光信息記錄裝置、光信息記錄方法和信號處理電路的製作方法

2023-12-01 03:38:21 2

專利名稱：：光信息記錄裝置、光信息記錄方法和信號處理電路的製作方法
技術領域：
：本發明涉及光信息記錄裝置、光信息記錄方法和信號處理電路，尤其涉及能夠進行依照驅動器和介質的匹配性的記錄條件最優化的光信息記錄裝置、光信息記錄方法和信號處理電路。
背景技術：
：在以CD-R和DVD-R等為代表的光信息記錄介質(以下稱作「介質」)的記錄中，作為記錄對象的介質與記錄所使用的記錄裝置(以下稱作「驅動器」)的匹配性因各個組合的不同而不同。作為其原因，考慮有以下情況，即由於構成介質的記錄材料的種類的不同或製造時的成膜差異而使最佳的記錄條件發生變化的介質一方的主要原因；和由於構成驅動器的拾取器、半導體雷射器的種類的不同或製造時的組裝差異而使最佳的條件發生變化的驅動器一方的主要原因。實際上，作為它們的複合原因，存在適合於各組合的記錄條件。因此，以往使用以下的方法，即預先在介質一方存儲可從驅動器一方識別該介質的種類的ID信息，並且預先在驅動器一方按介質的種類存儲預先準備的記錄條件，在進行實際的記錄時，從放入在驅動器中的介質讀入該介質的ID信息，使用與該ID信息相關聯的記錄條件(稱作「光策略(lightstrategy)」)。可是，在以往的方法中，對於預先驗證過的已知的介質，能選擇在某種程度上適合的某個記錄條件，但是對於未驗證的未知的介質，就存在無法用所準備的記錄條件應對的情況，此外，即使是已知的介質，因為記錄環境的變化，例如記錄速度、幹擾、時間的變化，存在無法用所準備的記錄條件應對的情況。作為應對這樣的未知介質的方法，已知有以下文獻所記載的方法。日本特開2003-30837號公報[專利文獻2]日本特開2004-110995號公報[專利文獻3]日本特開2000-231727號公報在上述專利文獻1的段落0020中，有「…對各記錄圖案(pattern)檢測與道時鐘(channelclock)的相位誤差。記錄補償參數調整部12根據相位誤差檢測部11的檢測結果，使發光波形規則最優化…」這樣的記載，公開了通過與道時鐘的比較來檢測、校正相位誤差的方法。此外，在上述文獻1的段落0024中有「接著，記錄用於確定發光波形規則的測試圖案。然後，再現已記錄該測試圖案的區域，研究預先準備的發光波形規則與相位誤差量的關係。即，測量各種標記的長度與緊接在該標記之前的各種間隔的長度的各組合中的相位誤差量。從測量出的相位誤差量預測相位誤差量變為零的發光波形規則，確定所需的發光波形規則…」這樣的記載，公開了按標記(mark)和間隔(space)的各組合來測量相位誤差量，預測相位誤差量變為零的方法(參照圖8和圖12)。根據該專利文獻1中記載的方法，能進行基於記錄圖案的相位誤差的校正，因此該方法是對策略的最優化有效的方法。但是，在上述專利文獻1的方法中，與以往相同，是對預先存儲在驅動器中的策略進行微調整，所以對於不適合預先存儲的策略的介質，就難以滿足良好的記錄品質。此外，在上述專利文獻2的段落0045中，有「…一體地(連續地)生成相當於3T期間的起始脈衝和相當於8T期間的單脈衝…」這樣的記載，在上述專利文獻2的段落0046中，有「…光脈衝以2級來調整雷射功率，當雷射功率(起始脈衝的峰值)Ph與雷射功率(非多脈衝的峰值)Pm的比處於最佳時，得到最佳功率…」這樣的記載，暗示了對Ph/Pm的比率進行最優化的有用性。但是，在上述專利文獻2的方法中，如該文獻的段落0067中所記載的那樣，根據存儲在驅動器或介質中的值，臨時設定Ph和Pm的初始值，然後求出Ph/Pm的比率，因此與專利文獻1的情況一樣，對於不適合臨時設定的值的介質，就難以滿足良好的記錄品質。在專利文獻3中，與專利文獻1一樣，記載了對記錄圖案的相位誤差進行校正的方法，但只進行相位校正，根據介質的情況，有時會出現較長的碼的調製度變得過大的情況，如果調製度變大，則坑的寬度和深度將變大，因此，如果它們變得過大，則擺動(Wobble)和岸上預刻凹坑(LppLandPre-Pit)的信號品質將降低。
發明內容因此，本發明提供一種與驅動器和介質的匹配性相應的記錄條件的最優化方法，尤其是提供一種對Wobble和Lpp的信號品質提高有效的方法。為達到上述目的，本發明的第1技術方案提供一種光信息記錄裝置，設定與多種類的各碼對應地用起始脈衝、中間脈衝、最終脈衝定義的記錄脈衝，並進行基於該設定的記錄脈衝的雷射照射，由此在光記錄介質上記錄信息，其特徵在於，包括通過調整與飽和碼對應的記錄脈衝的至少起始脈衝條件，來控制與該飽和碼對應的記錄坑的相位的裝置，其中，所述飽和碼具有信號振幅飽和的長度；和通過調整與上述飽和碼對應的記錄脈衝的中間脈衝條件，來控制與該飽和碼對應的記錄坑的寬度的裝置。這樣，通過調整飽和碼的起始脈衝條件來進行相位控制，通過調整中間脈衝條件來進行寬度控制，由此，能夠對RF、Wobble、Lpp各信號進行高品質的記錄。尤其是14T這樣的最長碼，其記錄坑的寬度容易擴大，在高密度介質上進行記錄時，該坑寬度的擴大成為產生對於Wobble、Lpp的串擾(crosstalk)的原因，因此，優選的是預先調整最長碼的中間脈衝條件。在此，所謂飽和碼，是指再現記錄坑所得到的RF信號的振幅飽和的碼，屬於比從驅動器的雷射二極體所照射的再現點(spot)直徑長的碼。另外，優選的是，記錄坑的長度和相位的控制，是通過調整確定記錄脈衝的前端的起始脈衝的條件和確定記錄脈衝的後端的最終脈衝的條件來進行的，這樣，通過主要以獨立的控制參數分別控制坑的長度和寬度，能夠進行高品質的記錄。另外，本發明的第2技術方案提供一種基於第1技術方案的光信息記錄裝置，其特徵在於，包括使上述具有信號振幅飽和的長度的飽和碼的中間脈衝條件變化，對上述介質進行測試記錄的裝置；求出由上述測試記錄的結果所得到的調製度的趨勢的裝置；以及根據上述調製度的趨勢確定上述飽和碼的中間脈衝條件的裝置。這樣，通過取得調製度相對於中間脈衝的變化趨勢，可以設定能得到適當的調製度的記錄條件，能夠進行更高品質的記錄。另外，本發明的第3技術方案提供一種基於第2技術方案的光信息記錄裝置，其特徵在於還包括求出適於上述介質的目標調製度的裝置；上述飽和碼的中間脈衝條件，將上述目標調製度確定為指標。這樣，通過將適於記錄對象介質的目標調製度作為指標，即使記錄對象介質的種類改變了，也能夠進行高品質的記錄。作為設定目標調製度的方法，能夠使用以下的方法按介質的種類預先將適於該介質的目標調製度作為指標存儲在驅動器內的方法；通過測試記錄求出適於記錄對象介質的目標調製度的方法；以及通過測試記錄確認發生Wobble、Lpp的差錯的記錄條件，確定該介質所容許的調製度的上限的方法等。另外，本發明的第4技術方案提供一種基於第2技術方案的光信息記錄裝置，其特徵在於，包括使上述具有信號振幅飽和的長度的飽和碼的中間脈衝條件變化，對上述介質進行測試記錄的裝置；使用比上述飽和碼短的非飽和碼，對上述介質進行測試記錄的裝置；再現上述各測試記錄的結果，檢測出上述飽和碼的記錄長度和上述非飽和碼的記錄長度的裝置；以及基於上述飽和碼的記錄長度相對於上述檢測出的非飽和碼的記錄長度的變化趨勢，確定上述飽和碼的中間脈衝條件的裝置。這樣，利用飽和碼相對於非飽和碼的長度變化趨勢，來確定中間脈衝的條件，由此，能夠對較短的碼和較長的碼的調製平衡進行最優化，因此，能夠進行更高品質的記錄。另外，本發明的第5技術方案提供一種光信息記錄裝置，設定與多種類的各碼對應地用起始脈衝、中間脈衝、最終脈衝定義的記錄脈衝，並進行基於該設定的記錄脈衝的雷射照射，由此在光記錄介質上記錄信息，其特徵在於，包括使上述起始脈衝的條件與最短碼對應，進行測試記錄的裝置；使比上述最短碼長的碼的中間脈衝條件變化，對上述介質進行測試記錄的裝置；再現上述各測試記錄的結果，檢測出上述最短碼的記錄長度和比上述最短碼長的碼的記錄長度的裝置；以及基於比上述最短碼長的碼的記錄長度相對於上述檢測出的最短碼的記錄長度的變化趨勢，確定比上述最短碼長的碼的中間脈衝條件的裝置。這樣，與出現頻率高的最短碼對應地設定起始脈衝，基於該最短碼，利用該最短碼和比該最短碼長的碼的長度變化趨勢，確定該較長的碼的中間脈衝條件，由此，能夠對較長的碼相對於已被最優化的較短的碼的調製平衡進行最優化，因此，能夠進行更高品質的記錄。這種結構對於伴隨測試記錄的高速化，難以進行基於飽和碼的調製度評價的情況也是有效的，例如，在最短碼為3T的情況下，通過使用4T、5T等非飽和碼，即使是高速測試記錄，也能夠進行調製度的評價。當然，也可以對比最短碼長的碼設定飽和碼。另外，本發明的第6技術方案提供一種光信息記錄裝置，設定與多種類的各碼對應地用起始脈衝、中間脈衝、最終脈衝定義的記錄脈衝，並進行基於該設定的記錄脈衝的雷射照射，由此在光記錄介質上記錄信息，其特徵在於，包括使上述具有信號振幅飽和的長度的飽和碼的中間脈衝的高度變化、並使上述最終脈衝停止，對上述介質進行測試記錄的裝置；和基於上述測試記錄的結果，確定上述飽和碼的起始脈衝的高度與中間脈衝的高度的比率的裝置。這樣，通過以將最終脈衝關斷的狀態進行使中間脈衝條件變化了的測試記錄，將容易看到調製度變化的趨勢，因此，能夠進行更高精度的記錄條件的設定。另外，本發明的第7技術方案提供一種光信息記錄裝置，設定與多種類的各碼對應地用起始脈衝、中間脈衝、最終脈衝定義的記錄脈衝，並進行基於該設定的記錄脈衝的雷射照射，由此在光記錄介質上記錄信息，其特徵在於，包括以多個窄脈衝構成上述具有信號振幅飽和的長度的飽和碼的中間脈衝，使該各個窄脈衝的寬度變化，並且將該窄脈衝的寬度和上述最終脈衝的寬度設定為相等的寬度，對上述介質進行測試記錄的裝置；和基於上述測試記錄的結果，確定上述飽和碼的窄脈衝的寬度的裝置。這樣，通過在將構成中間脈衝的窄脈衝的寬度和最終脈衝的寬度取為相等寬度的狀態下進行使中間脈衝條件變化的測試記錄，將容易看到調製度變化的趨勢，因此，能夠進行更高精度的記錄條件的設定。優選的是，以相等間隔配置多個窄脈衝的梳狀脈衝來構成中間脈衝。另外，本發明的第8技術方案提供一種光信息記錄方法，設定與多種類的各碼對應地用起始脈衝、中間脈衝、最終脈衝定義的記錄脈衝，並進行基於該設定的記錄脈衝的雷射照射，由此在光記錄介質上記錄信息，其特徵在於，包括通過調整與具有信號振幅飽和的長度的飽和碼對應的記錄脈衝的至少起始脈衝條件，來控制與該飽和碼對應的記錄坑的相位的步驟；和通過調整與上述飽和碼對應的記錄脈衝的中間脈衝條件，來控制與該飽和碼對應的記錄坑的寬度的步驟。另外，本發明的第9技術方案提供一種光信息記錄方法，設定與多種類的各碼對應地用起始脈衝、中間脈衝、最終脈衝定義的記錄脈衝，並進行基於該設定的記錄脈衝的雷射照射，由此在光記錄介質上記錄信息，其特徵在於，包括使具有信號振幅飽和的長度的飽和碼的中間脈衝條件變化，對上述介質進行測試記錄的步驟；求出得到了上述測試記錄的結果的調製度的趨勢的步驟；以及根據上述調製度的趨勢確定上述飽和碼的中間脈衝條件的步驟。