一種答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置的製作方法

2023-08-02 15:44:56

專利名稱：一種答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及儀器儀表領域，具體涉及一種答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置。
背景技術：
萬用答題卡是近幾年最新研製的可重複使用的答題卡，在國內開始推廣使用。該卡的使用大大降低了答題卡的使用成本，對環保和節能減排有非常重要的意義，因此有巨大的市場潛力。萬用答題卡在使用過程中最讓用戶擔心的是讀卡的準確度。答題卡的讀卡原理就是跟卡表面光的反射率有關，在整張答題卡反射率一致的情況下，塗過卡的地方反射率和透射率較低，所以確保卡的表面反射率一致是萬用卡生產過程中重要得工藝。

發明內容
為克服現有技術中的不足，本發明的目的在於提供一種答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，用於萬用答題卡的生產。為實現上述技術目的，達到上述技術效果，本發明通過以下技術方案實現
一種答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，包括一單片機，所述單片機一端連接A/D 轉換電路，所述A/D轉換電路連接數據選擇解碼電路，所述數據選擇解碼電路連接56點陣列光反射傳感器，所述單片機另一端連接按鍵、顯示電路。進一步的，所述56點陣列光反射傳感器由56個反射光測量傳感器組成，每行7 個，共8列，涵蓋整個答題卡表面。進一步的，所述反射光測量傳感器的電壓變換電路包括光敏管，所述光敏管的發射極與集電極之間依次連接有第一發光二極體、第二發光二極體、電阻和可調電阻。進一步的，所述數據選擇解碼電路採用了 7片4051集成電路來選擇56路信號，所述7片4051集成電路分別設有7個模擬輸出，分別輸給所述A/D轉換電路的7個通道。進一步的，所述A/D轉換電路為模數轉換集成電路MAXl 18，所述模數轉換集成電路MAX118中設有8個模擬通道輸入，其中7個模擬通道接收來自所述數據選擇解碼電路的所述7個模擬輸出信號，所述A/D轉換電路還包括第一輸入按鍵和第二輸入按鍵。進一步的，按鍵、顯示電路包括數碼管顯示電路，所述數碼管顯示電路包括連體的 4位LED數碼管，所述連體的4位LED數碼管上設有4個位信號輸入和8個段碼信號輸入， 所述數碼管顯示電路的接法為動態掃描顯示。本發明的原理是
⑴卡表面反射光測量56點陣列傳感器及其電壓變換電路。反射光測量傳感器由兩個發射光電二極體和一個接收光電二極體組成，發射二極體將光打到答題卡表面，由接收二極體接收卡的反射光，並轉換成電壓。56點陣列傳感器由56個反射光測量傳感器組成，每行7個，共8列，涵蓋整個答題卡表面。傳感器電壓變換電路將接收二極體接收的答題卡表面反射光，轉換成電壓，送給數據選擇解碼電路。(2)信號處理電路。信號處理電路由單片機控制，有以下幾個部分
數據選擇解碼電路單片機通過地址解碼，控制數據選擇電路，有選擇的將輸入的56 路傳感器電壓，分別依次輸給模數轉換電路。模數轉換電路將反射光電壓轉換成數字量，由單片機採樣進行反射數據計算。鍵盤顯示電路接收按鍵功能，顯示反射數據及測量結果，該電路與由單片機控制的數據選擇解碼電路、模數轉換電路為一體，整體設計。本發明的有益效果是
該發明用於萬用答題卡的生產過程中控制卡生產的質量，檢測卡表面對讀卡光的反射數據，對卡表面56點同時測量，確保答題卡表面光反射率一致。


