實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試系統及方法
2023-12-07 01:37:11 1
實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試系統及方法
【專利摘要】本發明涉及一種實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試系統及方法，其中包括合路器；雙工濾波器，用以將合路信號輸出至被測件或校準件並接收被測件或校準件產生的互調信號；接收機，用以接收雙工濾波器中產生的互調信號與被測件或校準件產生的互調信號的矢量疊加信號；數個耦合器；非線性電路，用以接收耦合器耦合後的待測試信號產生內部參考互調信號並發送至接收機。採用該種結構的實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試系統及方法，使得整個測試系統的殘餘互調達到更低的水平，降低雙工濾波器的互調特性對測試結果的影響，雙工濾波器的互調值即使比負載高15～20dB也可以正常測試被測件的互調值，具有更廣泛的應用範圍。
【專利說明】實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試系統及方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及通信【技術領域】，尤其涉及互調測試領域，具體是指一種實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試系統及方法。
【背景技術】
[0002]傳統的互調測試系統如圖1所示，兩路功連續波信號合路後，接入雙工濾波器發射端，經公共端輸出至被測件，被測件產品產生互調信號反射至雙工器接收通道，由接收機測量互調信號的幅度大小。在這個測量系統中，接收機測量到的互調信號是雙工濾波器產生的互調與被測件產生的互調的矢量疊加結果。需要自身互調特性極好的雙工濾波器才能對被測件的互調有較準確的測量，一般要求雙工器的自身互調比被測件的互調值小15dB以上。
【發明內容】
[0003]本發明的目的是克服了上述現有技術的缺點，提供了一種能夠實現降低殘餘互調、降低雙工濾波器的互調特性對測試結果的影響、可以適用於不同階數的互調測試、具有更廣泛應用範圍的實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試系統及方法。
[0004]為了實現上述目的，本發明的實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試系統及方法具有如下構成:
[0005]該實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試系統，其主要特點是，所述的系統包括:
[0006]合路器，用以將待測試互調信號合路後輸出合路信號；
[0007]雙工濾波器，用以通過合路信號輸出端將所述的合路信號輸出至被測件或校準件並接收所述的被測件或校準件產生的互調信號；
[0008]接收機，用以接收所述的雙工濾波器中產生的互調信號與所述的被測件或校準件產生的互調信號的矢量疊加信號；
[0009]數個耦合器，用以將待測試信號耦合後輸出；
[0010]非線性電路，用以接收所述的耦合器耦合後的待測試信號產生內部參考互調信號並發送至所述的接收機。
[0011]較佳地，所述的耦合器為一個，所述的耦合器設置於所述的合路器和雙工濾波器之間或所述的耦合器與所述的雙工濾波器的合路信號輸出端相連接。
[0012]較佳地，所述的耦合器與待測試互調信號的路數相同且所述的耦合器與各路待測試互調信號一一對應，各個所述的耦合器設置於所對應的一路待測試互調信號與所述的合路器之間。
[0013]較佳地，所述的非線性電路為混頻器或二極體。
[0014]較佳地，所述的校準件為互調值低於系統預設限值的負載。
[0015]本發明還涉及一種基於所述的系統實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試方法，其主要特點是，所述的方法包括以下步驟:
[0016](I)所述的接收機接收所述的非線性電路輸出的內部參考互調信號並測量該信號的幅值和相位值；
[0017](2)斷開所述的被測件與所述的雙工濾波器之間的通信並建立所述的校準件與所述的雙工濾波器之間的通信；
