高溫測試系統的製作方法
2023-05-18 18:46:11
專利名稱：高溫測試系統的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種測試系統，特別是涉及一種以自動化方式進 行高溫測試的高溫測試系統。
背景技術：
目前所使用的集成電路(IC)中，由於有一部分使用的環境較苛
刻，因此需要符合高溫下能正常運作的要求，例如在汽車引擎周邊所 使用的集成電路，由於引擎運轉時會逐漸產生熱，因此周邊使用的集
成電路就必須要通過至少14(TC的高溫測試，用於確保在高溫環境中 能正常運作。
以往 在進行高溫測試時，通常是利用人工方式以及不同溫度的熱 源，將製作好的集成電路逐漸加溫，直到達到待測溫度後，再使用一 個測試臺來測量集成電路的電性能好壞，進而做出產品良好或損壞的 分類，然而所有過程都是以人工搬移集成電路、人工判讀測試結果的 方式進行，所以往往會造成耗時較多、容易判讀失誤的情形發生，此 外，操作人員在高溫作業下也容易造成意外，綜合來說，導致不容易 實施大量集成電路都進行高溫測試的缺點。
實用新型內容
本實用新型的目的在於提供一種以自動化方式來進行高溫測試， 進而能讓測試時間更有效率，並節省人力成本、維護人力安全的高溫 測試系統。
該高溫測試系統適用於待測產品的高溫環境測試。
本實用新型的特徵在於該高溫測試系統包含預熱單元、第一搬 動單元、測試單元，及第二搬動單元，該預熱單元包括驅動模塊、連 結於該驅動模塊並運輸該待測產品沿著移動方向前進的傳送帶，及多個沿著該移動方向排列且對應於該傳送帶的加熱元件以預熱該待測
產品；該第一搬動單元用於搬動預熱完成的該待測產品；該測試單元 包括承載臺、對應於該承載臺的測試臺，及對應於該承載臺的加熱元 件，該承載臺用於承接該第一搬動單元上的待測產品且在該承載臺上 停留預定的測試時間，該測試臺是在該測試時間內對該承載臺上的待 測產品進行測試，該加熱元件則用於維持該待測產品的溫度；該第二 搬動單元依據該測試臺的測試結果，搬動該承載臺上符合該測試條件 的待測產品到良品收集區。
本實用新型的有益效果在於通過上述各單元的相互搭配，本實 用新型就能以自動化方式來進行高溫測試，所以只需要極少的人力就 可以執行大量待測產品的測試工作，也能避免虛耗的搬運、測試時間， 以及人為的誤判，進而能達到測試時間更有效率、節省人力成本、避 免人為誤判、維護人力安全的使用功能。
圖l是說明本實用新型高溫測試系統的優選實施例的示意圖；及 圖2是說明上述優選實施例的運作流程的流程圖。
具體實施方式
以下結合附圖及實施例對本實用新型進行詳細說明
如圖1、 2所示，本實用新型高溫測試系統200的優選實施例適用 於測試出多個待測產品90在高溫環境下的使用狀態，該高溫測試系 統200包含預熱單元20、第一搬動單元31、恆溫測試單元40、第二 搬動單元32、第三搬動單元33，及控制單元50。
該預熱單元20包括驅動模塊21、連結於該驅動模塊21並沿著移 動方向X循環轉動的傳送帶22、多個沿著該移動方向X排列且對應 於該傳送帶22的加熱元件？.3，及第一檢測元件24。
所述待測產品90放置於該傳送帶22上沿著該移動方向X移動， 所述加熱元件23沿著該移動方向X分別形成由低至高的熱源，用於 將所述待測產品90從室溫狀態下逐漸升溫，在本實施例中，所述待測產品90將通過所述加熱元件23逐漸升溫到約140°C，該第一檢測 元件24靠近溫度最高的加熱元件23，用於檢測預熱的階段已經完成。
該第一搬動單元31接續於該預熱單元20搬動所述待測產品90， 用於將預熱完成的待測產品90移動到下一個恆溫測試階段。
該恆溫測試單元40包括承載臺41、對應於該承載臺41的測試臺 42，及對應於該承載臺41的加熱元件43，該承載臺41依次承接該 第一搬動單元31上的待測產品90且在該承載臺41上停留一測試時 間，在本實施例中該測試時間為15秒，該測試臺42具有多個探針可 對所述待測產品90做電信號的功能檢測，並且是在該測試時間內以 測試條件對該承載臺41上的待測產品90進行測試，此時該加熱元件 43形成恆溫的熱源，且溫度不小於該預熱單元20上溫度最高的加熱 元件23，在本實施例中該加熱元件43以140"C的恆溫加熱，所以所 述待測產品90是在14(TC的環境中對電信號的正常或失真進行測試 判斷。
該第二搬動單元32依據該測試臺42的測試結果，搬動該承載臺 41上符合該測試條件的待測產品90到良品收集區60，該良品收集區 60包括良品傳送帶61及第二檢測元件62。
