一種電阻測量裝置的製作方法

2023-06-02 13:14:06

專利名稱：一種電阻測量裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種電子元件參數測量裝置，具體為一種電阻測量裝置。
背景技術：
目前，測量電阻的方法主要有伏安法和萬用表電阻檔測量法。前者需要同時測量電壓和電流，由於受到伏特表或安培表內阻的影響，測量精度受限；後者由於受到電池內阻的影響，測量結果也不夠準確。

發明內容
本發明的目的在於克服現有技術的不足，提供一種測量結果較為準確的電阻測量 裝置。為了實現上述目的，本發明採取以下技術方案一種電阻測量裝置，包括可調電阻、被測電阻、第一電流表、第二電流表、電源、開關和限流電阻，所述被測電阻與所述第一電流表串聯連接構成第一支路，所述可調電阻與所述第二電流表串聯連接構成第二支路；所述第一支路和所述第二支路並聯連接；由所述第一支路和所述第二支路並聯連接的電路再與所述電源、所述開關和所述限流電阻串聯連接構成閉合電路。進一步的，所述可調電阻為標準電阻箱。進一步的，所述第一電流表和所述第二電流表的內阻相同、量程相同、精確度等級相同。實際測量時，調節所述可調電阻的阻值，使所述第二電流表的讀數與所述第一電流表的讀數相等，此時流經所述可調電阻和所述被測電阻的電流相等，所述可調電阻和所述被測電阻的端電壓相等，故此時所述可調電阻的阻值與所述被測電阻的阻值相等，由此測得所述被測電阻的阻值。本發明由於採用上述設計，克服了傳統電阻測量法的不足，其結構簡單，實用方便，有利於電阻值的準確測量。


下面結合附圖對本發明作進一步說明。圖I是本發明電阻測量裝置的電路原理圖。圖中1.可調電阻，2.被測電阻，3.第一電流表，4.第二電流表，5.電源，6.開關，
7.限流電阻。
具體實施例方式如圖I所示，本發明的電阻測量裝置包括可調電阻I、被測電阻2、第一電流表3、第二電流表4、電源5、開關6和限流電阻7，被測電阻2與第一電流表3串聯連接構成第一支路，可調電阻I與第二電流表4串聯連接構成第二支路；所述第一支路和所述第二支路並聯連接；由所述第一支路和所述第二支路並聯連接的電路再與電源5、開關6和限流電阻7串聯連接構成閉合電路。可調電阻I為標準電阻箱。第一電流表3和第二電流表4的內阻相同、量程相同、精確度等級相同。限流電阻7用於控制電路中電流的大小，防止電路中的電流過大。
具體測量時，閉合開關6接通電路，調節可調電阻I的阻值使第二電流表4的讀數和第一電流表3的讀數相等，此時被測電阻2的阻值即為可調電阻I的阻值，該阻值可直接在電阻箱上讀出。
權利要求
1.一種電阻測量裝置，其特徵在於包括可調電阻(I)、被測電阻(2)、第一電流表(3)、第二電流表(4)、電源(5)、開關(6)和限流電阻(7)，所述被測電阻⑵與第一電流表(3)串聯連接構成第一支路，所述可調電阻(I)與第二電流表(4)串聯連接構成第二支路；所述第一支路和所述第二支路並聯連接；由所述第一支路和所述第二支路並聯連接的電路再與所述電源(5)、開關(6)和限流電阻(7)串聯連接構成閉合電路。
2.根據權利要求I所述的一種電阻測量裝置，其特徵在於所述可調電阻(I)為標準電阻箱。
3.根據權利要求I所述的一種電阻測量裝置，其特徵在於所述第一電流表(3)和第二電流表(4)的內阻相同、量程相同、精確度等級相同。
全文摘要
本發明公開了一種電阻測量裝置，包括可調電阻、被測電阻、第一電流表、第二電流表、電源、開關和限流電阻，所述被測電阻與所述第一電流表串聯連接構成第一支路，所述可調電阻與所述第二電流表串聯連接構成第二支路；所述第一支路和所述第二支路並聯連接；由所述第一支路和所述第二支路並聯連接的電路再與所述電源、所述開關和所述限流電阻串聯連接構成閉合電路。本發明結構簡單，實用方便，有利於電阻值的準確測量。
文檔編號G01R27/08GK102707148SQ201210181449
公開日2012年10月3日 申請日期2012年6月1日 優先權日2012年6月1日
發明者朱純, 覃巧玲, 陳健 申請人:江南大學