一種ccd-dr探測器的製作方法

2023-07-27 16:30:16 1

專利名稱：一種ccd-dr探測器的製作方法
技術領域：
本實用新型是屬於醫療器械技術領域。
背景技術：
目前廣泛認知的製冷技術主要有相變製冷(蒸發製冷)、氣體膨脹製冷和半導體製冷三種。蒸汽壓縮式製冷，這種方式利用液體蒸發時需要吸收熱量，從而達到製冷的效果。 其工作原理是使製冷劑在壓縮機、冷凝器、膨脹閥和蒸發器等熱力設備中進行壓縮、放熱、 節流、吸熱四個主要熱力過程，以完成製冷循環。目前主要做製冷劑的主要有無機化合物、 氟利昂、多元混合溶液以及碳氫化合物。採用這種方式不但工藝複雜在CCD-DR探測器中很難實施，而且一旦發生洩露不僅對人體有害對環境也會造成汙染。氣體膨脹製冷，利用高壓氣體通過節流閥或膨脹機絕熱膨脹時，對外輸出膨脹功， 同時溫度降低，達到製冷的目的。與蒸汽製冷相比，氣體膨脹製冷是一種沒有相變的製冷方式，通常多以空氣作為工質，所以也稱為空氣膨脹製冷。構成這種製冷方式的循環系統稱為理想氣體的逆向循環系統。最早出現的空氣制冷機採用定壓循環。半導體製冷(熱電製冷)，半導體製冷就是利用半導體的溫差電效應實現製冷的。熱電製冷的系統和過程不同於另外兩種製冷方式，它不需要藉助工質實現能量的轉移，整個裝置沒有任何機械運動部件， 運行中沒有噪聲，設備體積小，便於實現自動控制，但耗電量大，製冷量小，能夠獲得的溫差也不大。目前溫差電製冷只用在小型製冷器中，如電子計算機恆溫冷卻、精密測量儀器的冷源及精密工具機的油箱冷卻器等等，都是溫差電製冷。
發明內容本實用新型的發明目的是設計一種新型製冷方案的CCD-DR探測器。本實用新型解決其技術問題所採用的技術方案是包括半導體製冷塊、製冷電源、 散熱器、溫溼度控制板、繼電器切換板、溫溼度傳感器。其技術特徵是製冷電源為半導體製冷塊供電，半導體製冷塊在製冷過程中會產生大量的熱，散熱器採用的是計算機顯卡散熱器，把半導體製冷塊產生的熱傳導出來並進行快速風冷。溫溼度控制板、繼電器切換板、 溫溼度傳感器共同構成閉環溫度控制系統。半導體製冷塊是一種電子製冷器件，通過直流電製冷的一種新型製冷方法。製冷電源的作用主要是給半導體製冷片供電，但同時也給散熱器、溫溼度控制板、繼電器切換板供電，製冷電源對電壓要求不是很高，但是要求電流足夠大。半導體製冷塊在製冷過程中由於製冷效率低於制熱效率所以會產生大量的熱，散熱器就是把半導體製冷塊產生的熱傳導出來並進行快速風冷，為了達到很好的散熱效果，所以散熱器採用的是計算機顯卡散熱器，溫溼度控制板、繼電器切換板、溫溼度傳感器共同構成閉環溫度控制系統，溫溼度傳感器通過溫度取樣傳輸到溫溼度控制板進行判斷，然後控制繼電器切換板改變半導體製冷塊的供電，從而控制半導體製冷塊的工作狀態達到控制製冷溫度的效果。溫溼度傳感器傳感器分布於半導體製冷塊的冷端和熱端，冷端主要檢測溼度，防止溼度過大在CCD成像面結露影響圖片；熱鍛主要檢測溫度，防止半導體製冷塊過熱損壞。溫溼度控制板通過溫溼度傳感器取樣判斷是否除溼或是讓半導體製冷塊半功率工作。繼電器切換板是接收溫溼度控制板控制信號進行電源切換達到半導體製冷塊除溼或是半功率工作。本實用新型的有益效果是可以有效地製冷讓CXD晶片工作在最佳狀態，工藝設計簡單易實施，環保節能。

