實現電容檢測和電磁檢測的系統的製作方法
2023-05-24 14:47:51 2
實現電容檢測和電磁檢測的系統的製作方法
【專利摘要】本發明涉及觸控領域，公開了一種實現電容檢測和電磁檢測的系統。本發明中，傳感天線復用陣列包含的橫豎排導線位於觸控屏面板的觸摸區域內，電容和電磁觸控晶片具有TX端、RX端和EM?Detect端，這三個端的一端復用一個晶片引腳，另一端與橫豎排導線的一端連接，系統進行電容觸摸檢測時，切換開關陣列中所有開關斷開，橫豎排導線構成電容屏的傳感器；系統進行電磁觸摸檢測時，全部開關閉合狀態，橫豎排導線構成電磁屏的天線迴路；當開關中部分斷開、部分閉合時，部分橫豎排導線構成電容屏的傳感器，部分橫豎排導線構成電磁屏的天線迴路。與現有技術相比，本發明在單顆晶片上實現僅用一組傳感天線復用陣列實現電容檢測與電磁檢測的分時復用。
【專利說明】實現電容檢測和電磁檢測的系統
【技術領域】
[0001]本發明涉及觸控【技術領域】，特別涉及實現電容檢測和電磁檢測的系統。
【背景技術】
[0002]觸控螢幕作為一種特殊的計算機外設，能夠提供電子系統與使用者之間一人機互動界面，並已經廣泛應用在許多領域中，例如，在行動電話、個人數字助理(Personal DigitalAssistant, PDA)、遊戲機、液晶顯示器(Liquid Crystal Display, IXD)、等離子顯示器(Plasma Display Panel, PDP)等。
[0003]目前，觸控螢幕主要有以下幾類:電磁式觸控螢幕、電容式觸控螢幕、電組式觸控螢幕、以及紅外線式觸控螢幕等。
[0004]其中，電容式觸控螢幕一般都採用前附式，其內設置有透明導電材料的(如氧化銦錫材料)電容觸控驅動電極和電容觸控感應電極，所述電容觸控驅動電極和電容觸控感應電極之間相互絕緣，在觸控螢幕幕時，由於人體內存在電場，手指與觸控螢幕內的電容觸控驅動電極、電容觸控感應電極之間形成耦合電容；由於觸摸點的電容變化，在所述電容觸控驅動電極和電容觸控感應電極中出現流向觸摸點的感應電流，通過相關計算便可準確計算出觸摸點的位置。
[0005]電磁式觸控螢幕目前一般都採用背附式的電磁天線板，這種天線板是有橫縱交錯的金屬線構成，當電磁筆在屏幕上滑動時，產生感應電動勢，越靠近電磁筆的位置，該處的感應電動勢越強，通過相關計算便可準確計算出電磁筆的位置。由於金屬線為非透明，因此只能貼附在液晶顯示模組(Liquid Crystal Display Module, LCM)後側。
[0006]目前，為了實現手、筆雙觸控，將電容式觸控模式和電磁式觸控模式疊加在一起使用，以實現手寫和筆寫結合的觸控模式，該電容式觸控模式的觸控區域需要設置在電磁式觸控模式的觸控區域之上，也就是說需要在同一個需要觸控設備上設置兩個相互獨立的陣列結構，並使之相互疊加，以便能夠實現兩種模式的位置信息的識別，然而，每一陣列電路需要連接各自的處理電路，使得整個觸控產品的結構複雜，體積較大，製作成本高，並且在觸控產品的使用過程中，還會出現電容式觸控模式和電磁式觸控模式的相互幹擾；另外，電容觸控驅動電極和電容觸控感應電極製作在一個晶片上，電磁天線板製作在另外一個晶片上，導致成品厚度較厚，不符合目前市場的需求，而且成本較高。
【發明內容】
[0007]本發明的目的在於提供一種實現電容檢測和電磁檢測的系統，使得觸控產品更加輕薄，結構簡單，成本低廉，且能同時實現電容檢測和電磁檢測。
