一種鍍膜器距玻璃板面高度測量裝置製造方法

2023-05-03 16:26:21

一種鍍膜器距玻璃板面高度測量裝置製造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種鍍膜器距玻璃板面高度測量裝置，其特徵在於：包括連接板，所述連接板一端設有固定孔和卡套，所述卡套上內設有石墨測量尺，所述卡套上設有固定石墨測量尺的鎖緊螺釘。本實用新型與現有技術相比的優點是：本實用新型結構製造簡單，在高溫環境下安全可靠，能精確的控制鍍膜器反應面與玻璃版面的高度，能有效解決了目前的各批次的在線LOW-E玻璃膜層的厚度和顏色的不穩定。
【專利說明】—種鍍膜器距玻璃板面高度測量裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種鍍膜器距玻璃板面高度測量裝置。
【背景技術】
[0002]目前，在線鍍膜在環境溫度在500°C?750°C範圍內工作，鍍膜器進入錫槽或退火窯後，因為高溫環境，無法近距測量鍍膜器反應面距離玻璃板面的高度，鍍膜器距玻璃板面的高度基本上依靠目測判斷。
[0003]通過目測鍍膜器反應面距離玻璃板面的高度，往往需要憑個人的經驗來判斷，誤差較大，且因操作者不同，鍍膜器反應面距離玻璃板面的高度也將會有較大的出入，而鍍膜器反應面距離玻璃板面的高度的不同，影響在線1w-E玻璃膜層的厚度及顏色的均勻性和穩定性。
實用新型內容
[0004]本實用新型為了解決現有技術的上述不足，提供了一種鍍膜器距玻璃板面高度測
量裝置。
[0005]本實用新型的上述目的通過以下的技術方案來實現:一種鍍膜器距玻璃板面高度測量裝置，其特徵在於:包括連接板，所述連接板一端設有固定孔和卡套，所述卡套上內設有石墨測量尺，所述卡套上設有固定石墨測量尺的鎖緊螺釘。
[0006]使用時，將本實用新型的連接板固定在鍍膜器的四個底角，將石墨測量尺固定在卡套內，並調整到所需要的高度，擰緊卡套側面的兩個鎖緊螺釘。當鍍膜器進入錫槽或退火窯後，將鍍膜器的高度下降致石墨測量尺接觸到玻璃板面。
[0007]本實用新型與現有技術相比的優點是:本實用新型結構製造簡單，在高溫環境下安全可靠，能精確的控制鍍膜器反應面與玻璃版面的高度，能有效解決了目前的各批次的在線LOW-E玻璃膜層的厚度和顏色的不穩定。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1為本實用新型的結構示意圖。
[0009]圖2為本實用新型龍門架的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0010]下面結合附圖對本實用新型進一步詳述。
[0011]如圖1、圖2所示，一種鍍膜器距玻璃板面高度測量裝置，其特徵在於:包括連接板1，所述連接板I 一端設有固定孔6和卡套2，所述卡套2上內設有石墨測量尺3，所述卡套2上設有固定石墨測量尺3的鎖緊螺釘4。
[0012]使用時，將本實用新型的連接板I固定在鍍膜器5的四個底角，將石墨測量尺3固定在卡套2內，並調整到所需要的高度，擰緊卡套側面的兩個鎖緊螺釘4。當鍍膜器5進入錫槽或退火窯後，將鍍膜器的高度下降致石墨測量尺3接觸到玻璃板面。
[0013]上述的【具體實施方式】只是示例性的，是為了更好的使本領域技術人員能夠理解本專利，不能理解為是對本專利包括範圍的限制；只要是根據本專利所揭示精神的所作的任何等同變更或修飾，均落入本專利包括的範圍。
【權利要求】
1.一種鍍膜器距玻璃板面高度測量裝置，其特徵在於:包括連接板，所述連接板一端設有固定孔和卡套，所述卡套上內設有石墨測量尺，所述卡套上設有固定石墨測量尺的鎖緊螺釘。
【文檔編號】G01B5/02GK203586998SQ201320810193
【公開日】2014年5月7日 申請日期:2013年12月11日 優先權日:2013年12月11日
【發明者】高強, 于洋, 張祥 申請人:吳江南玻玻璃有限公司