另外，本發明的第10技術方案提供一種光信息記錄方法，設定與多種類的各碼對應地用起始脈衝、中間脈衝、最終脈衝定義的記錄脈衝，並進行基於該設定的記錄脈衝的雷射照射，由此在光記錄介質上記錄信息，其特徵在於，包括使具有信號振幅飽和的長度的飽和碼的中間脈衝條件變化，對上述介質進行測試記錄的步驟；使用比上述飽和碼短的非飽和碼，對上述介質進行測試記錄的步驟；再現上述各測試記錄的結果，檢測上述飽和碼的記錄長度和上述非飽和碼的記錄長度的步驟；以及基於上述飽和碼的記錄長度相對於上述檢測出的非飽和碼的記錄長度的變化趨勢，確定上述飽和碼的中間脈衝條件的步驟。另外，本發明的第11技術方案提供一種光信息記錄方法，設定與多種類的各碼對應地用起始脈衝、中間脈衝、最終脈衝定義的記錄脈衝，並進行基於該設定的記錄脈衝的雷射照射，由此在光記錄介質上記錄信息，其特徵在於，包括使上述起始脈衝的條件與最短碼對應，進行測試記錄的步驟；使比上述最短碼長的碼的中間脈衝條件變化，對上述介質進行測試記錄的步驟；再現上述各測試記錄的結果，檢測出上述最短碼的記錄長度和比上述最短碼長的碼的記錄長度的步驟；以及基於比上述最短碼長的碼的記錄長度相對於上述檢測出的最短碼的記錄長度的變化趨勢，確定比上述最短碼長的碼的中間脈衝條件的步驟。另外，本發明的第12技術方案提供一種光信息記錄方法，設定與多種類的各碼對應地用起始脈衝、中間脈衝、最終脈衝定義的記錄脈衝，並進行基於該設定的記錄脈衝的雷射照射，由此在光記錄介質上記錄信息，其特徵在於，包括使具有信號振幅飽和的長度的飽和碼的中間脈衝的高度變化並使上述最終脈衝停止，對上述介質進行測試記錄的步驟；和基於上述測試記錄的結果，確定上述飽和碼的起始脈衝的高度與中間脈衝的高度的比率的步驟。另外，本發明的第13技術方案提供一種光信息記錄方法，設定與多種類的各碼對應地用起始脈衝、中間脈衝、最終脈衝定義的記錄脈衝，並進行基於該設定的記錄脈衝的雷射照射，由此在光記錄介質上記錄信息，其特徵在於，包括以多個窄脈衝構成具有信號振幅飽和的長度的飽和碼的中間脈衝，使該各個窄脈衝的寬度變化，並且將該窄脈衝的寬度和上述最終脈衝的寬度設定為相等的寬度，對上述介質進行測試記錄的步驟；和基於上述測試記錄的結果，確定上述飽和碼的窄脈衝的寬度的步驟。另外，本發明的第14技術方案提供一種信號處理電路，被安裝在光信息記錄裝置中，由第8技術方案～第13技術方案的任一項所述的方法構成，其中，該光信息記錄裝置，通過設定與多種類的各碼對應地用起始脈衝、中間脈衝、最終脈衝定義的記錄脈衝，進行基於該設定的記錄脈衝的雷射照射，由此在光記錄介質上記錄信息。在此，在上述各發明中，優選的是，記錄脈衝由起始脈衝和後續脈衝構成，起始脈衝與出現頻率最高、難以進行記錄的最短坑對應地設定。例如，在如CD-R那樣定義了3T～11T的坑串的情況下，或者在如DVD-R那樣定義了3T～11T、14T的情況下，優選的是預先使其與3T坑對應。另外，後續脈衝可以取非多脈衝和多脈衝中的任一者的形式，優選的是，在為非多脈衝的情況下，以起始脈衝和後續脈衝的功率比進行記錄脈衝的最優化，在為多脈衝的情況下，以多個分割脈衝構成後續脈衝，調整上述各個分割脈衝的佔空比(duty)，進行記錄脈衝的最優化。起始脈衝的條件和後續脈衝的條件，可以組合脈衝功率、脈衝寬度、佔空比的任一者來進行定義，優選的是，通過調整起始脈衝和後續脈衝的比進行記錄脈衝的最優化。另外，通過首先確定起始脈衝的條件，然後確定後續脈衝的條件，可以做成為能得到更穩定的記錄品質的結構。即，採用這樣的方法首先預先求出起始脈衝的最佳條件，由此可以找出更為合適的起始脈衝條件，之後，求出後續脈衝的條件。與此不同，如上述專利文獻2所記載的那樣，在首先進行起始脈衝和後續脈衝的比率的最優化的方法中，有時不能得到起始脈衝的最佳解，應對未知介質的能力下降。另外，為了進一步提高精度，也可以反覆多次進行起始脈衝條件的確定和後續脈衝條件的確定。如上所述，按照本發明，即使是對於驅動器未知的介質，也能得到更接近最佳的記錄條件。尤其是能夠得到使Wobble和Lpp的信號品質提高的適當的記錄條件。圖1是表示本發明的記錄脈衝的結構和確定記錄條件的整體流程的概念圖。圖2是表示本發明的驅動器的內部結構的框圖。圖3是表示圖1所示的mT確定流程的詳細內容的流程圖。圖4是表示圖3所示的基準閾值的確定步驟的詳細內容的流程圖。圖5是表示圖4所示的流程的一個實施例的概念圖。圖6是表示圖4所示的流程的一個實施例的概念圖。圖7是表示按每個驅動器求出閾值時的例子的概念圖。圖8A、圖8B是表示在圖3的步驟S120中實施記錄品質檢查得到山谷形圖案的例子的概念圖。圖9A、圖9B是表示在圖3的步驟S120中實施記錄品質檢查得到右下降圖案的例子的概念圖。圖10A、圖10B是表示在圖3的步驟S120中實施記錄品質檢查得到右上升圖案的例子的概念圖。圖11是表示在圖3的步驟S120中得到了山谷形圖案時，在步驟S122中執行的測試區域確定的一例的概念圖。圖12是表示在圖3的步驟S120中得到了右下降圖案時，在步驟S122執行的測試區域確定的一例的概念圖。圖13是表示在圖3的步驟S120中得到了右上升圖案時，在步驟S122中執行的測試區域的確定的一例的示意圖。圖14是表示在使用8個圖案執行圖3的步驟S120時的例子的圖。圖15是說明通過曲線近似求出在圖3的步驟S122中使用的功率範圍(powerrange)的概念圖。圖16是說明通過曲線近似求出在圖3的步驟S122中使用的功率範圍的另一個例子的概念圖。圖17是通過抽樣求出在圖3的步驟S122中使用的功率範圍的例子的概念圖。圖18是表示在圖1的(b)所示的步驟S200的比率確定中使用的測試用記錄脈衝的例子的概念圖。圖19是表示圖1的(b)所示的步驟S200的比率確定流程的執行順序的流程圖。圖20是表示從圖19所示的測試記錄到再現數據的計數為止的操作概念的概念圖。圖21是表示圖19所示的計數結果的存儲映像(image)的概念圖。圖22A、圖22B是表示圖19所示的柱狀圖(histogram)生成的映像的概念圖。圖23A、圖23B是表示圖19所示的閾值確定的映像的概念圖。圖24A、圖24B是表示通過圖23所示的方法得到的閾值的例子的概念圖。圖25是表示用於檢測坑平衡(balance)引起的偏移量的記錄圖案的一個例子的圖。圖26是表示坑平衡偏移檢測中所使用的特定圖案檢測用的表結構的概念圖。圖27是表示通過計數結果的絕對比較來檢測長度偏移量時的具體例子的概念圖。圖28是表示圖19所示的控制量預測的執行例子的流程圖。圖29是表示使PWD變化時的記錄條件S1、S2的變化與偏移量D1、D2之間的關係的概念圖。圖30是表示利用了關於單脈衝形狀的直線近似的長度偏移校正的一個例子的概念圖。圖31是表示利用了關於多脈衝的形狀的直線近似的長度偏移校正的一個例子的概念圖。圖32是表示用於存儲校正量PWD和Tmp的表構造的概念圖。圖33是表示在圖1的步驟S300中執行的nT脈衝的結構概念的概念圖。圖34是表示在圖1的(b)所示的步驟S400的相移校正中使用的測試用記錄脈衝的例子的概念圖。圖35是表示在圖1的(b)所示的步驟S400的相位條件確定流程的執行步驟的流程圖。圖36是表示用於檢測各坑長度的前側相移量的記錄圖案和再現圖案的一個例子的圖。圖37是表示用於檢測各坑長度的後側相移量的記錄圖案和再現圖案的一個例子的概念圖。圖38是表示用於檢測由熱幹擾引起的坑偏移量的記錄圖案的一個例子的圖。圖39是表示坑前相移檢測和坑後相移檢測所使用的特定圖案檢索用的表(table)結構的概念圖。圖40是表示坑幹擾偏移檢測中所使用的特定圖案檢測用的表結構的概念圖。圖41是表示通過計數結果的相對比較來檢測偏移量時的具體例子的概念圖。圖42是表示根據圖35中的控制量預測確定Ttop、Tlast的執行例子的流程圖。圖43是表示記錄條件S1、S2的變化與偏移量D1、D2之間的關係的概念圖。圖44是表示利用了直線近似的前側相移校正的一個例子的概念圖。圖45是表示利用了直線近似的後側相移校正的一個例子的概念圖。圖46是表示用於存儲校正量Ttop和Tlast的表構造的概念圖。圖47是表示校正後的單脈衝的例子的概念圖。圖48是表示校正後的多脈衝的例子的概念圖。圖49是表示通過中間脈衝的調整來控制記錄坑的寬度的概念的概念圖。圖50是表示在圖49所示的概念中最終脈衝的適當的設定例的概念圖。圖51是表示非飽和碼和飽和碼的關係的概念圖。圖52是表示通過中間脈衝條件的調整來進行坑寬度控制的第1例的執行順序的流程圖。圖53是表示通過圖52所示的順序所得到的調製度的變化趨勢例的XY坐標曲線圖。圖54是表示通過中間脈衝條件的調整來進行坑寬度控制的第2例的執行順序的流程圖。圖55是表示通過圖54所示的順序所得到的調製度的變化趨勢例的XY坐標曲線圖。圖56是表示通過中間脈衝條件的調整來進行坑寬度控制的第3例的執行順序的流程圖。具體實施例方式以下，參照附圖詳細說明本發明的光信息記錄裝置。另外，本發明不限於以下說明的實施方式，可以進行適當的變更。圖1是表示本發明的記錄脈衝的結構和確定記錄條件的整體流程的概念圖。如圖1的(a)所示，本發明的記錄脈衝10，由位於該記錄脈衝的最前面的起始脈衝12和接著該起始脈衝的後續脈衝14構成。這裡，設最短坑的數據長度為mT(參照圖1中的「DATA1」)，設該記錄脈衝的長度為m』T，設比最短坑長的坑的數據長度為nT(參照圖1中的「DATA2」)，設該記錄脈衝10的長度為n』T，則與最短坑的記錄脈衝長度相等的起始脈衝12具有m』T的長度，後續脈衝14具有(n-m)T的長度。在本實施例中，假定取m＝3、n＝3～11、14的值。T是在光碟系統中定義的單位時間，其周期由時鐘信號確定。記錄脈衝10的條件，通過執行圖1的(b)所示的一系列的流程來確定。該流程，在光信息記錄裝置(以下，稱作「記錄裝置」或「驅動器」)中放入了光信息記錄介質(以下，稱作「介質」或「盤」)的狀態下的測試記錄時被執行。如圖1的(b)所示，在確定記錄脈衝10的條件時，首先，確定m』T長度的脈衝條件(步驟S100)，之後，利用該m』T長度的條件，求出作為m』T長度的脈衝條件與(n-m)T長度的脈衝條件的比率的m』T/(n-m)T(步驟S200)。之後，根據該比率構成nT脈衝(步驟S300)，最後，進行相移校正，確定n』T長度的記錄脈衝的條件(步驟S400)。圖2是表示本發明的驅動器的內部結構的框圖。如圖2所示，該驅動器100使用從雷射振蕩器103輸出的雷射，對介質50進行信息的記錄再現。在對介質50進行信息的記錄時，由編碼器101以EFM方式對與所希望的記錄信息對應的記錄信號進行編碼，將該編碼後的記錄數據提供給策略電路102。在此，在該策略電路102中，設定有預定策略的各種設定參數，該策略電路102校正策略的各種設定參數，控制從雷射振蕩器103輸出的雷射的強度、脈衝寬度，生成應該能得到所希望的記錄狀態的記錄脈衝。由策略電路102形成的記錄脈衝，被提供給雷射振蕩器103，雷射振蕩器103與該記錄脈衝對應地控制輸出雷射，將該被控制的雷射通過透鏡104、半反射鏡106、透鏡106照射在以恆定的線速度或恆定的角速度轉動的介質50上，由此，在介質50的記錄層上記錄與所希望的記錄數據對應的由坑、岸串組成的記錄圖案。