光拾取裝置及用於光拾取裝置的物鏡的製作方法

2023-07-27 01:40:56 1

>irid1id2i材料1∞21.107319.646222.2205031.7201.720聚烯烴類樹脂3-7.579492.22881.82254∞0.6001.200PCd1iλ=650nm時；d2iλ=780nm時非球面數據第2面非球面係數κ-1.946922E+A11.183956E-P14.0A2-1.173821E-P26.0A35.529542E-P38.0A41.381534E-P410.0光程差函數B2-1.781068E-B4-1.039147E-B6-1.622513E-B86.933867E-B109.144614E-第3面非球面係數第1、3分割面(0≤H≤1.404、1.581≤H)κ-1.547917E+A11.587504E-P14.0A21.830772E-P26.0A31.097764E-P38.0A4-1.125128E-P410.0第2分割面(1.404≤H≤1.581)κ-1.371961E+A12.178570E-P14.0A21.601920E-P26.0A31.015600E-P38.0A4-1.102240E-P410.0無論對應第1光信息記錄介質設需要的數值孔徑為0.6、還是對應第2光信息記錄介質設需要的數值孔徑為0.45，本實施例中，哪一種情況都能獲得足夠的成像性能。另外，在實施例13中，物鏡是在實施例12的物鏡的衍射面相反一側的面上設置了波帶狀的分割面的物鏡，在λ1=650nm、t1=0.6mm下的溫度特性與實施例12一樣被充分校正。再有，表19中的H表示離光軸的高度，其規定著分割區域。表20給出了在實施例10～13使用的樹脂素材的對于波長的折射率。圖32給出涉及可適用於上述物鏡的實施例10～13的光拾取裝置(1個光源1個檢出器型)的實施形態例的原理圖。在該實施形態的例中，因為使用半導體雷射器，故特別適用於實施例12的物鏡。在光拾取裝置100中，來自作為光源的半導體雷射器111的光束透過作為光混合裝置的光束分離器120，通過利用光闌17縮放的規定的數值孔徑，及衍射一體型物鏡160，再經過作為光信息記錄介質的高密度記錄用光碟200的透明基板210，在信息記錄面220上形成光點。半導體雷射器的波長(基準波長)以680nm以下為好，最好是500nm以下。這裡，配合實施例10～12的物鏡的規格，使用的是650nm的雷射。在信息記錄面220被信息凹坑調製的反射光束再次通過衍射一體型物鏡160成為會聚光，進而通過光闌17並在光束分離器120處反射，經柱面透鏡180做象散和倍率變換後會聚到光檢出器300的感光面上。圖中的150是用於進行聚焦控制以及跟蹤控制的傳動機構。包括後述的實施形態在內，利用傳動機構150，通過在垂直於物鏡160的光軸的方向上驅動物鏡160，改變與作為光源的半導體雷射器111的相對位置，由於出射於所涉及的物鏡160的光束的波陣面象差的象散性成分最小的位置，是偏離物鏡160的光軸和上述光源的光束中心的位置，故可以進一步讓象散性象差比規定值小的範圍擴大。此外，當設半導體雷射器和光信息記錄介質的信息記錄面的距離U比10mm大比40mm小時，因其可緊湊地構成光拾取裝置100而較為理想。進而，光闌17也是比照實施例的物鏡的規格，適當地設定光碟16側的數值孔徑為規定值。在本實施例中，還可以在光闌17面前設置液晶快門。圖33給出涉及可適用於上述物鏡的實施例10～13的光拾取裝置(2個光源2個檢出器型)的實施形態例的原理圖。