一種pogopin雙動測試探針的製作方法
2023-04-24 19:11:36
一種pogo pin雙動測試探針的製作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種pogo pin雙動測試探針,包括雙活動探針組件及接觸探頭,所述雙活動探針組件包括針頭、彈性件、及沿其軸向設有通腔的針套,所述接觸探頭為兩端段的截面尺寸小於中間段截面尺寸的三段長條形實心探頭,所述針頭與接觸探頭對應插接於針套兩端,所述彈性件設於所述針頭與接觸探頭之間。採用本實用新型結構的測試探針,具有更強的抗折彎和抗斷裂強度,降低pogo pin測試探針的損耗率,提高了探針檢測的使用壽命和測試效率,且接觸探頭可自行更換,實現雙活動探針的重複使用,節省售後維護成本。
【專利說明】—種pogo pin雙動測試探針
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及電子測試領域,尤其涉及一種pogo pin測試夾具上使用的雙動測試探針。
【背景技術】
[0002]pogo pin (探針式連接器)是一種應用於手機等電子產品中的精密連接器,廣泛應用於半導體設備中,起連接作用。
[0003]目前,現有技術中對電子產品元器件的測試主要分為兩種。第一種是採用兩端分別焊有公、母Connector的FPC,通過人工手動將FPC與待測產品扣取連接,進一步連接測試設備進行檢測。這種測試方式需要投入大量的人力、物力,測試時Connector的扣取使用壽命比較低,更換率高,測試良率低,導致待測產品上的Connector報廢率升高,同時FPC上有一端Connector不良就需要更換整條FPC,這樣造成物力過渡浪費。
[0004]另一種方案是行業中最新出現的探針測試,即pogo pin測試夾具,採用pogo pin探針與待測產品按壓接觸,將待測產品信號引至測試設備進行檢測,採用這種方案避免了第一種方案中的浪費和損耗,降低了成本,同時提高了測試準確率。但由於待測產品的結構精細,對於引腳中心距在0.4mm或以下時,只能使用針套直徑約為0.2mm,活動針頭直徑約為0.1mm大小的探針,造成測試探針的使用壽命短、損耗大、易折彎和斷裂的問題,從而導致測試效率低、維護投入大,不能滿足現有的生產需求。
實用新型內容
[0005]針對上述現有技術的不足,本實用新型的目的是提供一種pogo pin雙動測試探針,克服測試探針使用壽命短、損耗大、活動針頭直徑較小容易折彎和斷裂的問題。
[0006]為實現上述目的,本實用新型所採用的技術方案是:
[0007]—種pogo pin雙動測試探針,包括雙活動探針組件及接觸探頭,所述雙活動探針組件包括針頭、彈性件、及沿其軸向設有通腔的針套,所述接觸探頭為兩端段的截面尺寸小於中間段截面尺寸的三段長條形實心探頭,所述針頭與接觸探頭對應插接於針套兩端,所述彈性件設於所述針頭與接觸探頭之間。
[0008]進一步,一種pogo pin雙動測試探針,所述針套兩端外壁向內擠壓成凸部,用於針頭與接觸探頭的限位。
[0009]進一步,一種pogo pin雙動測試探針,所述針頭一端穿插針套與彈性件連接,另一端對應與轉接PCB連接。
[0010]進一步,一種pogo pin雙動測試探針,所述接觸探頭一端穿插針套與彈性件連接,另一端對應與待測產品連接。
[0011]更進一步,一種pogo pin雙動測試探針,所述針頭與接觸探頭在沿其軸向的推力作用下可使所述彈性件收縮,從而令雙動測試探針的長度縮短。
[0012]更進一步,一種pogo pin雙動測試探針,所述接觸探頭與待測產品接觸的一端設有爪型錐尖。
[0013]更進一步,一種pogo pin雙動測試探針,所述彈性件為金屬彈簧。
[0014]本實用新型的增益效果在於,提供一種pogo pin雙動測試探針,採用雙活動探針組件與接觸探頭的雙截獨特設計,接觸探頭為一體成型的三段實心長條形結構,具有更強的抗折彎和抗斷裂強度,降低pogo pin測試探針的損耗率,提高了探針檢測的使用壽命和測試效率,且接觸探頭可自行更換,實現雙活動探針的重複使用,節省售後維護成本。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0015]圖1為本實用新型一種pogo pin雙動測試探針的結構爆炸圖。
[0016]圖2為本實用新型一種pogo pin雙動測試探針的剖視圖。
【具體實施方式】
[0017]為使本實用新型實施例的目的、技術方案和優點更加清楚,下面將結合本實用新型實施例中的附圖,對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例是本實用新型一部分實施例,而不是全部的實施例。基於本實用新型中的實施例,本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬於本實用新型保護的範圍。