而在對記錄於介質50上的信息進行再現時，從雷射振蕩器103通過透鏡104、半反射鏡105、透鏡106對以恆定的線速度或恆定的角速度轉動的介質50照射同樣的再現雷射。這時，再現雷射使用比記錄時從雷射振蕩器103輸出的雷射的強度弱的再現雷射，該再現雷射被介質50反射後的反射光，通過透鏡106、半反射鏡105、透鏡107而被受光部108接收，轉換成電信號。從受光部108輸出的電信號，與記錄在介質50上的由坑(pit)、岸(land)組成的記錄圖案對應。對於從該受光部108輸出的電信號，由同步信號檢測電路109根據該電信號所包含的擺動(wobble)成分生成預定周期的時鐘信號，之後，通過2值化電路110被2值化，進而被解碼器111解碼，作為再現信號進行輸出。這樣，由驅動器和介質所構成的記錄系統的記錄品質，取決於驅動器的特性差異和介質的特性差異，因此，通過上述的策略削弱其影響能夠提高記錄品質。作為介質，可以應用以CD-R、DVD-R為代表的色素型介質、或以CD-RW、DVD-RW為代表的相變型介質等各種光信息記錄介質。以下，詳細說明上述的驅動器執行的圖1的(b)所示的記錄脈衝條件確定流程。(m』T條件的確定)圖3是表示圖1所示的m』T確定流程的詳細的執行步驟的流程圖。如圖3所示，上述的驅動器100，首先執行進行該驅動器的初始設定的步驟S110～S114，接著，執行確定測試記錄的條件的步驟S116～S122，然後，執行以確定的條件進行測試記錄的步驟S124，執行根據其結果確定起始脈衝的條件的步驟S126。以下，詳細說明上述的各個步驟。(基準條件的確定)在圖3所示的步驟S110中，首先，使用任意標準的介質一邊使記錄速度變化一邊進行測試記錄，求出1個脈衝寬度和3個功率值作為基準條件。優選的是，使用上述測試記錄的結果作為3個功率值，即抖動變成最小的值、以及位於其前後的2個功率值。最好是，使用成為出錯率好壞的基準的閾值附近的值作為前後2個功率值。在此求得的基準條件在後面的記錄品質檢查時進行使用。(基準閾值的確定)如後述那樣，為了設定滿足預定的記錄容限的區域作為測試記錄條件的範圍(以下，稱為「測試區域」)，需要確定成為判斷基準的閾值。可以依照驅動器、介質的種類準備標準的值作為閾值的值，但是，表示出錯率容許區域的最低限(minimumline)的閾值，隨圖7所示的構成拾取器的光學系統部件或其它元件的狀態而變化，而且，還隨記錄介質的速度而變化。因此，推薦的是，按實際使用的驅動器和介質的組合來求出上述閾值，使其具有更準確的判斷基準，從而進行更準確的測試區域的設定。不過，按驅動器和介質的組合來設定上述閾值，還成為記錄步驟增加的主要原因，因此，也可以假定每個驅動器個體的差異為閾值變動的主要原因，將在驅動器製造時適於每個個體的閾值預先存儲在存儲區域115中。圖4是詳細表示圖3所示的基準閾值的確定步驟的流程圖。如圖4所示，進行基於預定的記錄條件的記錄再現，再根據其結果確定作為系統的基準值，將從該基準值確保了預定的容限的值設定為在確定測試區域時使用的閾值，由此來進行基準閾值的確定。以下，依次說明各個步驟。首先，執行進行記錄條件設定的步驟S150。在該步驟中，將脈衝寬度、功率、記錄再現速度、記錄地址等記錄再現所需的條件準備為預定的圖案，將該記錄條件設定在驅動器中之後，在該驅動器內放入基準介質。優選的是，從各種介質中選擇特性標準的介質作為基準介質。接著，執行以在上述步驟S150中設定的記錄條件對所放入的基準介質進行記錄和再現的步驟S152，獲得各記錄條件中的記錄再現特性，例如出錯率、抖動、振幅、C/N值。選擇表示記錄品質的值作為在此取得的特性值。接著，執行步驟S154，在該步驟S154中，從在上述步驟S152中獲得的記錄再現特性值求出最佳值、例如抖動最小值，將此值取為系統基準值。由此，在上述驅動器內將被認為接近最佳值的抖動值設定為基準值。也可以是，該基準值並不是最佳點，而是取為與預定的閾值相交的2點的中間值，即功率範圍的中間值。最後，執行步驟S156，在步驟S156中，計算將在上述步驟S154中確定的系統基準值與預定的係數α(優選的是設定α＞1)相乘後的值，將其作為閾值。由此，能夠以具有預定的容限的形式對系統基準值進行判斷。即，使用了系統基準值的閾值的計算，是用閾值＝系統基準值×α來進行的，最好是使用大約為1.5的數值作為係數α。該係數α可以根據驅動器、介質的種類設定適當的值，既可以設定α＝0.8～1.2這樣接近系統基準值的值，也可以設定α＝2.0～3.0這樣稍大的值。圖5是表示圖4所示的流程的一個實施例的概念圖。圖5所示的例子，使用抖動值作為表示記錄品質的特性值，對於W1～W4的各脈衝寬度，使功率在P1～P6的範圍內進行變化，從而得到再現特性202-1～202-4。在圖5所示的例子中，脈衝寬度W1～W4和功率P1～P6成為記錄條件，得到最低抖動值的再現特性202-3的極值成為系統基準值，將該系統基準值乘以例如1.5而得到的值為閾值。圖5中的矩陣內所示的箭頭表示使測試條件變化的方向，在以下的說明中也以相同的含義使用。圖6是表示圖4所示的流程的一個實施例的概念圖。圖6所示的例子，使用抖動值作為表示記錄品質的特性值，按W1～W4的各脈衝寬度，改變功率的變化範圍，從而得到再現特性202-1～202-4。在圖6所示的例子中，得到最低抖動值的再現特性202-2的極值成為系統基準值，將該系統基準值乘以例如1.5而得到的值為閾值。這樣，也可以按各脈衝寬度改變功率條件來求得閾值。圖7是表示按各驅動器求出閾值時的例子的概念圖。在希望進行與驅動器的個體差異相應的閾值設定的情況下，如圖7所示，各驅動器100-1～100-5分別對共用的基準介質50進行記錄再現，預先按各驅動器存儲固有的閾值1～5。在想要簡化閾值的設定步驟的情況下，也可以求出用數個標準的驅動器的每一個對共用的基準介質進行記錄再現而得到的閾值1～5的平均值，並將該平均閾值作為其它驅動器的閾值使用。這時，為了求出平均閾值而使用的驅動器，既可以是相同設計的驅動器，也可以是並非完全相同的、類似的設計的驅動器。進而，也可以將一次求得的平均閾值作為以後製造的相同或類似設計的驅動器的閾值而普遍使用。另外，也可以有意地準備存在差異的多臺驅動器，求出這些驅動器的平均值。(記錄裝置的初始設定)執行步驟S114，在該步驟S114中，把用以上說明的圖8的步驟S110和步驟S112求得的基準條件和基準值存儲在驅動器100內的記錄區域115中。優選的是，預先在製造該驅動器100時執行該步驟S114。(放入記錄對象介質)接著，執行步驟S116，在步驟S116中，在已結束步驟S114的初始設定後的驅動器100內放入進行信息記錄的介質50。(基於基準條件的記錄再現)下面，執行步驟S118，在步驟S118中，使用在步驟S114中設定的條件，對在步驟S116中放入的介質50上進行記錄。具體地說，使用作為基準條件所定義的1個脈衝寬度和3種功率值進行3次記錄再現，得到3點抖動值。將該3點抖動值與功率軸之間的關係用圖形表示，能夠明確與驅動器100和介質50的組合相應的記錄特性的趨勢。(記錄品質的檢查)圖8A、圖8B是表示在圖3的步驟S120中實施記錄品質檢查而得到山谷形圖案的例子的概念圖。如圖8A、圖8B所示，使用在步驟S120之前的步驟中所得到的各基準條件下的抖動值和閾值來進行記錄品質的檢查。在圖8A、圖8B所示的例子中，作為基準條件使用了功率P1、P2、P3，聯結由各功率值得到的抖動值的假想線變為山谷形的圖案。在得到了這樣的山谷形圖案時，意味著在步驟S110中使用的基準介質和在步驟S116中放入的記錄對象介質為相同的靈敏度，記錄特性是類似的。這裡，圖8A是山谷形圖案的最小值小於等於閾值的例子，圖8B是山谷形圖案的最小值大於等於閾值的例子，在任一個圖案中，都認為基準介質和記錄對象介質是相同的靈敏度。這樣，在基準介質和記錄對象介質是相同的靈敏度的情況下，如後述的那樣，以將基準條件作為中心的功率×脈衝寬度的面區域來設定在測試記錄中使用的條件。在此，在圖8A和圖8B中，在各記錄點P1、P2、P3分別得到的再現值與再現基準值的差量、即在圖8A、圖8B的例子中抖動值與抖動閾值的差量不同，在圖8A中所得到的再現值更接近再現基準值。這被認為是圖8A比圖8B更容易發現最佳條件，因此，得到圖8A的記錄特性時與得到圖8B的記錄特性時相比，測試次數設定得較少，也可以做成為以更少的測試次數發現更合適的解的結構。即，再現值與再現基準值的差量小的情況下，最佳條件接近上述基準條件，再現值與再現基準值的差量大的情況下，最佳條件遠離上述基準條件，因此，在想要進一步減少測試次數的情況下，最好是根據再現值與再現基準值的差量改變測試次數。圖9A、圖9B是表示在圖3的步驟S120中實施記錄品質檢查而得到右下降的圖案的例子的概念圖。在圖9A、圖9B所示的例子中，為隨著P1、P2、P3和功率的增加抖動值下降的右下降的圖案。在得到了這樣的右下降的圖案時，意味著記錄對象介質的靈敏度比基準介質的靈敏度低。在此，圖9A是右下降圖案的最小值小於等於閾值的例子，圖9B是右下降圖案的最小值大於等於閾值的例子，在任一個圖案中，都被認為是記錄對象介質的靈敏度比基準介質的靈敏度低。這樣，在記錄對象介質的靈敏度比基準介質的靈敏度低的情況下，如後述的那樣，使以將基準條件作為中心的功率×脈衝寬度的面區域所劃分的測試區域向高功率、寬脈衝寬度側移動來進行測試記錄。另外，在得到了圖9A、圖9B所示的右下降圖案的情況下，考慮到抖動的最小值位於更高功率側，因此，可以用比P3更高的功率進行追加記錄，再次確認記錄特性。在這種情況下，記錄次數增加一次，但能夠提高記錄品質的檢查精度。在得到了這種圖案的情況下，與得到了上述山谷形圖案的情況相同，可以根據再現值和再現基準值的差量改變測試次數。此外，當取得圖9A、圖9B所示的右下降圖案時，認為與上述圖8A、圖8B所示的山谷形圖案相比，最佳解遠離基準條件，因此最好是與山谷形圖案相比，預先增加測試次數。圖10A、圖10B是表示在圖3的步驟S120中執行記錄品質檢查而得到右上升的圖案的例子的概念圖。在圖10A、圖10B所示的例子中，為隨著P1、P2、P3和功率的增加、抖動值上升的右上升的圖案。當取得這樣的右上升的圖案時，意味著與基準介質相比，記錄對象介質的靈敏度更高。這裡，圖10A是右上升圖案的最小值小於等於閾值的例子，圖10B是右上升圖案的最小值大於等於閾值的例子，在任一個圖案中，都被認為是與基準介質相比，記錄對象介質的靈敏度更高。這樣，當記錄對象介質的靈敏度更高時，如後所述，使以基準條件為中心的功率×脈衝寬度的面區域所劃分的測試區域向低功率、窄脈衝寬度側移動來進行測試記錄。此外，當取得圖10A、圖10B所示的右上升圖案時，考慮到抖動的最小值位於更低功率側，因此可以用比P1低的功率進行追加記錄，再次確認記錄特性。這時記錄次數增加1次，但是能提高記錄品質的檢查精度。當得到了該圖案時，與得到了上述山谷形圖案時同樣，可以根據再現值和再現基準值的差量改變測試次數。此外，當得到了圖10A、圖10B所示的右上升圖案時，考慮到與上述圖8A、圖8B所示的山谷形圖案相比，最佳解遠離基準條件，所以最好是與山谷形圖案相比，預先增加測試次數。