[0008]為解決上述技術問題，本發明第一實施方式提供了一種實現電容檢測和電磁檢測的系統，其特徵在於，包含:觸控屏面板、電容和電磁觸控晶片、傳感天線復用陣列；
[0009]所述傳感天線復用陣列位於所述觸控屏面板的觸摸區域內，包含切換開關陣列、橫排導線和豎排導線；[0010]所述切換開關陣列包含若干電子開關；
[0011]每兩根所述橫排導線或豎排導線通過一個所述電子開關相連；
[0012]所述電容和電磁觸控晶片具有電容檢測發射端TX、電容檢測接收端RX和電磁探測端EM Detect ;所述TX、RX和EM Detect的一端復用一個所述電容和電磁觸控晶片的引腳，另一端分別與所述橫排導線或所述豎排導線的一端連接；
[0013]當所述切換開關陣列的所有電子開關處於斷開狀態時，所述橫排導線和所述豎排導線中的每一根都單獨存在，形成傳感器，所述電容和電磁觸控晶片通過所述TX向所述傳感器發送驅動信號，並通過所述RX接收感應信號，進行觸摸點的電容檢測；
[0014]當所述切換開關陣列的全部電子開關處於閉合狀態時，所述橫排導線或豎排導線中兩兩連接，形成天線迴路,所述電容和電磁觸控晶片通過所述EM Detect接收所述天線迴路上的感應信號，進行觸摸點的電磁檢測。
[0015]當所述切換開關陣列的部分電子開關處於斷開狀態、其餘電子開關處於閉合狀態時，與所述處於斷開狀態的電子開關相連的所述橫排導線或豎排導線單獨存在，所述單獨存在的橫排導線或豎排導線形成傳感器；與所述處於閉合狀態的電子開關相連的所述橫排導線或豎排導線兩兩相連，形成天線迴路。
[0016]與現有技術相比，本發明中的電容和電磁觸控晶片是單顆晶片，在單顆晶片上實現電容檢測和電磁檢測，使觸摸產品更加輕薄，大大的降低了產品的成本；傳感天線復用陣列與切換開關陣列相互配合使用，使本發明僅需要使用一套橫排導線和豎排導線，即可以單獨進行電容檢測，又可以單獨進行電磁檢測，也可以電容檢測和電磁檢測同時進行，使觸摸產品結構簡單化，而且通過傳感天線復用陣列實現電容觸控傳感器和電磁觸控天線的分時復用(即傳感天線復用陣列當做傳感器使用時，進行電容檢測，傳感天線復用陣列當做天線使用時，進行電磁檢測)，有效的避免了現有技術中電容式觸控模式和電磁式觸控模式的相互幹擾的問題；另外，本發明中的電容和電磁觸控晶片具有TX、RX和EM Detect，保證了對觸摸點電容信號的發射和接收以及電磁信號的探測。
[0017]另外，本發明中的電容和電磁觸控晶片的每一個與橫排導線或豎排導線連接的弓丨腳都通過開關元件與一個TX、一個RX和一個EM Detect相連，並通過所述開關元件控制所述引腳與所述TX、RX和EM Detect的連通與斷開；
[0018]當所述開關元件控制所述引腳與所述TX或所述RX連通，與所述EM Detect斷開時，所述電容和電磁觸控晶片進行電容觸摸檢測；
[0019]當所述開關元件控制所述引腳與所述TX和所述RX斷開，與所述EM Detect連通時，所述電容和電磁觸控晶片進行電磁觸摸檢測。
[0020]由於電容和電磁觸控晶片的每一個與橫排導線或豎排導線連接的引腳都通過開關元件與一個TX、一個RX和一個EM Detect相連，就可以有效地將傳感天線復用陣列實現電容傳感器和電磁天線的分時復用，保證了本發明中整個技術要點的實現。
[0021]另外，所述電容和電磁觸控晶片還包含傳感控制元件，用於產生控制所述切換開關陣列的控制信號；
