一種對勘探測井的電容率頻散測量方法和應用方法

2023-06-28 23:30:46

一種對勘探測井的電容率頻散測量方法和應用方法
【專利摘要】一種針對油氣田測井、地下水資源勘探、導電金屬礦物勘探中使用的電容率頻散測量方法及應用方法，測量方法是向被測大地或井下地層A、B兩點之間供給不低於兩個頻率的交變電流，獲取不低於兩個頻率的無功電流Ix或容抗XC或電容C或離子電容率ε。應用方法是，採用新公式計算獲得頻散度Fd，以Fd高異常識別地下水資源，以Fd低異常且離子電容率為低值顯示含油氣，以Fd低異常且離子電容率為高值顯示導電金屬礦藏，在測井工程中採用公式計算含水飽和度。本發明的有益效果及優點是：提供了一種直觀顯示資源類型的勘探測井方法，能夠提高地下水資源、導電金屬礦藏和油氣資源的勘探成效。
【專利說明】一種對勘探測井的電容率頻散測量方法和應用方法

【技術領域】：
[0001] 本發明涉及一種對勘探及測井的電容率頻散測量方法和應用方法，特別是針對油 氣田測井、地下水資源勘探、導電金屬礦物勘探工程中使用的一種對勘探測井的電容率頻 散測量方法。

【背景技術】：
[0002] 現有技術中，電法勘探及測井一般採用電阻率法或阻抗法或激發極化法或復電阻 率法或雙電法進行測量。該類技術的共同之處是，無法僅僅依靠本參數對被測物體進行定 性分析，需要外加其它物理參數綜合對比分析後才能得到近似的解釋結論，因此，適用範圍 及應用效果受到一定的制約。


【發明內容】
：
[0003] 本發明的目的，為了克服現有技術的不足，提供一種對勘探測井的電容率頻散測 量方法和應用方法。
[0004] 依據本發明的一方面設計方案為：提供一種對勘探測井的電容率頻散測量方法， 其方法包括：1、向被測量的大地或井下地層A、B兩點之間，以掃頻方式或組合波形方式在 0Hz至ΙΟΚΗζ頻率區間內，供給不低於兩個頻率的交變電流，電流流經大地或井下地層後， 形成電壓V、模電流Iz、相位Θ、有功電流l r和無功電流Ιχ待測信息；2、按照常規方法中選 用任意一種方式測量獲取大地或井下地層的不低於兩個頻率的無功電流lx或不低於兩個 頻率的容抗X。或不低於兩個頻率的電容C，3、採用公式ε =KcXC獲得不低於兩個頻率離 子電容率ε，公式中C為實測電容量值，ε為離子電容率，離子電容率的量綱為法拉/米， F/m，Kc為電極係數，Kc的單位，1/m。
[0005] 依據本發明的另一方面設計方案為：提供一種對勘探測井的電容率頻散應用方 法，其方法包括，1、採用新公式：

【權利要求】
1. 一種針對勘探測井的電容率頻散測量方法，其特徵是向被測量的大地或井下地層 A、B兩點之間，以掃頻方式或組合波形方式在OHz至ΙΟΚΗζ頻率區間內，供給不低於兩個頻 率的交變電流，按照常規方法中選用任意一種方式測量獲取大地或井下地層的不低於兩個 頻率的無功電流lx或不低於兩個頻率的容抗X。或不低於兩個頻率的電容C，或不低於兩個 頻率離子電容率ε。
【文檔編號】G01V3/24GK104122593SQ201310149092
【公開日】2014年10月29日 申請日期:2013年4月26日 優先權日:2013年4月26日
【發明者】曾玉婷, 鮮地, 鄧友明 申請人:鄧友明