[0018]參照圖1,為本實用新型一種pogo pin雙動測試探針的結構爆炸圖,本實施例的探針包括雙活動探針組件及接觸探頭,所述雙活動探針組件包括針頭30、金屬彈簧40、及沿其軸向設有通腔201的針套20,所述接觸探頭10由前段101、中段102及尾段103構成的一體成型的實心長條形結構,前段101與尾端103的截面尺寸小於中段102的截面尺寸。
[0019]所述接觸探頭10的前段101設有爪型錐尖1011與待測產品測試點接觸,尾端103對應插接與針套20的通腔201與金屬彈簧40連接,所述針頭30 —端對應插接與針套20的通腔201與金屬彈簧40的另一端連接,針頭30另一端對應與轉接PCB連接,在沿針套20軸向的推力作用下,所述接觸探頭10與針頭30可使所述金屬彈簧40收縮,從而令雙動測試探針的長度縮短。
[0020]在測試過程中,測試探針安裝在特定針板上,以對應待測產品的測試點,所述接觸探頭10為實心長條形結構,接觸探頭10的前段101與待測產品測試點接觸,針頭30與轉接PCB板接觸,進一步連接測試設備。測試信號由待測產品經接觸探頭10-針套20及金屬彈簧40-針頭30傳至轉接PCB板,進一步傳送至測試設備進行檢測。
[0021]本實用新型的實施例為雙活動探針組件與接觸探頭的雙截獨特設計,採用接觸探頭與待測產品接觸的設計,替代現有探針的活動探針頭的接觸方式。接觸探頭為一體成型的實心結構,在有限特定空間內,本實施例的pogo pin雙動測試接觸探頭具有比現有活動探針頭更大的截面尺寸,具有更強的抗折彎和抗斷裂強度,降低pogo pin測試探針的損耗率,提高了探針檢測的使用壽命和測試效率,且接觸探頭可自行更換,實現雙活動探針的重複使用,節省售後維護成本。
[0022]進一步參照圖2本實用新型一種pogo pin雙動測試探針的剖視圖,包括接觸探頭
10、針套20、金屬彈簧30、針頭40,所述接觸探頭10插接於針套20並與金屬彈簧30連接,所述針頭對應插接於針套20另一端並與金屬彈簧30另一端連接,針套20兩端外壁向內擠壓成凸部,用於接觸探頭10與針頭40的限位。所述接觸探頭10、針套20、金屬彈簧30及針頭40設置在同一軸線上,在沿其軸向的推力作用下可使金屬彈簧40收縮,從而令雙動測試探針的長度縮短,以實現測試探針與待測產品及轉接板的緊密接觸及緩衝作用,金屬彈簧40的充分接觸也起到傳遞測試信號的作用。
[0023]因此,通過上述公開內容,本實用新型實施例提供了一種pogo pin雙動測試探針,採用實心結構的接觸探頭與待測產品的接觸方式,從而具有更強的抗折彎和抗斷裂強度,降低pogo pin測試探針的損耗率,提高了探針檢測的使用壽命和測試效率。
[0024]以上所述僅為本實用新型的實施例,並非因此限制本實用新型的專利範圍,凡是利用本實用新型說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換,或直接或間接運用在其他相關的【技術領域】,均同理包括在本實用新型的專利保護範圍內。
【權利要求】
1.一種pogo pin雙動測試探針,包括雙活動探針組件及接觸探頭,其特徵在於,所述雙活動探針組件包括針頭、彈性件、及沿其軸向設有通腔的針套,所述接觸探頭為兩端段的截面尺寸小於中間段截面尺寸的三段長條形實心探頭,所述針頭與接觸探頭對應插接於針套兩端,所述彈性件設於所述針頭與接觸探頭之間。
2.根據權利要求1所述的pogopin雙動測試探針,其特徵在於,所述針套兩端外壁向內擠壓成凸部,用於針頭與接觸探頭的限位。
3.根據權利要求1所述的pogopin雙動測試探針,其特徵在於,所述針頭一端穿插針套與彈性件連接,另一端對應與轉接PCB連接。
4.根據權利要求1所述的pogopin雙動測試探針,其特徵在於,所述接觸探頭一端穿插針套與彈性件連接,另一端對應與待測產品連接。
5.根據權利要求1所述的pogopin雙動測試探針,其特徵在於,所述針頭與接觸探頭在沿其軸向的推力作用下可使所述彈性件收縮,從而令雙動測試探針的長度縮短。
6.根據權利要求1所述的pogopin雙動測試探針,其特徵在於,所述接觸探頭與待測產品接觸的一端設有爪型錐尖。
7.根據權利要求1所述的pogopin雙動測試探針,其特徵在於,所述彈性件為金屬彈簧。
【文檔編號】G01R1/067GK204188667SQ201420557739
【公開日】2015年3月4日 申請日期:2014年9月25日 優先權日:2014年9月25日
【發明者】陳龍, 馬冰鋒, 梁發年 申請人:深圳市策維科技有限公司