[0022]當所述電容和電磁觸控晶片進行電磁觸摸檢測時，所述電容和電磁觸控晶片依次掃描兩根橫排導線或兩根豎排導線連接起來形成的天線迴路，讀取所述形成迴路的天線上的感應信號；[0023]每一次掃描時，所述傳感控制元件根據所述電容和電磁觸控晶片指定的欲連接的橫排導線或豎排導線的信息，產生控制信號並發送給所述切換開關陣列；所述切換開關陣列根據接收到的控制信號，將所述指定的橫排導線或豎排導線連接起來；
[0024]其中，所述指定的橫排導線或豎排導線包含橫排導線或豎排導線中的兩兩或多組。
[0025]正是由於上述傳感控制元件的存在，才能使切換開關陣列能夠接收到電容和電磁觸控晶片發出的控制信號，有效地控制指定的橫排導線或豎排導線的連接與斷開，實現最終的電容觸摸檢測或電磁觸摸檢測。
[0026]另外，所述橫排導線和豎排導線分別位於兩個不同的平面。
[0027]橫排導線與豎排導線位於不同的平面，使橫排導線與豎排導線中任意兩條導線彼此絕緣，防止短路，是準確進行電容觸摸檢測和電磁觸摸檢測的前提。
[0028]另外，所述切換開關陣列包含一根連接線和若干個電子開關，其中，電子開關的個數與橫排導線和豎排導線的總數一致。
[0029]當電容和電磁觸控晶片作為電磁觸摸檢測系統時，切換開關陣列包含一根連接線和若干個電子開關的時候，電磁觸摸檢測模式就可以掃描橫排導線和豎排導線中某兩根導線連接形成的天線迴路。
[0030]作為本發明的進一步改進，所述切換開關陣列包含和若干個電子開關，其中，電子開關的個數與橫排導線和豎排導線的總數一致，並且電子開關為多觸點開關。
[0031]當電容和電磁觸控晶片作為電磁觸摸檢測系統時，切換開關陣列包含若干根連接線和若干個電子開關的時候，電磁觸摸檢測模式就可以掃描橫排導線和豎排導線中多組導線連接形成的天線迴路。
[0032]另外，當所述電容觸摸檢測為互電容觸摸檢測時，所述TX和所述RX分別與所述橫排導線或所述豎排導線相連。
[0033]在橫排導線和豎排導線交叉的地方形成電容，在檢測互電容大小時，與橫排導線相連的TX依次發出發射信號，與豎排導線相連的RX同時接收信號，這樣就可以得到所有橫排導線和豎排導線交匯點的電容值大小，即整個觸控螢幕的二維平面的電容大小，根據觸控螢幕二維電容變化量數據，就可以計算出每一個觸摸點的坐標，因此，屏上即使有多個觸摸點，也能計算出每個觸摸點的真實坐標。
[0034]另外，當所述電容觸摸檢測為自電容觸摸檢測時，所述TX懸空，所述RX與所述橫排導線或所述豎排導線相連。
[0035]這些橫排導線和豎排導線分別與地構成電容，這個電容就是通常所說的自電容，也就是電極對地的電容。當手指觸摸到電容屏時，手指的電容將會疊加到屏體電容上，使屏體電容量增加，再根據觸摸前後電容的變化，分別確定橫向坐標和縱向坐標，然後組合成平面的觸摸坐標。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0036]圖1是根據本發明第一實施方式的實現電容檢測和電磁檢測的系統中的傳感天線復用陣列示意圖；
[0037]圖2是根據本發明第一實施方式的實現電容檢測和電磁檢測的系統中引腳示意圖；
[0038]圖3是根據本發明第一實施方式的實現電容檢測和電磁檢測的系統中切換開關陣列包含一根連接線的示意圖；
[0039]圖4是根據本發明第二實施方式的實現電容檢測和電磁檢測的系統中切換開關陣列包含若干根連接線的示意圖。
【具體實施方式】
