玻璃基板包裝用A型架的檢測裝置的製作方法

2023-12-10 13:22:42

本公開涉及液晶玻璃基板技術領域，具體地，涉及一種玻璃基板包裝用A型架的檢測裝置。

背景技術：

用於液晶顯示器(例如TFT-LCD(薄膜電晶體液晶顯示器))的玻璃基板在生產之後、運輸之前需要先進行包裝，以避免在運輸的途中破損。

現有技術中，通常使用A型架包裝待運輸的玻璃基板。因此，為了保證運輸過程中，A型架對玻璃基板的平穩支撐，通常情況下，需要確保A型架的背板具有較高的平整度。

在將玻璃基板運輸到目的地之後，通常使用機器人或機器臂將A型架上堆放的玻璃基板取出。因此，需要確認的是將A型架固定之後玻璃基板的位置，從而便於計算機器人或機械臂的運動行程，進而完成玻璃基板的拾取。

然而現有技術中，對A型架的測量僅僅是通過普通的測量工具進行檢測，不僅誤差大，而且費時費力。

技術實現要素：

本公開的目的是提供一種玻璃基板包裝用A型架的檢測裝置，該檢測裝置能夠降低A型架的測量誤差，並且測量操作簡單省力。

為了實現上述目的，本公開提供一種玻璃基板包裝用A型架的檢測裝置，所述A型架包括底座、與該底座成角度地固定在該底座上的用於支撐玻璃基板的背板以及與所述背板垂直地固定於所述背板與所述底座的連接處的用於承託玻璃基板的託板，並且該託板限定第一表面，所述底座限定第二表面，其中，所述檢測裝置包括用於檢測和放置所述A型架的檢測平臺、固定在該檢測平臺上用於限制所述A型架運動的定位件以及用於檢測平面度的靠尺，該靠尺具有直杆狀的主體，該主體形成有沿其長度方向延伸的測量平面。

可選地，所述檢測平臺具有上表面，用於檢測所述底座的底面是否平整。

可選地，所述靠尺還具有分別位於所述主體的兩端的測量刀，該測量刀具有與所述測量平面連續且共面的一個刀側面。

可選地，所述第一表面與所述第二表面之間形成大小為α的夾角，所述主體形成為正四稜柱形狀，所述測量刀的刀背面與所述主體的所述測量平面之間形成大小為β的夾角，其中，α+β＝90°。

可選地，所述定位件包括後定位件和側定位件，所述後定位件包括用於固定在所述檢測平臺上的固定部和垂直於所述檢測平臺向上延伸的止擋部。

可選地，所述檢測裝置包括相互間隔地垂直固定在所述檢測平臺上的A字支架，該A字支架包括呈A字形的兩條支腿，其中第一支腿的延伸方向與所述檢測平臺的上表面之間形成大小為β的夾角，所述定位件位於所述A字支架之間，所述第二表面平行於所述檢測平臺的上表面，所述A字支架用於檢測所述第二表面與所述背板所在的平面之間形成的夾角是否為β。

可選地，檢測裝置還包括平直且細長的標杆，該標杆設置有位於其兩端的用於抵靠在所述A字支架的所述第一支腿上的基準部和等間距間隔地設置在所述兩端之間的多個檢測孔。

可選地，所述基準部形成為從所述標杆的表面凸出的基準塊，該基準塊的沿所述標杆的長度方向上的尺寸等於所述第一支腿的厚度。

可選地，所述第一支腿上自上而下間隔地設置有多級用於支撐所述標杆的兩端的支撐部。

可選地，所述支撐部設置為三級。

通過上述技術方案，即通過本公開提供的檢測裝置，在對A型架進行測量之前，首先要將A型架固定在檢測裝置上，即將A型架的底座通過定位件固定在檢測裝置的檢測平臺上，避免A型架在檢測的過程中發生移動，降低測量誤差和錯誤的發生機率。在固定底座的同時，還能夠通過檢測平臺檢測底座的底面是否平直，即通過檢測平臺的上表面能夠檢測底座的底面是否平整。之後，使用靠尺測量背板和託板的平面度，具體地，操作員可以手持靠尺，並且使得靠尺的測量平面朝向所要測量的背板或託板，簡單又省力。為了獲得較精確的測量精度，可以變換靠尺不同的測量位置和角度。因此，使用本公開提供的檢測裝置不僅能夠降低A型架的測量誤差，而且還具有測量操作簡單省力的優點。