在該實施形態的例中，由於使用2個光源，所以，實施例13的物鏡特別適用。在圖33的光拾取裝置中，當再生第1光碟時，第1半導體雷射器111在雷射/檢出器集成單元410單元中將光檢出器301以及全息幹板231組合單元化，從第1半導體雷射器111出射的光束透過全息幹板231、透過作為光混合裝置的光束分離器190，進而通過利用光闌17縮放的規定的數值孔徑，由物鏡160經由第1光碟200的透明基板210，聚光到信息記錄面220上。被信息記錄面220的信息凹坑調製的反射光束再次通過物鏡160、光闌170並透過光束分離器190，在全息幹板231處被衍射併入射到光檢出器301上，利用光檢出器301的輸出信號，可獲取記錄在第1光碟200上的信息的讀取信號。此外，檢測出在光檢出器301上的點的形狀變化、對應位置變化所產生的光量變化，進行聚焦檢測或光道檢測，再通過2維傳動機構150驅使物鏡160移動，以進行聚焦、跟蹤。當再生第2光碟時，第2半導體雷射器112在雷射/檢出器集成單元420單元中將光檢出器302以及全息幹板232組合單元化，從第2半導體雷射器112出射的光束透過全息幹板232、在光混合裝置的光束分離器190處反射，進而通過光闌170、物鏡160以及第2光碟200的透明基板210，聚光到信息記錄面220上。被信息記錄面220的信息凹坑調製的反射光束再次透過物鏡160以及光闌170並在光束分離器190處反射，在全息幹板232處衍射併入射到光檢出器302上，利用光檢出器302的輸出信號，可獲取記錄在第2光碟200上的信息的讀取信號。此外，檢測出在光檢出器302上的點的形狀變化、對應位置變化所產生的光量變化，進行聚焦檢測或光道檢測，再根據該檢測利用2維傳動機構150驅使物鏡160移動，以進行聚焦、跟蹤。在本實施形態以及在後述的2雷射器型的實施形態中，在使用波長為λ1的第1光束記錄或者再生第1光碟200，以及設物鏡160的光碟側的必要的數值孔徑為NA1、使用波長為λ2的第2光束記錄或者再生第2光碟200，以及設物鏡160的光碟側的必要的數值孔徑為NA2時，有t1＜t2且NA1＞NA2，而當設物鏡160的對於第1光束的光碟側的數值孔徑為NA(1)、物鏡160的對於第1光束的成像倍率為mo1時，其滿足NA(1)≥0.56(45)-1/5≤mo1≤-1/7.5(46)同時，如上所述的那樣，當設至少對於環境溫度20℃至30℃範圍內溫度變化△T(℃)的物鏡160的軸上球差變化量為SA1時，其滿足｜△SA1/△T｜≤0.0005λrms/℃(47)進而，雖然沒有圖示出來，但在上述第1光束和上述第2光束共同通過的光路上，即在與物鏡160的衍射圖案面相反側的面，設置有作為透過第1光束、透過第2光束中的中央部分並反射(遮蔽)其外側區域的孔徑限制手段的部分二向色鍍層。所涉及的部分二向色鍍層的波長為λ2的光束的反射率為30％到70％。作為本實施形態的變形例，也可以考慮物鏡160的兩面帶有衍射圖案，作為與物鏡一體化的孔徑限制手段，也可以考慮在物鏡160的一側的面上形成透過第1光束、透過第2光束中的中央部分並衍射其外側區域的部分衍射圖案。作為本實施例的另外的變形例，還可以採用將入射到光碟200的信息記錄面220的光束分束為光軸近旁的內側光束、較上述內側光束靠外側的中間光束、較上述中間光束更靠外側的外側光束這樣至少3個光束，通過主要利用來自上述第1半導體雷射器111的光束中的內側光束以及外側光束形成束點，相對於第1光碟200記錄以及/或者再生信息，通過主要利用來自上述第2半導體雷射器112的光束中的內側光束以及中間光束形成束點，相對於第2光碟200記錄以及/或者再生信息的做法。