.根據權利要求2或3所述的X光機系統集成發生器耐壓測試電路，其特徵在於，所述X光機系統正極電路包括一第十A電阻，所述第十A電阻的一端連接一高壓反饋輸出端，所述第十A電阻的另一端連接一第十五電阻，且所述第十五電阻另一端接地，所述第十A電阻的另一端串聯一第二電阻，所述第二電阻的另一端連接一第一正極運算放大器的一反相輸入端，且所述第十A電阻的另一端串聯一第一電容及一第一電阻後連接第一正極運算放大器的同相輸入端，第一正極運算放大器的電源負串聯一第五電容及一第十一電阻後連接一第二正極運算放大器的同相輸入端，第一正極運算放大器的電源正極連接一第六電容後接地，所述第一正極運算放大器的輸出端並聯一第十二電阻後連接一第二正極運算放大器的反相輸入端，所述第二正極運算放大器的電源負極連接一第七電阻後接地，所述第二正極運算放大器的電源正極連接一第八電容後接地；還包括一第十三電阻，其兩端連接於所述第二正極運算放大器的同相輸入端及其輸出端；還包括一第一電容，其兩端連接於所述第十A電阻及所述第一電阻之間；還包括一第三電阻，所述第三電阻的一端連接於第一正極運算放大器的反相輸入端，另一端接地；還包括第三雙向觸發二極體，所述三雙向觸發二極體一端連接一所述第一電容及第一電阻之間，另一端接地；還包括一第五二極體，其負極連接於所述第二電阻及所述第一運算放器之間；還包括一第四電阻及第三電容，所述第四電阻及所述第三電容兩端均連接於所述第二正極運算放大器的反相輸入端及其輸出端；還包括一第六二極體，其正極端連接於所述第二電阻及所述第一運算放器之間。
5.根據權利要求2或3所述的X光機系統集成發生器耐壓測試電路，其特徵在於，所述X光機系統負極電路包括一第十B電阻，所述第十B電阻的一端連接一高壓反饋輸入端，所述第十B電阻另一端連接一第十五電阻，且所述第十五電阻另一端接地，所述第十A電阻的另一端串聯一第二電容及一第六電阻後連接一第一負極運算放大器的一同相輸入端，且所述第十B電阻的另一端串聯及一第七電阻後連接第一負極運算放大器的反相輸入端，所述第一負極運算放大器的輸出端並聯一第十四電阻；還包括一第七二極體，其負極連接於所述第七電阻及所述第一負極運算放器反相輸入端之間；還包括一第九電阻及第四電容，第九電阻及第四電容兩端均連接於所述第二運算放大器的反相輸入端及其輸出端；還包括一第八二極體，其正極端連接於所述第七電阻及所述第一負極運算放器之間。
【文檔編號】G01R31/14GK203414567SQ201320442056
【公開日】2014年1月29日 申請日期:2013年7月23日 優先權日:2013年7月23日
【發明者】不公告發明人 申請人:上海康達醫學科技有限公司