[0018](3)將待測試互調信號輸入所述的合路器並記錄當前接收機從所述的雙工濾波器接收到的校準信號；
[0019](4)斷開所述的校準件與所述的雙工濾波器之間的通信並建立所述的被測件與所述的雙工濾波器之間的通信；
[0020](5)將待測試互調信號輸入所述的合路器並記錄當前接收機從所述的雙工濾波器接收到的待校準互調信號；
[0021](6)根據所述的內部參考互調信號、校準信號和待校準信號計算被測件的互調信號值。
[0022]較佳地，所述的根據所述的內部參考互調信號、校準信號和待校準信號計算被測件的互調信號值，包括以下步驟:
[0023](61)根據所述的內部參考互調信號和待校準信號的相位確定外部實測互調信號的相位值；
[0024](62)將待校準信號減去校準信號得到被測件的互調信號值。
[0025]採用了該發明中的實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試系統及方法，能夠實現降低殘餘互調，低互調負載的比較容易實現，使得整個測試系統的殘餘互調達到更低的水平，降低雙工濾波器的互調特性對測試結果的影響，雙工濾波器的互調值即使比負載高15?20dB也可以正常測試被測件的互調值，既可以用於反射互調的測試也可以用於傳輸互調的測試，可以適用於不同階數的互調測試，具有更廣泛的應用範圍。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0026]圖1為現有技術中互調測試系統的結構示意圖。
[0027]圖2為本發明的實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試系統的結構示意圖。【具體實施方式】
[0028]為了能夠更清楚地描述本發明的技術內容，下面結合具體實施例來進行進一步的描述。
[0029]本文介紹的方法是增加一個測量參考測試通道，參考通道通過耦合部分載波信號，加載到一非線性電路中，產生較大的互調信號，該互調信號與待測試互調信號由相同信號源產生，它們是同頻的相干信號，可以作為互調信號相位測試的參考信號，通過雙通道矢量接收機不僅測量被測互調信號的幅度值，也測量互調信號相對參考信號的相位值，這樣可以得到互調信號的矢量信息。
[0030]如圖2所示，本發明的測試系統包括:
[0031]合路器，用以將待測試互調信號合路後輸出合路信號；
[0032]雙工濾波器，用以將經所述的合路信號輸出至被測件或校準件並接收所述的被測件或校準件產生的互調信號；
[0033]接收機，用以接收所述的雙工濾波器中產生的互調信號與所述的被測件或校準件產生的互調信號的矢量疊加信號；
[0034]數個耦合器，用以將待測試信號耦合後輸出；
[0035]非線性電路，用以接收所述的耦合器耦合後的待測試信號產生內部參考互調信號並發送至所述的接收機。
[0036]在圖2的實施例中，該測試系統包含一個互調參考通道，參考通道的信號源來自兩個測試載波信號，可以是分開耦合，即需要設置與待測試互調信號路數相同數目的耦合器，也可以是合路後一起耦合的，可以是經過濾波器之前耦合，也可以在濾波器之後耦合。
[0037]通過耦合的載波信號在非線性電路上產生互調信號作為內部參考，通過測量外部互調信號與內部參考信號的相位差確定外部互調信號的相位。該非線性電路可以是混頻器、二極體或其他的可以產生較大互調信號的電路。
[0038]在測試被測件之前，用低互調的負載作為校準件代替被測件，先對測試系統做一次校準測試。假設負載的互調值為零，連接低互調的負載時，測得測試系統的內部自身互調幅度值與相對參考信號的相位值並記錄，記錄結果作為校準值。測試被測件時將測得的互調值與記錄的校準值矢量相減，就得到被測件的實際互調值。由於雙工器自身的互調在測試過程中可以被識別並去除，在改進的測試系統中，雙工器的互調特性對最終的測試結果影響很小。
[0039]測試前，使用低互調負載進行系統校準，測試時將測量結果與校準值矢量相減得到被測件的互調值。
[0040]即本發明中實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試方法包括以下步驟:
[0041](I)所述的接收機接收所述的非線性電路輸出的內部參考互調信號並測量該信號的幅值和相位值；
[0042](2)斷開所述的被測件與所述的雙工濾波器之間的通信並建立所述的校準件與所述的雙工濾波器之間的通信；
[0043](3)將待測試互調信號輸入所述的合路器並記錄當前接收機從所述的雙工濾波器接收到的校準信號；