這樣，通過構成孔徑限制手段，可以調整信息記錄面220上的點徑，並由此相對於種類不同的光碟進行適當信息的記錄或者再生。另外，來自第2半導體雷射器112的光束中，入射到第2光碟200的信息記錄面220的內側區域的波陣面象差的3次球差成分最好是不足(under)(參照圖29)。圖34的第3光拾取裝置(2個光源2個檢出器型)是適合於記錄再生用的光學系統的構成，下面對信息的記錄以及再生的狀態進行說明。在再生第1光碟200時，從作為第1光源的第1半導體雷射器111出射光束，透過減小發散光束的發散度的組合透鏡60、作為光混合裝置的光束分離器190、光束分離器120，進而通過利用光闌170縮放的數值孔徑，由物鏡160經由第1光碟200的透明基板210聚光到信息記錄面220。進而，被信息記錄面220的信息凹坑調製的反射光束再次通過物鏡160、光闌170併入射到光束分離器120，在此被反射，在柱面透鏡180賦予象散性象差，經由凹透鏡50入射到光檢出器301，利用光檢出器301的輸出信號，可獲取被記錄在第1光碟200上的信息的讀取信號。此外，檢測出在光檢出器301上的點的形狀變化、對應位置變化所產生的光量變化，進行聚焦檢測或光道檢測。根據該檢測，通過2維傳動機構150驅使物鏡160移動將來自第1半導體雷射器111的光束成像在第1光碟200的記錄面220上，同時，還驅使物鏡160移動以能將來自半導體雷射器111的光束成像在規定的光道上。用於再生第2光碟的作為第2光源的第2半導體雷射器112將光檢出器302以及全息幹板230組合單元化在雷射/檢出器集成單元400上。所謂的「單元」或者「單元化」是指將單元化的部件或裝置構成一體以能夠組裝進光拾取裝置，使其形成為組裝裝置時能夠作為一個部件來組裝的狀態。從第2半導體雷射器112出射的光束透過全息幹板230、在作為光混合裝置的光束分離器190處反射，透過光束分離器120，進而經由光闌170、物鏡160以及第2光碟200的透明基板210，聚光到信息記錄面220上。被信息記錄面220的信息凹坑調製的反射光束再次透過物鏡160、光闌170以及光束分離器120，在光束分離器190處反射，被全息幹板230衍射併入射到光檢出器302上，利用光檢出器302的輸出信號，可獲取記錄在第2光碟200上的信息的讀取信號。此外，檢測出在光檢出器302上的點的形狀變化、對應位置變化所產生的光量變化，進行聚焦檢測或光道檢測，再根據該檢測利用2維傳動機構150驅使物鏡160移動，以進行聚焦、跟蹤。在圖35所示的涉及第4實施形態的光拾取裝置(2個光源1個檢出器型)中，具有作為第1光碟再生用的第1光源的第1半導體雷射器111和作為第2光碟再生用的第2光源的第2半導體雷射器112。首先，在再生第1光碟時，從第1半導體雷射器111出射光束，所出射的光束透過作為兩個半導體雷射器111、112的出射光的光混合裝置的光束分離器190、光束分離器120，經過利用光闌17縮放的數值孔徑，由物鏡160經由第1光碟200的透明基板210聚光到信息記錄面220。進而，被信息記錄面220的信息凹坑調製的反射光束再次透過物鏡160、光闌17入射到光束分離器120，並在此被反射，再經柱面透鏡180賦予象散性象差後入射到光檢出器300上，利用光檢出器300的輸出信號，可獲取被記錄在第1光碟200上的信息的讀取信號。此外，檢測出在光檢出器300上的點的形狀變化、對應位置變化所產生的光量變化，進行聚焦檢測或光道檢測。