本公開的其他特徵和優點將在隨後的具體實施方式部分予以詳細說明。

附圖說明

附圖是用來提供對本公開的進一步理解，並且構成說明書的一部分，與下面的具體實施方式一起用於解釋本公開，但並不構成對本公開的限制。在附圖中：

圖1是根據本公開的具體實施方式提供的玻璃基板包裝用A型架的檢測裝置的立體圖，其中，未示出靠尺；

圖2是根據本公開的具體實施方式提供的玻璃基板包裝用A型架的檢測裝置的靠尺的立體圖；

圖3是根據本公開的具體實施方式提供的玻璃基板包裝用A型架的檢測裝置的標杆的立體圖；

圖4是根據本公開的具體實施方式提供的玻璃基板包裝用A型架的檢測裝置處於使用狀態的立體圖，其中，未示出靠尺和標杆；

圖5是根據本公開的具體實施方式提供的玻璃基板包裝用A型架的檢測裝置處於使用狀態的立體圖，其中，示出了處於使用狀態的靠尺，並且，為了避免A字支架遮擋，在該圖中未示出A字支架；

圖6是根據本公開的具體實施方式提供的玻璃基板包裝用A型架的檢測裝置處於使用狀態的立體圖，其中，示出了處於使用狀態的標杆。

附圖標記說明

11底座；12背板；13託板；14支板；

21檢測平臺；22後定位件；221固定部；222止擋部；23側定位件；24A字支架；241第一支腿；242支撐部；25靠尺；250主體；251測量平面；252測量刀；253刀口；254刀側面；255刀背面；26標杆；261基準部；262檢測孔。

具體實施方式

以下結合附圖對本公開的具體實施方式進行詳細說明。應當理解的是，此處所描述的具體實施方式僅用於說明和解釋本公開，並不用於限制本公開。

在本公開中，在未作相反說明的情況下，使用的方位詞如「上、下」通常是指部件位於使用狀態時的「上、下」；「前、後」是相對於操作者操作時的「前、後」，通常操作者(例如機器人或機械臂)位於玻璃基板所在的一側，因此，對於A型架和檢測裝置來說，對應於操作者的一側為「前」、相反的一側為「後」。本領域技術人員應當理解的是，上述方位名詞僅用於解釋和說明本公開，並不用於限制。

圖1示出了根據本公開的具體實施方式提供的玻璃基板包裝用A型架的檢測裝置；圖2是根據本公開的具體實施方式提供的玻璃基板包裝用A型架的檢測裝置的靠尺的立體圖；圖3是根據本公開的具體實施方式提供的玻璃基板包裝用A型架的檢測裝置的標杆的立體圖；圖4是根據本公開的具體實施方式提供的玻璃基板包裝用A型架的檢測裝置處於使用狀態的立體圖，其中，未示出靠尺和標杆。參考圖1至圖4中所示，A型架包括底座11、與該底座11成角度地固定在該底座11上的用於支撐玻璃基板的背板12以及與所述背板12垂直地固定於所述背板12與所述底座11的連接處的用於承託玻璃基板的託板13，並且該託板13限定第一表面，所述底座11限定第二表面，其中，所述檢測裝置包括用於檢測和放置所述A型架的檢測平臺21、固定在該檢測平臺21上用於限制所述A型架運動的定位件以及用於檢測平面度的靠尺25，該靠尺25具有直杆狀的主體250，該主體250形成有沿其長度方向延伸的測量平面251。