附圖1是半導體製冷原理圖。附圖2是本實用專利方案實施的原理框圖。
具體實施方式
對照附圖2，包括半導體製冷塊(1)、製冷電源O)、散熱器⑶、溫溼度控制板G)、 繼電器切換板(5)、溫溼度傳感器(6)。其技術特徵是製冷電源( 為半導體製冷塊(1) 供電，半導體製冷塊(1)在製冷過程中會產生大量的熱，散熱器C3)採用的是計算機顯卡散熱器，把半導體製冷塊(1)產生的熱傳導出來並進行快速風冷。溫溼度控制板、繼電器切換板(5)、溫溼度傳感器(6)共同構成閉環溫度控制系統，控制半導體製冷塊⑴的工作狀態達到控制製冷溫度的效果。製冷電源O)的作用主要是給半導體製冷片(1)供電， 但同時也給散熱器(3)、溫溼度控制板G)、繼電器切換板(5)供電。製冷電源(2)對電壓要求不是很高，但是要求電流足夠大。半導體製冷塊(1)在製冷過程中由於製冷效率低於制熱效率所以會產生大量的熱，散熱器C3)就是把半導體製冷塊(1)產生的熱傳導出來並進行快速風冷，為了達到很好的散熱效果，所以散熱器採用的是計算機顯卡散熱器，其優點是散熱面積大、風扇轉速快、噪音小。溫溼度控制板(4)、繼電器切換板( 、溫溼度傳感器 (6)共同構成閉環溫度控制系統，溫溼度傳感器(6)通過溫度取樣傳輸到溫溼度控制板(4) 進行判斷，然後控制繼電器切換板( 改變半導體製冷塊(1)的供電，從而控制半導體製冷塊(1)的工作狀態達到控制製冷溫度的效果。溫溼度傳感器(6)傳感器分布於半導體製冷塊(1)的冷端和熱端，冷端主要檢測溼度，防止溼度過大在CCD成像面結露影響圖片；熱鍛主要檢測溫度，防止半導體製冷塊(1)過熱損壞。溫溼度控制板(4)通過溫溼度傳感器(6) 取樣判斷是否除溼或是讓半導體製冷塊(1)半功率工作。繼電器切換板(5)是接收溫溼度控制板(4)控制信號進行電源切換達到半導體製冷塊(1)除溼或是半功率工作。
權利要求1. 一種CCD-DR探測器，包括半導體製冷塊(1)、製冷電源O)、散熱器(3)、溫溼度控制板G)、繼電器切換板(5)、溫溼度傳感器(6)，其技術特徵是製冷電源(2)為半導體製冷塊(1)供電，散熱器C3)採用的是計算機顯卡散熱器，溫溼度控制板G)、繼電器切換板 (5)、溫溼度傳感器(6)共同構成閉環溫度控制系統。
專利摘要一種CCD-DR探測器，包括半導體製冷塊(1)、製冷電源(2)、散熱器(3)、溫溼度控制板(4)、繼電器切換板(5)、溫溼度傳感器(6)，其技術特徵是製冷電源(2)為半導體製冷塊(1)供電，半導體製冷塊(1)在製冷過程中會產生大量的熱，散熱器(3)採用的是計算機顯卡散熱器，把半導體製冷塊(1)產生的熱傳導出來並進行快速風冷。溫溼度控制板(4)、繼電器切換板(5)、溫溼度傳感器(6)共同構成閉環溫度控制系統，控制半導體製冷塊(1)的工作狀態達到控制製冷溫度的效果。
文檔編號F25B21/02GK202189778SQ20112002788
公開日2012年4月11日 申請日期2011年1月25日 優先權日2011年1月25日
發明者姜啟濤, 李勁生 申請人:南京普愛射線影像設備有限公司