根據該檢測，通過2維傳動機構150驅使物鏡160移動將來自第1半導體雷射器111的光束成像在第1光碟200的記錄面220上，同時，還驅使物鏡160移動以能夠將來自半導體雷射器111的光束成像在規定的光道上。在再生第2光碟時，從第2半導體雷射器112出射光束，所出射的光束在作為光混合裝置的光束分離器190被反射，和從上述第1半導體雷射器111出射的光束一樣，通過光束分離器120、光闌17，由物鏡160經由第2光碟200的透明基板210聚光到信息記錄面220。被信息記錄面220的信息凹坑調製的反射光束再次經由物鏡160、光闌17以及光束分離器120，柱面透鏡180入射到光檢出器300上，利用光檢出器300的輸出信號，獲取記錄在第2光碟200上的信息的讀取信號。此外，與第1光碟的情況一樣，檢測出在光檢出器300上的點的形狀變化、對應位置變化所產生的光量變化，進行聚焦檢測或光道檢測，再根據該檢測利用2維傳動機構150驅使物鏡160移動，以進行聚焦、跟蹤。在圖36所示的涉及第5實施形態的光拾取裝置(2個光源1個檢出器一個單元型)中，將作為第1光碟再生用的第1光源的第1半導體雷射器111、作為第2光碟再生用的第2光源的第2半導體雷射器112、光檢出器300和全息幹板230組合單元化為雷射/檢出器集積單元430。首先，在再生第1光碟時，從第1半導體雷射器111出射光束，所出射的光束透過全息幹板230、經過利用光闌170縮放的數值孔徑，通過物鏡160經由第1光碟200的透明基板210聚光到信息記錄面220。進而，被信息記錄面220的信息凹坑調製的反射光束再次透過物鏡160、光闌170，在全息幹板230被衍射併入射到光檢出器300上，利用光檢出器300的輸出信號，可獲取被記錄在第1光碟200上的信息的讀取信號。此外，檢測出在光檢出器300上的點的形狀變化、對應位置變化所產生的光量變化，進行聚焦檢測或光道檢測。根據該檢測，通過2維傳動機構150驅使物鏡160移動，以進行聚焦、跟蹤。在再生第2光碟時，從第2半導雷射器112出射光束透過全息幹板230成為近似平行光。進而經由光闌170、物鏡160、第2光碟200的透明基板210聚光到信息記錄面220上。被信息記錄面220的信息凹坑調製的反射光束再次透過物鏡160、光闌170，在全息幹板230被衍射併入射到光檢出器300上，利用光檢出器300的輸出信號，可獲取被記錄在第2光碟200上的信息的讀取信號。此外，檢測出在光檢出器300上的點的形狀變化、對應位置變化所產生的光量變化，進行聚焦檢測或光道檢測，再根據該檢測，利用2維傳動機構150驅使物鏡160移動，以進行聚焦、跟蹤。在圖37所示的第6實施形態所涉及的光拾取裝置(2個光源2個檢出器1個單元化型)中，作為第1光源的第1半導體雷射器111、作為第2光源的第2半導體雷射器112、第1光檢出器301、第2光檢出器302以及全息幹板230被組合單元化為雷射/檢出器集積單元430。在再生第1光碟時，從作為第1光源的第1半導體雷射器111出射光束，透過全息幹板的光碟側的面，以及利用光闌170縮放的數值孔徑，由物鏡160經由第1光碟200的透明基板210聚光到信息記錄面220上。進而，被信息記錄面220的信息凹坑調製的反射光束再次透過物鏡160、光闌170並在全息幹板230的光碟側的面被衍射，入射到對應地1光源的光檢出器301上，利用該光檢出器301的輸出信號，可獲取被記錄在第1光碟200上的信息的讀取信號。此外，檢測出在光檢出器301上的點的形狀變化、對應位置變化所產生的光量變化，進行聚焦檢測或光道檢測。