該第三搬動單元33依據該測試臺42的測試結果，搬動該承載臺 41上不符合該測試條件的待測產品90到不良品收集區70，該不良品 收集區70包括不良品傳送帶71及第三檢測元件72，在本實施例中， 該第一、二、三搬動單元31、 32、 33都採用機械手臂。
該控制單元50與前述各單元電連接，並內建有該測試時間，該控 制單元50運作時依據該第一檢測元件24的信號狀態來控制該第一搬 動單元31的運作，以及依據該測試時間的結束與該測試臺42的測試 結果控制該第二搬動單元32或該第三搬動單元33的運作。
簡而言之，當該第一檢測元件24的信號發生變化時，就表示預熱 階段完成，該控制單元50會驅動該第一搬動單元31將預熱好的待測 產品90搬到該承載臺41上做高溫測試，當該測試時間結束時，如果 測試結果良好，該控制單元50會驅動該第二搬動單元32將良好的待 測產品90搬到該良品收集區60，如果測試結果異常則驅動該第三搬動單元33將異常的待測產品90搬到該不良品收集區70，而當良好 或異常的待測產品90分別靠近該第二、三檢測元件62、 72時，該控 制單元50能發出提示信號以提醒測試人員取件，而通過高溫測試的 過程就能確保待測產品90在高溫環境使用下也具備功能正常、信號 不失真的良好使用狀態。
藉此，通過上述各單元的相互搭配，本實用新型就能以自動化方 式來進行高溫測試，所以只需要極少的人力就可以執行大量待測產品 90的測試工作，也能避免虛耗的搬運、測試時間，以及人為的誤判， 進而能達到測試時間更有效率、節省人力成本、避免人為誤判、維護 人力安全的使用功能。
權利要求1、一種高溫測試系統，適用於待測產品的高溫環境測試，其特徵在於所述高溫測試系統包含預熱單元、第一搬動單元、測試單元，及第二搬動單元，所述預熱單元包括驅動模塊、連結於所述驅動模塊並運輸所述待測產品沿著移動方向前進的傳送帶，及多個沿著所述移動方向排列且對應於所述傳送帶的加熱元件以預熱所述待測產品；所述第一搬動單元用於搬動預熱完成的所述待測產品；所述測試單元包括承載臺、對應於所述承載臺的測試臺，及對應於所述承載臺的加熱元件，所述承載臺用於承接所述第一搬動單元上的待測產品且在所述承載臺上停留預定的測試時間，所述測試臺在所述測試時間內對所述承載臺上的待測產品進行測試，所述加熱元件則用於維持所述待測產品的溫度；以及所述第二搬動單元依據所述測試臺的測試結果，搬動所述承載臺上符合所述測試條件的待測產品到良品收集區。
2、 如權利要求1所述的高溫測試系統，其特徵在於所述高溫 測試系統還包括第三搬動單元，依據所述測試臺的測試結果，搬動 所述承載臺上不符合所述測試條件的待測產品到不良品收集區。
3、 如權利要求1所述的高溫測試系統，其特徵在於所述預熱 單元的所述加熱元件沿著所述移動方向分別形成由低至高的熱源。
4、 如權利要求1所述的高溫測試系統，其特徵在於所述恆溫測試單元的加熱元件的溫度不小於所述預熱單元上溫度最高的加熱 元件。
5、 如權利要求1所述的高溫測試系統，其特徵在於所述預熱單元還包括第一檢測元件，所述系統還包括電連接於所述第一檢測 元件與所述預熱單元、所述第一搬動單元、所述恆溫測試單元與所 述第二搬動單元的控制單元，所述第一檢測元件靠近溫度最高的加 熱元件，所述控制單元依據所述第一檢測元件的信號狀態控制所述 第一搬動單元。
6、 如權利要求5所述的高溫測試系統，其特徵在於所述控制 單元內建有所述測試時間，並依據所述測試時間的結束以及所述測 試臺的測試結果控制所述第二搬動單元。
7、 如權利要求2所述的高溫測試系統，其特徵在於所述第一、 二、三搬動單元都是機械手臂。
8、 如權利要求2所述的高溫測試系統，其特徵在於所述良品 收集區包括良品傳送帶及第二檢測元件，所述不良品收集區包括不 良品傳送帶及第三檢測元件。
專利摘要一種高溫測試系統，適用於待測產品的高溫環境測試，所述高溫測試系統包含預熱單元、第一搬動單元、恆溫測試單元，及第二搬動單元。所述待測產品在所述預熱單元上逐漸加熱升溫，再經由所述第一搬動單元將預熱完成的待測產品搬動到所述恆溫測試單元，所述恆溫測試單元以測試條件對所述待測產品進行測試。所述第二搬動單元依據測試結果搬動符合所述測試條件的待測產品到良品收集區。
文檔編號G01R31/28GK201152891SQ20082000600
公開日2008年11月19日 申請日期2008年1月29日 優先權日2008年1月29日
發明者曾文源, 李致葦, 洪萬得, 王素惠, 許森榮, 黃貴堂, 黃郅紘 申請人:環隆電氣股份有限公司