[0040]為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合附圖對本發明的各實施方式進行詳細的闡述。然而，本領域的普通技術人員可以理解，在本發明各實施方式中，為了使讀者更好地理解本申請而提出了許多技術細節。但是，即使沒有這些技術細節和基於以下各實施方式的種種變化和修改，也可以實現本申請各權利要求所要求保護的技術方案。
[0041]本發明的第一實施方式涉及一種實現電容檢測和電磁檢測的系統。包含觸控屏面板、電容和電磁觸控晶片、傳感天線復用陣列(兼備傳感器和天線作用的導線陣列)、切換開關陣列。
[0042]如圖1所示，傳感天線復用陣列位於觸控屏面板的觸摸區域I內，包含橫排導線(分別用X1?Xn表示)和豎排導線(分別用Y1?Ym表示)，電容和電磁觸控晶片具有電容檢測發射端TX、電容檢測接收端RX和電磁探測端EM Detect, TX、RX和EM Detect分別與橫排導線或豎排導線的一端連接(本實施例中將用橫排導線跟TX相連，豎排導線跟RX相連為例來說明)。其中，橫排導線和豎排導線分別位於兩個不同的平面(圖1中橫排導線跟豎排導線交叉處用跳線表示不在同一平面)，這樣橫排導線與豎排導線中任意兩條導線都將彼此絕緣，防止短路，這是準確進行電容觸摸檢測或電磁觸摸檢測的前提。
[0043]另外，本實施方式中的電容和電磁觸控晶片的每一引腳都通過開關元件3與一個TX、一個RX和一個EM Detect相連，且每一個TX、RX和EM Detect的另一端再分別與橫排導線或豎排導線的一端相連，通過開關元件3控制引腳與TX、RX和EM Detect的連通與斷開，決定整個系統是接收電容檢測信息還是接收電磁檢測信息或是同時接收電容檢測和電磁檢測的信息。如圖2所示。
[0044]當開關元件3控制引腳與TX或RX連通，與EM Detect斷開時，電容和電磁觸控晶片進行電容觸摸檢測；
[0045]當開關元件3控制引腳與TX和RX斷開，與EM Detect連通時，電容和電磁觸控晶片進行電磁觸摸檢測。
[0046]當開關元件3同時控制引腳與TX、RX和EM Detect連通時，電容和電磁觸控晶片就可以同時進行電容觸摸檢測和電磁觸摸檢測。
[0047]現有技術中，每一個與橫排導線或豎排導線連接的引腳只跟一個TX和一個RX相連，這樣的話就只能實現電容觸摸檢測功能，而本實施例中每一個與橫排導線或豎排導線連接的引腳除了跟一個TX和一個RX相連，另外還增加了一個EM Detect,並且能夠通過開關元件3控制它們與引腳的連接或斷開，進而實現電容傳感器和電磁天線的分時復用，保證了本發明中整個技術要點的實現。
[0048]本實施方式中，電容和電磁觸控晶片還包含傳感控制元件，當電容和電磁觸控晶片進行電容觸摸檢測時，如圖3所示，傳感控制元件接收電容和電磁觸控晶片發出的控制信號使切換開關陣列4的所有開關5處於斷開狀態，橫排導線和豎排導線構成電容觸控的傳感器，每一根都單獨使用，電容和電磁觸控晶片通過TX向電容觸控的傳感器發送驅動信號，並通過RX接收感應信號，進行觸摸點的檢測。也就是說，為了達到電磁觸控和電容觸控的復用，在觸控屏面板裡面橫豎都布滿了傳感器/天線，且橫排導線和豎排導線不在一個平面上，當這個觸控屏面板做電容屏使用時，觸控屏面板上的每根導線都是單獨的，沒有形成迴路。橫豎導線相交的位置形成互感電容，當人的手指在電容觸控面板上滑動時，不同位置的電容值不同，電容觸控檢測就是根據各點電容值的變化情況來判斷人手指的位置的。
