一種電子元件平面度檢查機的製作方法

2023-07-10 07:39:51 2

專利名稱：一種電子元件平面度檢查機的製作方法
技術領域：
:本發明涉及電子元件檢測設備技術領域，特指一種電子元件平面度檢查機。
背景技術：
:在電子元件中，塑膠件上要插入PIN腳(端子腳)，PIN腳要折彎後焊接在電路板上，PIN腳與電路板的平面度如何，直接決定電子件焊接的牢固與否，直接影響整個電器的安全使用。在電子元件生產中的檢查環節，主要是用人工進行檢查電子元件平面度，人工檢查存在很大的問題，一，檢查的速度慢，生產的效率低，二、人工檢查的精度不高，存在大量的不良品；給生產帶來很大的不便
發明內容
:本發明的目的是針對現有技術的不足，而提供一種電子元件平面度檢查機，其結構設計簡單科學，檢測精度高，檢測生產效率高。為實現上述目的，本發明採用如下技術方案，其包括架體、整理臺面、工作檯面、料鬥，架體的上端一側設有整理臺面，架體的上端面設有工作檯面，架體的另一側設有料鬥，工作檯面上設有送料軌道、平面度檢查裝置，平面度檢查裝置包括攝像裝置、推料裝置、扒料裝置、調整裝置，送料軌道安裝在推料裝置上，扒料裝置、調整裝置分別安裝在推料裝置的兩側，攝像裝置為兩個以上，分別安裝在推料裝置的兩側。所述的推料裝置上設有氣缸，氣缸驅動推料裝置上工作。所述的攝像裝置與推料裝置之間設有閃光裝置。所述的攝像裝置的信號直接成像在顯示屏上。所述的攝像裝置設置在可調節裝置上，進行距離調節。本發明有益效果為:架體的上端一側設有整理臺面，架體的上端面設有工作檯面，架體的另一側設有料鬥，工作檯面上設有送料軌道、平面度檢查裝置，平面度檢查裝置包括攝像裝置、推料裝置、扒料裝置、調整裝置，送料軌道安裝在推料裝置上，扒料裝置、調整裝置分別安裝在推料裝置的兩側，攝像裝置為兩個以上，分別安裝在推料裝置的兩側，其結構設計簡單科學，攝像裝置檢測精度高，檢測生產效率高。


:圖1是本發明的結構示意圖；圖2是本發明的另一方向結構示意圖；圖3是圖2中A處的放大圖；圖4是本發明檢測的電子件實施例的結構示意圖。
具體實施方式
:
見圖1至圖4所示:本發明包括架體1、整理臺面2、工作檯面3、料鬥4，架體I的上端一側設有整理臺面2，架體I的上端面設有工作檯面3，架體I的另一側設有料鬥4，工作檯面3上設有送料軌道5、平面度檢查裝置3，平面度檢查裝置3包括攝像裝置31、推料裝置32、扒料裝置33、調整裝置34，送料軌道5安裝在推料裝置32上，扒料裝置33、調整裝置34分別安裝在推料裝置32的兩側，攝像裝置31為兩個以上，分別安裝在推料裝置32的兩側。所述的推料裝置32上設有氣缸，氣缸驅動推料裝置32上工作。所述的攝像裝置31與推料裝置32之間設有閃光裝置35。所述的攝像裝置31的信號直接成像在顯示屏上。所述的攝像裝置31設置在可調節裝置上，進行距離調節。本發明工作原理如下:將實施例的元件100，放入送料軌道5內，由於送料軌道5是具有斜度的，元件100會下滑，進入推料裝置32內，到達特定位置後，閃光裝置35閃光，攝像裝置31成像在顯示屏上，信號進行分析，如果元件100的PIN腳沒有達到特定的角度值時，信號會給推料裝置32上的氣缸動作，推料裝置32會將元件100扒入扒料裝置33內排出，調整裝置34根據不同的產品需要，可進行調整距離，讓攝像裝置31的焦距集中，更好地成像。 本發明代替了人工，檢測生產效率提高了數倍，檢測的精度也大大提高，提高了檢測的準確率。以上所述僅是本發明的較佳實施例，故凡依本發明專利申請範圍所述的構造、特徵及原理所做的等效變化或修飾，均包括於本發明專利申請範圍內。
權利要求
1.一種電子元件平面度檢查機，其包括架體(I)、整理臺面(2)、工作檯面(3)、料鬥(4)，其特徵在於:架體(I)的上端一側設有整理臺面(2)，架體(I)的上端面設有工作檯面(3)，架體(I)的另一側設有料鬥(4)，工作檯面(3)上設有送料軌道(5)、平面度檢查裝置(3)，平面度檢查裝置(3)包括攝像裝置(31)、推料裝置(32)、扒料裝置(33)、調整裝置(34)，送料軌道(5)安裝在推料裝置(32)上，扒料裝置(33)、調整裝置(34)分別安裝在推料裝置(32)的兩側，攝像裝置(31)為兩個以上，分別安裝在推料裝置(32)的兩側。
2.根據權利要求1所述的一種電子元件平面度檢查機，其特徵在於:所述的推料裝置(32)上設有氣缸，氣缸驅動推料裝置(32)上工作。
3.根據權利要求1所述的一種電子元件平面度檢查機，其特徵在於:所述的攝像裝置(31)與推料裝置(32)之間設有閃光裝置(35)。
4.根據權利要求1所述的一種電子元件平面度檢查機，其特徵在於:所述的攝像裝置(31)的信號直接成像在顯示屏上。
5.根據權利要求1所述的一種電子元件平面度檢查機，其特徵在於:所述的攝像裝置(31)設置在可調節裝置上，進行距離調節。
全文摘要
本發明涉及電子元件檢測設備技術領域，特指一種電子元件平面度檢查機，其包括架體、整理臺面、工作檯面、料鬥，架體的上端一側設有整理臺面，架體的上端面設有工作檯面，架體的另一側設有料鬥，工作檯面上設有送料軌道、平面度檢查裝置，平面度檢查裝置包括攝像裝置、推料裝置、扒料裝置、調整裝置，送料軌道安裝在推料裝置上，扒料裝置、調整裝置分別安裝在推料裝置的兩側，攝像裝置為兩個以上，分別安裝在推料裝置的兩側，其結構設計簡單科學，檢測精度高，檢測生產效率高。
文檔編號G01B11/30GK103105145SQ201110361819
公開日2013年5月15日 申請日期2011年11月15日 優先權日2011年11月15日
發明者程昆合 申請人:品翔電子塑膠製品(東莞)有限公司