(測試區域的確定)圖11是表示在圖3的步驟S120中得到山谷形圖案時，在步驟S122中執行的測試區域確定的一例的概念圖。如圖11所示，當得到了山谷形圖案時，將連結在點P1、P2、P3分別得到的抖動值的近似曲線206與閾值的相交點設為在測試記錄中使用的功率變化區域，該變化區域為功率範圍。在本發明中，把實際在測試記錄中使用的功率範圍定義為「功率範圍」，把抖動小於等於閾值的功率範圍定義為「功率容限」。這裡，近似曲線206隨各脈衝寬度的不同而不同，所以當設基準條件中使用的脈衝寬度為W4時，則對於以該W4為中心的脈衝寬度W1～W6，分別以功率P1、P2、P3記錄，並確認所得到的近似曲線206與閾值的相交點。據此，如圖11的矩陣映像所示，按各脈衝寬度取得小於等於閾值的功率範圍，圖11的陰影線所示的區域為測試區域。這裡，如果用矩陣中的映像表示作為基準條件使用的P1、P2、P3這3個功率條件和脈衝寬度W4，則成為圖11的208-1、208-2、208-3，所確定的測試區域設定為以基準條件為中心的功率×脈衝寬度的面區域。這樣，通過對每一個脈衝寬度求功率範圍，能夠集中小於等於閾值的區域進行測試，因此，能夠以少的測試次數發現更適當的條件。另外，通過在功率容限取得較寬時，將功率變化的步長設定得較大，在功率容限窄時，將功率變化的步長設定得較小，也能夠減少測試次數。例如，也可以是這樣的結構，當取10mW的容限時，假設粗略(rough)地測試也能得到最佳值，則以2mW的步長進行5次測試，當取1mW的容限時，判斷為需要更精密的測試，以0.1mW的步長進行10次測試。圖12是表示當在圖3的步驟S120得到右下降圖案時，在步驟S122執行的測試區域確定的一例的概念圖。如圖12所示，當得到右下降圖案時，考慮到最佳條件位於更高功率側，因此，用高於P3的功率值P+進行追加記錄，連結在P1、P2、P3、P+各處分別得到的抖動值的近似曲線206與閾值的相交點作為功率範圍。分別以脈衝寬度W1～W6進行該處理，得到圖12的矩陣映像所示的測試區域。這裡，由上述步驟所確定的測試區域，為以208-1、208-2、208-3為中心的功率×脈衝寬度的面區域向高功率側移動了的形狀。在該例子中，原封不動地使用了山谷形圖案中使用的W1～W6，但是當為右下降圖案時，處於低靈敏度傾向，所以也可以移動到比W1～W6更寬的脈衝寬度區域來確定功率範圍。圖13是表示在圖3的步驟S120中得到右上升圖案時，在步驟S122中執行的測試區域的確定的一個例子的概念圖。如圖13所示，當得到右上升圖案時，考慮到最佳條件位於更低功率側，所以用比P1更低的功率值P+進行追加記錄，以連結在P+、P1、P2、P3處分別得到的抖動值的曲線206和閾值的相交點為功率範圍。用脈衝寬度W1～W6分別進行該處理，得到圖13的矩陣映像所示的測試區域。這裡，由上述步驟確定的測試區域為把以基準條件208-1、208-2、208-3為中心的功率×脈衝寬度的面區域向低功率側移動了的形狀。在該例子中，原封不動地使用了山谷形圖案中使用的W1～W6，但是當為右上升圖案時，處於高靈敏度傾向，所以也可以移動到比W1～W6更窄的脈衝寬度區域來確定功率範圍。即，在上述方法中，按各脈衝寬度進行記錄品質的檢查，根據結果，按各脈衝寬度確定測試次數，所以能期待測試次數的減少。以上說明的記錄品質的檢查，是通過把基於基準條件的記錄的抖動變化構圖而進行的，更理想的是使用以下所示的8個圖案進行。圖14是表示使用8個圖案執行圖3的步驟S120時的例子的圖。如圖14所示，無論圖案1是山谷形、右上升、右下降等的哪個圖案，都是抖動的最大值小於等於閾值時應用的圖案。當得到該圖案時，視為與基準介質相同程度的靈敏度，並且判斷小於等於閾值的容限取得較寬，使功率條件分別向低功率側和高功率側擴展。即在圖案1中，無法取得閾值附近的值，所以對低功率側和高功率側雙方進行追加記錄。然後，對由該追加記錄所得到的抖動特性進行曲線近似，將該近似曲線與抖動閾值相交的大小2點的間隔取為功率範圍的基準值。進而，當得到該圖案時，把基準值±0.2T的脈衝寬度區域確定為測試區域，在測試記錄時，在該測試區域內按0.2T變化，進行最佳記錄條件的檢測。其中，T表示記錄坑的單位時間長度。這裡，當設成為基準值的脈衝寬度為脈衝條件1、擴展的2點為脈衝條件2、3時，圖案1的脈衝條件2、3成為擴展±0.2T後的脈衝寬度。伴隨著該脈衝寬度的條件變更，在作為測試條件使用的功率範圍中也進行若干的變更。即，當把脈衝寬度變更0.1T時，以功率範圍的基準值×(1-0.05×1)mW為該脈衝寬度的功率範圍，脈衝寬度變更0.2T時，以功率範圍的基準值×(1-0.05×2)mW為該脈衝寬度的功率範圍，當把脈衝寬度變更-0.1T時，以功率範圍的基準值×[1-0.05×(-1)]mW為該脈衝寬度的功率範圍。因此，適合於該圖案1時的測試條件為以下的3組。(1)脈衝寬度的基準值、功率範圍的基準值(2)脈衝寬度的基準值-0.2T、功率範圍的基準值×[1-0.05×(-2)]mW(3)脈衝寬度的基準值+0.2T、功率範圍的基準值×[1-0.05×(+2)]mW在本發明中，也可以在實際的測試記錄中不使用上述(1)所示的基準條件。圖案2是在得到了山谷形圖案的情況下，抖動的最小值小於等於閾值時應用的圖案。當得到了該圖案時，判斷為記錄對象介質與基準介質為相同靈敏度，選擇基準值±0.1T作為脈衝寬度條件。然後通過與圖案1同樣的步驟，按各脈衝條件進行功率範圍的設定。結果適合於該圖案2時的測試條件為以下3組。(1)脈衝寬度的基準值、功率範圍的基準值(2)脈衝寬度的基準值-0.1T、功率範圍的基準值×[1-0.05×(-1)]mW(3)脈衝寬度的基準值+0.1T、功率範圍的基準值×[1-0.05×(+1)]mW圖案3是在得到了山谷形圖案的情況下，抖動的最小值超過閾值時應用的圖案。當得到了該圖案時，判斷為記錄對象介質和基準介質為相同靈敏度，並且介質的特性差異大，選擇基準值±0.2T作為脈衝寬度條件。然後通過與圖案1同樣的步驟，按各脈衝條件進行功率範圍的設定。結果適合於該圖案3時的測試條件為以下3組。(1)脈衝寬度的基準值、功率範圍的基準值(2)脈衝寬度的基準值-0.2T、功率範圍的基準值×[1-0.05×(-2)]mW(3)脈衝寬度的基準值+0.2T、功率範圍的基準值×[1-0.05×(+2)]mW圖案4是在得到了右下降圖案的情況下，抖動的最小值小於等於閾值時應用的圖案。在得到了該圖案時，判斷為記錄對象介質比基準介質的靈敏度略低，選擇基準值、+0.1T和+0.2T這3點作為脈衝寬度條件。然後通過與圖案1同樣的步驟，按各脈衝條件進行功率範圍的設定。結果適合於該圖案4時的測試條件為以下3組。(1)脈衝寬度的基準值、功率範圍的基準值(2)脈衝寬度的基準值+0.1T、功率範圍的基準值×[1-0.05×(+1)]mW(3)脈衝寬度的基準值+0.2T、功率範圍的基準值×[1-0.05×(+2)]mW圖案5是在得到了右下降圖案的情況下，抖動的最小值超過閾值時應用的圖案。在得到了該圖案時，判斷為記錄對象介質比基準介質的靈敏度低很多，選擇基準值、+0.2T和+0.4T這3點作為脈衝寬度條件。然後通過與圖案1同樣的步驟，按各脈衝條件進行功率範圍的設定。結果適合於該圖案5時的測試條件為以下3組。(1)脈衝寬度的基準值、功率範圍的基準值(2)脈衝寬度的基準值+0.2T、功率範圍的基準值×[1-0.05×(+2)]mW(3)脈衝寬度的基準值+0.4T、功率範圍的基準值×[1-0.05×(+4)]mW圖案6是在得到了右上升圖案的情況下，抖動的最小值小於等於閾值時應用的圖案。在得到了圖案時，判斷為記錄對象介質比基準介質的靈敏度略高，選擇基準值、-0.1T和-0.2T這3點作為脈衝寬度條件。然後通過與圖案1同樣的步驟，按各脈衝條件進行功率範圍的設定。結果適合於該圖案6時的測試條件為以下3組。(1)脈衝寬度的基準值、功率範圍的基準值(2)脈衝寬度的基準值-0.1T、功率範圍的基準值×[1-0.05×(-1)]mW(3)脈衝寬度的基準值-0.2T、功率範圍的基準值×[1-0.05×(-2)]mW圖案7是在得到了右上升圖案的情況下，抖動的最小值超過閾值時應用的圖案。在得到了該圖案時，判斷為記錄對象介質比基準介質的靈敏度高很多，選擇基準值、-0.2T和-0.4T這3點作為脈衝寬度條件。然後通過與圖案1同樣的步驟，按各脈衝條件進行功率範圍的設定。結果適合於該圖案7時的測試條件為以下3組。(1)脈衝寬度的基準值、功率範圍的基準值(2)脈衝寬度的基準值-0.2T、功率範圍的基準值×[1-0.05×(-2)]mW(3)脈衝寬度的基準值-0.4T、功率範圍的基準值×[1-0.05×(-4)]mW圖案8是在得到了山形圖案的情況下，抖動的最大值超過閾值時應用的圖案。在得到了該圖案時，判斷為是異常圖案，選擇基準值±0.2T作為脈衝寬度條件。然後通過與圖案1同樣的步驟，按各脈衝條件進行功率範圍的設定。結果適合於該圖案8時的測試條件為以下3組。(1)脈衝寬度的基準值、功率範圍的基準值(2)脈衝寬度的基準值-0.2T、功率範圍的基準值×[1-0.05×(-2)]mW(3)脈衝寬度的基準值+0.2T、功率範圍的基準值×[1-0.05×(+2)]mW當檢測到以上說明的8個圖案中最接近基準介質的圖案2以外的圖案時，為了確認並不是再現誤動作引起的，也可以再次再現成為該圖案的基礎的記錄結果，再次檢測抖動。這時，當通過再次再現檢測到圖案2以外的圖案時，可以按照圖14所示的條件進行記錄條件的追加和擴展。這裡，當進行上述再現誤動作的確認的結果為檢測到圖案8時，考慮記錄誤動作的可能性，所以在進行追加記錄和脈衝寬度的擴展之前，以脈衝寬度的基準值再次進行記錄。當再現該再記錄結果也為圖案8時，不進行追加記錄，即，不進行用於測量脈衝條件1的容限的功率擴展，而進行脈衝條件的擴展，即脈衝條件2、3的擴展。可以用上述方法進行與脈衝條件2、3的擴展相應的功率的擴展。即，在圖案8的情況下，用脈衝條件1無法取得容限，無法求出成為擴展的基準的功率範圍，所以把初始的功率條件範圍設定為成為基準的功率範圍。(測試區域的確定基於近似法的功率範圍的確定)通過執行上述步驟，能以少的測試次數確定對得到最佳解有效的測試區域，但是關於對確定該測試區域很重要的功率範圍的確定方法，進行以下的說明。在本發明中，想以儘可能少的測試次數提高發現最佳解的精度，所以使測試條件集中在小於等於閾值的區域中的方法如上所述。根據該考慮方法，可以根據表示對閾值的容限的大小2點的功率值求出測試記錄時使用的功率範圍。這裡，對閾值的容限是指在該區域中能得到小於等於閾值的特性值的寬度，大小2點的功率值是指確定該容限寬度的低功率側的值和高功率側的值。這裡，如果考慮縮短各種介質的測試記錄時間和提高一次寫入介質那樣對測試記錄區域有限制的介質的測試區域的效率，則希望測試記錄所需要的記錄點更少，但是這裡求取的功率範圍是成為最佳記錄條件的判斷基準的重要參數，所以希望是高精度。以高精度求該功率範圍意味著選擇的區域更集中的測試，所以也有助於減少測試次數。