自動選擇被測樣品最優光譜帶寬測量條件的裝置的製作方法
2023-06-03 15:25:26 1
專利名稱：自動選擇被測樣品最優光譜帶寬測量條件的裝置的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種光譜帶寬測量裝置，尤其是一種自動選擇被測樣品最優光譜帶寬測量條件的裝置。
背景技術：
在分子吸收分光光度法通則中提到，根據待測物的類別及檢驗要求，需要選擇適宜的狹縫寬度。在保持入射光和透射光狹縫寬度一致的情況下，調節狹縫寬度，使狹縫透出的光譜帶寬小於樣品吸收帶的帶寬。狹縫寬度的選擇，應以減少狹縫寬度時待測物的吸光度不再增加為準。在使用光度計等光譜分析儀器進行樣品的樣品檢測時，其檢測的結果與光度計的光譜帶寬數值之間存在很大對應關係，若希望獲得被測樣品最真實的吸光度或者透過率， 選擇最佳的光譜帶寬條件就是主要因素之一。然而，目前市場上所有的光度計或者光譜儀器都不具備自動選擇最優光譜帶寬功能或技術。
實用新型內容針對上述技術中存在的不足之處，本實用新型提供一種可以幫助光度計或者其他光譜儀實現自動選擇最優光譜帶寬功能，為分析測試工作者提供極大的方便，提高測試數據準確性的自動選擇被測樣品最優光譜帶寬測量條件的裝置。為實現上述目的，本實用新型提供一種自動選擇被測樣品最優光譜帶寬測量條件的裝置，由連續可變狹縫裝置、光譜分析裝置以及計算機構成，所述連續可變狹縫裝置通過數據線與所述光譜分析裝置中的控制板相連接，所述光譜分析裝置通過RS232串口或USB 線與所述計算機連接。所述連續可變狹縫裝置通過固定釘安裝在所述光譜分析裝置的內部。所述光譜分析裝置為光度計，所述連續可變狹縫裝置通過數據線與所述光度計中的控制板相連接。所述光度計通過RS232串口或USB線與所述計算機連接。與現有技術相比，本實用新型具有以下優點本實用新型提供的自動選擇被測樣品最優光譜帶寬測量條件的裝置，由連續可變狹縫裝置、光譜分析裝置以及計算機構成，連續可變狹縫裝置通過數據線與光譜分析裝置中的控制板相連接，光譜分析裝置通過RS232串口或USB線與計算機連接。連續可變狹縫裝置通過固定釘安裝在光譜分析裝置的內部，該光譜分析裝置為光度計。本實用新型可幫助光度計或其他光譜分析裝置實現自動選擇最優光譜帶寬功能，為分析測試工作者提供極大的方便，提高測試數據的準確性；由於是儀器自動調節光譜帶寬並掃描數據，所以極大的節省測試時間，並且提高了工作效率。
[0011]圖1為本實用新型的結構框圖；圖2為通過本實用新型對青黴素鉀樣品在0. lnm-5. Onm不同光譜帶寬下進行的50 個光譜寬度的光譜測定疊加圖。主要元件符號說明如下1連續可變狹縫裝置 2光度計3計算機4控制板
具體實施方式
為了更清楚的表述本實用新型，
以下結合附圖對本實用新型作進一步的描述。本實用新型提供的自動選擇被測樣品最優光譜帶寬測量條件的裝置，由連續可變狹縫裝置、光譜分析裝置以及計算機構成，連續可變狹縫裝置通過數據線與光譜分析裝置中的控制板相連接，光譜分析裝置通過RS232串口或USB線與計算機連接。連續可變狹縫裝置通過固定釘安裝在光譜分析裝置的內部。如圖1所示，在本實施例中，該光譜分析裝置為光度計2，連續可變狹縫裝置1通過固定釘安裝在光度計2的內部，並通過數據線與光度計2中的控制板4相連接。光度計 2還通過RS232串口或USB線與計算機3連接。