根據該檢測，在通過2維傳動機構150驅使物鏡160移動，以進行聚焦、跟蹤。再生第2光碟時，從第2半導體雷射器112出射的光束在全息幹板230的半導體雷射器側的面被衍射。該全息幹板的半導體雷射器側的面起著作為光合成手段作用。所涉及的衍射光進一步經由光闌170、物鏡160及第2光碟200的透明基板210，聚光到信息記錄面220上。進而，被信息記錄面220的信息凹坑調製的反射光束再次透過物鏡160、光闌170，在全息幹板230的光碟側的面被衍射併入射到對應第2光源的光檢出器302上，利用光檢出器302的輸出信號，可獲取記錄在第2光碟200上的信息的讀取信號。此外，檢測出在光檢出器302上的點的形狀變化、對應位置變化所產生的光量變化，進行聚焦檢測或光道檢測，再根據該檢測利用2維傳動機構150驅使物鏡160移動，以進行聚焦、跟蹤。在圖38所示的涉及第7實施形態的光拾取裝置(2個光源一個封裝型)中，從作為第1光源的第1半導體雷射器111出射光束，透過作為光混合裝置光束分離器120，進而利用光闌27縮放的數值孔徑並由物鏡26經由第1光碟20的透明基板21聚光到信息記錄面22上。進而，被信息記錄面22的信息凹坑調製並反射的光束再次透過物鏡26、光闌27，入射到光束分離器120，並在此被反射，在柱面透鏡180賦予象散性象差後，經由凹透鏡50入射到光檢出器30上，利用光檢出器30的輸出信號，可獲取被記錄在第1光碟20上的信息的讀取信號。此外，檢測出在光檢出器30上的點的形狀變化、對應位置變化所產生的光量變化，進行聚焦檢測或光道檢測。根據該檢測，通過2維傳動機構(沒有圖示)驅使物鏡26移動將來自第1半導體雷射器111的光束成像在第1光碟20的記錄面22上，同時，還驅使物鏡26移動以能將來自半導體雷射器111的光束成像在規定的光道上。從第2半導體雷射器112出射的光束透過作為光混合裝置的光束分離器120，進而經由光闌27、物鏡26以及第2光碟20的透明基板21，聚光到信息記錄面22上。被信息記錄面22的信息凹坑調製並反射的光束再次透過物鏡26、光闌27，在光束分離器120處被反射，在柱面透鏡180被賦予象散性象差後，經由凹透鏡50入射到光檢出器30上，利用光檢出器30的輸出信號，獲取被記錄在第2光碟20上的信息的讀取信號。此外，檢測出在光檢出器30上的點的形狀變化、對應位置變化所產生的光量變化，進行聚焦檢測或光道檢測，再根據該檢測利用2維傳動機構(沒有圖示)驅使物鏡26移動，以進行聚焦、跟蹤。如以上所說明的那樣，根據本發明，即使是在使用了因使用環境溫度變化而導致折射率變化的材料時，也能夠利用比較簡單的構成校正因溫度變化導致的球差的變化，進而，即使是光源隨環境溫度變化而變動波長這樣的光學系統，也可以校正因其波長變動而導致的球差變化以及因材料的折射率變動而導致的球差變化兩者。因此，可以低成本地製造光拾取裝置用物鏡、具備該物鏡的光拾取裝置、以及進一步獲得具備該光拾取裝置的記錄再生裝置。在不違背本發明主旨和不超越本發明範圍的情況下，可由本領域人員對本發明所揭示的具體實施例進行各種變形。權利要求1．一種進行光信息記錄介質的信息再生以及/或者記錄的光拾取裝置，其特徵在於該裝置具有出射波長為λ(nm)的光束的光源；將上述光源出射的光束會聚到上述光信息記錄介質的信息記錄面上的具有物鏡的集光光學系統；以及接收來自上述光信息記錄介質的反射光的光檢出器；上述物鏡是塑料透鏡，且至少在一個面上帶有衍射部並滿足以下條件式0.3≤φR/φ≤1.5這裡，φR上述物鏡在上述光源的波長λ(nm)處的折射光焦度，φ上述物鏡在上述光源的波長λ(nm)處的光焦度。