例如當以0.1mW1次的頻率進行測試記錄時，如果功率範圍為1mW，就進行10次測試記錄，如果為2mW，就進行20次測試記錄，所以縮小功率範圍將有助於減少測試次數。因此，在本發明中，提倡這種方法，即著眼於描繪記錄再現信號的記錄品質相對於記錄功率的以最佳點為極值的2次曲線的變化，使用數個記錄點近似計算特性曲線，從而得到要求出的容限量的方法。通過應用這樣的近似方法，用數個記錄點就能高精度且容易地求出功率範圍，減少測試次數。圖15是說明通過曲線近似求出在圖3的步驟S122中使用的功率範圍的概念圖。如圖15所示，在進行近似時，首先選擇作為記錄特性的判斷基準的抖動值在閾值附近的低功率側的a和高功率側的c這2點、以及位於它們之間且比a、c和閾值中的任意一個值都小的抖動值b。即，這裡選擇的a、b、c具有以下的關係。a＞b、c＞b、閾值＞b這裡，上述閾值附近如圖15所示，定義為離閾值具有某個寬度的上限值和下限值之間的範圍，優選的是，上限值設定為閾值的40％，下限值設定為閾值的5％。然後，用2次函數來近似a、b、c的值，以該2次函數與閾值相交的大小2點的差為功率範圍。考慮到記錄點的間隔，定義為閾值附近的範圍可以適當變更為-5％～+40％或-10％～30％等。圖16是說明通過曲線近似求出圖3的步驟S122中使用的功率範圍的另一個例子的概念圖。如圖16所示，當只用A、B、C這3個條件，無法得到滿足上述「a＞b、c＞b、閾值＞b」的條件的關係時，最好通過追加記錄高功率側的D，得到閾值附近的值。進而，如圖16所示，當存在B＞C的關係時，最好不使用B，而用A、C、D這3點計算近似式。這時，3個記錄點和閾值的關係變為「A＞C、D＞C、閾值＞C」，為適合於描繪近似曲線的關係，所以能通過3點近似得到高精度的近似曲線。其中，D所示的追加記錄條件可以根據追加記錄前的記錄點表示的A＞B、B＞C和閾值來確定。此外，與圖15相反，當在低功率側沒有閾值附近的值時，可以用比A低的功率條件進行追加記錄，根據記錄點和閾值的關係，可以適當追加1點以上的記錄條件。此外，追加記錄條件中使用的功率的範圍，既可以相對於預定的功率步長具有一定的變化，也可以預先求出抖動變動對功率的變動的關係，根據該關係設定功率條件。另外，在即使進行上述記錄條件的追加也不能取得足以求出功率範圍的記錄點時，通過與上述同樣的步驟再次進行記錄條件的追加來變更記錄點。此外，如一次寫入介質那樣測試記錄區域有限制時，為了避免使用很長的測試時間，可以使上述再次記錄條件的追加次數具有上限值，也可以使追加記錄功率具有上限值，使得記錄功率不會因記錄條件的追加而超過雷射輸出值。此外，在上述的例子中，通過3點近似求出功率範圍，但是，也可以選擇最接近閾值的2點，根據這2點分別表示的大小2點的功率值的差來確定功率範圍。此外，作為選擇閾值附近的2點的方法，可以使功率變化並記錄，直到發現跨過閾值的大小2點，選擇在該記錄過程中最接近閾值的2點，也可以原封不動地選擇這2點。關於該方法，以下進行詳細的說明。(測試區域的確定基於抽樣的功率範圍的確定)圖17是通過抽樣求出圖3的步驟S122中使用的功率範圍的例子的概念圖。在圖17所示的例子中，不是上述3點近似，而是使功率逐漸變化，直到得到接近閾值的值，把接近閾值的大小2點的功率值作為基準，求出功率範圍。即，如圖17所示，按從P1到P2、P3…的順序增加記錄功率，進行記錄再現，反覆進行記錄再現，直到得到大於等於閾值的值的功率值P6。如果用矩陣表示該處理的映像，則從P1～P6進行功率變化，但是功率範圍變為最接近閾值的低功率側的P2和高功率側的P6之間的範圍。這樣通過選擇跨過閾值的2點，也能確定功率範圍。這裡，作為選擇接近閾值的大小2點的方法，可以適當選擇使用以下的方式。1)選擇形成功率容限的大小2點的方法，即，在滿足再現基準值的功率區域內選擇與再現基準值最接近的2點2)選擇雖然稍靠功率容限的外側，但最接近再現基準值的2點3)在低功率側選擇跨過再現基準值的大小2點4)在高功率側選擇跨過再現基準值的大小2點5)在低功率側和高功率側選擇成為跨再現基準值的形狀的2點，即分別與再現基準值最接近的2點此外，也可以使用通過上述方法選擇的2點來近似記錄特性，求出與再現基準相交的大小2點。通過以上步驟，可確定成為記錄脈衝條件的基準的起始脈衝條件。(m』T/(n-m)T比率的確定)圖18是表示在圖1的(b)所示的步驟S200的比率確定中使用的測試用記錄脈衝的例子的概念圖。圖18的(a)是使用以單一的脈衝圖案構成的單脈衝時的例子，圖18的(b)是使用以多個脈衝圖案構成的多脈衝時的例子。如圖18所示，單脈衝10-1和多脈衝10-2，由配置在記錄脈衝最前面的起始脈衝12和之後的後續脈衝14構成，後續脈衝14包括配置在記錄脈衝的最後面的最終脈衝16。這裡，用總功率PW表示的高度規定記錄脈衝整體的能量，以起始脈衝寬度Ttop表示的長度規定施加給記錄坑前端的初始能量。該總功率PW，優選為記錄脈衝10-1、10-2中最高的值，起始脈衝的寬度Ttop，具有對應於具有3T的長度的最短記錄坑的寬度。該最短寬度的記錄脈衝的出現概率最高，對記錄品質的影響大，因此，優選為首先確定該起始脈衝12的功率PW和寬度Ttop的最佳條件。接著，通過m』T/(n-m)T比率確定的流程，來確定後續脈衝14。作為後續脈衝的條件，在為單脈衝10-1時，如圖18的(a)所示，設置比總功率PW低PWD的低功率區域，通過規定該量來防止記錄坑成為淚滴狀。同樣，在為多脈衝10-2時，如圖18的(b)所示，通過規定位於起始脈衝12和最終脈衝16之間的中間脈衝的寬度Tmp，或者通過規定Tmp和Tsmp的佔空比來防止記錄坑成為淚滴狀。這些後續脈衝的條件確定是將起始脈衝的條件作為基準來進行的。圖19是表示圖1的(b)所示的步驟S200的比率確定流程的執行順序的流程圖。如圖19所示，圖2所示的驅動器，首先，為了設定策略電路102執行的記錄策略的各種參數，基於對介質50改變了(n-m)T的條件的多個記錄圖案進行測試記錄(步驟S210)。這時，mT脈衝的條件，預先固定為在上述m』T條件確定流程中所得到的值。之後，再現由該測試記錄所形成的記錄圖案(步驟S212)，之後，偏移檢測部112用與預定時鐘同步的計數器，對從2值化電路110得到的再現2值化信號進行計數(步驟S214)，將該再現2值化信號中所包含的坑和岸的長度作為計數數據，存儲在記錄區域115(步驟S216)。然後，記錄偏移檢測部112用存儲在記錄區域115中的計數數據，生成表示每個計數值的出現頻率的柱狀圖(步驟S218)，根據該柱狀圖確定成為坑長度和岸長度的判斷基準的計數結果的閾值(步驟S220)。然後，記錄偏移檢測部112，以上述閾值為基準從存儲在記錄區域115中的計數數據中，檢索包含特定的坑/岸圖案的多種特定圖案(步驟S222)，對包含在該特定圖案中的被認為是同一坑長度的計數結果取平均值，並且對被認為是同一岸長度的計數結果取平均值，從而求出構成特定圖案的各坑和各岸的平均長度(步驟S224)。然後，記錄偏移檢測部112，將所抽出的多個特定圖案中的一個設定為基準圖案，將該抽出的圖案所包含的對象記錄坑的長度與基準長度進行比較(步驟S226)，檢測對於記錄脈衝的坑的長度偏移量(步驟S228)。然後，運算式導出部113，根據記錄偏移檢測部112檢測出的偏移量，導出用於確定最佳策略的運算式；策略確定部114，使用以該運算式導出部113所導出的運算式；愛預測各種參數的控制結果(步驟S230)，根據該預測結果確定圖18所示的PWD或Tmp，將其設定於在策略電路102中(步驟S232)。圖20是表示從圖19所示的測試記錄到再現數據的計數為止的操作概念的概念圖。如圖20所示，首先，進行測試記錄，並在光碟上形成圖20的(a)所示的記錄坑。然後，對該記錄坑進行再現，如圖20的(b)所示，得到與該記錄坑對應的再現RF信號。對該再現RF信號進行2值化後，得到圖20的(c)所示的再現2值化信號，並用圖20的(d)所示的時鐘信號對該2值化信號的極性反轉之間的脈衝長度進行計數，得到圖20的(e)所示的計數結果。圖21是表示圖28所示的計數結果的存儲映像的概念圖。如圖21所示，在用時鐘信號進行了計數的2值化信號中，其計數結果以極性反轉部分為界限，與坑、岸的區別一起依次以時序存儲在設置於存儲區域115中的表內。圖21所示的表，以附加了此後可進行檢索的地址的狀態來存儲。圖22A、圖22B是表示圖19所示的柱狀圖生成的圖像的概念圖。如圖22A、圖22B所示，如果將計數值的出現頻率圖形化，則可得到柱狀圖，如果將坑和岸分開分別生成柱狀圖，則可得到圖22A所示的表示坑的計數傾向的坑柱狀圖和圖22B所示的表示岸的計數傾向的岸柱狀圖這兩種柱狀圖。這樣，在光碟上，對基準時鐘的各單位長度nT(n＝3、4、5、…14)的長度必然被確定，因此對於各單位長度nT，能得到出現頻率分布的峰。圖23A、圖23B是表示圖19中的閾值確定的映像的概念圖。如圖23A、圖23B所示，在柱狀圖中的各峰和峰之間所形成的谷的部分可以作為各單位長度nT的長度判斷閾值來使用，因此對於坑柱狀圖和岸柱狀圖，分別設定成為坑長的判斷基準的坑長度閾值和成為岸長度的判斷基準的岸長閾值。圖24A、圖24B是表示通過圖23A、圖23B所示的方法得到的閾值的例子的概念圖。如圖24A所示，按各坑長度的界限來定義坑長度閾值，如圖24B所示，按各間隔長度的界限來定義間隔長度閾值。在圖33A所示的例子中，成為2T和3T的界限的閾值為「計數值＝2」，成為3T和4T的界限的閾值為「計數值＝9」，以下，設定到14T和15T的界限為止。另外，在圖33B所示的例子中，成為2T和3T的界限的閾值為「計數值＝2」，成為3T和4T的界限的閾值為「計數值＝10」，以下，設定到14T和15T的界限為止。接著，對圖19中的從特定圖案的檢索(步驟S222)到偏移量的檢測(步驟S228)為止的各步驟進行詳細的說明。這些步驟是根據記錄偏移檢測部112中的各種偏移的檢測原理來進行的。圖25是表示用於檢測坑平衡引起的偏移量的記錄圖案的一個例子的圖。在此，所謂坑平衡，表示上述的起始脈衝與後續脈衝的平衡。如圖25所示，在檢測坑平衡引起的偏移量時，使用如圖25的(a)所示的記錄脈衝進行測試記錄。該記錄脈衝包括坑LxT、坑PyT、岸LzT連續的圖案，將固定岸LyT的岸長度和固定岸LzT的岸長度固定，將可變坑PxT的坑長度如圖25的(b)～(f)所示那樣，按3T、4T、…7T來變化。另外，雖然未圖示，但是可變坑長度的變化一直進行到14T。在此，在測量該記錄圖案的可變長度的坑PyT的長度時，該可變長度的坑PyT的長度在理想的記錄狀態下應該是分別與理想的坑長度對應。但是，當該可變長度的坑PyT的長度偏移理想的規定長度時，岸LxT的岸長度和岸LzT的岸長度固定，因此，該可變長度的坑PyT的離規定長度的偏移量，對應於記錄時的策略中的3T、4T、…14T分別相對於坑P3T、P4T、…P14T的長度偏移量。因此，若使用某策略進行測試記錄，根據該記錄脈衝引起的測試記錄的再現圖案，如圖25的(b)～(f)所示那樣，對可變長度的坑PyT的記錄結果與各坑的基準長度進行比較，檢測各坑長度離理想長度的偏移量，則能夠檢測各坑長度的長度偏移量。