[0044](4)斷開所述的校準件與所述的雙工濾波器之間的通信並建立所述的被測件與所述的雙工濾波器之間的通信；
[0045](5)將待測試互調信號輸入所述的合路器並記錄當前接收機從所述的雙工濾波器接收到的待校準互調信號；
[0046](6)根據所述的內部參考互調信號、校準信號和待校準信號計算被測件的互調信號值。
[0047]採用了該發明中的實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試系統及方法，能夠實現降低殘餘互調，低互調負載的比較容易實現，使得整個測試系統的殘餘互調達到更低的水平，降低雙工濾波器的互調特性對測試結果的影響，雙工濾波器的互調值即使比負載高15?20dB也可以正常測試被測件的互調值，既可以用於反射互調的測試也可以用於傳輸互調的測試，可以適用於不同階數的互調測試，具有更廣泛的應用範圍。
[0048]在此說明書中，本發明已參照其特定的實施例作了描述。但是，很顯然仍可以作出各種修改和變換而不背離本發明的精神和範圍。因此，說明書和附圖應被認為是說明性的而非限制性的。
【權利要求】
1.一種實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試系統，所述的系統包括: 合路器，用以將待測試互調信號合路後輸出合路信號； 雙工濾波器，用以通過合路信號輸出端將所述的合路信號輸出至被測件或校準件並接收所述的被測件或校準件產生的互調信號； 接收機，用以接收所述的雙工濾波器中產生的互調信號與所述的被測件或校準件產生的互調信號的矢量疊加信號； 其特徵在於，所述的系統還包括: 數個耦合器，用以將待測試信號耦合後輸出； 非線性電路，用以接收所述的耦合器耦合後的待測試信號產生內部參考互調信號並發送至所述的接收機。
2.根據權利要求1所述的實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試系統，其特徵在於，所述的耦合器為一個，所述的耦合器設置於所述的合路器和雙工濾波器之間或所述的耦合器與所述的雙工濾波器的合路信號輸出端相連接。
3.根據權利要求1所述的實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試系統，其特徵在於，所述的耦合器與待測試互調信號的路數相同且所述的耦合器與各路待測試互調信號一一對應，各個所述的耦合器設置於所對應的一路待測試互調信號與所述的合路器之間。
4.根據權利要求1所述的實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試系統，其特徵在於，所述的非線性電路為混頻器或二極體。
5.根據權利要求1所述的實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試系統，其特徵在於，所述的校準件為互調值低於系統預設限值的負載。
6.一種基於權利要求1至5中任一項所述的系統實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試方法，其特徵在於，所述的方法包括以下步驟: (1)所述的接收機接收所述的非線性電路輸出的內部參考互調信號並測量該信號的幅值和相位值； (2)斷開所述的被測件與所述的雙工濾波器之間的通信並建立所述的校準件與所述的雙工濾波器之間的通信； (3)將待測試互調信號輸入所述的合路器並記錄當前接收機從所述的雙工濾波器接收到的校準信號； (4)斷開所述的校準件與所述的雙工濾波器之間的通信並建立所述的被測件與所述的雙工濾波器之間的通信； (5)將待測試互調信號輸入所述的合路器並記錄當前接收機從所述的雙工濾波器接收到的待校準互調信號； (6)根據所述的內部參考互調信號、校準信號和待校準信號計算被測件的互調信號值。
7.根據權利要求6所述的實現互調測試中殘餘互調降低的互調測試方法，其特徵在於，所述的根據所述的內部參考互調信號、校準信號和待校準信號計算被測件的互調信號值，包括以下步驟: (61)根據所述的內部參考互調信號和待校準信號的相位確定外部實測互調信號的相位值； (62)將待校準信號減去校準信號得到被測件的互調信號值。
【文檔編號】H04B17/00GK103701547SQ201410008797
【公開日】2014年4月2日 申請日期:2014年1月8日 優先權日:2014年1月8日
【發明者】吳浩發 申請人:上海創遠儀器技術股份有限公司