[0049]本實施方式中的電容觸摸檢測有互電容觸摸檢測和自電容觸摸檢測兩種方式:
[0050]當電容觸摸檢測為互電容觸摸檢測時，TX和RX分別與橫排導線和豎排導線相連，在橫排導線和豎排導線交叉的地方形成電容，在檢測互電容大小時，與橫排導線相連的TX依次發出發射信號，與豎排導線相連的RX同時接收信號，這樣就可以得到所有橫排導線和豎排導線交匯點的電容值大小，即整個觸控螢幕的二維平面的電容大小，根據觸控螢幕二維電容變化量數據，就可以計算出每一個觸摸點的坐標，因此，屏上即使有多個觸摸點，也能計算出每個觸摸點的真實坐標。
[0051]當電容觸摸檢測為自電容觸摸檢測時，TX懸空，RX與橫排導線或豎排導線相連，這些橫排導線和豎排導線分別與地構成電容，這個電容就是通常所說的自電容，也就是電極對地的電容。當手指觸摸到電容屏時，手指的電容將會疊加到屏體電容上，使屏體電容量增加，再根據觸摸前後電容的變化，分別確定橫向坐標和縱向坐標，然後組合成平面的觸摸坐標。
[0052]本實施方式中，切換開關陣列4包含一根連接線和若干個電子開關5，如圖3所示，其中，電子開關5的個數與橫排導線和豎排導線的總數一致。當電容和電磁觸控晶片進行電磁觸摸檢測時，傳感控制元件接收電容和電磁觸控晶片發出的控制信號使切換開關陣列4的全部電子開關5處於關閉狀態，將橫排導線或豎排導線中某兩根導線的一端連接起來，形成天線迴路，電容和電磁觸控晶片通過EM Detect接收該天線迴路上的感應信號，進行觸摸點的檢測。也就是說，為了接收電磁筆發射的信號，需要將橫排平行天線或者豎排平行天線兩兩連結起來，形成線圈迴路。當線圈所在的磁場發生變化時，線圈上會產生感應信號。隨著電磁筆書寫位置的改變，電磁筆發出的電磁波信號產生的磁場也隨之變化，使得各個線圈上產生的感應信號也發生變化。電磁觸摸檢測就是根據各個線圈的感應信號的變化來判斷電磁筆的書寫位置的。
[0053]電容和電磁觸控晶片依次掃描兩根橫排導線或兩根豎排導線連接起來形成的天線迴路，讀取形成迴路的天線上的感應信號，每一次掃描時，傳感控制元件根據電容和電磁觸控晶片指定的欲連接的橫排導線或豎排導線的信息，產生控制信號並發送給切換開關陣列4，切換開關陣列4根據接收到的控制信號，將指定某兩根橫排導線或豎排導線連接起來。
[0054]正是由於上述傳感控制元件的存在，才能使切換開關陣列4能夠接收到電容和電磁觸控晶片發出的控制信號，有效地控制指定的橫排導線或豎排導線的連接與斷開，實現最終的電容觸摸檢測或電磁觸摸檢測。
[0055]本實施方式中的電容檢測和電磁檢測的系統可以單獨進行電容觸控檢測或電磁觸控檢測，也可電容觸控檢測和電磁觸控檢測同時進行。
[0056]當觸控屏面板受到電磁觸摸時，傳感控制元件通過電容和電磁觸控晶片發出的控制信號，控制切換開關陣列4將指定的橫排導線和豎排導線連接起來形成電磁天線迴路，此時電磁觸摸檢測模式工作，電容觸摸檢測模式不工作；
[0057]當觸控屏面板受到電容觸摸時，傳感控制元件通過電容和電磁觸控晶片發出的控制信號控制切換開關陣列4全部斷開，橫排導線和豎排導線構成電容傳感器，此時電容觸摸檢測模式工作，電磁觸摸檢測模式不工作。
[0058]當觸控面板同時受到電容觸摸和電磁觸摸時，開關元件3同時控制引腳與TX、RX和EM Detect連通，傳感控制元件通過電容和電磁觸控晶片發出的控制信號，控制切換開關陣列4將部分橫排導線和豎排導線連接起來形成電磁天線迴路，並將另一部分橫排導線和豎排導線連接起來形成電容傳感器，此時電容觸摸檢測模式和電磁觸摸檢測模式同時工作。