通過安裝在計算機上的專用光度計應用系統給光度計中的控制板發送改變光譜帶寬的指令，控制板驅動連續可變狹縫裝置改變狹縫寬度，這樣被測樣品在不同光譜帶寬下的測量結果來自動被計算機檢測和記錄，通過尋找最大吸光度的測量結果，確定分析測試的最佳光譜帶寬條件。本實用新型的操作步驟為1、儀器開機後，設置好待測樣品的特定波長；2、將待測樣品放入樣品室S池架，將樣品空白放入R池架；3、計算機自動調整狹縫寬度由最小光譜帶寬至最大光譜帶寬依次調整；4、每調整一次光譜帶寬，計算機自動記錄透過樣品S的能量h、參比R池的能量 Er，然後計算出該光譜帶寬條件下樣品的透過率T和吸光度A ；計算機完成所有光譜帶寬調整後，就可以給出該樣品在不同光譜帶寬條件下的吸光度和透過率的值，並能判斷出最高、 最低吸光度和透過率，並生成數據報告；5、分析完成後，測試工作者就可以根據數據報告選擇待測樣品的最佳光譜帶寬進行下一步的檢測工作。如圖2所示，在通過本實用新型對青黴素鉀樣品進行測定的實驗中，其整個實驗時間為35分鐘，平均每個狹縫寬度耗時0. 7min，最大限度的縮短了掃描時間。此次連續掃描在0. 5nm光譜帶寬，264nm處有最大吸收值為0. 8690，因此最佳分析光譜帶寬是0. 5nm。本實用新型可以廣泛應用於紫外可見分光光度計、原子吸收分光光度計、液相色譜紫外檢測器等有光譜帶寬和解析度要求的光度計或光譜儀器等產品的設計開發。以上公開的僅為本實用新型的幾個具體實施例，但是，本實用新型並非局限於此， 任何本領域的技術人員能思之的變化都應落入本實用新型的保護範圍。
權利要求1.一種自動選擇被測樣品最優光譜帶寬測量條件的裝置，其特徵在於，由連續可變狹縫裝置、光譜分析裝置以及計算機構成，所述連續可變狹縫裝置通過數據線與所述光譜分析裝置中的控制板相連接，所述光譜分析裝置通過RS232串口或USB線與所述計算機連接。
2.如權利要求1所述的自動選擇被測樣品最優光譜帶寬測量條件的裝置，其特徵在於，所述連續可變狹縫裝置通過固定釘安裝在所述光譜分析裝置的內部。
3.如權利要求1或2所述的自動選擇被測樣品最優光譜帶寬測量條件的裝置，其特徵在於，所述光譜分析裝置為光度計，所述連續可變狹縫裝置通過數據線與所述光度計中的控制板相連接。
4.如權利要求3所述的自動選擇被測樣品最優光譜帶寬測量條件的裝置，其特徵在於，所述光度計通過RS232串口或USB線與所述計算機連接。
專利摘要本實用新型涉及一種自動選擇被測樣品最優光譜帶寬測量條件的裝置，由連續可變狹縫裝置、光譜分析裝置以及計算機構成，連續可變狹縫裝置通過數據線與光譜分析裝置中的控制板相連接，光譜分析裝置通過RS232串口或USB線與計算機連接。連續可變狹縫裝置通過固定釘安裝在光譜分析裝置的內部，該光譜分析裝置為光度計。本實用新型可幫助光度計或其他光譜分析裝置實現自動選擇最優光譜帶寬功能，為分析測試工作者提供極大的方便，提高測試數據的準確性；由於是儀器自動調節光譜帶寬並掃描數據，所以極大的節省測試時間，並且提高了工作效率。
文檔編號G01N21/31GK202101758SQ20112019200
公開日2012年1月4日 申請日期2011年6月9日 優先權日2011年6月9日
發明者劉景會, 周素敏, 孫金龍, 崔維兵, 曹金朋, 董媛 申請人:北京普析通用儀器有限責任公司