一種用於x螢光光譜鍍層分析儀的準直器的製作方法
2023-06-27 20:14:16
專利名稱：一種用於x螢光光譜鍍層分析儀的準直器的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種X螢光光譜鍍層分析儀，具體涉及一種用於x螢光光譜鍍層
分析儀的準直器。
背景技術：
X螢光光譜分析儀器是使用X射線照射試樣，對產生的X射線螢光進行解析，用以 分析試樣元素和含量的裝置。由於X螢光光譜儀器使用方便、快捷，精度高，成本低等特點， 已經在很多行業得到廣泛的應用。 現有技術中，其分析樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用於煉 鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定 性分析，並能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。 X螢光光譜鍍層分析儀器是X螢光光譜分析儀中的一種，主要用於對尺寸範圍較 大的部件上進行鍍層厚度分析和含量的逐點測試，其主要原理是光源系統發射出X螢光，X 螢光作用在樣品上後，樣品中的各個X會被激發出特徵X螢光，這些X螢光被探測器系統所 接收，分析轉化為電信號，電信號經過系統模塊的處理，進而得到用戶所需要的分析信息。 目前對於準直器上的小孔加工一直是X螢光光譜鍍層分析儀的技術難點，已知的 對於直徑小於0. 3mm的小孔利用一般的傳統加工工藝是很難實現的，即使採用一些特種加 工的方法也存在加工成本高和良品率低下的問題。 因此對現有的X螢光光譜鍍層分析儀的準直器及其加工方法進行改進已成為本 技術領域中亟待解決的技術問題。
實用新型內容本實用新型的目的在於克服上述技術的不足，提供一種用於X螢光光譜鍍層分析 儀的準直器，其解決了原有X螢光光譜鍍層分析儀的準直器加工存在的技術缺陷和設計弊
丄山順。 本實用新型為滿足上述目的，採用以下技術方案一種用於X螢光光譜鍍層分析 儀的準直器，所述準直器由三個片體組成，其中，第一片體的一長邊與第二片體的一長邊對 齊拼接，第三片體疊放在所述第一片體與所述第二片體上，所述第一片體或所述第二片體 的中的一長邊的中部開設有一微槽，所述第三片體的中部開設有一長槽，所述微槽與所述 長槽在長度方向上垂直疊放。 更進一步，所述微槽的長大於等於所述長槽的寬。 更進一步，所述第一片體、所述第二片體面積相等。 更進一步，所述第三片體的面積等於所述第一片體與所述第二片體面積之和。 更進一步，所述長槽為啞鈴形。 更進一步，所述第三片體上還設有沉頭孔。
基於上述設計，本實用新型的優點在於整個準直器結構簡單；實現了傳統工藝
3較難實現的微孔的加工；精度得到了很好的保證；推動了 X螢光光譜鍍層分析儀的發展。 本實用新型的其他目的和優點可以從本實用新型所揭露的技術特徵中得到進一 步的了解。為讓本實用新型之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例 並配合所附圖式，作詳細說明如下。
圖1是本實用新型之一實施例的一種用於X螢光光譜鍍層分析儀的準直器的第一 片體與第二片體拼接結構示意圖； 圖2是第三片體疊放在第一與第二片體上後組成本實用新型的準直器的結構示 意圖； 圖1中的標號說明第一片體1、第二片體2、第三片體3、微槽4、長槽5、沉頭孔6。 具體實施方案 請參考圖1及圖2所示，本實用新型的一種用於X螢光光譜鍍層分析儀的準直器， 其由三個片體組成，其中，第一片體1的一長邊與第二片體2的一長邊對齊拼接，第三片體3 疊放在第一片體1與第二片體2上，第一片體1或第二片體2的中的一長邊的中部開設有 一微槽4，第三片體3的中部開設有一長槽5，微槽4與長槽5在長度方向上垂直疊放，微槽 4的長大於等於長槽5的寬，第一片體1、第二片體2面積相等，第三片體3的面積等於第一 片體1與第二片體2面積之和，長槽5為啞鈴形，第三片體3上還設有沉頭孔6，本實用新型 中沉頭孔6的數量為四個用於準直器的固定。 本實用新型的X螢光光譜鍍層分析儀的準直器就是利用長槽5與微槽4的結構實 現了傳統的準直器的微孔，加工工藝十分簡便，只能控制微槽4的長度與寬度就能實現精 度很高的準直器。
權利要求一種用於X螢光光譜鍍層分析儀的準直器，其特徵在於所述準直器由三個片體組成，其中，第一片體的一長邊與第二片體的一長邊對齊拼接，第三片體疊放在所述第一片體與所述第二片體上，所述第一片體或所述第二片體的中的一長邊的中部開設有一微槽，所述第三片體的中部開設有一長槽，所述微槽與所述長槽在長度方向上垂直疊放。
2. 如權利要求1所述的X螢光光譜鍍層分析儀的準直器，其特徵在於所述微槽的長 大於等於所述長槽的寬。
3. 如權利要求1所述的X螢光光譜鍍層分析儀的準直器，其特徵在於所述第一片體 與所述第二片體面積相等。
4. 如權利要求1所述的X螢光光譜鍍層分析儀的準直器，其特徵在於所述第三片體 的面積等於所述第一片體與所述第二片體面積之和。
5. 如權利要求1所述的X螢光光譜鍍層分析儀的準直器，其特徵在於所述長槽為鵬 鈴形。
6. 如權利要求1所述的X螢光光譜鍍層分析儀的準直器，其特徵在於所述第三片體 上還設有沉頭孔。
專利摘要本實用新型涉及一種用於X螢光光譜鍍層分析儀的準直器，其由三個片體組成，第一片體的一長邊與第二片體的一長邊對齊拼接，第三片體疊放在第一片體與第二片體上，第一片體或第二片體中的一長邊的中部開設有一微槽，第三片體的中部開設有一長槽，微槽與長槽在長度方向上垂直疊放，微槽的長大於等於長槽的寬，第一片體、第二片體面積相等，第三片體的面積等於第一片體與第二片體面積之和，長槽為啞鈴形。整個準直器結構簡單；實現了傳統工藝較難實現的微孔的加工；精度得到了很好的保證；推動了X螢光光譜鍍層分析儀的發展。其適用於環境保護、臨床醫學、農業、地質冶金、製藥行業、石化行業等行業的X螢光光譜鍍層分析儀之用。
文檔編號G01N23/223GK201497713SQ20092023468
公開日2010年6月2日 申請日期2009年8月12日 優先權日2009年8月12日
發明者劉召貴, 黃清華 申請人:江蘇天瑞儀器股份有限公司