參考圖1、圖2和圖4，在對A型架進行測量之前，首先要將A型架固定在檢測裝置上，即將A型架的底座11通過定位件固定在檢測裝置的檢測平臺21上，避免A型架在檢測的過程中發生移動，降低測量誤差和錯誤的發生機率。在固定底座11的同時，還能夠通過檢測平臺21檢測底座11的底面是否平直，即通過檢測平臺21的上表面能夠檢測底座11的底面是否平整。在這種情況下，可以將檢測平臺21的上表面的平面度控制在≤0.5mm之內。之後，使用靠尺25測量背板12和託板13的平面度，具體地，操作員可以手持靠尺25，並且使得靠尺25的測量平面251貼靠在所要測量的背板12或託板13上，簡單又省力。為了獲得較精確的測量精度，可以變換靠尺25不同的測量位置和角度。因此，使用本公開提供的檢測裝置不僅能夠降低A型架的測量誤差，而且還具有測量操作簡單省力的優點。

當由A型架包裝的玻璃基板被運往目的地之後，由於玻璃基板為易碎物品，因此，通常使用機器人或機械臂吸取玻璃基板並將玻璃基板移動到所需的位置，也就是俗稱的「卸載」。由於機器人或機械臂的運動都是通過控制器控制，因此，需要知道玻璃基板的坐標位置。對於同一批玻璃基板來說，其具有相同的厚度，因此，只需要知道堆放在A型架上的第一張玻璃基板的坐標位置即可相應地計算出其它的玻璃基板的坐標位置。而第一張玻璃基板的坐標位置包括相對於地面(等同於底座11的底面)的高度距離和相對於底座11的後邊緣的水平距離。因此，只需要測得這兩個參數值即可確定第一張玻璃基板的坐標位置。為了測量A型架上的第一張玻璃基板相對於底座11的後邊緣的水平距離，所述靠尺25還可以具有分別位於所述主體250的兩端的測量刀252，該測量刀252具有與所述測量平面251連續且共面的一個刀側面254。在測量時，參考圖5中所示，將靠尺25放置在背板12和託板13的連接縫處，使得測量刀252從A型架露出，並且將靠尺25的測量平面251貼靠背板12，使得靠尺25的刀側面254與背板12的表面共面。之後，使用測量工具(例如千分尺)測量靠尺25的刀口253與底座11的後邊緣之間的水平距離，即可得出A型架上的第一張玻璃基板相對於底座11的後邊緣的水平距離。其中，可以將刀口253的厚度控制在1±0.05mm的範圍內，以保證測量的準確度。

在本公開提供的具體實施方式中，所述第一表面與所述第二表面之間形成大小為α的夾角，底座11具有相互平行的底面和上表面，以限定所述第二表面。為了測量A型架上的第一張玻璃基板相對於底座11的底面的高度距離，所述主體250形成為正四稜柱形狀，對此，可以將主體250的四個平面的平面度控制在≤0.1mm的範圍內，以保證測量的準確度。所述測量刀252的刀側面254與所述主體250的所述測量平面251之間形成大小為β的夾角，其中，α+β＝90°。在這種情況下，當將靠尺25放置在背板12和託板13的連接縫處時，主體250的測量平面251貼靠背板12的表面，主體250與測量平面251相鄰的對應於刀口253的平面貼靠託板13的表面。由此，刀背面255是平行於底座11的底面的。因此，只需要通過測量工具(例如千分尺)測量刀背面255距離底座11的底面，也就是刀背面255距離檢測平臺21的上表面的距離即可。之後將該距離值減去刀背面255與刀口253之間的距離即可得到A型架上的第一張玻璃基板的最下端相對於底座11的底面的高度距離。其中，可以將刀背面255的平面度控制在≤0.1mm的範圍內，以保證測量的準確度。在本公開提供的具體實施方式中，定位件可以以多種合適的方式設置。例如，所述定位件可以包括後定位件22和側定位件23，以在A型架的後方和側方對A型架進行限位。其中，所述後定位件22包括用於固定在所述檢測平臺21上的固定部221和垂直於所述檢測平臺21向上延伸的止擋部222。在這種情況下，在上述測量A型架上的第一張玻璃基板相對於底座11的後邊緣的水平距離的過程中，「使用測量工具測量靠尺25的刀口253與止擋部222之間的水平距離」等同於「使用測量工具(例如千分尺)測量靠尺25的刀口253與底座11的後邊緣之間的水平距離」。在此，可以將止擋部222的垂直度定位在≤0.5mm的範圍內，以保證測量的準確度；將止擋部222的止擋面的平面度控制在≤0.1mm的範圍內，以保證測量的準確度。同理控制側定位件23。