2．權利要求1所記載的光拾取裝置，其特徵在於當設對於在上述光源的波長λ(nm)的±5nm範圍內波長變化△λ1(nm)的上述物鏡的3次軸上球差變化量為△SA2、對於環境溫度20℃至30℃範圍內溫度變化△T(℃)的上述物鏡的3次軸上球差變化量為△SA1時，滿足以下條件式(△SA2/△λ1)×(△SA1/△T)＜0λrms2/(℃·nm)這裡，△SA2/△λ1是一定溫度下的值，△SA1/△T是一定波長下的值。3．權利要求2所記載的光拾取裝置，其特徵在於上述物鏡的光信息記錄介質側的數值孔徑NA為0.58以上，上述物鏡的成像倍率mo1大致為0。4．權利要求2所記載的光拾取裝置，其特徵在於上述物鏡的成像倍率mo1滿足以下的條件式-1/2≤mo1≤-1/7.55．權利要求2所記載的光拾取裝置，其特徵在於滿足以下的條件式△SA2/△λ1＜0λrms/nm△SA1/△T＞0λrms/℃6．權利要求1所記載的光拾取裝置，其特徵在於當設對於環境溫度20℃至30℃範圍內溫度變化△T(℃)的上述物鏡的3次軸上球差變化量為△SA1時，滿足以下條件式｜△SA1/△T｜≤0.001λrms/℃這裡，△SA1/△T是一定波長下的值。7．權利要求6所記載的光拾取裝置，其特徵在於上述物鏡的光信息記錄介質側的數值孔徑NA為0.58以上，上述物鏡的成像倍率mo1大致為0。8．權利要求6所記載的光拾取裝置，其特徵在於上述光源的波長λ(nm)為680nm以下。9．權利要求6所記載的光拾取裝置，其特徵在於上述物鏡的光信息記錄介質側的數值孔徑NA為0.48以上，不足0.58，上述物鏡的成像倍率mo1大致為0，滿足以下的條件式｜△SA1/△T｜≤0.0004λrms/℃10．權利要求6所記載的光拾取裝置，其特徵在於上述物鏡的光信息記錄介質側的數值孔徑NA為0.49以上，上述物鏡的成像倍率mo1滿足以下的條件式-1/2≤mo1≤-1/7.5進而，還滿足以下的條件式｜△SA1/△T｜≤0.0005λrms/℃11．權利要求10所記載的光拾取裝置，其特徵在於上述物鏡可以在與上述物鏡的光軸垂直的方向上移動，上述物鏡和上述光源的相對位置可以變化，在上述物鏡的光軸和上述光源的光束中心偏離的位置上，從上述光源出射並通過上述物鏡的光束的波陣面象差的象散性成分最小。12．權利要求10所記載的光拾取裝置，其特徵在於當設上述光源和上述光信息記錄介質的信息記錄面的距離為U時，滿足以下的條件式。10mm＜U＜40mm13．權利要求10所記載的光拾取裝置，其特徵在於是一個對具有厚度t1的第1透明基板的第1光信息記錄介質和具有厚度t2(t2＞t1)的第2透明基板的第2光信息記錄介質進行信息的再生以及/或者記錄的光拾取裝置；除了出射波長為λ的光束的光源外，還具有出射波長為λ2(λ＜λ2)的第2光束的第2光源；上述集光光學系統將上述光源或者上述第2光源出射的光束會聚在上述第1光信息記錄介質或者上述第2光信息記錄介質的信息記錄面上；上述光檢出器接收來自上述第1光信息記錄介質或者上述第2光信息記錄介質的反射光；上述NA是為用波長λ記錄或者再生上述第1光信息記錄介質而必需的上述物鏡的上述第1光信息記錄介質側的數值孔徑；NA2(NA2＜NA1)為用波長λ2記錄或者再生上述第2光信息記錄介質而必需的上述物鏡的上述第2光信息記錄介質側的數值孔徑；當上述mo1是上述第1光信息記錄介質的記錄或者再生時的上述物鏡的成像倍率時，其滿足以下條件式。NA≥0.56-1/5≤mo1≤-1/7.514．