一種錐度內花鍵檢測裝置的製作方法

2023-07-26 06:17:21 1

本發明涉及檢測技術領域，特別涉及一種錐度內花鍵檢測裝置。

背景技術：

目前公知的錐度內花鍵檢測方法，是在塞規的大端或小端做出通、止臺階面，如圖3所示，通過目測比較通、止臺階面與錐度內花鍵大端面或小端面的位置，來判定錐度內花鍵大小是否合格，測量誤差不能量化，不準確。另外用塞規檢測錐度花鍵時所用力度不一致，也造成同一工件多次檢測其平齊度誤差不一致，可能造成誤判。

技術實現要素：

本發明所要解決的技術問題是提供一種結構簡單，通過檢測塞規端面與花鍵端面的位置，檢測速度快、檢測精度高的錐度內花鍵檢測裝置。

本發明解決上述技術問題的技術方案如下：一種錐度內花鍵檢測裝置，包括表座、百分表、工件定位座、塞規和壓力機，所述工件定位座內設置有豎直延伸的槽體，所述表座和百分表均置於所述工件定位座的槽體內，所述表座的一端與所述工件定位座的內表面固定連接，所述表座的另一端固定所述百分表，所述百分表的觸頭豎直向上伸出所述槽體，且所述百分表的觸頭高出所述工件定位座上部的定位端面0.5-1mm，並將百分表校準到所述百分表的觸頭與所述工件定位座上部的定位端面平齊時，此時百分表讀數設為「0」。檢測工件置於所述工件定位座的定位端面上，且檢測工件的錐孔處於所述百分表觸頭的上端，所述塞規的下部伸入所述檢測工件的錐孔內，所述壓力機置於所述塞規的上端，所述壓力機的壓頭下壓所述塞規。

本發明的有益效果是：啟動壓力機，壓力機按設定的壓力對塞規進行下壓，百分表顯示的讀數，即為塞規端面與花鍵端面的相對位置；本裝置結構簡單，通過壓力機對塞規進行下壓，實現對錐度內花鍵大小的檢測，檢測速度快、檢測精度高，為工件加工時調整設備提供精準的調整數據，保證工件的加工質量。

在上述技術方案的基礎上，本發明還可以做如下改進。

進一步，所述檢測工件的錐孔為錐度花鍵孔，所述塞規為錐度花鍵塞規。

採用上述進一步方案的有益效果是：適用於帶錐度花鍵的工件進行檢測，為花鍵精加工時調整設備提供精準的調整數據，使加工質量得到保證。

進一步，所述工件定位座的下端設置有底板。

採用上述進一步方案的有益效果是：底板能對工件定位座進行穩固，檢測過程穩定，保障錐度內花鍵檢測精確。

附圖說明

圖1為本發明一種錐度內花鍵檢測裝置的結構示意圖；

圖2為圖1的AA剖視圖；

圖3為塞規和檢測工件的結構示意圖。

附圖中，各標號所代表的部件列表如下：

1、表座，2、百分表，3、工件定位座，4、塞規，5、壓力機，6、槽體、7、檢測工件，8、底板。

具體實施方式

以下結合附圖對本發明的原理和特徵進行描述，所舉實例只用於解釋本發明，並非用於限定本發明的範圍。

如圖1和圖2所示，一種錐度內花鍵檢測裝置，包括表座1、百分表2、工件定位座3、塞規4和壓力機5，所述工件定位座3內設置有豎直延伸的槽體6，所述表座1和百分表2均置於所述工件定位座3的槽體6內，所述表座1的一端與所述工件定位座3的內表面固定連接，所述表座1的另一端固定所述百分表2，所述百分表2的觸頭豎直向上伸出所述槽體6，且所述百分表2的觸頭高出所述工件定位座3上部的定位端面0.5-1mm，並將百分表2校準到所述百分表2的觸頭與所述工件定位座3上部的定位端面平齊時，此時百分表讀數設為「0」。檢測工件7置於所述工件定位座3的定位端面上，且檢測工件7的錐孔處於所述百分表2觸頭的上端，所述塞規4的下部伸入所述檢測工件7的錐孔內，所述壓力機5置於所述塞規4的上端，所述壓力機5的壓頭下壓所述塞規4。

優選的，所述檢測工件7的錐孔為錐度花鍵孔，所述塞規4為錐度花鍵塞規。

優選的，所述工件定位座3的下端設置有底板8。

實施本裝置，啟動壓力機5，壓力機5對塞規4進行下壓，百分表顯示的讀數，即為塞規4端面與花鍵端面的相對位置；本裝置結構簡單，通過壓力機5對塞規4進行下壓，實現對檢測工件7進行檢測，檢測速度快、檢測精度高，為工件加工時調整設備提供精準的調整數據，保證工件的加工質量。

以上所述僅為本發明的較佳實施例，並不用以限制本發明，凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護範圍之內。