此外，在「卸載」時，還要保證玻璃基板始終與機械手或機械臂的吸盤所限定的平面相平行，因此，還需要檢測檢測A型架的背板12相對於底座11的連接是否歪斜(連接處是否平行於底座11的後邊緣)。為此，所述檢測裝置可以包括相互間隔地垂直固定在所述檢測平臺21上的A字支架24，該A字支架24包括呈A字形的兩條支腿，其中第一支腿241的延伸方向與所述檢測平臺21的上表面之間形成大小為β的夾角，第二支腿的上端與第一隻腿241的上端連接，第一支腿241與第二支腿之間設置有加強橫梁，從而形成A字支架24，所述定位件22位於所述A字支架24之間，所述第二表面平行於所述檢測平臺21的上表面，所述A字支架24用於檢測所述第二表面與所述背板12所在的平面之間形成的夾角是否為β。在實際應用中，通過情況下，β＝72°。其中，可以將A字支架24的垂直度控制在≤1mm的範圍內，以保證測量的準確度。

在上述具體實施方式中，可以通過例如目測的方式觀察背板12是否歪斜。在本公開的具體實施方式中，為了提高測量的精確度，檢測裝置還包括平直且細長的標杆26，參考圖3中所示，該標杆26設置有位於其兩端的用於抵靠在所述A字支架24的所述第一支腿241上的基準部261和等間距間隔地設置在所述兩端之間的多個檢測孔262。在使用時，參考圖6中所示，將標杆26的基準部261(圖6中未示出)對準A字支架24的第一隻腿241，使用遊標卡尺等測量工具穿過檢測孔262，能夠測量檢測孔262所對應的位位置處標杆26與背板12的表面之間相應的距離。由此，能夠根據所測得的距離值判斷背板12在安裝時是否有歪斜。標杆26可以具有沿其長度方向延伸的四個相互垂直的表面，其中，可以控制標杆26的四個平面的平面度≤0.05mm、直線度≤0.1mm的範圍內，以保證測量的準確度。

在上述具體實施方式中，基準部261可以以多種方式設置。可選地，所述基準部261形成為從所述標杆26的表面凸出的基準塊，該基準塊的沿所述標杆26的長度方向上的尺寸等於所述第一支腿241的厚度，以進一步提高歪斜度測量的精度。

另外，在上述具體實施方式中，所述第一支腿241上自上而下間隔地設置有多級用於支撐所述標杆26的兩端的支撐部242以儘可能地在背板12的整個表面上取多個點，提高測量的準確度。

在本公開提供的具體實施方式中，所述支撐部242可以設置為三級(如圖1中所示)，也可以設置為四級、五級等，即根據需要選擇支撐部242設置的級數。

此外，在本公開提供的具體實施方式中，對於檢測裝置中的後定位件22、側定位件23和A字支架24來說，可以通過螺栓連接的方式固定到檢測平臺21上。

以上結合附圖詳細描述了本公開的優選實施方式，但是，本公開並不限於上述實施方式中的具體細節，在本公開的技術構思範圍內，可以對本公開的技術方案進行多種簡單變型，這些簡單變型均屬於本公開的保護範圍。

另外需要說明的是，在上述具體實施方式中所描述的各個具體技術特徵，在不矛盾的情況下，可以通過任何合適的方式進行組合。為了避免不必要的重複，本公開對各種可能的組合方式不再另行說明。

此外，本公開的各種不同的實施方式之間也可以進行任意組合，只要其不違背本公開的思想，其同樣應當視為本公開所公開的內容。