權利要求13所記載的光拾取裝置，其特徵在於當設上述第2光信息記錄介質的記錄或者再生時的上述物鏡的成像倍率為mo2時，其滿足以下條件式。｜mo2-mo1｜＜0.115．權利要求1所記載的光拾取裝置，其特徵在於當設對於環境溫度20℃至30℃範圍內溫度變化△T(℃)的上述光源的波長變化量為△λ2(nm)時，滿足以下條件式0nm/℃＜△λ2/△T≤0.5nm/℃16．權利要求1所記載的光拾取裝置，其特徵在於當設對於環境溫度20℃至30℃範圍內溫度變化△T(℃)的上述物鏡的折射率變化量為△n時，滿足以下條件式-0.002/℃≤△n/△T≤-0.00005/℃17．權利要求16所記載的光拾取裝置，其特徵在於滿足以下條件式-0.0002/℃≤△n/△T≤-0.00005/℃18．權利要求1所記載的光拾取裝置，其特徵在於上述光源的波長λ(nm)和上述物鏡的光信息記錄介質側的數值孔徑NA滿足以下條件式。0.00015/nm≤(NA)4/λ≤40/nm19．權利要求1所記載的光拾取裝置，其特徵在於上述光源的波長λ(nm)和上述物鏡的光信息記錄介質側的數值孔徑NA滿足以下條件式。10nm≤λ/NA≤1100nm20．權利要求1所記載的光拾取裝置，其特徵在於當設對於在上述光源的波長λ(nm)的+5nm範圍內波長變化△λ1(nm)的上述物鏡的3次軸上球差變化量為△SA2時，其滿足以下條件式｜△SA2/△λ1｜≤0.1λrms/nm這裡，△SA2/△λ1是一定溫度下的值，21．權利要求1所記載的光拾取裝置，其特徵在於當設對於在上述光源的波長λ(nm)的±5nm範圍內波長變化△λ1(nm)的上述物鏡的焦點位置變化量為△f(μm)時，其滿足以下條件式｜△f/△λ1｜≤20022．權利要求1所記載的光拾取裝置，其特徵在於上述物鏡的至少一個面是非球面。23．權利要求1所記載的光拾取裝置，其特徵在於上述衍射部具有以上述物鏡的光軸為近似中心的同心圓狀的多條波帶的形狀，表示上述多條波帶體的各波帶位置的光程差函數至少包含冪級數的6次項。24．權利要求1所記載的光拾取裝置，其特徵在於上述物鏡是單透鏡。25．權利要求1所記載的光拾取裝置，其特徵在於當設上述物鏡的與光信息記錄介質側相反一側的基礎面的近軸曲率半徑為r1(mm)、上述物鏡的折射率為n、上述物鏡的折射的焦距為fR(mm)時，其滿足以下條件式。1.0≤r1/{(n-1)·fR}≤1.226．權利要求1所記載的光拾取裝置，其特徵在於上述物鏡由聚烯烴類樹脂、降冰片烯類樹脂、芴類樹脂中的任意一種樹脂構成。27．權利要求1所記載的光拾取裝置，其特徵在於通過將上述物鏡的至少一面做成非球面，校正因環境溫度變化產生的軸上球差變化量，通過在上述物鏡的至少一個面上設置衍射部，校正球差。28．權利要求1所記載的光拾取裝置，其特徵在於當設為用波長λ記錄或者再生上述光信息記錄介質所必要的上述物鏡的上述光信息記錄介質側的數值孔徑為NA時，在環境溫度20℃至30℃範圍內的由上述光源出射並通過上述物鏡的、NA以下的光束會聚在上述光信息記錄介質的信息記錄面上時的3次軸上球差成分的絕對值為0.07λrms以內。29．權利要求1所記載的光拾取裝置，其特徵在於是一個對具有厚度t1的第1透明基板的第1光信息記錄介質和具有厚度t2(t2＞t1)第2透明基板的第2光信息記錄介質進行信息的再生以及/或者記錄的光拾取裝置；除了出射波長為λ的光束的光源外，還具有出射波長為λ2(λ＜λ2)的第2光束的第2光源；上述集光光學系統將上述光源或者上述第2光源所出射的光束會聚在上述第1光信息記錄介質或者上述第2光信息記錄介質的信息記錄面上；上述光檢出器接收來自上述第1光信息記錄介質或者上述第2光信息記錄介質的反射光；使用來自上述光源的上述波長為λ的光束進行上述第1光信息記錄介質的信息的再生以及/或者記錄；使用來自上述第2光源的上述波長為λ2的光束進行上述第2光信息記錄介質的信息的再生以及/或者記錄。