[0059]電容觸摸檢測功能與電磁觸摸檢測功能兼備，可以單獨使用，也可以同時使用，彼此互不幹擾，使整個系統功能更加全面，更加人性化，實用性更強。
[0060]與現有技術相比，本發明中的電容檢測和電磁檢測系統是製作在單顆晶片上的，在單顆晶片上實現電容檢測和電磁檢測，減小觸控螢幕幕的整體厚度，使觸摸產品更加輕薄，大大的降低了產品的成本；傳感天線復用陣列與切換開關陣列4相互配合使用，使本發明僅需要使用一套橫排導線和豎排導線，即可以單獨進行電容檢測，又可以單獨進行電磁檢測，也可以電容檢測和電磁檢測同時進行，使觸摸產品結構簡單化，而且通過傳感天線復用陣列實現傳感器和天線的分時復用(即傳感天線復用陣列當做傳感器使用時，進行電容檢測，傳感天線復用陣列當做天線使用時，進行電磁檢測)，有效的避免了現有技術中電容式觸控模式和電磁式觸控模式的相互幹擾的問題；另外，本發明中的電容和電磁觸控晶片具有發射端TX、接收端RX和電磁探測端EM Detect，保證了對觸摸點電容信號的發射和接收以及電磁信號的探測。
[0061]本發明的第二實施方式涉及一種實現電容檢測和電磁檢測的系統。第二實施方式與第一實施方式大致相同，主要區別之處在於:在第一實施方式中，切換開關陣列4包含一根連接線和若干個電子開關5，當電容和電磁觸控晶片進行電磁觸摸檢測時，切換開關陣列4將橫排導線或豎排導線中某兩根導線的一端連接起來，形成天線迴路，電容和電磁觸控晶片通過接收該天線迴路上的感應信號，進行觸摸點的檢測。而在本發明第二實施方式中，切換開關陣列4包含若干根連線和若干個電子開關5，當電容和電磁觸控晶片進行電磁觸摸檢測時，切換開關陣列4將橫排導線或豎排導線中兩兩或多組導線的一端連接起來，形成若干天線迴路，電容和電磁觸控晶片通過接收這些天線迴路上的感應信號，進行觸摸點的檢測。
[0062]具體地說，切換開關陣列4包含若干根連線和若干個電子開關5，其中，電子開關5的個數與橫排導線和豎排導線的總數一致，並且電子開關5為多觸點開關。如圖4所示，當電容和電磁觸控晶片作為電磁觸摸檢測系統時，電容和電磁觸控晶片依次掃描多組橫排導線或豎排導線連接起來形成的天線迴路，讀取形成迴路的天線上的感應信號，每一次掃描時，傳感控制元件根據電容和電磁觸控晶片指定的欲連接的橫排導線或豎排導線的信息，產生控制信號並發送給切換開關陣列4，切換開關陣列4根據接收到的控制信號，將指定的橫排導線或豎排導線連接起來，形成天線陣列，電磁屏主晶片依次讀取每一個天線迴路上的感應信號。
[0063]本領域的普通技術人員可以理解，上述各實施方式是實現本發明的具體實施例，而在實際應用中，可以在形式上和細節上對其作各種改變，而不偏離本發明的精神和範圍。
【權利要求】
1.一種實現電容檢測和電磁檢測的系統，其特徵在於，包含:觸控屏面板、電容和電磁觸控晶片、傳感天線復用陣列； 所述傳感天線復用陣列位於所述觸控屏面板的觸摸區域內，包含切換開關陣列、橫排導線和豎排導線； 所述切換開關陣列包含若干電子開關； 每兩根所述橫排導線或豎排導線通過一個所述電子開關相連； 所述電容和電磁觸控晶片具有電容檢測發射端TX、電容檢測接收端RX和電磁探測端EM Detect ;所述TX、RX和EM Detect的一端復用一個所述電容和電磁觸控晶片的引腳，另一端分別與所述橫排導線或所述豎排導線的一端連接； 當所述切換開關陣列的所有電子開關處於斷開狀態時，所述橫排導線和所述豎排導線中的每一根都單獨存在，形成傳感器，所述電容和電磁觸控晶片通過所述TX向所述傳感器發送驅動信號，並通過所述RX接收感應信號，進行觸摸點的電容檢測； 當所述切換開關陣列的全部電子開關處於閉合狀態時，所述橫排導線或豎排導線中兩兩連接，形成天線迴路，所述電容和電磁觸控晶片通過所述EM Detect接收所述天線迴路上的感應信號，進行觸摸點的電磁檢測。 