圖26是表示坑平衡偏移檢測中所使用的特定圖案檢測用的表結構的概念圖。在進行坑平衡偏移的檢測的情況下，以對每個特定圖案設定的關於岸LxT、坑PyT、岸LzT的閾值範圍為基準，對在圖2的存儲區域115內存儲的數據進行檢索(相當於圖19的步驟S222)，抽取滿足該閾值的數據串。之後，對分別相當於岸LxT、坑PyT、岸LzT的計數結果進行區分，按坑岸LxT、坑PyT、岸LzT求出平均值(相當於圖19的步驟S224)。如果使用該計數結果的平均值進行圖25所示的圖案比較，則能得到各坑長度的前側相移量。圖27是表示通過計數結果的絕對比較來檢測長度偏移量時的具體例子的概念圖。如圖27所示，在通過與理想的基準長度進行比較來檢測偏移量時，首先，從存儲在存儲區域內的數據組中檢索抽取圖27的(a)所示的特定圖案，如圖27的(b)和(c)所示，比較相對於成為比較對象的部位的計數值。在圖27所示的例子中，由於坑3T成為比較部位，因此求出作為特定圖案的計數結果的圖27的(c)所示的「9」和作為相當於基準長度的計數結果的圖27的(d)所示的「8」的差值，得到的差值「1」就成為3T坑的偏移量。圖28是表示圖19中的控制量預測的執行例子的流程圖。如圖28所示，控制量的預測是通過執行以下一連串的步驟進行的以記錄條件不同的S1和S2這兩種以上的條件進行測試記錄(步驟S250)；再現得到的記錄標記(步驟S252)；比較得到的再現圖案，從而求出與條件1對應的偏移量D1和與條件S2對應的偏移量D2(步驟S254)；以及對S1和S2之間、D1和D2之間的關係進行直線近似(步驟S256)，使用該直線確定最佳校正量(步驟S258)。根據策略的各種設定參數，改變如上述那樣所檢測出的偏移量D1和D2。並且，能夠清楚地得知，根據該策略的各種設定參數進行改變的偏移量DQ和D2，對其分析的結果大致呈直線地進行變化。即，由上述記錄偏移檢測部112所檢測出的各自的測試記錄中的偏移量，能夠作為基於最小二乘法而近似的直線狀的變化而得到。因此，在本實施方式的驅動器中，在進行例如2次測試記錄時，能夠著眼於策略的各種設定參數與檢測出的偏移量D1、D2之間的直線關係，來確定最佳的策略。在本發明中，也可以是用曲線近似來替代直線近似。即，在單脈衝時，PWD為以記錄條件S1、S2進行變化的典型參數，在多脈衝時，Tmp為以記錄條件S1、S2進行變化的典型參數，使這些參數以S1、S2進行變化，檢測其影響而作為D1、D2，使用這4點進行直線近似，使用該直線得到能夠消除偏移的校正量。圖29是表示使PWD變化時的記錄條件S1、S2的變化與偏移量D1、D2之間的關係的概念圖。在此，圖29的(a)所示的記錄脈衝為使PWD只按S1變化的記錄脈衝S1，圖29的(b)所示的記錄脈衝為使PWD只按S2變化的記錄脈衝S2，使用這兩個條件進行測試記錄。結果，得到與圖29的(a)的記錄脈衝對應的圖29的(a1)所示的圖案S1，與圖41的(b)的記錄脈衝對應的圖29的(b1)所示的圖案S2。在此，圖案S1與控制量S1對應地產生D1的偏移量，圖案S2與控制量S2對應地產生D2的偏移量。如果知道相對於控制量S1和S2的偏移量D1和D2，並假設對某個參數具有多少控制量，則能預測產生多少偏移，因此，利用這些關係來進行控制量的預測和校正值的確定。圖30是表示利用了關於單脈衝形狀的直線近似的長度偏移校正的一個例子的概念圖。在確定對該長度偏移的校正量PWD的情況下，首先，如圖30的(a)所示，以成為基準的脈衝長度為基準波形nT，此時，如圖30的(b)所示，用在脈衝的中央缺少了PWD的波形進行測試記錄，結果是，如圖30的(c)所示，檢測所得到的再現信號的長度偏移Δ。在圖30所示的例子中，使該PWD進行S1＝+0.1和S2＝+0.3這兩種變化，所得到的長度偏移Δ為偏移量D1＝+0.1和D2＝-0.1。然後，使用這些所得到的S1、S2、D1、D2，如圖30的(e)所示，用直線來近似控制結果Δ對控制量PWD的關係，並利用該直線確定能消除長度偏移的校正量PWD＝+0.2作為最佳校正值。這時，預先固定起始脈衝的條件而不進行變化。這樣，如果求出至少2個變化點，則策略的變化S1、S2和偏移量的變化D1、D2的關係能進行直線的近似或者曲線的近似，因此能使用該直線求出偏移量變為零的最佳校正量。具體地講，求出使策略S以多點變化時的偏移量D，將此時的策略S和偏移量D的關係代入普通式子「D＝a×S+b」，通過求解聯立方程式求出常數a、b，最終，求出與理想的偏移量D對應的策略S，並將該策略S設定在圖1所示的策略電路102中，由此進行記錄脈衝的最佳校正。例如，在圖2所示的記錄偏移檢測部112中，設從使用某個策略S1的測試記錄的再現圖案檢測出的偏移量為D1、從使用另外的策略S2的測試記錄的再現圖案檢測出的偏移量為D2，則由D1＝a×S1+bD2＝a×S2+b計算a、b，並求出使用計算出的a和b的函數S＝(D-b)/a，通過將用於改善記錄品質的、例如用於校正在補償電路中產生的初始的輸出偏移等的輸出偏移量D代入該函數中，確定最佳策略S。圖31是表示利用了關於多脈衝的形狀的直線近似的長度偏移校正的一個例子的概念圖。在確定對該長度偏移的校正量Tmp的情況下，首先，如圖31的(a)所示，把成為基準的脈衝長度取為基準波形Tmp，此時，如圖31的(b)所示，以把中間脈衝長度取為Tmp的波形進行測試記錄，結果，如圖31的(c)所示，檢測得到的再現信號的長度偏移Δ。這時，預先固定起始脈衝的條件而不進行變化。在圖31所示的例子中，使Tmp的變化進行S1＝+0.3和S2＝+0.1這兩種變化，所得到的長度偏移Δ為偏移量D1＝+0.1和D2＝-0.1。然後，使用這些所得到的S1、S2、D1、D2，如圖31的(e)所示，用直線來近似控制結果Δ對控制量Tmp的關係，並利用該直線確定能消除長度偏移的校正量Tmp＝+0.2作為最佳校正值。圖32是表示用於存儲校正量PWD和Tmp的表構造的概念圖。如圖32所示，校正量PWD和Tmp用成為校正對象的每個坑長度來定義。例如，在校正對象坑為3T時的校正量PWD，校正量被存儲在圖中表示為「PW3」的區域內，在校正對象坑為3T時的校正量Tmp，校正量被存儲在圖中表示為「Tm3」的區域內，以下，對於4T、5T、…14T，與3T同樣地進行存儲。圖33是表示在圖1的步驟S300中執行的nT脈衝的結構概念的概念圖。如圖33的(a)所示，形成例如5T坑時的記錄數據，作為具有5個時鐘信號周期的長度的nT長度的脈衝信號而被輸出。對於該記錄數據，校正後的脈衝如圖33的(b)和圖33的(c)所示，以m』T的起始脈衝開始，作為具有n』T長度的脈衝信號而輸出，在單脈衝的情況下，在(n-m)T脈衝內定義PWD，在多脈衝的情況下，在(n-m)T脈衝內定義Tmp。這時，PWD和Tmp為固定起始脈衝的條件而求得的值，因此成為依照將mT脈衝的條件作為基準的最佳m』T/(n-m)T比率的值。其結果，以起始脈衝和後續脈衝構成的nT脈衝，成為對記錄品質的提高最理想的值。在該時刻，因為還未定義相位條件，所以，通過進一步執行關於後述的相位條件的確定的流程，來得到被最優化的策略。(相移校正)圖34是表示在圖1的(b)所示的步驟S400的相移校正中使用的測試用記錄脈衝的例子的概念圖。圖34的(a)是使用由單一的脈衝圖案構成的單脈衝時的例子，圖34的(b)是使用由多個脈衝構成的多脈衝時的例子。如圖34的各圖所示，無論是單脈衝10-1和多脈衝10-2的哪一者，都設定調整起始脈衝12的開始位置的Ttop和調整後端脈衝16的結束位置的Tlast作為記錄脈衝的相位條件。通過調整這些值，能夠將記錄後的坑長進一步地最優化。通過進行把以到上述為止的流程所確定的起始脈衝的條件和後續脈衝的條件作為基準的測試記錄，來確定這些相位條件。圖35是表示在圖1的(b)所示的步驟S400的相位條件確定流程的執行步驟的流程圖。如圖35所示，圖2所示的驅動器，首先對介質50進行基於變更了由mT脈衝和(n-m)T脈衝構成的nT脈衝的相位條件後的多個記錄圖案的測試記錄(步驟S410)。此時，mT脈衝的條件和(n-m)T脈衝的條件，預先固定為在到上述為止的流程中得到的值。然後，再現通過該測試記錄所形成的記錄圖案(步驟S412)，之後，偏移檢測部112用與預定時鐘同步的計數器，對從2值化電路110得到的再現2值化信號進行計數(步驟S414)，將該再現2值化信號中所包含的坑和岸的長度作為計數數據，存儲在記錄區域115中(步驟S416)。然後，記錄偏移檢測部112用存儲在記錄區域115中的計數數據，生成表示每個計數值的出現頻率的柱狀圖(步驟S418)，根據該柱狀圖確定成為坑長度和岸長度的判斷基準的計數結果的閾值(步驟S420)。然後，記錄偏移檢測部112，以上述閾值為基準從存儲在記錄區域115中的計數數據中，檢索包含特定的坑/岸圖案的多種特定圖案(步驟S422)，對包含在該特定圖案中的被認為是同一坑長度的計數結果取平均值，並且對被認為是同一岸長度的計數結果取平均值，從而求出構成特定圖案的各坑和各岸的平均長度(步驟S424)。然後，記錄偏移檢測部112，將所抽出的多個特定圖案中的一個設定為基準圖案，將該基準圖案與其它圖案進行比較(步驟S426)，分別獨立地檢測下述偏移量(步驟S428)。1)坑相對於記錄脈衝的前側相移量2)坑相對於記錄脈衝的後側相移量3)熱幹擾導致的偏離記錄脈衝的坑偏移量然後，運算式導出部113，根據記錄偏移檢測部112檢測出的偏移量，導出用於確定最佳策略的運算式；策略確定部114，用由該運算式導出部113所導出的運算式預測各種參數的控制結果(步驟S430)，根據該預測結果確定圖34所示的Ttop和Tlast，並將其設定在策略電路102中(步驟S432)。在此，從步驟S410的測試記錄到步驟S424的取平均值為止的順序，用與上述圖20～圖24所示的同樣的方法進行，在此省略詳細的說明。圖36是表示用於檢測各坑長度的前側相移量的記錄圖案和再現圖案的一個例子的圖。如圖36所示，在檢測各坑長度的前側相移時，使用圖36的(a)所示的記錄脈衝進行測試記錄。其記錄脈衝包含固定坑PxT、固定岸LyT、可變坑PzT連續的圖案，使固定坑PxT的坑長度和固定岸LyT的岸長度固定，使可變坑PzT的坑長度如圖36的(b)～(f)所示那樣，按3T、4T、…7T來變化。另外，雖然未圖示，但是可變坑長度的變化一直進行到14T。在此，在測量該記錄圖案的固定岸LyT的長度時，該固定岸LyT的長度在理想的記錄狀態下應該是恆定的。但是，當該固定岸LyT的長度偏離理想的規定長度時，由於坑PxT的坑長是固定的，因此，該固定岸LyT長度的理想的規定長度的偏移量，與相對於記錄時策略中的3T、4T、…14T各自的坑P3T、P4T、…P14T的記錄脈衝的前側相移量相對應。因此，當將可變坑PzT為3T的圖36的(b)的圖案設定為基準圖案，將餘下的圖36的(c)～(f)的圖案設定為比較圖案，對這些比較圖案的固定岸LyT的長度和基準圖案的固定岸LyT的長度進行比較，如圖36的各圖所示，得到相對於基準圖案的前側相移量FPS4T～FPS7T。