30．權利要求29所記載的光拾取裝置，其特徵在於當設上述NA是為用波長λ記錄或者再生上述第1光信息記錄介質而必需的上述物鏡的上述第1光信息記錄介質側的數值孔徑、NA2(NA2＜NA1)是為用波長λ2記錄或者再生上述第2光信息記錄介質而必需的上述物鏡的上述第2光信息記錄介質側的數值孔徑時，在環境溫度20℃至30℃範圍內的由上述光源出射並通過上述物鏡的、NA以下的光束會聚在上述第1光信息記錄介質的信息記錄面上時的3次軸上球差成分的絕對值為0.07λrms以內；在環境溫度20℃至30℃範圍內的由上述第2光源出射並通過上述物鏡的、NA2以下的光束會聚在上述第2光信息記錄介質的信息記錄面上時的3次軸上球差成分的絕對值為0.07λrms以內。31．一種進行光信息記錄介質的信息再生以及/或者記錄的光拾取裝置用物鏡，其特徵在於上述透鏡是塑料透鏡，且至少在一個面上帶有衍射部，並滿足以下條件式0.3≤φR/φ≤1.5這裡，φR在上述物鏡的規定波長λ(nm)處的折射光焦度φ在上述物鏡的規定波長λ(nm)處的光焦度32．權利要求31所記載的物鏡，其特徵在於當設對於上述規定波長λ(nm)的±5nm範圍內波長變化△λ1(nm)的上述物鏡的3次軸上球差變化量為△SA2、對於環境溫度20℃至30℃範圍內溫度變化△T(℃)的上述物鏡的3次軸上球差變化量為△SA1時，其滿足以下條件式(△SA2/△λ1)×(△SA1/△T)＜0λrms2/(℃·nm)這裡，△SA2/△λ1是一定溫度下的值，△SA1/△T是一定波長下的值。33．權利要求31所記載的物鏡，其特徵在於當設對於環境溫度20℃至30℃範圍內溫度變化△T(℃)的上述物鏡的3次軸上球差變化量為△SA1時，其滿足以下條件式｜△SA1/△T｜≤0.001λrms/℃這裡，△SA1/△T是一定波長下的值。34．一種進行光信息記錄介質的信息再生以及/或者記錄的光信息記錄介質記錄以及/或者再生裝置，其特徵在於光拾取裝置具有出射波長為λ(nm)的光束的光源；將上述光源出射的光束會聚到上述光信息記錄介質的信息記錄面上的具有物鏡的集光光學系統；接收來自上述光信息記錄介質的反射光的光檢出器；上述物鏡是塑料透鏡，且至少在一個面上帶有衍射部並滿足以下條件式0.3≤φR/φ≤1.5這裡，φR上述物鏡在上述光源的波長λ(nm)處的折射光焦度φ上述物鏡在上述光源的波長λ(nm)處的光焦度35．權利要求6所記載的光拾取裝置，其特徵在於滿足以下條件式。｜△SA1/△T｜≤0.0004λrms/℃全文摘要進行光信息記錄介質的信息再生以及/或者記錄的光拾取裝置具有:出射波長為λ(nm)的光束的光源;將上述光源出射的光束會聚到上述光信息記錄介質的信息記錄面上的具有物鏡的集光光學系統;以及接收來自上述光信息記錄介質的反射光的光檢出器;上述物鏡是塑料透鏡,且至少在一個面上帶有衍射部並滿足以下條件式0.3≤ΦR/Φ≤1.5,這裡,ΦR:上述物鏡在上述光源的波長λ(nm)處的折射光焦度,Φ:上述物鏡在上述光源的波長λ(nm)處的光焦度。文檔編號G11B7/135GK1298175SQ0012855公開日2001年6月6日申請日期2000年11月17日優先權日1999年11月17日發明者小嶋俊之,荒井則一申請人:柯尼卡株式會社