此處所說明的附圖用來提供對本發明的進一步理解，構成本申請的一部分，本發明的示意性實施例及其說明用於解釋本發明，並不構成對本發明的不當限定。在附圖中
圖1是本發明的框架結構示意圖2是本發明的單點反射光測量傳感器原理圖3是本發明的單點反射光傳感器電壓變換電路原理圖4是本發明數據選擇解碼電路原理圖5是本發明的模數轉換電路原理圖6是本發明的數碼管顯示電路原理圖。圖中標號說明1、單片機，2、A/D轉換電路，3、數據選擇解碼電路，4、56點陣列光反射傳感器，5、按鍵、顯示電路，Ni、光敏管，Li、第一發光二極體，L2、第二發光二極體， R1、電阻，P1、可調電阻，Ul-U7、4051集成電路，AD1-AD7、模擬輸出，U9、模數轉換集成電路 MAX118，1N1-1N7、模擬通道，K1、第一輸入按鍵，K2、第二輸入按鍵，U10、連體的4位LED數碼管，L1-L4、位信號輸入，A-H、段碼信號輸入。
具體實施例方式下面將參考附圖並結合實施例，來詳細說明本發明。參見圖1所示，一種答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，包括一單片機1，所述單片機1 一端連接A/D轉換電路2，所述A/D轉換電路2連接數據選擇解碼電路3，所述數據選擇解碼電路3連接56點陣列光反射傳感器4，所述單片機1另一端連接按鍵、顯示電路 5。進一步的，所述56點陣列光反射傳感器4由56個反射光測量傳感器組成，每行7 個，共8列，涵蓋整個答題卡表面。參見圖3所示，進一步的，所述反射光測量傳感器的電壓變換電路包括光敏管m， 所述光敏管W的發射極與集電極之間依次連接有第一發光二極體Li、第二發光二極體L2、電阻Rl和可調電阻PI。參見圖4所示，進一步的，所述數據選擇解碼電路3採用了 7片4051集成電路 U1-U7來選擇56路信號，所述7片4051集成電路U1-U7分別設有7個模擬輸出AD1-AD7， 分別輸給所述A/D轉換電路2的7個通道。參見圖5所示，進一步的，所述A/D轉換電路2為模數轉換集成電路MAX118 U9， 所述模數轉換集成電路MAXl 18 U9中設有8個模擬通道輸入，其中7個模擬通道1N1-1N7 接收來自所述數據選擇解碼電路3的所述7個模擬輸出信號AD1-AD7，所述A/D轉換電路2 還包括第一輸入按鍵Kl和第二輸入按鍵K2。參見圖6所示，進一步的，按鍵、顯示電路5包括數碼管顯示電路，所述數碼管顯示電路包括連體的4位LED數碼管U10，所述連體的4位LED數碼管UlO上設有4個位信號輸入L1-L4和8個段碼信號輸入A-H，所述數碼管顯示電路的接法為動態掃描顯示。該發明的卡表面光反射多點同時測量、判斷方法
該裝置設計了 4位LED數碼管顯示，前兩位顯示光反射傳感器的點數，後兩位顯示該點所測量的光反射數據。該裝置設計了 2個功能按鍵，工作時將56點陣反射光傳感器，放在答題卡表面，接通電源後，按下功能鍵1，開始測試。測試時先計算56點反射數據平均值，再計算每點反射數據與平均值的差，當所有差值小於某個設定範圍時，該卡合格，若有差值大於該範圍，該卡不合格。通過4位LED數碼管顯示結果，結果顯示為前3位LED暗，若卡合格，最後一位顯示1，不合格顯示0。連續按下功能鍵2可以顯示每一點的光反射數據。需要強調的是，上述設施例雖然對本發明作了比較詳細的說明，但是這些說明只是對本發明說明性的，而不是對發明的限制，任何不超出本發明實質精神內的發明創造，均落在本發明權利保護範圍之內。
權利要求
1.一種答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，其特徵在於包括一單片機(1)，所述單片機(1) 一端連接A/D轉換電路(2 )，所述A/D轉換電路(2 )連接數據選擇解碼電路(3 )，所述數據選擇解碼電路(3)連接56點陣列光反射傳感器(4)，所述單片機(1)另一端連接按鍵、顯示電路(5)。
2.根據權利要求1所述的答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，其特徵在於所述56 點陣列光反射傳感器(4)由56個反射光測量傳感器組成，每行7個，共8列，涵蓋整個答題卡表面。
3.根據權利要求1、2所述的答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，其特徵在於所述反射光測量傳感器的電壓變換電路包括光敏管(Ni )，所述光敏管(Ni)的發射極與集電極之間依次連接有第一發光二極體(Li)、第二發光二極體(L2)、電阻(Rl)和可調電阻(P1)。
4.根據權利要求1所述的答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，其特徵在於所述數據選擇解碼電路(3)採用了 7片4051集成電路(U1-U7)來選擇56路信號，所述7片4051 集成電路(U1-U7)分別設有7個模擬輸出(AD1-AD7)，分別輸給所述A/D轉換電路(2)的7 個通道。
5.根據權利要求1、4所述的答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，其特徵在於所述 A/D轉換電路(2)為模數轉換集成電路MAXl 18 (U9)，所述模數轉換集成電路MAXl 18 (U9) 中設有8個模擬通道輸入，其中7個模擬通道(mi-lN7)接收來自所述數據選擇解碼電路 (3)的所述7個模擬輸出信號(AD1-AD7)，所述A/D轉換電路(2)還包括第一輸入按鍵(Kl) 和第二輸入按鍵(K2)。
6.根據權利要求1所述的答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，其特徵在於按鍵、顯示電路(5)包括數碼管顯示電路，所述數碼管顯示電路包括連體的4位LED數碼管(U10)， 所述連體的4位LED數碼管(UlO)上設有4個位信號輸入(L1-L4)和8個人段碼信號輸入 (A-H)，所述數碼管顯示電路的接法為動態掃描顯示。
全文摘要
本發明公開了一種答題卡表面光反射多點陣列檢測裝置，包括一單片機，所述單片機一端連接A/D轉換電路，所述A/D轉換電路連接數據選擇解碼電路，所述數據選擇解碼電路連接56點陣列光反射傳感器，所述單片機另一端連接按鍵、顯示電路。該發明用於萬用答題卡的生產過程中控制卡生產的質量，檢測卡表面對讀卡光的反射數據，對卡表面56點同時測量，確保答題卡表面光反射率一致。
文檔編號G01R15/22GK102539872SQ20121003120
公開日2012年7月4日 申請日期2012年2月13日 優先權日2012年2月13日
發明者朱愛敏, 樊斌 申請人:蘇州科技學院