在此，各偏移量FPS3T～FPS7T，可以作為以某個部位為基準的相對值來檢測，因此，基準圖案的前側相移量FPS3T可以定義為零，也可以作為偏離理想的長度的偏移量來檢測。另外，也可以將圖36的(c)～(f)所示的圖案中的任意一個設定為基準圖案，而不用圖36的(b)的圖案。圖37是表示用於檢測各坑長度的後側相移量的記錄圖案和再現圖案的一個例子的概念圖。如圖37所示，在檢測各坑長度的後側相移量時，使用圖37的(a)所示的記錄脈衝進行測試記錄。該記錄脈衝包含可變坑PxT、固定岸LyT、固定坑PzT連續的圖案，使固定岸LyT的岸長度和固定坑PzT的坑長度固定，使可變坑PxT的坑長度像圖37的(b)～(f)所示那樣，按3T、4T、…7T來變化。另外，雖然未圖示，但是可變坑長的變化一直進行到14T。在此，在測量該記錄圖案的固定岸LyT的長度時，該固定岸LyT的長度在理想的記錄狀態下應該是恆定的。但是，當該固定岸LyT的長度偏離理想的規定長度時，由於坑PzT的坑長度是固定的，因此，該固定岸LyT長度的理想的規定長度的偏移量，與對記錄時策略中的3T、4T、…14T各自的坑P3T、P4T、…P14T的記錄脈衝的後側相移量相對應。因此，當將可變坑PxT為3T的圖37的(b)的圖案設定為基準圖案，將餘下的圖37的(c)～(f)的圖案設定為比較圖案，對這些比較圖案的固定岸LyT的長度和基準圖案的固定岸LyT的長度進行比較，如圖37的各圖所示，得到對基準圖案的後側相移量RPS4T～RPS7T。在此，各偏移量RPS3T～RPS7T，可以作為以某個部位為基準的相對值來檢測，因此，基準圖案的後側相移量RPS3T可以定義為零，也可以作為偏離理想的長度的偏移量來檢測。另外，也可以將圖37的(c)～(f)所示的圖案中的任意一個設定為基準圖案，而不用圖37的(b)的圖案。圖38是表示用於檢測由熱幹擾引起的坑偏移量的記錄圖案的一個例子的圖。如圖38所示，在檢測由熱幹擾引起的坑偏移量的情況下，使用圖38的(a)所示的記錄脈衝進行測試記錄。該記錄脈衝，包含岸LxT、坑PyT、岸LzT連續的圖案，使固定坑PyT的坑長度和固定岸LzT的岸長度固定，並使可變岸LxT的岸長度如圖38的(b)～(f)所示，按3T、4T、…7T來變化。另外，雖然未圖示，但是可變岸長度的變化一直進行到14T。在此，如果測量該記錄圖案的固定坑PyT的長度，則該固定長度的坑PyT的長度在理想的狀態下應恆定。但是，如果該固定坑PyT的長度偏離理想的規定的長度，則岸LzT的岸長度是固定的，因此該固定坑LyT的理想的規定長度的偏移量，與由緊接在可變岸LxT之前形成的坑的熱幹擾引起的偏移量相對應。因此，當把可變岸LxT為3T的圖38的(b)圖案設定為基準圖案，把圖38的剩下的(c)～(f)的圖案設定為比較圖案，對這些比較圖案的固定坑PyT的長度和基準圖案的固定坑PyT的長度進行比較，如圖38的各圖所示，能得到對基準圖案的前側相移量HID3T～HID7T。在此，各偏移量HID3T～HID7T只要能作為以某個部位為基準的相對值來檢測即可，因此基準圖案的前側相移量HID3T也可以定義為零，另外，也可以作為偏離理想長度的偏移量來檢測。並且，也可以將圖38的(c)～(f)所示的圖案的任意一個設定為基準圖案，來替代圖38的(b)的圖案。圖39是表示坑前相移檢測和坑後相移檢測所使用的特定圖案檢索用的表結構的概念圖。在進行坑前相移的檢測的情況下，以對每個特定圖案設定的關於坑PxT、岸LyT、坑PzT的圖39的(a)所示的閾值範圍為基準，對在圖27的存儲區域115內存儲的數據進行檢索(相當於圖35的步驟S422)，抽取滿足該閾值的數據串。之後，對分別相當於坑PxT、岸LyT、坑PzT的計數結果進行區分並按坑PxT、岸LyT、坑PzT求出平均值(相當於圖35的步驟S424)。如果使用該計數結果的平均值進行上述的圖案比較，則能得到各坑長度的前側相移量。圖39的(b)是進行坑後相移的檢測時的閾值例，但是思考方法和操作與進行坑前相移的檢測的情況是相同的。圖40是表示坑幹擾偏移檢測所使用的特定圖案檢測用的表結構的概念圖。如圖40所示，坑幹擾偏移的檢測以與使用圖39說明的坑前相移和坑後相移同樣的方法來進行。圖41是表示通過計數結果的相對比較來檢測偏移量時的具體例子的概念圖。圖41是檢測坑前相移時的具體例子，但是檢測其它的偏移量時也用同樣的方法進行。在檢測偏移量時，首先，從存儲在存儲區域內的數據組中檢索抽取圖41的(a)和(b)所示的基準圖案和比較圖案，如圖41的(c)和(d)所示，比較對本來應為固定長度的部位的計數值。在圖41所示的例子中，由於岸LyT成為比較部位，因此求出作為基準圖案的計數結果的圖41的(c)所示的「12」和作為比較圖案的計數結果的圖41的(d)所示的「11」的差值，得到的差值「1」就成為偏移量FPS4T的值。圖42是表示根據圖35中的控制量預測確定Ttop、Tlast的執行例子的流程圖。如圖42所示，控制量的預測是通過執行以下一連串的步驟進行的以記錄條件不同的S1和S2這兩種以上的條件進行測試記錄(步驟S450)；再現得到的記錄坑(步驟S452)；比較得到的再現圖案，從而求出與條件1對應的偏移量D1和與條件S2對應的偏移量D2(步驟S454)；以及對S1和S2之間、D1和D2之間的關係進行直線近似(步驟S456)，使用該直線確定最佳Ttop和Tlast(步驟S458)。圖43是表示記錄條件S1、S2的變化與偏移量D1、D2之間的關係的概念圖。如果以圖43的(a)所示的記錄脈衝為「PzT＝3T」的基準脈衝，則成為比較對象的「PzT＝4T」的記錄脈衝在使PzT的前端按S1變化的圖43的(b)的記錄脈衝S1和使PzT的前端按S2變化的圖43的(c)的記錄脈衝S2這兩個條件下進行測試記錄。結果，得到與圖43的(a)的記錄脈衝對應的圖43的(a1)所示的基準圖案，與圖43的(b)的記錄脈衝對應的圖43的(b1)所示的比較圖案S1，與圖43的(c)的記錄脈衝對應的圖43的(c1)所示的比較圖案S2。在此，比較圖案S1與控制量S1對應地產生D1的偏移量，比較圖案S2與控制量S2對應地產生D2的偏移量。如果知道相對於控制量S1和S2的偏移量D1和D2，並假設對某個參數具有多少控制量，則能預測產生多少偏移，因此，利用這些關係來進行控制量的預測和校正值的確定。圖44是表示利用了直線近似的前側相移校正的一個例子的概念圖。在確定對前側相移的校正量Ttop的情況下，首先，如圖44的(a)所示，將成為基準的脈衝位置取為基準相位φ，此時，如圖44的(b)所示，用使脈衝的位置錯開Ttop的波形進行測試記錄(相當於記錄條件S1、S2)，結果是，如圖44的(c)所示，檢測所得到的再現信號的相移Δφtop(相當於偏移量D1、D2)。在圖44所示的例子中，使該Ttop進行S1＝+0.1和S2＝+0.3這兩種變化，所得到的檢測相位Δφtop為偏移量D1＝-0.1和D2＝+0.1。然後，使用這些所得到的S1、S2、D1、D2，如圖44的(e)所示，用直線來近似控制結果Δφtop對控制量Ttop的關係，並利用該直線確定能消除相移的校正相位Ttop＝+0.2作為最佳校正值。這樣，如果求出至少2個變化點，則策略的變化S1、S2和偏移量的變化D1、D2的關係能進行直線的近似或者曲線的近似，因此能使用該直線求出偏移量變為零的最佳校正量。具體地講，求出使策略S以多點變化時的偏移量D，將此時的策略S和偏移量D的關係代入普通式子「D＝a×S+b」，通過求解聯立方程式求出常數a、b，最終，求出與理想的偏移量D對應的策略S，並將該策略S設定在圖1所示的策略電路102中，由此進行記錄脈衝的最佳校正。例如，在圖1所示的記錄偏移檢測部112中，設從使用某個策略S1的測試記錄的再現圖案檢測出的偏移量為D1、從使用另外的策略S2的測試記錄的再現圖案檢測出的偏移量為D2，則由D1＝a×S1+bD2＝a×S2+b計算a、b，並求出使用計算出的a和b的函數S＝(D-b)/a，通過將用於改善記錄品質的、例如用於校正在補償電路中產生的初始的輸出偏移等的輸出偏移量D代入該函數中，確定最佳策略S。求出該最佳策略S的函數能與3T、4T、…14T各自的坑P3T、P4T、…P14T相應地求出。並且，求出該最佳策略S的函數還能分別與記錄速度相應地求出。圖45是表示利用了直線近似的後側相移校正的一個例子的概念圖。在確定對後側相移的校正量Tlast的情況下，首先，如圖45的(a)所示，以成為基準的脈衝位置為基準相位φ，此時，如圖45的(b)所示，用使脈衝的位置錯開Tlast的波形進行測試記錄，結果，如圖45的(c)所示，檢測得到的再現信號的相移Δφlast。在圖45所示的例子中，使該Tlast進行S1＝-0.1和S2＝-0.3這兩種變化，所得到的檢測相位Δφlast為偏移量D1＝+0.1和D2＝-0.1。然後，使用這些所得到的S1、S2、D1、D2，如圖45的(e)所示，用直線來近似控制結果Δφlast對控制量Tlast的關係，並利用該直線確定能消除相移的校正相位Tlast＝-0.2作為最佳校正值。圖46是表示用於存儲校正量Ttop和Tlast的表構造的概念圖。如圖46的(a)所示，校正量Ttop用成為校正對象的每個坑長度與該各坑的前方岸長度的組合來定義。例如，在校正對象坑為3T、該坑的前方岸為3T的情況下，在圖中表示為「3-3」的區域內存儲校正量，在校正對象坑為4T、該坑的前方岸為3T的情況下，在圖中表示為「3-4」的區域內存儲校正量，以下，對於5T、…14T，與3T和4T同樣地進行存儲。另外，如圖46的(b)所示，校正量Tlast用成為校正對象的每個坑長度與該各坑的後方岸長度的組合來對定義。例如，在校正對象坑為3T、該坑的後方岸為3T的情況下，在圖中表示為「3-3」的區域存儲校正量，在校正對象坑為4T、該坑的後方岸為3T的情況下，在圖中表示為「3-4」的區域存儲校正量，以下，對於5T、…14T，與3T和4T同樣地進行存儲。圖47是表示校正後的單脈衝的例子的概念圖。如圖47的各圖所示，在將圖47的(a)所示的記錄數據記錄在光碟上的情況下，對每個坑長度設定應用了最佳的校正值的策略。例如，在記錄3T坑的情況下，如圖47的(b)所示，從圖46所示的表中根據前方的岸長度讀出3T坑的前端校正值Ttop，並且，根據後方岸長度讀出3T坑的後端校正值Tlast，並用該Ttop和Tlast對記錄脈衝的前端和後端進行校正。在校正4T坑的情況下，如圖47的(c)～(f)所示，除了Ttop和Tlast之外，還從圖32的表中讀出該坑長度的PWD校正值，並進行該PWD值所對應的脈衝形狀的校正。圖48是表示校正後的多脈衝的例子的概念圖。如圖48的各圖所示，在多脈衝的情況下，取代上述圖47所示的單脈衝的PWD校正值，從圖32的表中讀出該坑長度的Tmp校正值，並進行該Tmp值所對應的脈衝形狀的校正。其它的與單脈衝的情況相同。在以上說明的實施方式中，通過將偏移量D代入求出最佳策略S的函數中來確定最佳策略，但是，也可以構成為準備從上述函數求出的校正表，並根據該校正表確定最佳策略S。