金相試樣磨拋機的單點加壓試樣夾持器的製造方法

2023-07-06 09:09:56 2

金相試樣磨拋機的單點加壓試樣夾持器的製造方法
【專利摘要】本實用新型是金相試樣磨拋機的單點加壓試樣夾持器，包括用於套裝在試樣（1）外周上的彈性圈（2），所述彈性圈（2）套在試樣（1）的外周上後的外徑大於試樣安放孔的內徑。使用本實用新型能夠方便、快速地將試樣裝在夾持盤上，能夠保證單點加壓過程中試樣的穩定，並且彈性圈不會阻礙試樣被磨拋過程中的軸向位移。另外，彈性圈能夠保證試樣在試樣夾持器向清洗槽移動過程中，始終放置在夾持器上不掉落。
【專利說明】 金相試樣磨拋機的單點加壓試樣夾持器
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及金相試樣磨拋機的一種試樣夾持器。具體涉及金相試樣磨拋機的單點加壓試樣夾持器。
【背景技術】
[0002]金相分析是進行金屬材料性能研究的重要手段，金相分析結果是進行材料加工、制定熱處理工藝的重要參考數據。金相試樣的製備質量直接影響金相分析的結果。
[0003]作為現有金相試樣製備設備的金相試樣磨拋機，其單點加壓試樣夾持器主要包括帶有連接軸的試樣夾持盤，所述試樣夾持盤上設置有若干個試樣放置通孔，使用時將試樣放置在通孔中，試樣下端靠在磨盤上，上端被頂壓，此所謂單點加壓。磨拋結束後清洗試樣時需要手動將試樣從試樣夾持盤的試樣放置通孔中逐個取出，轉移到清洗槽中，工作效率較低。
實用新型內容
[0004]本實用新型所要解決的技術問題是，提供一種金相試樣磨拋機的單點加壓試樣夾持器，試樣能夠被夾持盤攜帶位移，隨夾持盤一同進入清洗槽中清洗，並且不影響試樣的軸向位移。
[0005]為了解決這一技術問題，本實用新型採用了以下技術方案:
[0006]金相試樣磨拋機的單點加壓試樣夾持器，包括中心帶有連接軸的試樣夾持盤，所述試樣夾持盤上均布地設置有若干個試樣安放孔，其特徵在於:還包括用於套裝在試樣外周上的彈性圈，所述彈性圈套在試樣的外周上後的外徑大於試樣安放孔的內徑。
[0007]本實用新型的積極效果在於:
[0008]使用本實用新型能夠方便、快速地將試樣裝在夾持盤上，能夠保證單點加壓過程中試樣的穩定，並且彈性圈不會阻礙試樣被磨拋過程中的軸向位移。另外，彈性圈能夠保證試樣在試樣夾持器向清洗槽移動過程中，始終放置在夾持器上不掉落。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]圖1為本實用新型的外觀示意圖。
[0010]圖2為本實用新型的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0011]下面結合附圖對本實用新型作進一步描述:
[0012]如圖1、2所示，本實用新型包括中間安裝有連接軸4的試樣夾持盤3，所述試樣夾持盤3上均布地設置有六個試樣安放孔。
[0013]還包括用於套裝在試樣I外周上的彈性圈2，所述彈性圈2套在試樣I的外周上後的外徑大於試樣安放孔的內徑。[0014]試樣磨拋前，將彈性圈2套在試樣I的外周上，然後將試樣I從夾持盤3的試樣安放孔上端放入，彈性圈2貼合於試樣安放孔上端外沿。金相試樣磨拋機的氣缸杆下端頂在試樣I的上表面，試樣I的下表面壓靠在磨拋盤上進行磨拋，磨拋過程中，彈性圈2不會阻礙試樣被磨拋過程中的軸向位移。磨拋完畢後，金相試樣磨拋機的磨拋頭通過試樣夾持盤3將試樣移動至清洗槽中清洗，在移動過程中，彈性圈2能夠保證試樣I始終放置在夾持器上不掉落。
【權利要求】
1.金相試樣磨拋機的單點加壓試樣夾持器，包括中心帶有連接軸(4)的試樣夾持盤(3)，所述試樣夾持盤(3)上均布地設置有若干個試樣安放孔，其特徵在於:還包括用於套裝在試樣(I)外周上的彈性圈(2)，所述彈性圈(2)套在試樣(I)的外周上後的外徑大於試樣安放孔的內徑。
【文檔編號】B24B41/06GK203401397SQ201320536717
【公開日】2014年1月22日 申請日期:2013年8月31日 優先權日:2013年8月31日
【發明者】王耀儀, 於旭兵, 鄧建, 滕錫松, 滕春旭, 何禮芹, 張磊, 王雲鵬, 曲田田 申請人:萊州市蔚儀試驗器械製造有限公司