當所述切換開關陣列的部分電子開關處於斷開狀態、其餘電子開關處於閉合狀態時，與所述處於斷開狀態的電子開關相連的所述橫排導線或豎排導線單獨存在，所述單獨存在的橫排導線或豎排導線形成傳感器；與所述處於閉合狀態的電子開關相連的所述橫排導線或豎排導線兩兩相連，形成天線迴路。
2.根據權利要求1所述的實現電容檢測和電磁檢測的系統，其特徵在於，所述電容和電磁觸控晶片的每一個與橫排導線或豎排導線連接的引腳都通過開關元件與一個TX、一個RX和一個EM Detect相連,並通過所述開關元件控制所述引腳與所述TX、RX和EM Detect的連通與斷開； 當所述開關元件控制所述引腳與所述TX或所述RX連通，與所述EM Detect斷開時，所述電容和電磁觸控晶片進行電容觸摸檢測； 當所述開關元件控制所述引腳與所述TX和所述RX斷開，與所述EM Detect連通時，所述電容和電磁觸控晶片進行電磁觸摸檢測。
3.根據權利要求1所述的實現電容檢測和電磁檢測的系統，其特徵在於，所述電容和電磁觸控晶片還包含傳感控制元件，用於產生控制所述切換開關陣列的控制信號； 當所述電容和電磁觸控晶片進行電磁觸摸檢測時，所述電容和電磁觸控晶片依次掃描兩根橫排導線或兩根豎排導線連接起來形成的天線迴路，讀取所述形成迴路的天線上的感應信號； 每一次掃描時，所述傳感控制元件根據所述電容和電磁觸控晶片指定的欲連接的橫排導線或豎排導線的信息，產生控制信號並發送給所述切換開關陣列；所述切換開關陣列根據接收到的控制信號，將所述指定的橫排導線或豎排導線連接起來； 其中，所述指定的橫排導線或豎排導線包含橫排導線或豎排導線中的兩兩或多組。
4.根據權利要求1所述的實現電容檢測和電磁檢測的系統，其特徵在於，所述橫排導線和豎排導線分別位於兩 個不同的平面。
5.根據權利要求1所述的實現電容檢測和電磁檢測的系統，其特徵在於，所述切換開關陣列包含一根連接線和若干個電子開關，其中，電子開關的個數與橫排導線和豎排導線的總數一致。
6.根據權利要求1所述的實現電容檢測和電磁檢測的系統，其特徵在於，所述切換開關陣列包含若干根連接線和若干個電子開關，其中，電子開關的個數與橫排導線和豎排導線的總數一致，並且電子開關為多觸點開關。
7.根據權利要求1所述的實現電容檢測和電磁檢測的系統，其特徵在於，當所述電容觸摸檢測為互電容觸摸檢測時，所述TX和所述RX分別與所述橫排導線或所述豎排導線相連。
8.根據權利要求6所述的實現電容檢測和電磁檢測的系統，其特徵在於，當所述電容觸摸檢測為自電容觸摸檢測時，所述 TX懸空，所述RX與所述橫排導線或所述豎排導線相連。
【文檔編號】G06F3/044GK103677469SQ201310601190
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2013年11月25日 優先權日:2013年11月25日
【發明者】謝循, 張耀國, 金海鵬, 鄭明劍, 盛文軍 申請人:泰凌微電子（上海）有限公司