另外，也可以在每次改變光碟的種類或者每次改變記錄速度時進行上述最佳策略的設定處理，另外，也可以採用如下的結構，即在將由上述最佳策略的設定處理確定的最佳策略的條件與光碟的種類和記錄速度相對應地預先存儲在存儲器中，再次用同一種類的光碟進行記錄的情況下，或者用同一記錄速度進行記錄的情況下，讀出存儲在該存儲器中的最佳策略來進行使用。圖49是表示通過中間脈衝的調整來控制記錄坑的寬度的概念的概念圖。如圖49的(a)和圖49的(b)所示，在由起始脈衝12、中間脈衝14、最終脈衝16構成記錄脈衝的情況下，通過調整圖49的各圖所示的中間脈衝PWD、Tmp，來控制圖49的(c)所示的飽和碼的坑寬度W，該坑的長度和相位由圖49的(a)和圖49的(b)所示的前側相位校正量Ttop和後側相位校正量Tlast進行控制。圖50是表示在圖49所示的概念中最終脈衝的適當的設定例的概念圖。如圖50的(a)所示，在將非多脈衝用作記錄脈衝時，優選的是以將最終脈衝16關斷(OFF)的狀態，使中間脈衝條件PWD變化，由此來控制飽和碼的坑寬度。如圖50的(b)所示，在將多脈衝用作記錄脈衝時，優選的是在將構成中間脈衝14的窄脈衝的寬度Tmp和最終脈衝16的寬度設定為相等寬度的狀態下，使中間脈衝條件Tmp變化，由此來控制飽和碼的坑寬度。圖51是表示非飽和碼和飽和碼的關係的概念圖。如圖51所示，將作為比圓點直徑Spot短的碼、即以非飽和狀態得到3T～6T這樣的再現信號的振幅的碼作為非飽和碼，將以非飽和狀態得到7T～14T這樣的再現信號的振幅的碼作為飽和碼，與飽和碼對應的坑寬度的擴大，成為使Wobble和Lpp的信號品質降低的主要原因，因此，基於圖49和圖50所示的概念，調整與該飽和碼對應的記錄脈衝的中間條件。圖52是表示通過中間脈衝條件的調整來控制坑寬度的第1例的執行順序的流程圖。如圖52所示，在進行基於中間脈衝的坑寬度控制時，首先，通過測試記錄等方法，確定適於記錄對象介質的目標(target)調製度(步驟S500)，使與飽和信號、例如14T對應的記錄脈衝的中間脈衝條件變化，進行測試記錄(步驟S502)。接著，再現上述測試記錄的結果，測量調製度，對與中間脈衝條件的變化相應的調製度的變化趨勢進行繪圖(步驟S504)，根據該繪製出的趨勢來設定能得到最適於該介質的調製度的中間脈衝條件(步驟S506)。圖53是表示通過圖52所示的順序所得到的調製度的變化趨勢例的XY坐標曲線圖。如圖53所示，將調製度相對於中間脈衝條件PWD、Tmp的變化的變化情況進行繪圖後，表示出大體按一次直線變化的趨勢，因此，將該一次直線與適於該介質的目標調製度相交的、圖中以白圓圈示出的點設定為中間脈衝條件的最佳條件。圖54是表示通過中間脈衝條件的調整來進行坑寬度控制的第2例的執行順序的流程圖。如圖54所示，在本例中，首先，準備包含非飽和碼和飽和碼的測試圖案，使與包含在該測試圖案中的飽和碼對應的記錄脈衝的中間脈衝條件變化，進行測試記錄(步驟S600)。之後，再現測試記錄結果，檢測出非飽和碼的長度，並求出該檢測出的長度的每1T的長度(步驟S602～S606)。同樣地，再現測試記錄結果，檢測出飽和碼的長度，並求出該檢測出的長度的每1T的長度(步驟S608～S612)。之後，與中間脈衝條件的變化對應地描繪非飽和碼的每1T的長度A與飽和碼的每1T的長度B之間的差(步驟S614)，根據該繪製出的趨勢來設定能得到最適於該介質的調製度的中間脈衝條件(步驟S616)。圖55是表示通過圖54所示的步驟所得到的調製度的變化趨向例的XY曲線圖。如圖54所示，若對2個碼的調製平衡相對於中間脈衝條件PWD、Tmp的變化的變化進行繪圖，則表示為按一次直線變化的趨勢，因此，將該一次直線與成為調製平衡的最佳點的零點相交的、在圖中以白圓圈示出的點設定為中間脈衝條件的最佳條件。圖56是表示通過中間脈衝條件的調整來控制坑寬度的第3例的執行順序的流程圖。如圖56所示，在本例中，首先，準備包含成為最短碼的3T碼和比3T碼長的例如4T碼的測試圖案，使與該測試圖案所包含的4T碼對應的記錄脈衝的中間脈衝條件變化，進行測試記錄(步驟S700)。之後，再現測試記錄結果，檢測3T碼的長度，並求出該檢測出的長度的每1T的長度(步驟S702～S706)。同樣地，再現測試記錄結果，檢測4T碼的長度，並求出該檢測出的長度的每1T的長度(步驟S708～S712)。之後，與中間脈衝條件的變化對應地描繪出3T碼的每1T的長度A與4T碼的每1T的長度B的差(步驟S714)，根據該繪製出的趨勢，設定能得到最適於該介質的調製度的中間脈衝條件(步驟S716)。(工業可利用性)按照本發明，對於驅動器來說，即使是未知的介質，也能得到更接近最佳的記錄條件，因此，能期待其應對更苛刻的記錄環境。權利要求1.一種光信息記錄裝置，設定與多種類的各碼對應地用起始脈衝、中間脈衝、最終脈衝定義的記錄脈衝，並進行基於該設定的記錄脈衝的雷射照射，由此在光記錄介質上記錄信息，其特徵在於，包括通過調整與飽和碼對應的記錄脈衝的至少起始脈衝條件，來控制與該飽和碼對應的記錄坑的相位的裝置，其中，所述飽和碼具有信號振幅飽和的長度；和通過調整與上述飽和碼對應的記錄脈衝的中間脈衝條件，來控制與該飽和碼對應的記錄坑的寬度的裝置。2.根據權利要求1所述的光信息記錄裝置，其特徵在於包括使上述具有信號振幅飽和的長度的飽和碼的中間脈衝條件變化，對上述介質進行測試記錄的裝置；求出由上述測試記錄的結果所得到的調製度的趨勢的裝置；以及根據上述調製度的趨勢確定上述飽和碼的中間脈衝條件的裝置。3.根據權利要求2所述的光信息記錄裝置，其特徵在於還包括求出適於上述介質的目標調製度的裝置，上述飽和碼的中間脈衝條件，將上述目標調製度確定為指標。4.根據權利要求1所述的光信息記錄裝置，其特徵在於包括使上述具有信號振幅飽和的長度的飽和碼的中間脈衝條件變化，對上述介質進行測試記錄的裝置；使用比上述飽和碼短的非飽和碼，對上述介質進行測試記錄的裝置；再現上述各測試記錄的結果，檢測出上述飽和碼的記錄長度和上述非飽和碼的記錄長度的裝置；以及基於上述飽和碼的記錄長度相對於上述檢測出的非飽和碼的記錄長度的變化趨勢，確定上述飽和碼的中間脈衝條件的裝置。5.一種光信息記錄裝置，設定與多種類的各碼對應地用起始脈衝、中間脈衝、最終脈衝定義的記錄脈衝，並進行基於該設定的記錄脈衝的雷射照射，由此在光記錄介質上記錄信息，其特徵在於，包括使上述起始脈衝的條件與最短碼對應，進行測試記錄的裝置；使比上述最短碼長的碼的中間脈衝條件變化，對上述介質進行測試記錄的裝置；再現上述各測試記錄的結果，檢測出上述最短碼的記錄長度和比上述最短碼長的碼的記錄長度的裝置；以及基於比上述最短碼長的碼的記錄長度相對於上述檢測出的最短碼的記錄長度的變化趨勢，確定比上述最短碼長的碼的中間脈衝條件的裝置。6.根據權利要求1所述的光信息記錄裝置，其特徵在於包括使上述具有信號振幅飽和的長度的飽和碼的中間脈衝的高度變化、並使上述最終脈衝停止，對上述介質進行測試記錄的裝置；和基於上述測試記錄的結果，確定上述飽和碼的起始脈衝的高度與中間脈衝的高度的比率的裝置。7.根據權利要求1所述的光信息記錄裝置，其特徵在於包括以多個窄脈衝構成上述具有信號振幅飽和的長度的飽和碼的中間脈衝，使該各個窄脈衝的寬度變化，並且將該窄脈衝的寬度和上述最終脈衝的寬度設定為相等寬度，對上述介質進行測試記錄的裝置；和基於上述測試記錄的結果，確定上述飽和碼的窄脈衝的寬度的裝置。8.一種光信息記錄方法，設定與多種類的各碼對應地用起始脈衝、中間脈衝、最終脈衝定義的記錄脈衝，並進行基於該設定的記錄脈衝的雷射照射，由此在光記錄介質上記錄信息，其特徵在於，包括通過調整與具有信號振幅飽和的長度的飽和碼對應的記錄脈衝的至少起始脈衝條件，來控制與該飽和碼對應的記錄坑的相位的步驟；和通過調整與上述飽和碼對應的記錄脈衝的中間脈衝條件，來控制與該飽和碼對應的記錄坑的寬度的步驟。9.根據權利要求8所述的光信息記錄方法，其特徵在於包括使上述具有信號振幅飽和的長度的飽和碼的中間脈衝條件變化，對上述介質進行測試記錄的步驟；求出由上述測試記錄的結果所得到的調製度的趨勢的步驟；以及根據上述調製度的趨勢確定上述飽和碼的中間脈衝條件的步驟。10.根據權利要求8所述的光信息記錄方法，其特徵在於包括使上述具有信號振幅飽和的長度的飽和碼的中間脈衝條件變化，對上述介質進行測試記錄的步驟；使用比上述飽和碼短的非飽和碼，對上述介質進行測試記錄的步驟；再現上述各測試記錄的結果，檢測上述飽和碼的記錄長度和上述非飽和碼的記錄長度的步驟；以及基於上述飽和碼的記錄長度相對於上述檢測出的非飽和碼的記錄長度的變化趨勢，確定上述飽和碼的中間脈衝條件的步驟。11.一種光信息記錄方法，設定與多種類的各碼對應地用起始脈衝、中間脈衝、最終脈衝定義的記錄脈衝，並進行基於該設定的記錄脈衝的雷射照射，由此在光記錄介質上記錄信息，其特徵在於，包括使上述起始脈衝的條件與最短碼對應，進行測試記錄的步驟；使比上述最短碼長的碼的中間脈衝條件變化，對上述介質進行測試記錄的步驟；再現上述各測試記錄的結果，檢測上述最短碼的記錄長度和比上述最短碼長的碼的記錄長度的步驟；以及基於比上述最短碼長的碼的記錄長度相對於上述檢測出的最短碼的記錄長度的變化趨勢，確定比上述最短碼長的碼的中間脈衝條件的步驟。12.根據權利要求8所述的光信息記錄方法，其特徵在於包括使上述具有信號振幅飽和的長度的飽和碼的中間脈衝的高度變化、並使上述最終脈衝停止，對上述介質進行測試記錄的步驟；和基於上述測試記錄的結果，確定上述飽和碼的起始脈衝的高度與中間脈衝的高度的比率的步驟。13.根據權利要求8所述的光信息記錄方法，其特徵在於包括以多個窄脈衝構成上述具有信號振幅飽和的長度的飽和碼的中間脈衝，使該各個窄脈衝的寬度變化，並且將該窄脈衝的寬度和上述最終脈衝的寬度設定為相等的寬度，對上述介質進行測試記錄的步驟；和基於上述測試記錄的結果，確定上述飽和碼的窄脈衝的寬度的步驟。14.一種信號處理電路，被安裝在光信息記錄裝置中，由權利要求8～權利要求13的任一項所述的方法構成，其中，該光信息記錄裝置，設定與多種類的各碼對應地用起始脈衝、中間脈衝、最終脈衝定義的記錄脈衝，並進行基於該設定的記錄脈衝的雷射照射，由此在光記錄介質上記錄信息。全文摘要本發明提供一種光信息記錄裝置、光信息記錄方法和信號處理電路。對於驅動器來說，即使是未知的介質，也能得到更接近最佳的記錄條件。尤其是提供一種對Wobble和Lpp的信號品質提高有效的方法。通過調整由起始脈衝(12)、中間脈衝(14)、最終脈衝(16)構成的記錄脈衝的中間脈衝條件PWD、Tmp，來控制摘要附圖的(c)所示的飽和碼的坑寬度(W)，並且，該飽和碼的坑長度和相位，根據摘要附圖的(a)和(b)所示的記錄脈衝的前側相位校正量(Ttop)和後側相位校正量(Tlast)來進行控制。文檔編號G11B7/125GK1873791SQ20061008468公開日2006年12月6日申請日期2006年5月29日優先權日2005年5月30日發明者關口慎生,垣本博哉,宮澤冬樹申請人:太陽誘電株式會社